曲線制作和在鋼軌焊縫探傷中的使用

1、DAC曲線制作和在一、9002制作DAC曲線流程：以中華人民共和國(guó)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) JB4730為例說(shuō)明DAC曲線的制作流程（一）、進(jìn)入設(shè)定參數(shù)界面在主菜單界面中，按【設(shè)定】進(jìn)入?yún)?shù)的設(shè)定界面，調(diào)節(jié)參數(shù)。標(biāo)定好探頭的參數(shù)，在設(shè)定參數(shù)界面中按【回車鍵】，進(jìn)入檢測(cè)界面。（二）、開(kāi)始制作DAC曲線 在檢測(cè)界面時(shí)，按面板上的【功能】鍵，顯示【功能1】 移動(dòng)光標(biāo)到【DAC】，按【回車鍵】，進(jìn)入DAC曲線的編輯 移動(dòng)光標(biāo)到【制作DAC】，按【回車鍵】，開(kāi)始制作DAC曲線（三）、DAC曲線的參數(shù)進(jìn)入DAC曲線的相關(guān)參數(shù)設(shè)置界面。按照探傷工藝調(diào)節(jié)DAC曲線參數(shù)，上圖以中華人民共和國(guó)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) JB4730為例設(shè)置。（四

2、）、記錄試塊人工傷的反射波的峰值點(diǎn)耦合探頭到試塊CSK-IIIA上去，先測(cè)量10MM深短橫孔的反射波： 前后移動(dòng)探頭，找到10mm深孔的最高反射波；調(diào)節(jié)【衰減】，將波高調(diào)到90-80左右。 移動(dòng)光標(biāo)到【A門(mén)位】，使用萬(wàn)用旋鈕調(diào)節(jié)【A門(mén)位】，鎖住反射回波，按面板上的【回車鍵】，則第一點(diǎn)（10mm深1*6短橫孔）記錄下來(lái)了。 從現(xiàn)在開(kāi)始，直到60mm深的橫孔記錄完。只能調(diào)節(jié)【A門(mén)位】。 耦合探頭到試塊CSK-IIIA上去，測(cè)量20MM深短橫孔的反射波。前后移動(dòng)探頭，找到該孔的最高反射回波。移動(dòng)光標(biāo)到【A門(mén)位】，使用萬(wàn)用旋鈕調(diào)節(jié)【A門(mén)位】，鎖住反射回波。 按面板上的【回車鍵】，記錄第二點(diǎn)（20mm深

3、1*6短橫孔） 以此類推，記錄第三點(diǎn)、第四點(diǎn)、第五點(diǎn)、第六點(diǎn)（分別為30mm、40mm、50mm、60mm深的1*6短橫孔） 待第六點(diǎn)記錄完后，將光標(biāo)從【A門(mén)位】上移出（到任意位置），按儀器面板上的【下頁(yè)鍵】，則三條DAC曲線全部顯示出來(lái)。 可改變補(bǔ)償值，補(bǔ)償耦合損失（本實(shí)例不用補(bǔ)償）。 DAC曲線制作好后，如果改變儀器的參數(shù)，如衰減、范圍、移位等，儀器會(huì)提示“參數(shù)已改動(dòng) 請(qǐng)按下頁(yè)鍵”，操作后，DAC曲線會(huì)相應(yīng)的變化。（五)、 保存DAC曲線及其參數(shù)按【功能鍵】，兩次，顯示數(shù)據(jù)處理菜單【存儲(chǔ)】、【打印】、【通訊】。光標(biāo)移動(dòng)到【存儲(chǔ)】，按【回車鍵】，保存DAC曲線，及參數(shù)。1、 雙探頭的DAC曲

4、線無(wú)法9002在儀器上制作，可以在坐標(biāo)圖上以測(cè)得的dB值為縱坐標(biāo)，深度值為橫坐標(biāo)標(biāo)出各平底孔所對(duì)應(yīng)的點(diǎn)。進(jìn)入DAC曲線的相關(guān)參數(shù)設(shè)置界面；調(diào)整：標(biāo)準(zhǔn)為評(píng)定線 +6dB； 定量線 0dB；判廢線 -6dB；（衰減型儀器）（1） 耦合探頭到試塊 A上去，先測(cè)量20MM深橫通孔的反射波前后移動(dòng)探頭，找到20mm深孔的最高反射波；調(diào)節(jié)【衰減】，將波高調(diào)到90-80左右。（2） 移動(dòng)光標(biāo)到【A門(mén)位】，使用萬(wàn)用旋鈕調(diào)節(jié)【A門(mén)位】，鎖住反射回波，按面板上的【回車鍵】，則第一點(diǎn)（20mm深5*6橫通孔）記錄下來(lái)了。從現(xiàn)在開(kāi)始，直到160mm深的橫通孔記錄完。只能調(diào)節(jié)【A門(mén)位】。（3） 耦合探頭到試塊CSK-A

