飛機(jī)故障診斷技術(shù)

1、故障是指產(chǎn)品喪失了規(guī)定的功能，或產(chǎn)品的一個(gè)或幾個(gè)性能指標(biāo)超過了規(guī)定的范圍它是產(chǎn)品的一種不合格狀態(tài)。2 .故障按其對功能的影響分為兩類：功能故障和潛在故障。功能故障是指被考察的對象不能達(dá)到規(guī)定的性能指標(biāo)；潛在故障又稱作故障先兆，它是一種預(yù)示功能故障即將發(fā)生的可以鑒別的實(shí)際狀態(tài)或事件。3 .故障按其后果分四類：安全性后果故障：采取預(yù)防維修的方式；使用性后果故障：對使用能力有直接的不利影響，通 常是在預(yù)防維修的費(fèi)用低于故障的間接經(jīng)濟(jì)損失和直接修理費(fèi)用之和時(shí)，才采用預(yù)防維修方式；非使用性后果故障：對安全性及使用性均沒有直接的不利影響，只是使系統(tǒng)處于能工作但并非 良好的狀態(tài)，只有當(dāng)預(yù)防維修費(fèi)用低于故障后

2、的直接維修費(fèi)用時(shí)才進(jìn)行預(yù)防維修，否則一般采 用事后維修方式；隱患性后果故障：通常須做預(yù)定維修工作。4 .故障按其產(chǎn)生原因及故障特征分類可分為早期故障、偶然故障和損耗故障。偶然故障也稱隨機(jī) 故障，它是產(chǎn)品由于偶然因素引起的故障。對于偶然故障，通常預(yù)定維修是無效的。耗損故障 是由于產(chǎn)品的老化、磨損、腐蝕、疲勞等原因引起的故障。這種故障出現(xiàn)在產(chǎn)品可用壽命期的 后期，故障率隨時(shí)間增長，采用定期檢查和預(yù)先更換的方式是有效的。5 .故障模式或故障類型是故障發(fā)生時(shí)的具體表現(xiàn)形式。故障模式是由測試來判斷的，測試結(jié)果顯 示的是故障特性。6 .故障機(jī)理是故障的內(nèi)因，故障特征是故障的現(xiàn)象，而環(huán)境應(yīng)力條件是故障的外因

3、。7 .應(yīng)力-強(qiáng)度模型：當(dāng)施加在元件、材料上的應(yīng)力超過其耐受能力時(shí)，故障便發(fā)生。這是一種材 料力學(xué)模型。8 .高可靠度狀態(tài)(圖1.2-2 (a):應(yīng)力和強(qiáng)度分布的標(biāo)準(zhǔn)差很小，且強(qiáng)度均值比應(yīng)力均值高得 多，安全余量Sm很大，所以可靠度很高。僅供個(gè)人學(xué)習(xí)參考圖1.2-2 （b）所示為強(qiáng)度分布的標(biāo)準(zhǔn)差較大，應(yīng)力分布標(biāo)準(zhǔn)差較小的情況，采用高應(yīng)力篩選法,讓質(zhì)量差的產(chǎn)品出現(xiàn)故障，以使母體強(qiáng)度分布截去低強(qiáng)度范圍的一段，使強(qiáng)度與應(yīng)力密度曲線下重疊區(qū)域大大減小，余下的裝機(jī)件可靠度提高。圖1.2-2 （c）所示為強(qiáng)度分布標(biāo)準(zhǔn)差較小，但應(yīng)力分布標(biāo)準(zhǔn)差較大的情況，解決的辦法最好是 減小應(yīng)力分布的標(biāo)準(zhǔn)差，限制使用條件和

4、環(huán)境影響或修改設(shè)計(jì)。圖1.2-2應(yīng)力、強(qiáng)度分布對可靠性的影響9 .反應(yīng)論模型：如果產(chǎn)品的故障是由于產(chǎn)品內(nèi)部某種物理、化學(xué)反應(yīng)的持續(xù)進(jìn)行，直到它的某些參數(shù)變化超過了一定的臨界值，產(chǎn)品喪失規(guī)定功能或性能，這種故障就可以用反應(yīng)論模型來描述。串連式反應(yīng)過程：總反應(yīng)速度主要取決于反應(yīng)最慢的那個(gè)過程的速度。并聯(lián)式反應(yīng)過程：總反應(yīng)速度主要取決于反應(yīng)最快的過程的速度。10 .最弱環(huán)模型（串連模型）：認(rèn)為產(chǎn)品或機(jī)件的故障（或破壞）是從缺陷最大因而也是最薄弱的部位產(chǎn)生11 .故障樹分析法簡稱 FTA法（FaultTreeAnalysis ）故障樹分析法是一種將系統(tǒng)故障形成的原因由總體至部分按樹狀逐級(jí)細(xì)化的分析方法

