測控儀器設計復習題

1、第二章誤差特性 ：客觀存在性、不確定性、未知性。分類 ：按誤差的數(shù)學特征 ：隨機誤差、系統(tǒng)誤差、粗大誤差；按被測參數(shù)的時間特性 ：靜態(tài)參數(shù)誤差、動態(tài)參數(shù)誤差；按誤差間的關系 ：獨立誤差：相關系數(shù)為“零” 、非獨立誤差：相關系數(shù)非“零”來源：設計、生產(chǎn)、使用，生產(chǎn)中誤差有原理誤差、制造誤差、運行誤差。原理誤差 ：近似數(shù)據(jù)處理方法、機械結構、測量與控制電路1)采用近似的理論和原理進行設計是為了簡化設計、簡化制造工藝、簡化算法和降低成原理誤差屬于系統(tǒng)誤差，使儀器的準確度下降，應該設法減小或消除。減小的方法：? 采用更為精確的、符合實際的理論和公式進行設計和參數(shù)計算? 研究原理誤差的規(guī)律，采取技術措施

2、避免原理誤差。? 采用誤差補償措施 。制造誤差 ：產(chǎn)生于制造、 支配以及調整中的不完善所引起的誤差。主要由儀器的零件、 元件、部件和其他各個環(huán)節(jié)在尺寸、 形狀、 相互位置以及其他參量等方面的制造及裝調的不完善所引起的誤差。運行誤差 ：儀器在使用過程中所產(chǎn)生的誤差。如力變形誤差、磨損和間隙造成的誤差，溫度變形引起的誤差，材料的內摩擦所引起的彈性滯后和彈性后效，以及振動和干擾等儀器誤差分析目的：正確地選擇儀器設計方案；合理地確定結構和技術參數(shù)；為設置誤差補償環(huán)節(jié)提供依據(jù)。任務：尋找影響儀器精度的誤差根源及其規(guī)律；計算誤差及其對儀器總精度的影響程度；過程 ： 尋找儀器源誤差分析計算局部誤差是各個源誤

3、差對儀器精度的影響， 這種影響可以用誤差影響系數(shù)與該源誤差的乘積來表示；質（單值、多值）、測量狀態(tài)（動態(tài)、靜態(tài)）等要求;2）按國家標準嚴格的定義確定儀如果滿足，則表總誤差，并判斷儀器總誤差是否滿足精度設計所要求的數(shù)值。明精度設計成功；否則，對精度分配方案進行適當調整或改變設計方案或結構 后，重新進行精度綜合。誤差獨立作用原理：除儀器輸入以外，另有影響儀器輸出的因素，假設某一因素的變動（源誤差）使儀器產(chǎn)生一個附加輸出，稱為局部誤差。影響系數(shù)是儀器結構和特征參數(shù)的函數(shù)；一個源誤差只產(chǎn)生一個局部誤差，而與其它源誤差無關；儀器總誤差是局部誤差的綜合。分析方法：微分法、幾何法、作用線與瞬時臂法、數(shù)學逼近

4、法、控制系統(tǒng)的誤差分析法。其 它方法：逐步投影法、矢量代數(shù)法、球面三角法幾何法的優(yōu)點是簡單、直觀，適合于求解機構中未能列入作用方程的源誤差所引起的局部誤差，但在應用于分析復雜機構運行誤差時較為困難基于機構傳遞位移的機理因此，作用線與瞬時臂法首先要研來研究源誤差在機構傳遞位移的過程中如何傳遞到輸出。究的是機構傳遞位移的規(guī)律。第三章 測控儀器總體設計， 是指在進行儀器具體設計以前，從儀器自身的功能、技術指標、檢測與對儀器設計中的全局問題進行全面控制系統(tǒng)框架及儀器應用的環(huán)境和條件等總體角度出發(fā), 的設想和規(guī)戈嘰要考慮的主要問題有:1.設計任務分析2.創(chuàng)新性構思3.測控儀器若干設計原則的考慮4.測控儀

5、器若干設計原理的斟酌 5.測控儀器工作原理的選擇和系統(tǒng)設計6.測控系統(tǒng)主要結構參數(shù)與技術指標的確定7.儀器總體的造型規(guī)劃儀器總體設計的最終評估，是以其所能達到的經(jīng)濟指標與技術指標來衡量,精度與可靠性指標是測控儀器設計的核心問題。設計任務分析器工作原理了解測控參數(shù)載體的特點機械與光學載體居多。要考慮載體的大小、形狀、材料、重量、狀態(tài)等了解儀器的功能要求是靜態(tài)還是動態(tài)、開環(huán)還是閉環(huán)、一維還是多維、單一參數(shù)還是復合參數(shù)、檢測效率、測量范圍、承載能力、操作方式、顯示方式、自動診斷、自動保護等。了解儀器的使用條件室內還是室外、 在線還是脫機、間斷還是連續(xù)、 環(huán)境狀況。了解國內外同類產(chǎn)品的原理和技術水平了

6、解國內加工工藝水平及關鍵元器件的銷售情況六項設計原則：阿貝（Abbe）原則及其擴展變形最小原則及減小變形影響的措測量鏈最短原則坐標系統(tǒng)一原則精度匹配原經(jīng)濟原則阿貝原則定義：為使量儀能給出正確的測量結果，必須將儀器的讀數(shù)刻線尺安放在被測尺寸線的延長線上?；蛘哒f，被測零件的尺寸線和儀器的基準線（刻線尺）應順序排成一 條直線。但在實際的設計工作中，有些情況 不能保證阿貝原則的實施，其原因有二: 1）遵守阿貝原則一般造成儀器外廓尺寸過大，特別是對線值測量范圍大的儀器，情況更為 嚴重。2）多自由度測量儀器，如圖3-3所示的三坐標測量機，或其它有線值測量系統(tǒng)的儀器。很 難作到使各個坐標方向或一個坐標方向上

