超聲波檢測(cè)程序

1、超聲波檢測(cè)程序目錄1.范圍.2.參考文獻(xiàn)3.人員資格4.定義5.裝置5.1.標(biāo)準(zhǔn)試塊5.2.基本校準(zhǔn)試塊5.3.耦合計(jì)5.4. 探傷儀5.5. 探頭6.探傷準(zhǔn)備6.1.探傷方法的選擇6.2.靈敏度對(duì)比試塊的選擇6.3.頻率選擇6.4.探傷級(jí)別的選擇6.5.探傷時(shí)間6.6.焊縫表面的打磨6.7.探測(cè)面的打磨6.8.母材探傷7.探傷儀的調(diào)整7.1.斜探頭探測(cè)裝置的調(diào)整7.2.直探頭探測(cè)裝置的調(diào)整7.3.串列式探測(cè)裝置的調(diào)整8.探傷8.1.探頭選擇8.2.掃查面和探傷方法8.3.探傷覆蓋8.4.探頭運(yùn)動(dòng)的移動(dòng)8.5.回波高度的測(cè)定8.6.缺陷指示長度的測(cè)定9.驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)10.記錄1.范圍 本程序包括了

2、用A型探傷儀按照脈沖回波技術(shù)手工檢測(cè)全焊透船體焊縫和材料的實(shí)施2.參考文獻(xiàn) a)ABS船體焊縫無損探傷導(dǎo)則。 b)ASTME 164焊縫的超聲波接觸式探測(cè)推薦實(shí)施 c)JISZ 2344 脈沖回波法檢測(cè)金屬的超聲波檢測(cè)通用規(guī)范。 d)JISZ 2345 超聲波檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊。 e)JISZ 3060 鋼焊縫的超聲波檢測(cè)方法。3.人員資格. 實(shí)施檢測(cè)的人員須按照SNT-TC-IA推薦實(shí)施的滿足ASNT或CCS規(guī)則的NDT人員鑒定程序并獲得相應(yīng)資格的人員。4.定義 本標(biāo)準(zhǔn)中用到的主要術(shù)語定義如下： （1）斜角技術(shù) 利用超聲波斜的傳送到檢測(cè)工件的檢測(cè)表面來搜查缺陷的一種技術(shù)。 （2）折射角 探頭入射點(diǎn)

3、在檢測(cè)表面的法線與超聲波入射在檢測(cè)表面所形成的折射波行進(jìn)方向所形成的夾角。 （3）A型掃描 以陰極射線管顯示矩形關(guān)系配置于從探頭提供的接收脈沖和超聲波傳播時(shí)間關(guān)系的一種形式。 （4）聲程距離 超聲波束在試件中從入射點(diǎn)到反射源通過的單程距離，在串列式掃查和交叉掃查中，由通過試件的超聲波束的半程距離來表示。 （5）標(biāo)準(zhǔn)刻度板 劃分回波高度標(biāo)記線的刻度板。 （6）接觸方法 探頭直接與試件接觸來實(shí)施缺陷檢測(cè)的一種方法。 （7）耦合劑 為了傳遞發(fā)射超聲波從探頭到被檢工件在探頭和檢測(cè)表面之間填充一些清潔的介質(zhì)。 （8）軸的十字點(diǎn)在雙探頭技術(shù)中（看圖1），一發(fā)一收通過的超聲波束中心軸的點(diǎn)。 圖1.檢測(cè)斷面串

4、列式參考線和串列式參考線軸的十字點(diǎn)。（9）遲到波 在到達(dá)過程中由于不同過程或路途中振動(dòng)模式的改變以及像這類原因引起的從相同源來的回波遲到。（10）檢測(cè)水平 為評(píng)價(jià)一個(gè)缺陷回波而規(guī)定的回波高度水平。（11）距離波幅特征曲線 曲線指示回波高度或發(fā)射脈沖的高度按照聲程距離而改變。（12）回波 從被檢工件的不連續(xù)區(qū)域放射回來的接受脈沖。（13）回波高度 在圖樣的回波高度，以刻度的%或用dB表示。（14）缺陷回波 由工件內(nèi)部缺陷或在被檢工件的表面，或由裝配特性顯示的超聲波不連續(xù)性所引起的回波（15）增益 接受回的電壓放大程度，也稱作靈敏度等級(jí)。（16）缺陷指示長度 從探頭的移動(dòng)距離評(píng)估一個(gè)缺陷的外觀的長

5、度。（17）檢測(cè)斷面 斷面垂直與掃查表面包括軸的十字點(diǎn)的焦點(diǎn)和實(shí)際的缺陷檢測(cè)，當(dāng)移動(dòng)發(fā)射和接收探頭以便它們等于串列式參考線在串列式掃查的時(shí)間。剖口面應(yīng)取作為工件的工剖口的時(shí)間。（18）橫向矩形掃查 通過平行于焊縫線移動(dòng)探頭在斜面檢測(cè)的固定時(shí)間移動(dòng)固定距離的一種掃查方法。 圖2.橫向矩形掃查，方形掃查 （a）橫向矩形掃查 (b) 方形掃查（19）接近距離的極限值 這意味著在檢測(cè)表面從斜探頭的入射點(diǎn)到探頭的頂端探頭能接近焊縫的距離的極限值。（20）線性放大 輸入對(duì)輸出成正比的程度。（21）時(shí)基線形 沿著陰極射線管或液晶顯示屏的橫軸多次底面回波間隔相等的程度。（22）回波高度劃分線 按區(qū)域劃分評(píng)價(jià)缺

6、陷回波高度的線，通常是由幾個(gè)距離波幅特征曲線構(gòu)成。（23）焊縫表面縱向掃查（長度掃查） 按斜角探傷的時(shí)間來實(shí)施的掃查方法。將探頭放在焊縫上，焊縫的加強(qiáng)已經(jīng)去處，熱影響區(qū)，建立超聲波束朝向焊縫線的方向，在焊縫線的方向上移動(dòng)探頭（看圖3） 圖3.焊縫線上的掃查（24）測(cè)量范圍 在超聲波探傷儀的橫向軸上聲速路徑給出的最大距離。（25）入射點(diǎn)之間的最小距離 當(dāng)排列兩個(gè)斜探頭一前一后朝向相同的方向讓兩個(gè)探頭盡可能接近時(shí)兩個(gè)入射點(diǎn)之間的距離。 圖4.入射點(diǎn)之間的最小距離。（26）直角技術(shù)通過使用超聲波垂直于被檢工件檢測(cè)表面來搜查缺陷的技術(shù)。（27）擺動(dòng)掃查、環(huán)繞掃查 在斜角探傷時(shí)，為了讓超聲波的方向朝缺陷