5、。U）頂方件或 中間事件故障樹分析法將最不希望發(fā)生的故障事件作為頂事件，利用事件和邏輯門符號(hào)逐級(jí)分析故障形成原 因。優(yōu)點(diǎn)：直觀、形象，靈活性強(qiáng)，通用性好；缺點(diǎn):理論性必遵輯嚴(yán)謹(jǐn)，建樹要求有經(jīng)驗(yàn)，建 樹工作量大，易錯(cuò)漏。（0省略卅件12 .頂事件和中間事件（矩形）底事件（圓形）開關(guān)事件（房形）省略事件（菱形）僅供個(gè)人學(xué)習(xí)參考僅供個(gè)人學(xué)習(xí)參考13-邏疝與門邏心閂At非不同時(shí)發(fā)生表決門：僅當(dāng)n個(gè)輸入事件中有k個(gè)或k個(gè)以上發(fā)生時(shí)，輸出事件才發(fā)生?頂事件選取原則：1)必須有確切的定義，不能含混不清、模棱兩可。2)必須是能分解的，以便分析頂事件和底事件之間的關(guān)系。3)能被監(jiān)測或控制，以便對其進(jìn)行測量、定量

6、分析，并采取措施防止其發(fā)生。4)最好有代表性。15 . (1)系統(tǒng)級(jí)邊界條件頂事件及附加條件(系統(tǒng)初始狀態(tài)，不允許出現(xiàn)事件，不加考慮事件 )(2)部件級(jí)邊界條件元部件狀態(tài)及概率，底事件是重要部件級(jí)邊界利用邊界條件簡化：與門下有必不發(fā)生事件，其上至或門，則或門下該分支可刪除；與門下有必然發(fā)生事件，則該事件可刪除；或門下有必然發(fā)生事件，其上至與門，則與門下該分支可刪除或門下有必不發(fā)生事件，則該事件可刪除16 . n個(gè)不同的獨(dú)立底事件組成的故障樹，有 2n個(gè)可能狀態(tài)，故可有2n個(gè)狀態(tài)向量 n(X ) xi = min x1, x2 J 11 , x n17 .與門結(jié)構(gòu)故障樹的結(jié)構(gòu)函數(shù)L18 .或門結(jié)

7、構(gòu)故障樹的結(jié)構(gòu)函數(shù) m19 .k/n門結(jié)構(gòu)故障樹的結(jié)構(gòu)函城(X)=UQxji W j Ki20 .底事件的相干性若對第i個(gè)底事件而言，至少存在一對狀態(tài)向量 Y1i=(y1,y2, yi-llyi+l, ,yn)記作(1i,Y)和Y0i=(y1,y2, yi-1,0,yi+1,yn)記作(0i,Y)，滿足(1i,Y)> (0i,Y)，而對其它一切狀態(tài)向量而言，包有(1i,X)中(0i,X)成立，則稱第i個(gè)底事件與頂事件相干。如果找不到狀態(tài)向量滿足(1i,X)>(0i,X),則稱第i個(gè)底事件與頂事件不相干。相干結(jié)構(gòu)函數(shù)：(X)滿足：?故障樹中底事件與頂事件均相干；?(X)對各底事件的狀

8、態(tài)變量xi(i=1,2,口)均為非減函數(shù)21 .相干結(jié)構(gòu)函數(shù)的性質(zhì)(1)若狀態(tài)向量 X=(0,0,。八 則(X)=0;(2)若狀態(tài)向量 X=(1,1, 1)，則(X)=1 ;(3)若狀態(tài)向量 X>Y(即xi >yi,i=1,2,- n),則結(jié)構(gòu)函數(shù)(X) ；(4)若(X)是由n個(gè)獨(dú)立底事件組成的任意結(jié)構(gòu)故障的相干結(jié)構(gòu)函數(shù)，nn則有 f?Xi < (X) .|Jxi ii d即任意結(jié)構(gòu)故障樹，其結(jié)構(gòu)函數(shù)的上限為或門結(jié)構(gòu)故障樹結(jié)構(gòu)函數(shù)，而下限是與門結(jié)構(gòu)故障樹結(jié)構(gòu)函數(shù)。22 .若狀態(tài)向量X能使結(jié)構(gòu)函數(shù)*(X)=1 ,則稱此狀態(tài)向量為 割向量。在割向量X中，取值為1 的各分量對應(yīng)的狀