7、的各個平面內均能遵守阿貝原則。許多線值測量系統(tǒng)的儀器， 很難做到使各個坐標方向或一個坐標方向上的各個平面內均能遵 守阿貝原則。變形最小原則定義：應盡量避免在儀器工作過程中，因受力變化或因受溫度變化而引起的儀器結構變形或儀器狀態(tài)和參數(shù)的變化。1.減小力變形影響的技術措施米激光測長機底座變形的補償、光電光波比長儀消除力變形的結構布局2.減小熱變形影響的技術措施1、用恒溫條件，以減小溫度變化量選擇合適的材料,以減小線膨脹的影響，或選用線脹系數(shù)相反的材料在某些敏感環(huán)節(jié)上進行補償;采用補償法補償溫度變化的影響測量鏈最短原則定義：儀器中直接感受標準量和被測量的有關元件,如被測件、標準件、感受元件、定位元件

8、等均屬于測量鏈在精密測量儀器中，根據(jù)各環(huán)節(jié)對儀器精度影響程度的不同,可將儀器中的結構環(huán)節(jié)區(qū)分為測量鏈、放大指示鏈和輔助鏈三類。測量鏈的誤差對儀器精度的影響最大,般都是1:1影響測量結果。因此,對測量鏈各環(huán)節(jié)的精度要求應最高。因此測量鏈最短原則顯然指一臺儀器中測量鏈環(huán)節(jié)的構件數(shù)目應最少,即測量鏈應最短。因此，測量鏈最短原則作為一條設計原則要求設計者予以遵守。以上設計原則，一般都是從某臺儀器總體出發(fā)考慮的。而坐標系統(tǒng)一原則,則是對儀器群體之間的位置關系，相互依賴關系來說的，或主要是針對儀器中的零件設計及部件裝配要求來說的。坐標系統(tǒng)一原則對零部件設計 來說，這條原則是指：在設計零件時，應該使零件的設

9、計基面、工藝基面和測量基面一致起來，符合這個原則，才能使工藝上或測量上能夠較經(jīng)濟地獲得規(guī)定的精度要求而避免附加的誤差。對儀器群體之間（主系統(tǒng)與子系統(tǒng)之間）的位置關系，相互依賴關系來說，這條原則是指:在設計某臺儀器或其中的組成部件時，應考慮到該儀器或該部件的坐標系統(tǒng)在主坐標系統(tǒng)中的轉換關系與實現(xiàn)轉換的方法精度匹配原則定義：在對儀器進行精度分析的基礎上，根據(jù)儀器中各部分各環(huán)節(jié)對儀器精度影響程度的不同，分別對各部分各環(huán)節(jié)提出不同的精度要求和恰當?shù)木确峙?。?jīng)濟原則經(jīng)濟原則是一切工作都要遵守的一條基本而重要的原則。經(jīng)濟原則反映到測控儀器的設計之中，可從以下幾方面來考慮:1）工藝性。選擇正確的加工工藝和

10、裝配工藝，從而達到節(jié)省工時,節(jié)約能源，不但易于組織生產(chǎn)，而且降低管理費用。2）合理的精度要求。精度的高低，決定了成本的高低。因此各環(huán)節(jié)則應根據(jù)不同的要求分配不同的精度。3）合理選材。合理選材是儀器設計中的重要環(huán)節(jié)之一，從減小磨損、減小熱變形、 減小力變形、提高剛度及滿足許多物理性能上來說，都離不開材料性能。而材料的成本又差價很大，因此合理選材是至關重要的一條。4）合理的調整環(huán)節(jié)。設計合理的調整環(huán)節(jié)，往往可以降低儀器零部件的精度要求，達到降低儀器成本的目的。5）提高儀器壽命。為提高儀器壽命要對電氣元件進行老化和篩選；對機械零部件中的易損系統(tǒng)采用更合理的結構型式。 雖然這兩方面的改進會使成本增加，

11、 但如果儀器壽命延長一倍，等于使儀器價格降低了一半。測控儀器設計原理：平均讀數(shù)原理、比較測量原理、補償原理平均讀數(shù)原理 ：在計量學中，利用多次讀數(shù)取其平均值，能夠提高讀數(shù)精度。比較測量原理一） 位移量同步比較測量原理定義： 對復合參數(shù)進行測量的近代方法是先分別用激光裝置或光柵裝置等測出它們各自的位移量，然后再根據(jù)它們之間存在的特定 關系由計算機系統(tǒng)直接進行運算比較而實現(xiàn)測量。位移量同步比較原理主要 應用 于復合參數(shù)的測量： 漸開線齒形誤差， 齒輪切向綜合誤差， 螺 旋線誤差，凸輪型面誤差的測量特點：這類復合參數(shù)一般都是由線位移和角位移， 或角位移和角位移以一定關系作相故在設計互運動而成。 它們

12、的測量過程， 實際上是相應的位移量之間的同步比較過程，這類參數(shù)的測量儀器中， 形成了一種位移量同步比較的測量原理。 這一原理的特點是符合按被測參數(shù)定義進行測量的基本原則。二）差動比較測量原理1電學量差動比較測量電學量差動比較測量可以大大減小共模信號的影響，從而可以提高測量精度和靈敏度，并可以改善儀器的線性度。2光學量差動比較測量降低共模信號的影響，還可消除雜散光的干擾。（三）零位比較測量原理補償原理補償原理是儀器設計中一條內容廣泛而意義重大的設計原理。如果在設計中，采用包括補償、調整、校正環(huán)節(jié)等技術措施，則往往能在 提高儀器精度和改善儀器性能方面收到良好的效果。補償原理的核心包括:1.補償環(huán)節(jié)