7、改變，探頭向以缺陷為中心朝向中心點(diǎn)移動(dòng)進(jìn)行的一種掃查方法。 圖5.轉(zhuǎn)動(dòng)掃查和環(huán)繞掃查（28）漿糊 漿糊是喜歡的耦合劑（29）探頭到缺陷的距離 在檢測(cè)表面上從斜探頭的入射點(diǎn)到缺陷測(cè)出的距離。（30）探頭到焊縫距離 在檢測(cè)表面從斜探頭的入射點(diǎn)到焊縫的參考線的距離（看圖6）。 圖6.探頭到焊縫的距離（31）探頭入射點(diǎn) 當(dāng)使用斜探頭時(shí)，超聲波束中心的入射點(diǎn)。（32）脈沖 一組瞬時(shí)波，圍繞那些波或者振動(dòng)沒有其他的聲波或振動(dòng)，是電能脈沖。（33）脈沖回波技術(shù) 通過直接用超聲脈沖在被檢工件表面進(jìn)入被檢工件，來搜查內(nèi)部缺陷，材料質(zhì)量的一種技術(shù)。（34）脈沖寬度 一個(gè)發(fā)射脈沖的期間，指出現(xiàn)在陽極射線管熒光屏上發(fā)

8、射脈沖的橫向?qū)挾?，也稱作“脈沖能量”。（35）阻塞 在接收器已經(jīng)接收發(fā)射脈沖后的瞬間靈敏度降低或缺少靈敏度。（36）參考試塊（基本校正試塊） 用作規(guī)定試樣的試塊以及作為探傷儀的靈敏度調(diào)節(jié)的標(biāo)準(zhǔn)，大多數(shù)鋼材料或相似于試樣的材料制成縮寫符號(hào)RB或BCB。（37）抑制 相對(duì)于探傷儀控制回波或噪聲不大于某一高度，也稱作“抑制”。（38）區(qū)間 通過顯示在校正刻度板上的回波高度范圍，并通過回波高度來估計(jì)缺陷尺寸。（39）遲到波 出現(xiàn)在檢測(cè)范圍好像是缺陷波的回波，當(dāng)在被檢工件中超聲波衰減時(shí)，回波出現(xiàn)非常長的距離，好像它是短的距離，由于高的脈沖重復(fù)頻率。因此也稱作“草狀波“。（40）分辨率 從探頭來的兩個(gè)靠近

9、的但不同距離的缺陷回波在陰極射線管上能區(qū)別的能力。（41）轉(zhuǎn)動(dòng)掃查 在斜探頭檢測(cè)時(shí)，為了讓超聲波束朝焊縫線改變，拿探頭的入射點(diǎn)作為中心轉(zhuǎn)動(dòng)探頭而實(shí)施的一種掃查方法。（42）在焊縫鄰近的母材金屬上掃查 在斜探頭技術(shù)時(shí)遵循實(shí)施的一種掃查方法。在斜探頭檢測(cè)時(shí)僅使用一個(gè)探頭在兩邊掃查的一種方便的方法。放探頭對(duì)焊縫線成一定的角度，讓這種運(yùn)動(dòng)平行于焊縫線（看圖7）。 圖7.在焊縫鄰近的母材金屬上掃查。（43）掃查不能實(shí)施的區(qū)域 部件，超聲波束不能達(dá)到的檢測(cè)斷面的地方，出現(xiàn)在表面因?yàn)樘筋^接近極限長度及入射點(diǎn)間的最小距離被限止。這種部件被稱為“掃描不能實(shí)行的區(qū)域”，在串列式掃查時(shí)，它遵行試樣兩邊的鄰近是掃描不

10、能實(shí)行的區(qū)域（看圖8）。 圖8.掃查不能實(shí)行的區(qū)域（44）邊壁回波 從邊表面反射的回波（45）跨距 在檢測(cè)表面上從斜探頭的入射點(diǎn)到1跨距的距離被稱作為1跨距。以及縮寫為1S。探頭到焊縫距離，探頭到缺陷距離以及同樣的被定量地指示作為0.5S，1.5S以及諸如此類（看圖9）。 圖9.跨距點(diǎn)，跨距（46）跨距點(diǎn) 斜探頭探測(cè)時(shí)，超聲波束由檢測(cè)表面反射的點(diǎn)或檢測(cè)面對(duì)邊的表面反射的點(diǎn)。由檢測(cè)面對(duì)面地表面反射的超聲波束的點(diǎn)稱作為05.S跨距點(diǎn)以及對(duì)檢測(cè)表面和再一次到達(dá)檢測(cè)表面的點(diǎn)稱作為1跨距（看圖9）。（47）方形掃查 在斜探頭檢測(cè)時(shí)，在一個(gè)選定的距離移動(dòng)探頭與焊縫線成直角的掃描方法（看圖2）。（48）標(biāo)注

11、孔 當(dāng)實(shí)施增益調(diào)節(jié)時(shí)，用作標(biāo)注反射源的一個(gè)孔有形狀和尺寸，以及在參考試塊上制作和標(biāo)準(zhǔn)化。（49）標(biāo)準(zhǔn)試塊折射角 用標(biāo)準(zhǔn)試塊A1或標(biāo)準(zhǔn)試塊A3測(cè)定的折射角。（50）跨騎掃查放每一個(gè)探頭在焊縫線兩側(cè)的掃查方法（雙探頭技術(shù)的一種）以及讓這些探頭為了檢測(cè)諸如橫向裂紋。在同時(shí)移動(dòng)以及在斜探頭檢測(cè)時(shí)對(duì)著焊縫線垂直方向移動(dòng)。圖10.跨騎掃查（51）串列式比較線 在焊接完成后因?yàn)闄z測(cè)面的位置不能被知道先于焊接在搜索表面。在剖口情況下離剖口面固定距離上標(biāo)記的線。當(dāng)在決定串列式比較線時(shí)此線組成基礎(chǔ)（看圖11）。 圖11. 串列式比較線（52）串列式參考線 當(dāng)探頭在串列式搜索移動(dòng)時(shí)構(gòu)成基礎(chǔ)的線。通常這條線被提供在離

12、檢測(cè)面0.5跨距的地方（看圖1）。（53）串列式搜索法 在斜探頭探傷時(shí)為了檢測(cè)垂直于掃查面的缺陷兩個(gè)探頭一前一后排列用一個(gè)探頭作為發(fā)射探頭，另一個(gè)探頭作為接收探頭實(shí)施的缺陷掃查方法（看圖1）。（54）檢測(cè)頻率超聲波檢測(cè)使用的頻率，通常地使用0.4到15MHz。 （55）時(shí)基線 陽極射線管的橫軸。（56）超聲波 20KHZ以上的聲波，當(dāng)它能在確定方向以集中成銳角傳送能量時(shí)，超聲波被用作檢測(cè)缺陷。（57）超聲波范圍 幾乎不出現(xiàn)缺陷回波及衰減相對(duì)低的區(qū)域。（58）V形掃查 這種掃查方法意味著一收一發(fā)兩個(gè)探頭被相互放置在對(duì)面距離一跨距距離及超聲波束在試樣中以字母V形傳播的一種方法。（59）楔塊 安裝在

