[物理]光學(xué)元件技術(shù)要求與檢驗(yàn)國(guó)際新標(biāo)準(zhǔn)_第1頁(yè)
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根本內(nèi)容弧分34381nETDmmRRETDfL21111RqGLRqPMC/DPSDPC/D非球面非旋轉(zhuǎn)對(duì)稱繞Z軸旋轉(zhuǎn)對(duì)稱面坐標(biāo)軸不重合的回轉(zhuǎn)面橢球面雙曲面拋物面錐面（ab）柱面橢球面雙曲面拋物面錐面（a=b）球面環(huán)帶面平面（斯密特校正板）4.2.1 被測(cè)外表偏差分解與A、B、CSagitta/APV/B(RMSt)PV/C(RMSi)-b-d=e (RMSa)PV1020406080SCRATCHSAMPLE510204050DIGSAMPLERa 0.012Rq15nm ？Rq注意：P1 P4 不要與PI- PIV混淆Rq 2G5GRq 2m5 mmRq 0.001P30.002/1PSD 10P40.001/1-6

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