13、的選擇為了取得比較明顯的補償效果，補償環(huán)節(jié)應選擇在儀器結構、2.補償方法的確定工藝、精度上的薄弱環(huán)節(jié)，對環(huán)境條件及外界干擾敏感的環(huán)節(jié)上。有光電方法、軟件方法、電學方法、標準器比較的方法等。3.補償要求的分析根據(jù)不同的補償對象，有不同的補償要求:例如，對于導軌直線度偏差的補償， 必須要對整個行程范圍進行連續(xù)逐點的補償；而對儀器示值的校正，一般可要求校正幾個特征點，如首尾兩點，或中間選幾點，達到 選定的特征點保證儀器示值精確即可。4. 綜合補償（最佳調整原理）的實施優(yōu)點：綜合補償方法具有簡單、易行、補償效果好的特點。涵義：該方法不必研究儀器產(chǎn)生的誤差來自哪個或哪些環(huán)節(jié)，但通過對某個環(huán)節(jié)的調整后，便

14、起到了綜合補償?shù)男Чz測系統(tǒng)工作原理的選擇和系統(tǒng)功能的設計是總體考慮時首先遇到的一個問題。檢測系統(tǒng)是一臺設備的重要組成部分，它相當于人體智能系統(tǒng)的五官，五官獲取外界信號，大腦相當于設備的控制系統(tǒng)，四肢相當于設備的執(zhí)行機構 ，因此，一臺完整的設備能否 按設計要求完成預定的任務，首先取決于檢測系統(tǒng)的精度和可靠性。檢測系統(tǒng)的設計包括：傳感器的選擇與設計、標準量及其細分方法的應用、數(shù)據(jù)處理與顯示 裝置的選取等三大部分。測控儀器結構參數(shù)及技術指標的數(shù)值是根據(jù)儀器的功能、測量范圍、精度要求、分辯 力要求、誤差補償要求、使用要求和條件，以及有關標準規(guī)定等許多因素來確定的。、從精度要求出發(fā)來確定儀器參數(shù)一一

15、光學靈敏杠桿的杠桿比的確定 二、從測量范圍要求出發(fā)確定儀器參數(shù)一一小模數(shù)漸開線齒形誤差檢查儀的結構參數(shù)的確定三、從誤差補償要求來確定參數(shù)一一電容壓力傳感器的結構參數(shù)確定四、從儀器精度和分辯力要求 出發(fā)確定儀器參數(shù)光柵式刀具預調儀電子細分參數(shù)與視覺系統(tǒng)結構參數(shù)的選擇。第四章在測控儀器中，精密機械系統(tǒng)對保證儀器的測量精度、定位精度和運動精度起著關鍵的作用。儀器中的支承件包括基座、立柱、機柜、機箱等。筆 稱觀豔祁尺腳 尢鄒比獎要世敦睛 歡B更層言總循用用報棉采膈於議郵驗能腿“斷儲卻有毓銀盅咗航獅已哥腳 暢力知淒小析歡舸琵0雜工諭磁世郢碾櫃蘇屈、霊黔慟取瞳出鯽型曲吹漸氏刪助昭、醐珊橄醐強胡枷魁納在軀R

16、!睡耦易m懇鄭腫畐媚噩翊縣毗雕;牆酣觀琶環(huán)嫌販辦嘗 對桶煩或驢媲騎冃凰耐須癱搠制怖 眾聒L匏閑綿覇施 龍電討機期觀瞬罪甌;百塾翹攔飆H爬新脳聲訝斟，to薛郅他 魁0誌、劃議彖H帯制齡：出曲雖*5給上學 與訃算枷喪天帕錯詡d期怦雯tt動梓吐 g座血I黑；ift"仍尊側旨；!闿itf仙樂期件瓦菜用破傾*盤?;謹刪廿細乩陸理 第果與菊t祓feib1）正磧1漲百世曲弓井除構，船囲刃遛垃珂土小有姜；聽，13時孌世 S龍厠?我有矣；蚤宵蕓 <-喝ft五仁掃同時不同舒面F&苣癇址tjsafj繪l+2）鹹鉢綻豊：!樹以Ml雲(yún)期妾1-1-1僦爭K卿明卿蛾麒艙3）正賤的姑構布詮總功犬杜勺）

17、身的詰構工耳上*創(chuàng)匾詼謔嗨格 通腰椎也滌嘶粒菲艙擁郵J1， 擱崔-11?讓燉聯(lián)to工的工蕓也參聞夷1-2支創(chuàng)桶困盼耳愷豳垂轄S 創(chuàng)墾斟毎燉遢臥軸槿、動精醐福朕M導軌由運動導軌（動導軌）和支承導軌（靜導軌）組成，分為滑動摩擦導軌、滾動導軌、靜壓導軌和彈性摩擦導軌。主軸剛度K=F/y體，主軸為變形體K0 =M/0（ a為主軸懸伸長度,y2 主軸為剛體，軸承為變形體朋后下龍E動補嚐-乘用稚牽岡節(jié)。緘賺窗福輛卅卄兩面確麒，砂琥® 怙旭，3有檢丈冃1苗翻市導甸桂冬*S其邑窗鈿刃導頊卑一邊苗內外個兩面jg謝iM” 刪 H班m念聖引丿曲:r=B辦二懊二世臺麼斜卡西。您6忙_£環(huán)罷6功袖唱