13、探頭前面形狀似楔的合成樹脂用作收發(fā)超聲波與檢測(cè)表面成一角度。（60）鋸齒形掃查 在斜探頭檢測(cè)時(shí)通過平行于焊縫線移動(dòng)探頭來回移動(dòng)掃查并或多或少的移動(dòng)掃查而實(shí)施的一種掃查方法（看圖12）。 圖12.鋸齒形掃查。5.設(shè)備5.1標(biāo)準(zhǔn)試塊（STB）使用STB-A1和STB-A3規(guī)定在和5.1.2。1）STB-A1 STB-A1用作測(cè)定聲速入射點(diǎn)控制掃描范圍及STB折射角的測(cè)定（看圖13）。 圖13. STB-A1的外形。2）STB-A3用作測(cè)定聲速入射點(diǎn)控制掃描范圍及STB折射角的測(cè)定（看圖14）。STB-A3可用在標(biāo)稱頻率4或5MHZ的斜探頭和8×9或10×10mm公稱尺寸的探頭，

14、提供250mm內(nèi)的探測(cè)范圍。 圖14. STB-A3的外形5.2基本校準(zhǔn)試塊（BCB）1）美國船檢局的基本校準(zhǔn)試塊（ABS-BCB）。 基本校準(zhǔn)試塊被用作控制靈敏度（看圖15）。 焊縫接頭厚度 基本校準(zhǔn)試塊 T25mm 20mm或T 50mmT25mm 40mm或T100mmT50mm 80mm或T 標(biāo)準(zhǔn)試塊要求：1.材料與產(chǎn)品相同及熱處理，材料要檢測(cè)過。2.傳導(dǎo)掃描的表面要磨光。部件要檢測(cè)過。3.使用斜探頭時(shí)長度要足以允許最小兩個(gè)半跨距（1個(gè)V字路徑）的聲速。4.校準(zhǔn)反射孔要鉆平行于搜查表面。5.校準(zhǔn)反射孔為1.2mm直徑38mm深。5.3耦合劑象油或CMC溶液（漿糊）用作為耦合劑，有時(shí)候水

15、可以被用在平的表面。5.4探傷儀 探傷儀必備的功能： 1)使用的探傷儀必須是A型脈沖回波型超聲波探傷儀。 2）無論是單擺還是雙擺都能被使用。 3）探傷儀應(yīng)至少具有2（2.25）和5MHZ兩種可操作頻率。 4）增益控制器應(yīng)不大于每檔2dB及整個(gè)控制量不小于50dB。 5）在指示器上檢出的缺陷形狀應(yīng)是清楚的以便甚至門外缺陷應(yīng)不妨礙工作。回波升起的部體和頭部應(yīng)顯著地清楚和容易看見。 6）刻度板能進(jìn)入用回波高度刻度線和是易于附著于或進(jìn)一步確定，測(cè)量誤差由于平行應(yīng)是小的。 7）閘門范圍應(yīng)能在20%到100的范圍內(nèi)，在指示器的刻度板上任意的調(diào)整以及應(yīng)附著用聲或光的報(bào)警功能。 8）能連續(xù)調(diào)節(jié)拾取那些有關(guān)于時(shí)

16、間軸和垂直軸有可能會(huì)運(yùn)動(dòng)在使用期內(nèi)，應(yīng)附著鎖緊功能。探傷儀必需的性能。 1）垂直線形應(yīng)按ABS船體焊縫無損檢測(cè)規(guī)范3節(jié)測(cè)定，應(yīng)是在屏幕滿刻度高的±5%范圍內(nèi)。 2）水平線性應(yīng)按ABS船體焊縫無損檢測(cè)規(guī)范3節(jié)測(cè)定，應(yīng)是在接近點(diǎn)±5%范圍內(nèi)。 3）波幅的控制線性應(yīng)按ABS船體焊縫無損檢測(cè)規(guī)范3節(jié)測(cè)定，以及是在下述范圍內(nèi)。建立的指示在滿屏的% 控制dB改變指示限制滿屏的% 80%-6dB32 to 48%80%-12dB16 to 24%40%+6dB64 to 96%20%+12dB64 to 96% 4）除（1）特別規(guī)定，探頭線的標(biāo)準(zhǔn)長度應(yīng)是2米。探傷儀的性能核對(duì) 探傷儀應(yīng)根

17、據(jù)給定的項(xiàng)目核對(duì)，應(yīng)開始使用時(shí)及每3個(gè)月。核查結(jié)果不滿足5.4.2規(guī)定的性能時(shí)，探傷儀不能使用。5.5探頭 探頭所需的功能 1）探頭被探傷儀使用。 2）為了便于聲速入射點(diǎn)的測(cè)量，應(yīng)附加斜探頭的兩邊1mm間隔的指導(dǎo)刻度。制作者的名詞和制作號(hào)應(yīng)同時(shí)被標(biāo)記上。 3）斜探頭的公稱尺寸應(yīng)象表1給定的作為規(guī)范。提供的探頭的公稱探頭尺寸用作串列式探傷的除外。 4）直探頭的換能器應(yīng)是圓形的，它的公稱直徑按表2給定。 表1.斜探頭的公稱頻率和傳感器的公稱尺寸。公稱頻率 (MHz)傳感器的公稱尺寸(mm)28x 9, 20x 20, 20x22 4- 58x 9, 10x 10, 20x 20, 20x22 表2

18、.直探頭的公稱尺寸。公稱頻率 (MHz)傳感器的公稱尺寸 (mm)1, 210, 12.5, 20, 24, 28, 304, 510, 20, 28斜探頭需要的性能 1）接近極限距離：接近極限距離應(yīng)在表3給出的數(shù)值之內(nèi)。用作串列式探傷提供的5MHZ的探頭入射點(diǎn)之間的最小距離不大于20mm。 表3.接近極限距離換能器的公稱尺寸(mm)公稱折射角(' )接近極限距離(mm)20x2020x224525603070308 x910x10451560187018 2）折射角的公稱值應(yīng)是45°，60°或70°中的任一種。公稱折射角和標(biāo)準(zhǔn)折射角間的差應(yīng)在+2

19、6;，在普通溫度時(shí)（10到30），在串列式檢查時(shí)，公稱折射角應(yīng)是45°或70°及對(duì)收發(fā)探頭每個(gè)的標(biāo)準(zhǔn)折射角的差不應(yīng)大于2°。直探頭需要的性能 在JISZ2345中規(guī)定了校準(zhǔn)試塊STB V-15-5.6被使用。當(dāng)建立STB V-15-5.6的回波高度，通過結(jié)合探傷儀以刻度板的值得50%被使用，且提高30dB是靈敏噪聲的回波高度或諸如此類不大于指示器刻度值的10%。6.缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)備 6.1檢測(cè)方法的選擇 焊縫的缺陷檢測(cè)應(yīng)按1個(gè)探頭斜角技術(shù)，超聲波束必須垂直面向焊縫線的方向，除非有特別的規(guī)定。直探頭技術(shù)，串列式缺陷檢測(cè)方法，傾斜平行掃查，在焊縫線上的掃查或跨騎式掃查應(yīng)

