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法拉第效應(yīng)和表面磁光克爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)123456克爾橢偏率內(nèi)容 方法實(shí)驗(yàn) 裝置法拉第效應(yīng)法拉第旋轉(zhuǎn)角表面磁光克爾效應(yīng)ELER磁場(chǎng)B下，電子磁矩的勢(shì)能V吸收光量子角動(dòng)量后吸收光量子角動(dòng)量后由于由于meBmeBmeBLz2)(22V)(nnV)()V(ddnnnnddnmeBn2)(ddnmeDBe2三種磁光克爾效應(yīng) 極向： 縱向： 橫向：磁光效應(yīng)：同法拉第效應(yīng)克爾橢偏率：介質(zhì)對(duì)左旋圓偏振光和右旋 圓偏振光的吸收的不同入樣/SSB入樣/）in（SSB入樣）in（SSB克爾旋角的大小可以通過比較有無磁場(chǎng)時(shí)光強(qiáng)變化來體現(xiàn)： II4k克爾橢偏率：在檢偏器前加上1/4玻片即可測(cè)得：II4-k法拉第效應(yīng)表面磁光克爾效應(yīng)光路系統(tǒng)：光源、起 檢偏鏡勵(lì)磁系統(tǒng)：電源、電 磁鐵探測(cè)系統(tǒng)：光電探測(cè) 器 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)：接受 電壓信號(hào) 標(biāo)定磁場(chǎng)法拉第效應(yīng) 調(diào)整光路記錄不同磁場(chǎng)下的偏轉(zhuǎn)角測(cè)量 三塊樣品計(jì)算菲爾德常數(shù) 表面磁光克爾效應(yīng) 調(diào)整光路測(cè)量樣品的磁滯回線計(jì)算縱向 克爾轉(zhuǎn)角 加入1/4玻片測(cè)量磁滯回線克爾橢偏率

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