5、區(qū)上去，測(cè)量30MM深橫通孔的反射波。前后移動(dòng)探頭，找到該孔的最高反射回波。移動(dòng)光標(biāo)到【A門(mén)位】，使用萬(wàn)用旋鈕調(diào)節(jié)【A門(mén)位】，鎖住反射回波。（4） 按面板上的【回車鍵】，記錄第二點(diǎn)（30mm深5*6橫通孔）以此類推，記錄第三點(diǎn)、第四點(diǎn)、第五點(diǎn)、第六點(diǎn)、（分別為40mm、80mm、120mm、160mm深的5*6橫通孔）（5） 待第六點(diǎn)記錄完后，將光標(biāo)從【A門(mén)位】上移出（到任意位置），按儀器面板上的【下頁(yè)鍵】，則三條DAC曲線全部顯示出來(lái)可改變補(bǔ)償值，補(bǔ)償耦合損失。DAC曲線制作好后，如果改變儀器的參數(shù)，如衰減、范圍、移位等，儀器會(huì)提示“參數(shù)已改動(dòng) 請(qǐng)按下頁(yè)鍵”，操作后，DAC曲線會(huì)相應(yīng)的變化。

6、（7） 保存DAC曲線及其參數(shù)按【功能鍵】，兩次，顯示數(shù)據(jù)處理菜單【存儲(chǔ)】、【打印】、【通訊】。光標(biāo)移動(dòng)到【存儲(chǔ)】，按【回車鍵】，保存DAC曲線，及參數(shù)。進(jìn)入DAC曲線的相關(guān)參數(shù)設(shè)置界面；調(diào)整：標(biāo)準(zhǔn)為評(píng)定線 +6dB； 定量線 0dB；判廢線 -6dB；（衰減型儀器）（1） 耦合探頭到試塊 B上去，先測(cè)量10MM深橫通孔的反射波前后移動(dòng)探頭，找到10mm深孔的最高反射波；調(diào)節(jié)【衰減】，將波高調(diào)到90-80左右。（2） 移動(dòng)光標(biāo)到【A門(mén)位】，使用萬(wàn)用旋鈕調(diào)節(jié)【A門(mén)位】，鎖住反射回波，按面板上的【回車鍵】，則第一點(diǎn)（10mm深3*8橫通孔）記錄下來(lái)了。從現(xiàn)在開(kāi)始，直到160mm深的橫通孔記錄完。只

7、能調(diào)節(jié)【A門(mén)位】。（3） 耦合探頭到試塊CSK-B區(qū)上去，測(cè)量20MM深橫通孔的反射波。前后移動(dòng)探頭，找到該孔的最高反射回波。移動(dòng)光標(biāo)到【A門(mén)位】，使用萬(wàn)用旋鈕調(diào)節(jié)【A門(mén)位】，鎖住反射回波。（4） 按面板上的【回車鍵】，記錄第二點(diǎn)（20mm深3*8橫通孔）以此類推，記錄第三點(diǎn)、第四點(diǎn)、第五點(diǎn)、第六點(diǎn)、第七點(diǎn)、第八點(diǎn)（分別為30mm、40mm、60mm、100mm、140mm、160mm深的3*8橫通孔）（5） 待第八點(diǎn)記錄完后，將光標(biāo)從【A門(mén)位】上移出（到任意位置），按儀器面板上的【下頁(yè)鍵】，則三條DAC曲線全部顯示出來(lái)可改變補(bǔ)償值，補(bǔ)償耦合損失。DAC曲線制作好后，如果改變儀器的參數(shù)，如衰減

8、、范圍、移位等，儀器會(huì)提示“參數(shù)已改動(dòng) 請(qǐng)按下頁(yè)鍵”，操作后，DAC曲線會(huì)相應(yīng)的變化。（7） 保存DAC曲線及其參數(shù)按【功能鍵】，兩次，顯示數(shù)據(jù)處理菜單【存儲(chǔ)】、【打印】、【通訊】。光標(biāo)移動(dòng)到【存儲(chǔ)】，按【回車鍵】，保存DAC曲線，及參數(shù)。進(jìn)入DAC曲線的相關(guān)參數(shù)設(shè)置界面；調(diào)整：標(biāo)準(zhǔn)為評(píng)定線 +6dB； 定量線 0dB；判廢線 -6dB；（衰減型儀器） 耦合探頭到試塊 C上去，1號(hào)豎孔的反射波（一次波）前后移動(dòng)探頭，1號(hào)豎孔的最高反射波；調(diào)節(jié)【衰減】，將波高調(diào)到90-80左右，移動(dòng)光標(biāo)到【A門(mén)位】，使用萬(wàn)用旋鈕調(diào)節(jié)【A門(mén)位】，鎖住反射回波，按面板上的【回車鍵】，則第一點(diǎn)（1號(hào)豎孔）記錄下來(lái)了。