9、態(tài)變量(或底事件)的集合，稱作割集。割集是導(dǎo)致頂事件發(fā)生的若干底事件的集合。若狀態(tài)向量X是割向量(即6(X)=1),并對任意狀態(tài)向量Z而言，只要Z<X ,包有%Z)=0 成立，則稱X為最小割向量，最小割向量X中取值為1的各分量對應(yīng)的底事件的集合，稱為 最小 割集。最小割集是使頂事件發(fā)生的必要底事件的集合。23 .若狀態(tài)向量X能使結(jié)構(gòu)函數(shù)*(X)=0 ,則稱此狀態(tài)向量X為路向量。在路向量X中，取值為 0的各分量對應(yīng)的狀態(tài)變量(或底事件)的集合，稱作 路集。路集是使系統(tǒng)不發(fā)生故障的正常元件 的集合。若狀態(tài)向量X是路向量(即4(X)=0),并對任意狀態(tài)向量Z而言，只要Z>X ,恒有%Z)

10、=1 成立，則稱X為最小路向量，最小路向量X中取值為0的各分量對應(yīng)的底事件的集合，稱為 最小 路集。最小路集是使系統(tǒng)不發(fā)生故障的必要正常元件的集合。lU Gx/ nj u x j24 .用最小割集表示結(jié)構(gòu)函數(shù)：:'(X )=25 .用最小路集表示結(jié)構(gòu)函數(shù)：中(X )=26 .掌握化相交和為不交和，求頂事件概率（此法最簡單易于理解，故采用之）：式中Ki為故障樹的最小割集，將上式化成單獨(dú)項(xiàng)（形如 X1X2這種形式）的邏輯和，將式中的 Xi用q代替，又用1qi代替。這樣便可得到頂事件發(fā)生的概率為：27 底事件的發(fā)生對頂事件發(fā)生的影響，稱作底事件的重要度。概率結(jié)構(gòu)重要度Ip（i）:僅由單個(gè)底事

11、件概率的變化而引起頂事件概率發(fā)生變化，則頂事件概率對底事件概率的變化率稱作該底事件的概率結(jié)構(gòu)重要度，簡稱概率重要度，記作Ip（i）。數(shù)學(xué)表達(dá)式為：ip（i）=色®。上式可以看出概率重要度較大的底事件，其概率發(fā)生變化，則對頂事二 qi件概率變化的影響是比較大的。結(jié)構(gòu)重要度I&i）：第i個(gè)底事件的結(jié)構(gòu)重要度 O（i）定義為該底事件處于關(guān)鍵狀態(tài)的系統(tǒng)狀態(tài)數(shù)與其處于正常狀態(tài)的系統(tǒng)狀態(tài)數(shù)之比。當(dāng)系統(tǒng)由n個(gè)獨(dú)立元件組成時(shí)，則可表示為：I&i）=%2，n©（i）為該底事件處于關(guān)鍵狀態(tài)的系統(tǒng)狀態(tài)數(shù)，可由下式表示：所謂底事件的關(guān)鍵狀態(tài)是指該底事件狀態(tài)變量由0變?yōu)?時(shí)（該元件由

12、正常變故障），故障樹的結(jié)構(gòu)函數(shù)也由0變?yōu)? （系統(tǒng)由正常變故障）的狀態(tài)。用以下原則求結(jié)構(gòu)重要度，在概率重要度的基礎(chǔ)上，令各底事件的概率均為1/2 ,則所求結(jié)構(gòu)重要度與其底事件的概率重要度相同。關(guān)鍵重要度：Ic（i）碧 g（q）="lp（i）,由此可見，底事件的關(guān)鍵重要度是指頂事件概率相對 二 ln qi g變化量與引起此變化的底事件概率相對變化量之比的極限。28 .故障隔離手冊（FIM）和故障報(bào)告手冊使用同一的故障碼，該故障碼為8位數(shù)：左起前兩位為故障所在章號(hào)（系統(tǒng)），3、4位為節(jié)號(hào)（子系統(tǒng)），5、6位為項(xiàng)目號(hào)，7、8位表示故障件位置。29 .無空勤人員提供故障碼時(shí)的故障隔離程序-故

