實驗報告實驗一集成門電路邏輯功能測試

1、實驗一 集成門電路邏輯功能測試 一、實驗?zāi)康?1. 驗證常用集成門電路的邏輯功能; 2. 熟悉各種門電路的邏輯符號; 3. 熟悉TTL集成電路的特點(diǎn)，使用規(guī)則和使用方法。二、實驗設(shè)備及器件 1. 數(shù)字電路實驗箱 2. 萬用表 3. 74LS00四2輸入與非門 1片 74LS86四2輸入異或門 1片 74LS11三3輸入與門 1片 74LS32四2輸入或門 1片 74LS04反相器 1片3、 實驗原理 集成邏輯門電路是最簡單，最基本的數(shù)字集成元件，目前已有種類齊全集成門電路。TTL集成電路由于工作速度高，輸出幅度大，種類多，不宜損壞等特點(diǎn)而得到廣泛使用，特別對學(xué)生進(jìn)行實驗論證，選用TTL電路較合

2、適，因此這里使用了74LS系列的TTL成路，它的電源電壓為5V+10%,邏輯高電平“1”時2.4V，低電平“0”時0.4V。實驗使用的集成電路都采用的是雙列直插式封裝形式，其管腳的識別方法為：將集成塊的正面（印有集成電路型號標(biāo)記面）對著使用者，集成電路上的標(biāo)識凹口左，左下角第一腳為1腳，按逆時針方向順序排布其管腳。4、 實驗內(nèi)容 根據(jù)接線圖連接，測試各門電路邏輯功能 1. 利用Multisim畫出以74LS11為測試器件的與門邏輯功能仿真圖如下按表11要求用開關(guān)改變輸入端A,B,C的狀態(tài)，借助指示燈觀測各相應(yīng)輸出端F的狀態(tài)，當(dāng)電平指示燈亮?xí)r記為1，滅時記為0，把測試結(jié)果填入表11中。輸入狀態(tài)輸

3、出狀態(tài)ABCY00000010010001101000101011001111 2. 利用Multisim畫出以74LS32為測試器件的或門邏輯功能仿真圖如下按表12要求用開關(guān)改變輸入端A,B的狀態(tài)，借助指示燈觀測各相應(yīng)輸出端F的狀態(tài)，把測試結(jié)果填入表12中。輸入狀態(tài)輸出狀態(tài)ABY000011101111 3. 利用Multisim畫出以74LS04為測試器件的非門邏輯功能仿真圖如下按表13要求用開關(guān)改變電平開關(guān)的狀態(tài)，借助指示燈觀測各相應(yīng)輸出端F的狀態(tài)，把測試結(jié)果填入表13中。 表13 74LS04邏輯功能表輸入輸出狀態(tài)（0|1）0100 根據(jù)管腳功能圖連接，測試各門電路邏輯功能 1.74L

4、S00四二輸入與非門管腳功能如下圖所示，用其中一個門測試其邏輯功能。 按表14要求用開關(guān)改變輸入端的狀態(tài)，借助指示燈觀測各相應(yīng)輸出端的狀態(tài)，把測試結(jié)果填入表14中。 表14 74LS00邏輯功能表輸入狀態(tài)輸出狀態(tài)UAUBY0010111011102.74LS86四二輸入異或門管腳功能如下圖所示，用其中一個門測試其邏輯功能。按表15要求用開關(guān)改變輸入端的狀態(tài)，借助指示燈觀測各相應(yīng)輸出端的狀態(tài)，把測試結(jié)果填入表15中。ABC000011101110表15 74LS86邏輯功能表五、實驗總結(jié) 1.確保集成塊完好，否則會耽擱實驗進(jìn)行，浪費(fèi)時間。在這次實驗中，剛開始由于沒有檢查集成塊，而一直在檢查電路，但實驗箱上的燈始終不亮，換了集成塊后，電路立馬成功導(dǎo)通，耽擱了實驗的進(jìn)程。 2.實驗前應(yīng)檢查集成塊是否插反，一旦大意，必然