18、!，瘞用徹新可fl。行向直也中同甲呂訊的兩時Sb兩sat窗餃小"，l支撐跨距y1 軸承為剛,y 總撓度）提高主軸剛度的措施：大主軸直徑，但導致機構尺寸加大。一般 D 取錐孔大端直徑的 2 倍合理選擇支撐跨距a / l0=1/21/4提高軸承剛度主軸系統(tǒng)的熱穩(wěn)定性滾動摩擦軸系優(yōu)于滑動軸系合理選擇推力支撐位a.b.c.d.減小熱源的影響推力支撐位置在后徑向軸承的兩側。受熱后主軸向前伸長，影響軸向精度。推力支撐位置在前后徑向軸承的外側，裝配方便，受熱伸長會影響軸向間隙。推力支撐位置在前徑向軸承的兩側， 避免了主軸受熱向前伸長， 剛性較高， 但主軸懸伸部分增加。推力支撐位置在前徑向軸承的內側

19、，是較好的布置。液體靜壓軸承軸系是由壓力油將軸系浮起進行工作的軸承。特點：1)在液體壓力油作用下將主軸浮起，在軸和軸套之間形成油膜，因此形成液體摩擦，摩擦力極小，幾乎無磨損，壽命長，轉動靈活，消耗功率塵。2)與氣體靜壓軸系相比剛度更高，承載能力大，因此常用于大型或重型儀器上，在機床上應用比較廣泛。3)回轉精度較高，可達卩 m。由于油液分子的平均作用，使軸系回轉精度可高于零件加工精度。4)抗振性好于氣體靜壓軸承。5)需要一套高質量的供油系統(tǒng)，由于油溫變化后會造成回轉中心熱漂移，因而還需油溫控制系統(tǒng)配套使用。因此不僅系統(tǒng)復雜化而且成本也較高。第五章電路設計要求igott要II冊iW勘屈秦：離匕 謫

20、扒紳塢（颶科鶻痢欝 咅rni祉是-鈾我而襯哥福迥I靈議邂 豐甜曲駅總琵淮二灘； 嗓禳削鬆對屣i 鋤試赫嚓弱甥i餌樹電嘛軸磔刪複齟蔽i&我阪融鍛，世礪蟲值君叡規(guī)執(zhí)11 靈躺，目號韓tht和九師塞鶴麗憧 鞭通鯛芝犒厠靈匪滔穩(wěn)定盹銃ti差。 茫盤卿繇箭言P fifiSS鉛W翊SE艇ii誚冶回目情藍標翌臥味方並 軽舵設計耐尺團必班以靛驅絢至II爛撲謝左軽當?shù)腗甜附.側綻幀鄭，可Q顯署耐君扌醮獸©可罐魄制淑fiW埶砸湃I戦輜嘴差爾皚熬蒯魏艾 佛力對晅乏翩罰，需験凝慮1、注詩爭閘1H哽隠遙鈕常湃前過碗遺KO惰丹2、磁仲聽確計集膜主馳諒式瘵,確運鍛蹴置加S翎詒時 酚曉郭那直肆磁變二是在弟饌

21、緞計方面S1務距靠按臺理也戯聞悴龍或可覲甬i Z1頃胛熾中勵皐襯7L，辭說韻應軒幗鍛，&珊謹ffi加橫曲4新的麗眩薙 菲龜腕囂儲熾弓臥辦栗飆可餐熱旨賀汗飆神卜鼬也可 懣喩將跡童軸戍隹路耿瞭魁附竝懿隹敢書1軌綁斬 哉用“懣犧或“婕滋"前方亦尋耕釧間、駢掃慣瞞衷 競耕我詡比舍K簡述測控儀器誥計中一般的設計娶求目括哪些方面？主蘿的謖計程序包括哪些？ 設計要求：精度要求檢測效率要求可靠性要求經(jīng)濟性要求使用條件要求©造 型宴求設計程序：確定設計任務設計任務分析©調查研究總體方案設計技術設計©制 造樣機©樣機鑒走或驗收樣機設計罡型后進行小批量生產(chǎn)2

22、、簡述測控儀器的設計原則，并稍作說明阿貝原則該愿則指出，為使量儀能給出正確測童結果，業(yè)須將儀器的讀數(shù)可先吃安放在械測 尺寸錢的延長袋上。就是說，被測露件的尺寸線和儀器中作為讀數(shù)用的基準線應順 厚排成一條直線最小變形Jf則該原則指出，應盡臺避免在儀器工作a程中，因受力變化或因溫度變化而引起的儀 器結構變形或儀器狀態(tài)和參數(shù)的變化,并使之對儀器精度的影響量小 測量鏈最短原則測量旌最短原則則是指構成儀器測量鏈環(huán)節(jié)的構件數(shù)目應最少坐標系基準統(tǒng)一原則這條原則是指，在設計霧件時，應該使零件的設計基面、工藝基面和測量基面一致 起來符合這個則才能使工藝上或測量上能夠較經(jīng)濟的獲得規(guī)走的精度要求而避 免附加的懼差

23、精度匹配原則在對儀器進行精度分析的基礎上，根據(jù)儀器中各部分各環(huán)節(jié)對儀器精度影響的不 同，分別對各部分個環(huán)節(jié)提出不同的精度要求和恰當?shù)木确峙洌@就是精度匹配 原則經(jīng)濟原則經(jīng)濟原則是一切工作都要遵守的一條基本而重要的原則3、簡述測控儀器的設計原理，并稍作簡述平均讀數(shù)原理在計量學中，利用多次讀數(shù)取其平均值，通常能夠提高讀數(shù)精度。利用這一原理來 設計儀器的讀數(shù)系統(tǒng)，即稱之為平均讀數(shù)原理比較測量原理包括位移量同步比較測量原理、差動比較測量原理、零位比較測量原理 補償庫理應用補償法進行誤差補償是應注意的問題有補償環(huán)節(jié)補償方法©補償要求 ©綜合補償4、線紋尺、度盤、碼盤都是絕對碼標準量