13、障必然歸入下面四種情況之一：?有相應(yīng)的EICAS信息的故障；?有機(jī)內(nèi)自檢程序（BITE）的故障;?有適用的維修控制顯示板（MCDP信息的故障；?以上信息全沒有的故障。若報(bào)告的問題上述三種信息均有，則故障分析順序?yàn)閮?yōu)先考慮執(zhí)行有EICAS信息的排故程序，其次是機(jī)內(nèi)自檢程序，最后是考慮執(zhí)行有 MCDP信息的排故程序。30 .查找故障的典型概率法（P75）重點(diǎn)看，有計(jì)算。概率法應(yīng)用的條件：故障是由某一元件故障引起；查找故障不會(huì)引入新故障。n 1n概率法應(yīng)用的參數(shù)：Nm i ? （n -1） -n = i -i - -ni 1i 1檢查次數(shù)（一次檢查、平均檢查次數(shù)nA. in 1n i檢查時(shí)間（一次檢

14、查時(shí)間ti、平均總檢查時(shí)Tm=z （工tj）Pi+（£ tj）Pn=£tj）Pi-pntni m j mj 1y jwn in 1n i檢查工作量（一次檢查工作量3、平均總檢查工作層£Tj）Pi+/）Pn=£/）邕-Pn品iV j凸jdiT j 工n in/n i檢查費(fèi)用（一次檢查費(fèi)用Ci、平均總檢查建用=£Cj）片+Cj）Pn=£Cj）Pi-PnCn iV j凸jiT j 工適用范圍-逐件檢查系統(tǒng)-分組檢查系統(tǒng)31.32. 分組檢查的方法：兩分法、等概率法、最小時(shí)間法。兩分法：要點(diǎn)-符合機(jī)件數(shù)大致相等的要求;最少檢查次數(shù)與最大檢查次

15、數(shù):m次,1） Z月若系統(tǒng)由n個(gè)機(jī)件組成，滿足2m<nv2n+1 （m為正整數(shù)），則系統(tǒng)最少檢查次數(shù)為最大檢查次數(shù)為（m+1）次，平均檢查以數(shù)m E j (m 1) j： E jj - Smj -S m ! ；1Sm-第m次可查出故障的機(jī)件零件號(hào)組成的集合，Sm由同理。用-零件號(hào)為j的機(jī)件故障的條件概率。2)若系統(tǒng)機(jī)件數(shù)恰好滿足n=2m,則只需且必須經(jīng)過m次檢查，才能查出故障原因，平均檢查次數(shù) Nm=m等概率法：要點(diǎn)-先把系統(tǒng)按每組各機(jī)件故障條件概率之和 工Pi大致相等分成兩組，檢查故 障條件概率之和Z Pi較大的那組，確定故障件所在部分。再將存在故障件的那一組按每組各 機(jī)件故障條件概率

16、之和£肉大致相等分成兩個(gè)分組，檢查故障條件概率之和 £ Bi較大的一 組，確定故障原因所在。如此繼續(xù)下去，直至查出故障原因?yàn)橹埂Ｗ钚r(shí)間法：要點(diǎn)-每組各機(jī)件故障條件概率之和大致相等。對各組計(jì)算檢查時(shí)間消耗率？，%?( ？i /1 i),選擇。較大的一組進(jìn)行檢查神救方法33 .信息量應(yīng)該需變的原始是該信也出現(xiàn)概率分組的規(guī)則，勺單調(diào)減函數(shù)分組檢掛順序岫優(yōu)+則四分法用和人未知睢未加 考慮的蛆的機(jī)件數(shù)大致相不定使必要檢杳次數(shù)蚊 少彳言息量=-fog 2不蹴率法2P，已P門泵倒1國淳L加考慮H理的概霸故而!媼霄概率之和大致相等f的單位定"1E卷乳bi 檢杳£周履較