20、應(yīng)用于那些用一個(gè)斜探頭技術(shù)是困難得地方或特別規(guī)定的地方，在那里比用一個(gè)斜探頭技術(shù)在檢測(cè)缺陷方面更適宜。串列式缺陷檢測(cè)方法應(yīng)應(yīng)用于垂直于檢測(cè)面的或全熔透的焊縫的剖口面未熔合及在剖口面的根部未熔透。提供這種缺陷檢測(cè)不應(yīng)用于小于20mm的焊縫。6.2基本校準(zhǔn)試塊的選擇。 美國船檢局-基本校準(zhǔn)試塊（圖15）被應(yīng)用。6.3頻率的選擇在斜探頭檢測(cè)時(shí)使用的頻率應(yīng)按照表4規(guī)定。而且，在直探頭檢測(cè)缺陷時(shí)使用的頻率應(yīng)按照表5規(guī)定。然而，頻率較低于表4或表5的規(guī)定值可用作超聲波衰減顯著的試塊的缺陷檢測(cè)。 表4. 用作斜探頭檢測(cè)缺陷的公稱頻率。板厚（mm）公稱頻率（MHZ）T405或4T404或26.4檢測(cè)級(jí)別的選擇

21、 檢測(cè)級(jí)別應(yīng)按照檢測(cè)缺陷的目的來選擇。6.5檢測(cè)缺陷的時(shí)間 規(guī)定焊縫需進(jìn)行焊后熱處理的，缺陷檢測(cè)應(yīng)在最終熱處理完成以后實(shí)施。6.6焊縫表面的修整。 焊縫加強(qiáng)的形狀對(duì)檢測(cè)結(jié)果有影響的，焊縫應(yīng)充分地修整。6.7掃查表面的修整。 在焊縫檢測(cè)的過程中，探頭接觸的表面應(yīng)消除刻痕，消除油漆，焊接飛濺，污垢，其他外來物或探頭與掃查表面密切接觸的允許的過份的粗糙。6.8母材的缺陷檢測(cè) 在斜探頭檢測(cè)缺陷時(shí)超聲波束通過的工件母材作為規(guī)則應(yīng)先經(jīng)過直探頭探傷及妨礙探傷的缺陷應(yīng)記錄。此時(shí)靈敏度要在無缺陷區(qū)域調(diào)節(jié)，以便第一次底面反射是滿屏高的80%。在板厚小于等于40mm以上時(shí)使用的探頭應(yīng)是4-5MHZ，10-20mm。

22、在板厚大于40mm時(shí)使用2-4 MHZ，20-28mm直徑的探頭。7.探傷儀的調(diào)整7.1斜探頭檢測(cè)器的調(diào)整 探頭入射點(diǎn)的測(cè)定用STB-A1和STB-A3測(cè)定1mm。測(cè)量范圍的調(diào)整測(cè)量范圍應(yīng)不小于使用的聲束路徑及需要的最小范圍。調(diào)整通過使用STB-A1或STB-A3來控制到精度±1%。 STB折射角的測(cè)量 用STB-A1或STB-A3以0.5°的單位測(cè)量。 劃分回波高度曲線的準(zhǔn)備 區(qū)域劃分的決定。 1）在前的條款中，準(zhǔn)備劃分回波高度曲線中，離開最低線至少第2條或更高位置的一條曲線應(yīng)被選作波幅拒絕標(biāo)準(zhǔn)線（ARL），這條線應(yīng)取作為靈敏度控制參考線。作為一條規(guī)則ARL線應(yīng)在用來評(píng)價(jià)

23、缺陷回波的聲速路徑范圍內(nèi)以及在40%的回波高度以上。劃分回波高度低于ARL線6dB的曲線應(yīng)被取作為忽略不計(jì)。標(biāo)準(zhǔn)線（DRL）看圖18 2）回波高度區(qū)域劃分 由ARL線和DRL線劃分的區(qū)域被指定給出在表6。表6.回波高度區(qū)域劃分回波高度范圍回波高度區(qū)域DRL線及以下IDRL線以上到ARLIIARL線以上III 靈敏度校正 在試樣表面粗糙及超聲波的入射被阻礙的情況下，要檢測(cè)的表面是曲的及按照材料的質(zhì)量衰減與校準(zhǔn)試塊比較是顯著的。用ABS-BCB調(diào)整靈敏度時(shí)，找出靈敏度校正量的方法，靈敏度校正量由下述給定的方法找出。 1）連接探傷用的探頭及有同樣形狀的探頭到探傷儀上，以同樣方式調(diào)整要使用的測(cè)量范圍作

24、為掃查方法的應(yīng)用。 2）通過象在圖19（a）規(guī)定在ABS-BCB表面排列探頭調(diào)整之間的距離得到最大的發(fā)射脈沖，讓這個(gè)最大的發(fā)射脈沖是80%及讀出增益V1（dB）。 3）按照相同的順序按圖19（b）規(guī)定在實(shí)際試樣表面排列使最大發(fā)射脈沖是80%，讀出增益V2（dB）。 4）試樣和ABS-BCB兩者的聲速路徑是不一致的，讀出在ABS-BCB按圖19（c）規(guī)定聲速路徑v2的值及由內(nèi)插法假設(shè)V2的值。 5）拿|V1-V2|的值作為靈敏度的修正值。 6）已經(jīng)得到的靈敏度的修正量是不大于2 dB，不需要靈敏度修正。圖19.找出靈敏度的修正。a, ABS-BCB ; b,試樣; c, 靈敏度的修正值 工作靈敏

25、度的控制 引導(dǎo)增益控制以便ABS-BCB的校正孔德回波高度與ARL線一致及然后加上靈敏度修正量到上面得到工作靈敏度。 調(diào)整探傷儀的檢測(cè)時(shí)間。 入射點(diǎn)，STB折射角，測(cè)量范圍和工作靈敏度在檢測(cè)前要控制，這些參數(shù)在每四小時(shí)工作要檢測(cè)一次。7.2 直探頭檢測(cè)儀器的調(diào)整 測(cè)量范圍的調(diào)整 1）按標(biāo)準(zhǔn)區(qū)分回波高度的曲線應(yīng)使用實(shí)際使用的探頭來準(zhǔn)備及在刻度板上進(jìn)入。然而，在使用的聲速路徑不大于50mm或10mm的公稱直徑以及使用的聲速路徑不大于20mm，區(qū)分回波高度的曲線是不要準(zhǔn)備的。 2）在準(zhǔn)備區(qū)分回波高度曲線時(shí)，探頭應(yīng)放在圖20給出的位置，及每個(gè)最大回波高度的峰值位置應(yīng)給出一條區(qū)分回波高度的曲線（看圖21