24、的例子，根據(jù)它們的起始和終止的位S就可以 確定所對應的線位移或轉角，與測量的中間過程無關。絕對碼標準量的抗干擾能力優(yōu)于増量 2標淮量，它不受停電、斷線等蕙外故障以及測量中間過程的影響，并易于傾復測量 光葡、激光干涉條紋等屬于増量馬標準量。它的優(yōu)點是可按需要任意設S零位，這樣可嘆 不必通過兩點的絕對坐標差去確定位移或轉角。有的増量耳標準量還設有絕對零位。増量曰 標準fi需從測量條件、屏蔽、電路等方面采取措施，以提高其抗干擾能力5、導軌運動的不平穩(wěn)現(xiàn)象產(chǎn)生的原因罡什么？如何加以改善？ 原因：導軌運動的不平穩(wěn)現(xiàn)象主要是因為“爬行”現(xiàn)象。導致爬行現(xiàn)象的原因有導軌間的靜、動摩扌廉系數(shù)差值較大動摩抿系數(shù)隨

25、速度 變化系統(tǒng)剛度差改善：要減小爬行，影視臨界速度降低，即應制小動摩播力與靜摩擦力之差AF,増加 系統(tǒng)阻尼和増加彈性環(huán)節(jié)剛度。當運動部分潤滑較好時也可使爬廳減小6、試述線性直流穩(wěn)定電源和開關型穩(wěn)定電源的工作原理，說明其特點和優(yōu)勢。 線性直茨穩(wěn)定電源的原理罡，靠調整簣之間的電壓竦穩(wěn)定輸出，因此線性電源的 出特點是工作在線性區(qū)，穩(wěn)走性高，紋汲小，可塞性高，易做成多路。輸岀連續(xù)可調，但足 體積大、較笨重、效率相對較低 幵關型直流穩(wěn)定電源的功率器件調整管不是工作在紋性區(qū)，而是工作在飽和區(qū)及 止區(qū)，艮卩始終處于功率開關狀態(tài)，開關電源因此而得名。開關電源的優(yōu)點是體積小，重量輕, 穩(wěn)定可竈，尤其是輸乂電壓范

26、圍很當J缺點相對干線性電源來說文浪較大7、干擾網(wǎng)合的方式主要有哪些？分別是怎么形成的？干擾福合的方式主要有»電耦合電硯璃合共阻抗搞合®漏電流耦合 靜電網(wǎng)合亦稱電容性輻合，產(chǎn)生的原因主要是由于兩個電子器件或者兩 電路之間存在寄生電容，經(jīng)寄生電容®個電路的電荷彫響另一個電路©電宙網(wǎng)合的產(chǎn)生原因王要由于兩個電路存在疊憨，使辱一個電路的電湊 化通過電磁耦合干擾另一個電路 共阻抗耦合一股發(fā)主在兩個電路的電流淡經(jīng)一個公共®抗其中一個電在該阻抗的壓降會影響另一路漏電溢揺合？蓉帛中干細絳不良，而流經(jīng)維繞電陽的電溢所引起的的干擾8、試述在印駁電路板設計中的布線要

27、拿握的一些原則？（對支電源線，借號線和地線）。電源線的布線®則：電源線和地線要盡量粗，除減小S降外，更重要的是降低輻合噪聲。只S允許，還是盡可能用當線。導線的最小寬度主要有導線與絕緣基板間的粘附強度和 S過它們的電流值決定。導線之間的最小距離主要由最壞情況下的線間絕緣電阻和擊穿電壓 決定 信號線的布線原則：布線時，盡量避免90°折線，使用45。折線或圓弧布線，嘆減 少高頻信號對外的發(fā)射和輻合。布線時盡量漏少回路環(huán)的面洪，以降低感應嗓聲。盡可能縮 短高頻元件之間的連線，設法制少它們的分布蓼數(shù)和相互間的電磁干擾。輸入鋼和輸出端用 的導線應盡量避免相鄰平行。 地線的布線原則：數(shù)字

28、地與模擬地要分離，最后在一點接于電源地，A/D、D/A片布線也嘆此為原則。單片機和大功率器件空地線要里獨接ft,以減少互相干擾。低頻模擬 電路采用單點并聯(lián)接地，實際布線有困難時可部分串聯(lián)后在并聯(lián)接地。高頻模擬電路采用多 點串BX接地，地紗應短而粗，高頻元件周圍長量用柵格狀大面積地落。9、接地設計的兩個基本要求是什么？什么是“浮地系統(tǒng)“，有何優(yōu)劣點？接地設計的兩個基本要求罡：消除各電路電流流經(jīng)一個公共地線阻抗時所產(chǎn)生的嗓聲 電壓避免形成地環(huán)路浮地系統(tǒng)，是指儀器的整個地線系統(tǒng)和大地之間沒有歐娉連接，僅以"浮地”作為它的 電平基準，即參考電平。浮地系統(tǒng)的優(yōu)點罡不受大地電流的影響。因此，作為

29、系繞“地”的參考電平罡按水漲船 高的原理歲電壓的感應而相應的提高。所次，儀器內部的電N器件不會因高電壓的干音而擊 穿，這對CCWS電路尤為有利。浮地系統(tǒng)的缺點是，當附近有高壓設備時，其機充易懸應較高電壓，形成嗓聲干擾，因 此安全性較差。10、在光學檢測系統(tǒng)中，什么是直接檢測系統(tǒng)和相干檢測系貌？各有何特點？不論罡相干光源還罡非相干光源來攜帯光信息，而檢測器件只直接檢測光強度，這種 光電系統(tǒng)稱為直接檢測系統(tǒng)；如果采用相干光源利用光波的拆幅、頻率、相位來攜帶信息, 光電檢測器檢測不是直接檢測光強而是檢測干涉條紋的振幅、頻率、或相位則稱為相干檢測 系統(tǒng)。直接檢測系統(tǒng)簡電、應用范圍廣，而相干檢測具有更f