17、大的一堂、t)使F均檢在次敷&少-喇河喟吟信熟同時(shí)出現(xiàn)，它們7寸故障診斷提供的的源、量嬖曬單卷觸目刪彳-當(dāng)n個(gè)信息相應(yīng)的事件互相獨(dú)立時(shí)，n個(gè)信息共同出現(xiàn)時(shí)的信息量等于各個(gè)信息的信息量之和，即信息量具有可加性34 .現(xiàn)代信息論中，“嫡”是系統(tǒng)不確定程度的度量若系統(tǒng)A有n個(gè)狀態(tài)A1,A2, 1An系統(tǒng)隨機(jī)處于相應(yīng)狀態(tài)的概率分別為 P(A1),P(A2),，P(An)H(A) =，P(A)log 2 P(A)則系統(tǒng)的嫡定義為35 .復(fù)合系統(tǒng)的嫡：設(shè)系統(tǒng)A有一個(gè)可能欣茶A2嶷6nB有m個(gè)可能狀態(tài)從而復(fù)檎即服現(xiàn) H(AB)=, " P(ABj)log2P(ABj)? A B互相獨(dú)立：H

18、(A+B尸H(A+jH(B)? A B統(tǒng)計(jì)相關(guān)：H(AB)=H(A)+H(B/A)=H(B)+H(A/B)A條件下B的嫡值：0<H(B/A)<H(B)Ja(B) = H(A)-H (A/ B)0 -H (A/B) - H(A)36 .定義系統(tǒng)B為判斷A所處的狀態(tài)提供的平均信息量 也被稱為系統(tǒng)B包含有關(guān)系統(tǒng)A的平均信息量。37 .目視檢查是飛機(jī)結(jié)構(gòu)完整性檢查的最基本、最常用的檢查方法，也是保證飛行安全的重要手段之一'o當(dāng)蒙皮離開怫釘頭并形成目視可見的明顯間隙，怫釘周圍有黑圈，均表明怫釘已松動(dòng)。鋁合金和鎂合金腐蝕初期成呈白色斑點(diǎn)，發(fā)展后出現(xiàn)灰白色腐蝕產(chǎn)物粉末。不銹鋼的腐蝕往往是

19、出現(xiàn)黑色的坑點(diǎn)。38 .氣密艙的密封檢查：流量法和壓力降法。流量法更適用于泄漏量較大而容積小的氣密艙。壓力降法設(shè)備簡單，測法簡單可靠。氣密艙和結(jié)構(gòu)油箱泄露包括可控制泄露和不可控制泄露。影響密封艙結(jié)構(gòu)密封性的因素：環(huán)狀縫隙影響因素；平面縫隙影響因素；加工與裝配質(zhì)量的影響。39 .渦流檢測的基本原理檢測線圈通交流電，在線圈周圍產(chǎn)生交變的初級(jí)磁場，當(dāng)檢測線圈靠近被檢測的導(dǎo)電構(gòu)件時(shí)，在交變的初級(jí)磁場作用下，構(gòu)件中感生交變的電流一一渦流。渦流在構(gòu)件中及其周圍產(chǎn)生一個(gè)附加 的交變次級(jí)磁場，次級(jí)磁場又在線圈內(nèi)產(chǎn)生感應(yīng)電流， 它的方向與原電流方向相同。當(dāng)構(gòu)件中產(chǎn)生 裂紋或有其它缺陷，檢測線圈與其接近時(shí)，渦流發(fā)

20、生畸變，影響次級(jí)磁場，進(jìn)而影響檢測線圈中的感應(yīng)電流，檢測線圈中的電流的變化，表明構(gòu)件發(fā)生損傷。40 .渦流檢測分為高頻渦流檢測（50kHz）和低頻渦流檢測。趨膚效應(yīng)：渦流的磁場會(huì)引起交變電流趨向構(gòu)件表面，表面電流密度最大，隨著深度增加，電流密度減弱41 .渦流檢測法的 適用范圍檢查導(dǎo)電構(gòu)件的疲勞損傷和腐蝕損傷。對鋁合金是首選的無損檢測方法不適用非金屬構(gòu)件，如塑料、玻璃纖維復(fù)合材料等的損傷高頻渦流可檢測試件表面或近表面的損傷，而低頻渦流可檢測構(gòu)件隱蔽面或緊固件孔壁上的 損傷對于鋼構(gòu)件一般不采用渦流檢測法探傷。不能檢測出平行于探測面的層狀裂紋。厚度小于1.5mm的薄板材，板邊緣或緊固件孔邊的邊界效