26、） 圖20 區(qū)分回波高度的曲線準(zhǔn)備的探頭的位置 3）從這條區(qū)分回波高曲線的在高度上差6dB的不少于2條區(qū)分回波高度曲線應(yīng)被準(zhǔn)備（看圖21）。圖21.區(qū)分回波高度曲線準(zhǔn)備的例子。 區(qū)間區(qū)分的確定 區(qū)間區(qū)分應(yīng)按圖22給定的確定。 圖22.區(qū)間區(qū)分的例子 靈敏度的修正 試樣表面粗糙及超聲波的入射被阻止的情況，檢測(cè)表面是曲面及按材質(zhì)衰減與校正試塊比較是顯著的。 工作靈敏度控制 實(shí)施增益控制以便ABS-BCB的校正孔的圖波高度與ARL線一致及然后加靈敏度的校正量與它即得到工作靈敏度。 探傷儀的調(diào)整與核對(duì)時(shí)間 測(cè)量范圍和工作靈敏度應(yīng)在剛開始工作時(shí)實(shí)施和每工作四小時(shí)為了進(jìn)行核對(duì)而實(shí)施。7.3 串列式檢查儀器

27、的調(diào)整 測(cè)量范圍的調(diào)整 在調(diào)整測(cè)量范圍以后，以便聲速路徑對(duì)應(yīng)于試樣接近一跨距按照單擺頭方法通過使用STB-A1或STB-A3，實(shí)施對(duì)試樣掃查及標(biāo)記，通過由標(biāo)記得到的最大回波的回波路徑相一致。 區(qū)分回波高度的曲線的準(zhǔn)備 按圖23給出的在探傷儀的刻度板上初步地提供區(qū)分回波高度的曲線。拿刻度板的40%的高度的線作為DRL線，而且，拿這根線高6dB的線作為ARL線。 區(qū)域區(qū)分的確定 按圖23給出的確定區(qū)域區(qū)分。 圖23.區(qū)分回波高度和區(qū)域區(qū)分的曲線的例子。 工作靈敏度的控制 1）板厚大于20mm及小于40mm的情況下，通過V-掃查對(duì)試樣的超聲波聲區(qū)域?qū)嵤┰鲆婵刂埔员慊夭ǜ叨扰cDRL線相一致，工作靈敏度

28、通過提高16dB得到。 2）板厚大于40mm及小于75mm的情況下，通過V-掃查對(duì)試樣的超聲波聲區(qū)域?qū)嵤┰鲆婵刂埔员慊夭ǜ叨扰cDRL線相一致，參考靈敏度通過提高10dB得到。 3）板厚大于75mm的情況下，通過V-掃查對(duì)試樣的超聲波聲區(qū)域?qū)嵤┰鲆婵刂埔员慊夭ǜ叨扰cDRL線相一致，參考靈敏度通過提高14dB得到。當(dāng) 要檢測(cè)的板厚范圍是從表面到4/t時(shí)，工作靈敏度應(yīng)低于參考靈敏度4dB。當(dāng)要檢測(cè)的板厚范圍是從表面到4/t到2/t時(shí)，工作靈敏度應(yīng)低于參考靈敏度2dB。當(dāng)要檢測(cè)的板厚范圍是從2/t到背表面時(shí)，工作靈敏度應(yīng)是參考靈敏度。 探傷儀的調(diào)整及校核時(shí)間 入射點(diǎn)，STB折射角，測(cè)量范圍和工作靈敏度

29、應(yīng)在開始工作時(shí)被實(shí)施以及每工作4小時(shí)后進(jìn)行校核實(shí)施。8.缺陷檢測(cè)8.1探頭的選擇 作為規(guī)則使用的擺頭應(yīng)按表7選擇 表7.探頭的公稱折射角板厚(mm)使用的探頭的公稱折射角（度）8 to 40 70°40 to 6070°and 60°超過60聯(lián)合使用60°和45°或聯(lián)合使用70°和45°8.2掃查表面和檢測(cè)缺陷方法 1）掃查表面的選擇和缺陷檢測(cè)方法的選擇。作為規(guī)則掃查表面和缺陷檢測(cè)方法的選擇。 表8.掃查表面和缺陷檢測(cè)方法。接頭形狀板厚（mm）掃查表面缺陷檢測(cè)方法 對(duì)接接頭100 單面兩側(cè)一次反射法100雙面兩側(cè)直射法T型接

30、頭 角接頭60 單面單側(cè)直射法及一次反射法60雙面單側(cè)直射法圖24.表面及側(cè)面 22）缺陷檢測(cè)方法缺陷檢查應(yīng)實(shí)施以便超聲波束方向?qū)⒉簧儆?個(gè)方向以便防止由于缺陷的傾斜而漏檢。缺陷如圖25到29所示：圖25.板厚不大于100mm的對(duì)接焊縫的缺陷檢測(cè)。 圖26.板厚大于100mm的對(duì)接焊縫的缺陷檢測(cè)。圖27.板厚不大于60mm的T型焊縫和角焊縫的缺陷檢測(cè)。圖28.板厚大于60mm的T型焊縫和角焊縫的缺陷檢測(cè)。 圖29.橫向缺陷的缺陷檢測(cè)為了檢測(cè)可能出現(xiàn)在焊縫中的橫向缺陷，探頭應(yīng)與焊縫軸成15°的角度及平行于焊縫長度移動(dòng)。對(duì)于表面磨平的焊縫，探頭放在焊縫表面即1/2焊縫軸與聲束平行向著焊縫

31、的方向移動(dòng)。8.3缺陷檢測(cè)覆蓋在掃查表面上通過移動(dòng)探頭檢測(cè)的體積以便掃查到整個(gè)檢測(cè)體積，探頭每次通過應(yīng)重迭垂直于掃查方向換能器尺寸的最小的10%（壓電晶片）。8.4探頭移動(dòng)的速率 檢測(cè)時(shí)探頭移動(dòng)的速率不超過150mm/秒除非校準(zhǔn)被證明了掃查速度。8.5回波高度的區(qū)域?qū)⑻筋^放置在給出最大高度的位置和方向，讀出發(fā)現(xiàn)最大回波高度的區(qū)域。8.6 缺陷指示長度的測(cè)定顯示最大回波高度探頭在焊縫距離上左右掃查的實(shí)施及在這種情況下某些橫向掃查的實(shí)施，但不實(shí)施轉(zhuǎn)動(dòng)掃查。使用探頭楔的中心線作為入射點(diǎn)，缺陷的末端象在.1），2)及所指示的那樣確定，應(yīng)以mm為單位測(cè)定及測(cè)定的值取作為缺陷指示長度。 斜探頭和直探頭的檢

32、測(cè)1）大于ARL的指示?；夭ǜ叨却笥贏RL的指示，缺陷的末端被定義為信號(hào)下降到ARL的50%的那個(gè)點(diǎn)（6dB） 2）大于DRL的指示 回波高度等于或小于ARL的指示，缺陷的末端被定義為回波高度還是在DRL距離等于1/2較大的晶片或首先出現(xiàn)（即降到最大回波高度的1/2，無論哪個(gè)點(diǎn)定義為最短缺陷長度）。 串列式檢查 對(duì)于回波高度大于DRL的指示，缺陷的末端點(diǎn)定義為信號(hào)降到DRL的那個(gè)點(diǎn)。9.驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) 9.1大于ARL的指示。 1）長度大于12.5mm的指示拒收。 2）長度為4.8mm到12.5mm的指示要按進(jìn)行評(píng)價(jià)。 9.2 長度小于4.8mm的可忽略不計(jì)。 1）長度大于DRL的指示。 如果信號(hào)指