30、t的檢測能力和更高的信噪比， 因而系統(tǒng)楕度更高，穩(wěn)定性也更好V11、說明干涉榮絞外差檢測原理及特性。(1) 原理本光電接收器It放大器I夕暨5參考光5)a)圖6-51光學外差探測原理光學外差檢測原理如Sa所示。入射信號光波的復振幅和本機振蕩玄考光液的復振幅分別為 Us(t)=asSin(uJ 北+屮 $U：(t)=a：sin(tjJ；t+屮 o)則在光混頻器上的輸出光強為它的頻譜分布表如圖b所示，其中的倍頻項與和頻項不能被光電器件接受，只有當3 0和 3S足夠接近，并使tors-3 0處于探測器的通頻帶范圍內才能被相應。此時探測器的諭 出信號為,此式為光學外差信號表達武C2)光外差檢測的特性光

31、外差干涉測M具有以T優(yōu)點：檢測能力強轉換増益高信嗓比高©濾®性好 穂左性和可癥性高。12、光電系統(tǒng)設計要考慮哪些重要原則？匹配原則(光譜匹配、功率匹配、阻抗匹配)干擾光最小原則共光路原則光 電系境設計罡測控儀器設計的一卻分，它還應遵守儀器i殳計的阿貝原則、差動比技原則、精 度原則、基面統(tǒng)一原則以及補償原理，平均讀數(shù)原理等基本原則和理論13. 如圖所示杲斐索平面千涉儀原理圖，試說明其工作原理，并說明其共光路情原理;激光束1披發(fā)光鏡3匯聚于小孔光欄4處, 光欄4位于準直物後7的焦面處，光東透過分光 鏡5向下通過準直物鏡7平行光束出射，并垂 直人射到參考物後Ml上。Ml為半反半透

32、鑽， 一部分光線被'【1反射作為標淮光東，另一剖分 光透過蔘考鏡入射到被測表面M2上有被測 衰面反射形成測童光朿，兩朿光在光欄6處匯合 而r生干涉。在光欄6處敘g CCD攝像機便可 記錄下與被測表面相對應的干涉圖0 光路情況：該索統(tǒng)豹測量光東與參考光束基本上 處于同一環(huán)境中，S度的變化和外界振動的影響 對兩束光基本上相同，因而有利于提高測量精 度。索統(tǒng)的測量光東與參考光東在參考機Ml到 被測物體之間罡不同路的斐素干涉儀原理圖1-徽光支2反葛挖3聚光拔 6光欄的，試說明其工作原理？采用的是何14、如圖所示光路是用來檢測物面（鏡面） 種照明？原理：光源發(fā)出的光經(jīng)物鏡7投射 到物保8上，物橫

33、本身兼做聚光鏡。 物鏡將物面成像到CCD器件9的 光敏面上。這種照明系統(tǒng)可以檢測 反射橫面上的缺陷。如果被測表面 是犧面，則鏡面的反射光線全韶進 入物機成像，因此整個圖像部是白 色。當鏡面上有闔蝕斑點或者污'湊 時，所產(chǎn)生的漫反射光線進入物鏡 的甚少，因此S像上將產(chǎn)生黑魚的 斑點 同軸反射照明光源2-集光鏡3-孔徑光4-視場光闌5-聚光縫6-分光鏡；7-物鏡8-物面9-CCD15、試說明其工作原理，并用相應公式推導，設計要點？ 光:源發(fā)岀的光通量0=此十如sin（購（十航）3/6/7/原理：是正弦波調制的激光束在傳S過程中利用其相位變化來測量距離。如圖所示該系統(tǒng)采用半導體激光器作為光源

34、，在光源的驅動電路中施加正弦電壓。則 光源發(fā)出的正弦規(guī)律的充適量0=0）+血sin（®/ +他）光輻射經(jīng)光學系統(tǒng)3發(fā)射到放在被測距鳶物體上的靶鏡4上，光披靶鏡全反射后被光 學器件6接收，經(jīng)放大、鑒相后可獲得相位差變化屮。若被測距離為D,從發(fā)肘光到接收到返回光的時間為t；光的傳播速度為C則t=2Dc, 在這段時間里光載波的相位改變了屮；即屮=Wot=UJoX2Dc,從而可以計算出待測距離 D=cip '2uj ：=ci4J 4n 丘被測相位 1S屮=（m-A m） X2tt =mX2n -A 屮16、試簡要說明時間法測距的原理，設計要點？強肪沖滋光器1發(fā)出的激光巨脈沖經(jīng)光學系統(tǒng)

35、2射向被測距S的目標3,光被目標反射后彼 測距儀的光電檢測器件5接收.若該巨脈沖從發(fā)射到接收的時間延遲為t；則被測距離為 D=(l/2Xt 01間I可用脈沖填充法求出I =XA T=N fo從而可得D=(l/2)ct= (12G Cn=KN 式中K=c-2fc是測距脈沖當量，即單位脈沖對應的被測距離17. 簡述激光干涉測長的基本原理，并給岀公式，分析其原理誤差。邁克爾遜T涉儀吋移動平臺M2/待測物體激光器示記錄裝先卩原理：由激光器發(fā)出的光經(jīng)分束鏡BS分為兩束，一束射向干涉儀的固定參考臂，經(jīng)參 考反射鏡H返回后形成壘考光束；另一朿干涉儀的測fi臂，測fi臂中的反射鑽M2將隨披 測長廢位移而移動，