21、應(yīng)較大，給檢測帶來一定的困難42 .超聲波檢測法：高頻聲束（頻率在20kHz以上）射入被檢材料，經(jīng)過不同介質(zhì)分界面會(huì)發(fā)生反 射，檢測者分析反射聲束信號(hào)，便可確定缺陷或損傷的存在及其位置。超聲波的發(fā)射與接收是利用壓電材料的壓電效應(yīng)來實(shí)現(xiàn)的超聲波是一種波長比光波長，比普通電波短，頻率高于 20kHz的機(jī)械波43 .縱波檢測法的適用范圍：易檢測出與工件探測面走向平行的缺陷受儀器盲區(qū)和分辨力的限制，表面和近表面檢測能力低適用于檢測大面積的厚工件，定位簡單橫波檢測法的適用范圍：可發(fā)現(xiàn)與工件表面成一定角度的缺陷或損傷輔助縱波檢測，檢測垂直于探測面的缺陷或損傷。應(yīng)用：可檢測金屬、非金屬、復(fù)合材料的內(nèi)部及表面

22、缺陷（裂紋損傷和腐蝕損傷），對平面缺陷十分敏感，只要聲束方向與裂紋面夾角達(dá)到一定要求，就可清晰地顯示出裂紋損傷44 .磁粉檢測的原理：（通過檢測漏磁來發(fā)現(xiàn)缺陷）鐵磁試件被磁化后，若試件存在表面或近表面缺陷，會(huì)使試件表面產(chǎn)生漏磁。鐵磁性工件中存 在著許多小磁疇，磁化前，磁疇隨機(jī)取向，磁性抵消；被磁化時(shí)，磁疇規(guī)則排列，呈現(xiàn)磁極。當(dāng)工件表面或近表面存在與磁化方向近于垂直的裂紋缺陷時(shí)，磁力線會(huì)彎曲，呈繞行趨勢，溢出表面的僅供個(gè)人學(xué)習(xí)參考磁力線叫做缺陷漏磁。漏磁場強(qiáng)度取決于缺陷尺寸、方向和位置以及試件的磁化強(qiáng)度。 漏磁場強(qiáng)度越大，缺陷部位越容易吸附磁粉，越能顯示出磁粉跡痕，觀察磁粉跡痕判斷缺陷所在。周向

23、磁化法：直接通電法、電極法、芯棒法縱向磁化法：線圈法、電磁鐵法、感應(yīng)電流法復(fù)合磁化法適用于鐵磁性構(gòu)件表面或近表面缺陷（或裂紋）。主要檢測鍛鋼件及焊件，不適用于奧氏體不銹鋼 （非磁性材料）。注意：磁粉檢測后要對零件進(jìn)行退磁。45 .傳統(tǒng)的故障診斷方法包括邏輯診斷方法、統(tǒng)計(jì)診斷方法和模糊診斷方法 。46 .邏輯診斷法師根據(jù)故障特性（故障信息或征兆）與故障狀態(tài)的邏輯關(guān)系，運(yùn)用推理的方式進(jìn)行 故障診斷的方法。有效決策規(guī)則：將有效邏輯基中全部變元（取值為1）或逆變元（取值為0）邏輯乘，再求邏輯和.有效決策主范式：從決策規(guī)則出發(fā)，通過邏輯運(yùn)算，得到 全部變元或逆變元邏輯乘的邏輯和.概括邏輯診斷步驟：1 .確定考慮的因素，建立決策規(guī)則；2 .建立有效決策規(guī)則或有效決策主范式；3 .將給定元件狀態(tài)的元件變元或逆變元組成征兆函數(shù)，待定元件變元或逆變元組成成因函數(shù)，進(jìn)行狀態(tài)識(shí)別或故障診斷.注：此節(jié)求有效邏輯基，通過分析故障成因函數(shù)查找故障原因是重點(diǎn)。47.統(tǒng)計(jì)診斷方法：確定臨界值X。是重點(diǎn)。根據(jù)對平均冒險(xiǎn)率的分析，提出以下四種確定臨界值 X。的方法：最小冒險(xiǎn)法、最小錯(cuò)誤診斷概率方法、極小極大法和紐曼 -皮爾遜方法。僅供個(gè)人學(xué)習(xí)參考在滿足平均冒險(xiǎn)率最小的條件下，即使 R = Rmax時(shí)，確定臨界值X。的方法稱為最小冒險(xiǎn)方法。/2Xo=1(X；+