33、示缺陷長度大于圖30分別顯示的單一缺陷或總的累積缺陷長度的指示不能接收。2）長度小于4.8mm的指示可忽略不計(jì)3）指示小于DRL線的指示小于DRL線的指示可忽略不計(jì)圖30.超聲波指示大于DRL的最大接收長度。10.記錄 結(jié)果應(yīng)記錄并附上實(shí)施超聲波檢測(cè)人員的資格證書。 焊縫超聲檢測(cè)報(bào)告報(bào)告號(hào)：產(chǎn)品名稱工程編號(hào)工程名稱焊接方法板厚表面狀況儀器型號(hào)探頭磁 粉 檢 測(cè) 程 序目 錄 表1.范圍2.參考3.人員資格4.定義5.裝置6.磁粉磁場(chǎng)指示器7.檢測(cè)時(shí)間8.檢測(cè)方法9.相關(guān)指示10.驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)11.記錄1.范圍 本程序包括了鐵磁性材料的磁粉檢測(cè)這些規(guī)定被擴(kuò)大運(yùn)用于工件表面或近表面裂縫和其他缺陷檢測(cè)2

34、.參考文獻(xiàn) a)ABS船體焊縫無損探傷導(dǎo)則第4章。 b)ASTME 709磁粉檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則。 c)JISZG 0565 鐵磁性材料的磁粉檢測(cè)方法和磁痕的分級(jí)。3.人員資格. 實(shí)施檢測(cè)的人員須按照SNT-TC-IA推薦實(shí)施的滿足ASNT或CCS規(guī)則的NDT人員鑒定程序并獲得相應(yīng)資格的人員。4.定義 本標(biāo)準(zhǔn)中使用的主要術(shù)語的意義如下所述： 1）磁粉用作檢測(cè)的鐵磁性材料的細(xì)粉。2）熒光磁粉 在紫外線照射時(shí)產(chǎn)生熒光的磁粉。3）非熒光磁粉不產(chǎn)生熒光的磁粉。4）磁粉的適用性易于使磁粉到達(dá)檢測(cè)工件的操作。5）分散劑 在好的分散條件下將磁粉施加于檢測(cè)工件表面作為媒質(zhì)的氣體或液體。6）干法 使用散布在氣體中的干

35、磁粉施加磁粉的一種方法。7）濕法 使用散布和懸浮在適當(dāng)?shù)囊后w中的磁粉施加磁粉的一種方法。8）磁懸液 用于濕法的散布和懸浮著磁粉的液體。9）磁粉樣式 在檢測(cè)工件表面粘附的磁粉所產(chǎn)生的樣式。10）磁痕 在檢測(cè)工件的缺陷部分上聚集的磁粉產(chǎn)生的磁粉樣式。11）偽顯示 不是由缺陷而是由其他原因產(chǎn)生的磁粉樣式。12）磁化電流 在檢測(cè)工件中感應(yīng)磁流所使用的電流。13）糾正區(qū)設(shè)備 能夠應(yīng)用由交流轉(zhuǎn)化為直流磁化電流的磁化設(shè)備。14）接觸墊 在檢測(cè)工件和電極之間對(duì)檢測(cè)表面給與良好的接觸和良好的導(dǎo)電性的襯墊，因而預(yù)防檢測(cè)件的局部燃燒。15）連續(xù)法 在流過磁流或附著一個(gè)永久磁體時(shí)完成磁粉施加的方法。16）剩磁法 在磁

36、化電流已經(jīng)被關(guān)掉后再施加磁粉的一種方法。17）去磁法 在檢測(cè)工件被磁化時(shí)，由出現(xiàn)在檢測(cè)工件上的磁極而感應(yīng)出的磁場(chǎng)而施加的磁場(chǎng)。18）有效磁場(chǎng) 在檢測(cè)時(shí)實(shí)際作用在工件上的磁場(chǎng)。例如，在線圈法時(shí)，由于去磁場(chǎng)減少的施加磁場(chǎng)的剩磁。19）有效區(qū)域 對(duì)客觀缺陷必須的磁化范圍內(nèi)，能夠由觀察者肯定確認(rèn)的一種施加磁粉而產(chǎn)生的磁痕的區(qū)域。20）集膚效應(yīng) 交流電和交流磁流施加到檢測(cè)工件在靠近表面的部分累積的現(xiàn)象。5.設(shè)備5.1檢測(cè)設(shè)備1）檢測(cè)設(shè)備應(yīng)能在檢測(cè)工件實(shí)施三種操作，即：磁化，施加磁粉，觀察。2）檢測(cè)設(shè)備應(yīng)能在適宜的靈敏，按照形狀，材料的大小質(zhì)量，表面條件和自然的缺陷進(jìn)行有效的檢測(cè)。3）磁化設(shè)備可以是使用電

37、流系統(tǒng)或永久磁鐵系統(tǒng)和以前的系統(tǒng)。由磁化電流進(jìn)入的類型是直流系統(tǒng)合交流系統(tǒng)來劃分。4）一個(gè)磁軛的磁化力應(yīng)通過在一塊鋼板上測(cè)試提升力來確定。提升力與磁軛的電磁強(qiáng)度有關(guān)。交流電磁軛至少應(yīng)有4.5kg的提升力，直流電磁軛在它們被使用的最大極間距離上有18.1kg的提升力。5）使用觸頭法。場(chǎng)強(qiáng)正比于使用的電流，但隨著觸頭的間距和檢測(cè)的斷面的厚度而變化。對(duì)材料在19mm以下時(shí)，使用觸頭間距法時(shí)，推薦磁化電流從90到110A/25mm。對(duì)材料在19mm以上時(shí)，使用觸頭間距法時(shí)，推薦磁化電流從100到125A/25mm。觸頭空間間距應(yīng)不大于200mm，觸頭間距小于75mm通常不實(shí)行由于觸頭周圍的磁粉帶。6）

38、隨著在檢測(cè)工件中能感應(yīng)出的磁流的最大值，永久磁鐵系統(tǒng)設(shè)備應(yīng)清楚的指示。以及電磁系統(tǒng)一種應(yīng)能附加標(biāo)記電流的種類和頻率。7）用于濕法施加磁懸液的設(shè)備，在磁懸液桶中應(yīng)裝備攪拌器使容易穩(wěn)定均勻地將懸浮的磁粉施加到被檢工件，以及不擾亂產(chǎn)生的磁粉圖像。8）在干法中施加磁粉的設(shè)備應(yīng)總能穩(wěn)定施加好干磁法于被檢工件，在均勻的分布條件下，不干擾磁粉圖像。9）使用熒光粉檢測(cè)，使用一盞紫外線輻照器。紫外線輻照器應(yīng)裝備主要是通過365nm附近的紫外線的過濾器，能發(fā)射足夠強(qiáng)的紫外線以便清楚地辨識(shí)在服務(wù)條件下的熒光磁粉現(xiàn)象。5.2磁粉和磁懸液 1）在施加時(shí)由于使用的分散劑的品質(zhì)，磁粉被分級(jí)成干法的一種和濕法的一種。而由于觀