36、這一束光從測S反射鏡返回后形成測量光東；測量光束和參考光束的相 互養(yǎng)加干涉形成干涉信號。干涉信號的明暗變化次數(shù)K直接對應于測量靜的位移，可表示為L=KA 2=NA o2ti測量光路與參考光路的光程差為2n(U-U,對應的干涉條紋數(shù)為 Kof (L«rLJ A o測量時，反射復隨被測物體一起移動。如移動長度為L,那么干涉® 紋數(shù)變?yōu)镵=2nL A o*2n(L,-L,)' A o若干涉條紋經(jīng)m倍細分后，再用計數(shù)器計數(shù)，所記的數(shù) 為K,那么N=Km=2mnL X o-2mn(LnrLr)/ X o從而被測«度為L=NA池皿么寸®由于激光干涉測長是増量

37、碼式測量，在測量開始前應対計數(shù)器清零，因而在測量過程 中只g L,-L,不在變化，其測量結果為LgCA o2mn改式為激光干涉測長的基本公式誤S：對L=NA d2irm(L打LJ進行全微分，便可用徽分法求出影響激光干涉測長的主 S誤差 L=為計數(shù)誤差； 為波長不穩(wěn)定帶來的測S誤差； 為由于測S環(huán)境下$氣 折射偏離標準環(huán)境下的空氣折射率而帶來的誤差J 為測量過程中由于溫度、力變形及 振動造成初試程差發(fā)生變化而莆來的誤差18、甥旋測微機構誤差分析。由于制造或裝配的不完善，使得婢旋測微機構的軸 線與滑塊運動方向成一夾角。試求由此帶來的誤差。(P36)蝮桿移動距離為L. P2龍導軌一滑塊/護施副一&q

38、uot;WW手輪.1rofj£由于原誤差為夾角誤差0，滑塊的實際移動距離L為L=Lcose =19、如圖所示是小模數(shù)漸開線尺廓檢查儀。試說明其工作過程及實現(xiàn)測量的原理。2工作過程；被測齒輪1與半徑為R的基as 2同心安裝在主軸上，墨Sfi 2有由鋼芾將其與主拖板3相連。在主拖板3上安裝了直尺5,其角度可以通過專門的裝賽實現(xiàn)調整。在推 力弾® 12的作用下，測量拖板8與直尺5保持接觸，在測量拖板上安裝了測量杠桿9和測 微儀10轉動手柄7時，傳動絲杠4帯動主拖板上下移動，基0盤在鋼芾的帶動下轉動，被 測齒輪隨之輕動。與此同時，直尺也上下移動，罡測fi拖板水平移動，此時，測fi杠

39、桿感受 的是被測齒輪的齒廓偏差信號，測微儀10將S放大顯示。實現(xiàn)測量的原理：當主拖板在絲杠的帶動下上下移動的距離為L時，直尺也上下移動了L, 在鋼帶的帯動下5Sfi逆時針旋轉屮=LRo此時，在彈蕃的作用下，測量拖板向右移動的 距離5=Ltan9，設測齒輪的®圓半徑為厲，測童之前將直尺傾斜角度調整為0 =arctan(roR) 那么測fi拖板的位移距離為s=Ltan0江“Rr卻20、自準直僅簡化原理圖如圖所示，用分劃板上的刻線尺來測量反射鏡的偏轉角, 分劃板上的刻線是均勻的，求原理誤差。十字線與帥像之間錯開的疇Z為zOfanM當Ci很小時zf - 20則原理誤差為A a =a -a戶o

40、Zf-arctan&f)=zQ f%zofl 3(sf)"21、有一光學系統(tǒng)，其放大倍數(shù)為：M = y3=-已如像面的軸向位置誤差AV = 0.1ww ,物S y=20mm像高為/ ,像面到像方焦點間距.V = lOOOwwi ,求因此引起的儀器誤差AT。22s用游標卡尺測S工件的直徑。測S時，活動量爪在尺架（導軌）上移動，由 于導軌之間存在間隙.使活動量爪發(fā)生傾斜角而帶來洌S誤差，肯值為O游標卡尺的讀數(shù)刻線尺和褂測件的 尺寸線不在一余線上，故不符合阿貝 原則ig S=30 S米，0 =r?？ǔ咴O計不苻合儀器設計的哪個原則？衣由此帶來的誤 差，此誤差厲于何種類型誤差。二3一

41、活動量爪發(fā)生傾斜角而帶來洌 量誤差，其值為 i=StanUJ因為 S=30nun > 9 二1" 所以 1=30 X 0.0003mmV=9x10'23、試說明愛彭斯坦光學補償法是用來補償何種誤差的？幷說明英工作原理. 愛彭斯坦光學補償方法a）測長機丄作熾堆圖b）光學補償原理補償阿貝誤差工作原理：由尾座內光源照明的雙刻線分劃板及由讀數(shù)顯徵鏡讀數(shù)的lOOnm刻線尺均 安S于儀器床身上，并分別位于焦距f相同的兩個透鏡Nix N2的焦平面上。反射鏡 M2X逶鏡K2及照明光源與尾座連為一體，反射鏡MlX遶鏡K1與頭座連為一體。對 于im測長機而5,儀器床身上裝有10塊雙刻線分劃

42、g,每兩塊相距100mm,每塊上 面刻有卜9之間的一個數(shù)字。對零時，雙刻線指標成譙在lOOmm刻尺的0刻線位g, 即S1點。測量時，若工件長度的基本尺寸為lOOmm或其整數(shù)倍，則霜屋座向左移動， 若工件長度的基本尺寸除了 100mm的整數(shù)倍外，還有自O.l-lOOmm的小數(shù)時，則還需 同時將頭座向右移動到所需的數(shù)值上。光學補償原理：由于傾角e的影響，在測量線方向上測端將向左移動AL比une值，如 無補償措血，則此值即為阿貝誤差。但這時與尾座連為一體的M2sN2也隨之傾斜e角， 這徉，新的雙刻線指標0通過M2、N2及Ml、M便成像到S2點，即s2，點相対于si 點在刻尺面上也有一挪動量51s2=