9、（4）耦合探頭到試塊CSK-C區(qū)上去，2號(hào)孔的反射波（一次波）。前后移動(dòng)探頭，找到該孔的最高反射回波。移動(dòng)光標(biāo)到【A門(mén)位】，使用萬(wàn)用旋鈕調(diào)節(jié)【A門(mén)位】，鎖住反射回波，移動(dòng)光標(biāo)到【A門(mén)位】，使用萬(wàn)用旋鈕調(diào)節(jié)【A門(mén)位】，鎖住反射回波，按面板上的【回車鍵】，則第二點(diǎn)（2號(hào)豎孔）記錄下來(lái)了（5）耦合探頭到試塊CSK-C區(qū)上去，1號(hào)孔的反射波（二次波）。前后移動(dòng)探頭，找到該孔的最高反射回波，移動(dòng)光標(biāo)到【A門(mén)位】，使用萬(wàn)用旋鈕調(diào)節(jié)【A門(mén)位】，鎖住反射回波，按面板上的【回車鍵】，則第三點(diǎn)（1號(hào)豎孔）記錄下來(lái)了；（6）耦合探頭到試塊CSK-C區(qū)上去，2號(hào)孔的反射波（二次波）。前后移動(dòng)探頭，找到該孔的最高反射回

10、波，移動(dòng)光標(biāo)到【A門(mén)位】，使用萬(wàn)用旋鈕調(diào)節(jié)【A門(mén)位】，鎖住反射回波，按面板上的【回車鍵】，則第四點(diǎn)（2號(hào)豎孔）記錄下來(lái)了；（7）待第4點(diǎn)記錄完后，將光標(biāo)從【A門(mén)位】上移出（到任意位置），按儀器面板上的【下頁(yè)鍵】，則三條DAC曲線全部顯示出來(lái)可改變補(bǔ)償值，補(bǔ)償耦合損失。DAC曲線制作好后，如果改變儀器的參數(shù)，如衰減、范圍、移位等，儀器會(huì)提示“參數(shù)已改動(dòng) 請(qǐng)按下頁(yè)鍵”，操作后，DAC曲線會(huì)相應(yīng)的變化。（8） 保存DAC曲線及其參數(shù)按【功能鍵】，兩次，顯示數(shù)據(jù)處理菜單【存儲(chǔ)】、【打印】、【通訊】。光標(biāo)移動(dòng)到【存儲(chǔ)】，按【回車鍵】，保存DAC曲線，及參數(shù)。三、DAC曲線在（一）判廢線、定量線、評(píng)定線的

11、定義。（衰減型儀器）1、判廢線： 以0.5dB步進(jìn)，在DAC基準(zhǔn)線位置-20dB12dB范圍內(nèi)自由調(diào)節(jié)，默認(rèn)狀態(tài)為DAC基準(zhǔn)線位置上方6dB，即DAC-6.0dB；注：DAC三條線由上至下，分別為判廢線、定量線和評(píng)定線，三線位置在一定范圍內(nèi)可自由移動(dòng)調(diào)節(jié)。但不能改變?nèi)€之間次序。DAC基準(zhǔn)線是指已記錄的參數(shù)點(diǎn)回波的峰值所連成的一條曲線。2、 定量線： 以0.5dB步進(jìn)，在DAC基準(zhǔn)線位置-20dB12dB范圍內(nèi)自由調(diào)節(jié)，但不能低于評(píng)定線或高于判廢線、默認(rèn)狀態(tài)為DAC 0.0dB（即基準(zhǔn)線位置）；3、 評(píng)定線： 以0.5dB步進(jìn)，在DAC基準(zhǔn)線位置-20dB12dB范圍內(nèi)自由調(diào)節(jié)，默認(rèn)狀態(tài)為DAC基準(zhǔn)線位置下方6dB，即DAC+6.0dB；（二）（三）傷損的計(jì)算1、利用三條曲線通過(guò)平底孔當(dāng)量計(jì)算公式分別求出三條線的平底孔當(dāng)量：平底孔當(dāng)量計(jì)算公式：df=da×(Xa÷Xf)×10 402若缺陷回波高出或低于三條曲線并要求計(jì)算當(dāng)量時(shí)，請(qǐng)按下頁(yè)鍵” 操作后，屏幕右上角顯示“幅度dB值”