39、察方法的不同而分級(jí)成熒光磁粉和非熒光磁粉。 2）磁粉應(yīng)有決定材料的品質(zhì)，表面條件和被檢工件的自然缺陷的適當(dāng)?shù)拇判?，磁粉尺寸，分散特性，懸浮特性和色調(diào)。3）對(duì)于濕法，懸浮液由煤油，水等組成，作為分散劑再加上適宜的防銹劑以及必須使用表面活性劑。4）散布在懸浮液中的磁粉濃度由實(shí)際施加位置處每單位體積（100ml）懸浮液中包含的磁粉的體積（ml）來表示，以及應(yīng)考慮磁粉的品質(zhì)和尺寸。特別對(duì)熒光磁粉，應(yīng)確定考慮磁粉施加的時(shí)間和磁粉施加的方法再加上磁粉尺寸，避免過濃。5）從軟管或噴嘴取100ml磁懸液并讓其沉淀近30分鐘，對(duì)熒光磁粉推薦沉淀體積在100ml液體樣品中從0.1ml到0.5ml。 非熒光磁粉每1

40、00ml液體樣品中從1.2ml到2.4ml，除非磁粉制造商另外規(guī)定。6.磁場(chǎng)指示器 6.1必須證明磁場(chǎng)的適當(dāng)方向，必須使用磁場(chǎng)指示器。在使用這個(gè)指示器時(shí)，通過指示器的銅面磁粉形成清楚地限定線，一個(gè)適宜的流通或場(chǎng)強(qiáng)被指示。 6.2這個(gè)指示器被用作配置指示在被檢工件表面。 6.3磁場(chǎng)指示器形狀和尺寸由圖1給定使用。 圖1，磁場(chǎng)指示器形狀和尺寸 7.檢測(cè)時(shí)間 7.1被檢工件原則上應(yīng)在所有加工和處理程序都完成得條件下進(jìn)行檢測(cè)。然而，當(dāng)表面處理妨礙缺陷的檢出時(shí)，磁粉檢測(cè)應(yīng)在處理前進(jìn)行。7.2當(dāng)在裝配的情況下，如滾動(dòng)軸承，在檢測(cè)后磁粉的完全出去是困難的，因此產(chǎn)品的完成可能受影響，檢測(cè)應(yīng)在部件裝配前進(jìn)行，而

41、不是在裝配后進(jìn)行。7.3當(dāng)被檢工件的表面溫度超過315.6時(shí)，不應(yīng)進(jìn)行干法檢測(cè)。當(dāng)被檢工件的表面溫度超過57.2時(shí)，不應(yīng)進(jìn)行濕法檢測(cè)。8.檢測(cè)方法 8.1檢測(cè)方法的分級(jí)：檢測(cè)方法的分級(jí)是與磁粉的施加，磁粉的種類，磁粉的分散劑，磁化電流的類型和磁化方法有關(guān)，如表1所示： 表1.檢測(cè)方法的分級(jí)。分級(jí)因子分級(jí)相關(guān)于磁粉施加的磁化時(shí)間連續(xù)磁化法剩磁法磁粉種類熒光磁粉非熒光磁粉磁粉分散劑干法，濕法磁化電流的類型直流，交流磁化方法觸點(diǎn)法，磁軛法8.2 檢測(cè)操作：檢測(cè)應(yīng)包括這樣一些操作，如預(yù)處理、磁化、施加磁粉、磁粉圖象的觀察、記錄和退磁，這些操作要根據(jù)各種檢測(cè)的目的進(jìn)行適當(dāng)?shù)慕Y(jié)合。8.3預(yù)處理 1）預(yù)處理

42、的面積應(yīng)比檢測(cè)的焊縫更寬一些，這個(gè)面積應(yīng)在檢測(cè)向著母材側(cè)大于25mm。 2）作為規(guī)則，被檢工件應(yīng)不裝配成部件，這樣如果被磁化，應(yīng)必須退磁。 3）如果影響檢測(cè)的正確性或污染磁懸液，油脂沾污和其他粘著在被檢工件，油漆的涂層，電鍍及其他應(yīng)去處使被檢工件清潔。 4）當(dāng)使用干磁粉或從使用的清潔液不同種類的懸浮液，檢測(cè)表面應(yīng)完全干燥。5)為了防止燃燒和改進(jìn)電流有效的傳導(dǎo)，被檢工件的表面和電極將相互接觸，應(yīng)磨光清潔。6）油孔及其他孔檢測(cè)后難以去除粘著在它們內(nèi)壁的磁粉，檢測(cè)前應(yīng)用無害材料塞緊。8.4 磁化 1）在做磁化時(shí)，施加磁粉的時(shí)間和必須的方向以及磁場(chǎng)強(qiáng)度應(yīng)決定考慮放置的特性，磁化特性，形狀尺寸，表面條件

43、，檢測(cè)工件預(yù)期缺陷的種類，電流強(qiáng)度以及有效面積應(yīng)相應(yīng)選擇。方向和磁場(chǎng)強(qiáng)度的確認(rèn)是必要的，應(yīng)使用一個(gè)磁場(chǎng)指示器（第6節(jié)）。 2）為了磁化，表2的大多數(shù)適宜的方法應(yīng)被選擇在下述項(xiàng)目應(yīng)特別考慮。 （1）磁場(chǎng)應(yīng)盡可能地與預(yù)期的缺陷的方向成直角。 （2）磁場(chǎng)盡可能地應(yīng)與檢測(cè)表面的方法平行。 （3）去磁場(chǎng)應(yīng)小 （4）檢測(cè)表面不允許燃燒，應(yīng)采取電流不直接流過檢測(cè)工件的磁化方法。 表2.磁化方法。磁化方法描述圖觸頭法 檢測(cè)工件的 傳導(dǎo)電流通過適當(dāng) 的點(diǎn)附著在兩個(gè)觸點(diǎn)上圖2磁軛法 放檢測(cè)工件或部件在一個(gè)電磁鐵 或永久磁體的相對(duì)的極之間檢測(cè)圖3圖2.觸點(diǎn)法 圖3.磁軛法 3）對(duì)于磁化電流的種類，大多數(shù)適宜的一種應(yīng)

44、采取表1，下述項(xiàng)目應(yīng)加以特別考慮。 （1）用交流電磁化，作為規(guī)則，僅應(yīng)用于表面缺陷檢測(cè)。 （2）用交流電磁化，作為規(guī)則，僅應(yīng)用于連續(xù)磁化法。 （3）用直流電磁化，能檢測(cè)表面缺陷和近表面缺陷。 （4）用直流電磁化，適用連續(xù)磁化法和剩磁法。 （5）因?yàn)榧w效應(yīng)，交流電對(duì)近表面工件的磁化能力小于直流電。4）作為規(guī)則，磁化電流由）給出有效磁場(chǎng)的方法建立的。然而，在剩磁法中，在檢測(cè)工件中得到有效的足夠的剩余流通密度。5）流動(dòng)電流期間應(yīng)考慮如下項(xiàng)目來建立： （1）對(duì)連續(xù)磁化法，電流流動(dòng)時(shí)間應(yīng)施加磁粉能在期間內(nèi)完成。 （2）對(duì)于剩磁法，作為規(guī)則，流通時(shí)間是1/4到1秒。8.5施加磁粉 1)在施加磁粉時(shí)，均勻

45、地，穩(wěn)定地和小心地施加足量的磁粉于檢測(cè)表面的有效范圍內(nèi)，讓它們粘著于有缺陷的部分。這里，避免使檢測(cè)面弄臟，確保磁粉指示的訊息有一個(gè)好的對(duì)比度。 2）在連續(xù)磁化法中，當(dāng)磁化開始時(shí)，完成磁粉的施加如下進(jìn)行。這里，應(yīng)當(dāng)小心地施加而不要擦掉，在磁化操作完成以后由分散劑的流動(dòng)產(chǎn)生的磁粉圖像。 3）在剩磁法時(shí)，在磁化操作完成以后施加磁粉，這里，應(yīng)當(dāng)小心的施加，在磁粉施加前，避免在檢測(cè)表面與其他鐵磁性接觸。 4)在干粉法中，輕輕地吹或散適量的磁粉，在確認(rèn)在檢測(cè)表面和磁粉很好的干燥后。這里，過量的磁粉用輕柔的氣流吹掉或?qū)z測(cè)表面進(jìn)行輕輕地振動(dòng)或施加足量的磁粉為容易形成磁粉圖像，仔細(xì)地提供給與不會(huì)消去產(chǎn)生的指示

46、。 5）在濕法中，通過舀磁懸液在被檢工件上來施加磁粉，確認(rèn)整個(gè)被檢表面符合條件或浸檢測(cè)工件在懸浮液中磁粉被好地散布然后輕輕取出。在每一種情況下，小心的施加磁粉，避免過速的將磁懸液在檢測(cè)表面流動(dòng)。8.6磁粉圖像的準(zhǔn)備 1）作為標(biāo)準(zhǔn)，在磁粉圖像產(chǎn)生以后，立刻觀察。 2）使用非熒光磁粉的地方，磁粉圖像應(yīng)在日光或足夠亮的照明來清楚地識(shí)別。 3）使用熒光磁粉的地方，磁粉圖像要用在5.19規(guī)定的紫外線燈下觀察，在黑暗里清楚地識(shí)別熒光磁粉圖像。 4）注意有時(shí)由于缺陷以外的原因產(chǎn)生的偽缺陷。偽缺陷包括如下：（1）在剩磁法中的詞瀉。在檢測(cè)工件與任何一種或一件鐵磁性材料接觸時(shí)由漏磁通感應(yīng)產(chǎn)生的不確定的磁粉圖像。（

47、2）突然的斷面的改變的磁粉指示，當(dāng)磁路的斷面積由于被檢工件的形狀的突然改變的地方出現(xiàn)漏磁通產(chǎn)生的含糊的磁粉現(xiàn)象。（3）電流指示，當(dāng)磁化電纜或象輸送大電流與檢測(cè)表面接觸時(shí)，由包括的局部的磁化部件產(chǎn)生的厚而模糊的磁粉圖像。它沿著電纜線出現(xiàn)。（4）電極指示：當(dāng)在極間法時(shí)，電極周圍由于高密度的漏磁通產(chǎn)生的磁粉圖像。它通常呈現(xiàn)成輻射圖像。（5）磁極指示。在磁軛法中，磁極接觸的那些點(diǎn)周圍局部出現(xiàn)由高密度漏磁通產(chǎn)生的磁粉圖像。（6）粗糙表面指示：由于在細(xì)小的凹陷處和突出部分出現(xiàn)的漏磁通或在凹陷處產(chǎn)生的磁粉沉淀產(chǎn)生的磁粉圖像。（7）材料交叉點(diǎn)指示：在邊界處，不同材料在磁導(dǎo)率或不同的金屬結(jié)構(gòu)出現(xiàn)漏磁通產(chǎn)生的磁粉

48、圖像。 a)在焊接接頭中母材與焊縫之間的交叉點(diǎn)。 b)金屬結(jié)構(gòu)帶 c)在冷加工表面不同工作比部件之間的交叉點(diǎn)。 d)鍛件或軋制金屬的金屬流動(dòng)件。 e)熱處理邊界。5）磁粉圖像應(yīng)通過照相，畫草圖，傳遞（用壓力靈敏粘合帶，磁帶等）記錄，作為必要性?；蛘哂眠m宜的材料固定在檢測(cè)表面上（透明的清漆，清晰的綰帶等等），是必需的。6）一般難以從磁粉圖像來評(píng)估缺陷的深度。因此要確定缺陷深度的地方，可以用比磁粉探傷好的方法。8.7退磁 1）退磁應(yīng)按下述情形實(shí)施。（1）在先前的檢測(cè)磁化可能引起下一次磁化時(shí)有害的影響。（2）檢測(cè)工件的剩磁可能引起后續(xù)機(jī)加工有害的影響。（3）檢測(cè)工件的剩磁可能引起檢測(cè)儀器有害的影響。

49、（4）被檢工件要使用或靠近摩擦件，以及高效鐵粉或另外吸引至部件可能引起的增加摩擦。（5）在其他退磁是必須的地方。2）通常退磁是施加一個(gè)磁場(chǎng)與檢測(cè)時(shí)相同的方法。當(dāng)交互它的方向時(shí)，逐漸減小磁場(chǎng)強(qiáng)度。這兒，磁場(chǎng)初強(qiáng)要大于檢測(cè)時(shí)或大小要檢測(cè)工件磁飽和，磁場(chǎng)從那個(gè)水平要減弱到零。更進(jìn)一步地，在退磁操作后，檢測(cè)工件應(yīng)證實(shí)已經(jīng)退磁了。8.8 檢測(cè)注意事項(xiàng) 1）通過一系列檢測(cè)操作包括磁化，施加磁粉和觀察不可能檢測(cè)整個(gè)檢測(cè)表面的地方，建立一個(gè)有效的面積能由一種單一的檢測(cè)操作檢測(cè)，以及分檢測(cè)表面成適宜的部分，在每個(gè)部分重復(fù)各別的檢測(cè)，這兒有效面積鄰近在它們邊界而且必須相互搭接。 2）缺陷的方向不能被檢測(cè)的活缺陷的檢測(cè)必須在各個(gè)方向需要的地方，磁場(chǎng)至少不少于兩個(gè)方向施加到檢測(cè)工件，檢測(cè)必須兩個(gè)方向都做。這兒通過連續(xù)磁場(chǎng)法，使用一種設(shè)備能磁化檢測(cè)工件在必須的幾個(gè)方向磁化以及能在兩個(gè)方向同時(shí)地進(jìn)行檢測(cè)。 3）當(dāng)使用剩漏法時(shí)，在磁化操作完成到磁粉圖像觀