43、ftane °這時，由于頭座要向左移動AL來壓緊工件， 而使0點的像也同時向左移動 L再次與S1點瞄準。若h=f則hianO =ftan0于是，由屋 座傾斜而帶來的阿貝誤差，在讀數(shù)時自動消失了。24. -個長度為L,高度為H的矩形基座，當上表面溫度高于下底面溫度時會產(chǎn) 生上凸下凹的形變，其最大凹凸量為6如圖所示。9117)1試求證圖中C所標示位置為最大變形量發(fā)生位置。2-試求最大變形量的關系式。設基座材料的線膨脹系數(shù)為a .上下溫差為t。因為6 =屮 /4Xl/2=L/8 屮=A L/H=La A t/H 所嘆6 =a A ttVSH 25、主動三角法測距的應用范圍是多少？漫反射式和

44、反射式三角法的測量原理？繪圖說明， 并寫出公式。設計要點？ （P279） 主動三角法測距法用于從數(shù)a米倒數(shù)米的精密測距 漫反射光的三角法：光源與聚光鏡組成的照明部分的光軸垂直被測物表面，照明光被聚光 覆匯漿于一點A,光點大小約數(shù)十徽米，光點披物鏡成像與P點。若被測表面軸向位移AZ 相應像點由P移至Pl,則由三角關系可得AZ二PP1 Bsine這種萬法的測堂范圍可込數(shù)白竜米，分耕率可達Ipm反射式三角法：即入射光的光軸與接收光的光軸按反射定律位S放置，用于測量光滑物休的軸向位移，有團示三角形關系的AZh 三、R答題（每小題10分，共40分）I-為什么在島粘皮的圜分度測雖裝胃設訂中，在度矗的對徑力

45、向丄安裝兩個讀數(shù)頭，這 布 局川以消除瀆數(shù)謀工討I哪些次諧波答：rrHi盤的對徑方向上安裝兩個讀數(shù)頭，M収兩個讀數(shù)頭諫數(shù)值的平均值件為Mrr.這 轉 角付*上的讀數(shù)這IY,度盤安裝偏心或軸系晃動帶*伯讀數(shù)謀#為正的話.則對讀數(shù)頭 11來說.英讀數(shù)課左必為負.R兩者的絕對位相竽。因此.、"療任若度盤安裝偏心或軸系見動 誤非:時，對徑讀數(shù)取它們的平均to，則川口動消除讀數(shù)視至.這 r 局刖以消除讀數(shù)誤;:屮奇數(shù)次諧波ix：.畢例說明誡小阿貝謀瓷的力汰。答：I）標尺丿被測晝 條線：何如用f令尺測s件時.枝測零件的尺寸線和干令尺的刻線 尺在條血線丄，完全符合阿貝原則。2）如無比做到則確保導軌

46、沒有角運動：例如用游標U尺測ST.fT時，沼動運爪與尺架（導軌） 之間存rr間隙.測最時町擰犠活動S爪上的縮緊螺釗消除間隙，避免活動鳳爪產(chǎn)生傾軋3）或/垃眾蹂測屋，算出Zr丿L偏移加以補保 例如將瓷彭斯坦貯丫補經(jīng)方汰應用T髙粘度測K機的i實數(shù)糸統(tǒng)中，通過結構布川隨機補償阿貝謀珀。2. 密珠軸系有何特點？密珠軸系的設計耍點有哪曲？n：密珠軸系的特點為密集的滾珠近似丁多頭螺碇扌II列，毎人滾珠公轉時有nc滾道.互不幣 父.滾珠裝配時過盈，和當十滇加我荷，起劉消除間隙，減小兒何形狀誤差.這種軸系成本 低，便用力便,壽命長”粘度局，但承找能力不人。密珠軸系的設計耍點冇滾姝的密集度：適肖提高滾珠密集度.

47、即増加滾姝數(shù)雖，町Wtt主軸的“飄侈”有所改善。 浪珠的»列方式：排列方式必須滿足毎個滾珠的滾道蟲不逍疊.片在山徑方向上滾珠的配置成 對稱的原則.過盈雖的確宦：過盈屋能補償軸承零件的加工謀羞，提髙軸系的冋轉粘度和剛度。代體靜Hv導軌右哪些類型？ fV有何特點？普：1）閉式丫面導軌型導軌榊度局，剛性大，膽戈能力也人，就適卜件持密機械的長行程 導軌。2）閉式関柱或矩形導軌型 結構簡用，孝件的粘度可由機械加T保證。隨右丁11臺的移動， 導向圓軸可能產(chǎn)生撓必 故不適用做長導軌.可用門鮎腹、局穩(wěn)定性的知行程工作臺的導軌。3）開式幣:踰平衡術 結構簡單、年竹加工也比較容易fllM廃小，朮載能力低

48、，可用于負我 變動小的梢密儀器和測雖儀器。m,4）開式A空吸附平衡型由真空泵的真空壓力來限制工作臺的浮血雖，因此，町以減少工fr臺 浮起間隙気 艮至可以祓少到lum,故可捉島剛度.常在微細加匸設備屮應用.3. 測控電路般由哪幾部分組成？ 有什么作用？n： I）測星電路測星電路是位餛渝的輸入通說，其作HI展將傳感器輸出（勺測雖人:.號進行調 理、轉換、或者運算等.2）檸制電路 控制電路足佇息流的輸出通逍，其fl用足爪擁中央處理系統(tǒng)發(fā)出的命令，對被 控參數(shù)實行控制.3）中央處埋系統(tǒng) 屮央處理系統(tǒng)同時連搖著測雖電路和控rM電略，即連搖看信總流的輸入通 逍和輸出通逍，因此它是整個電路與軟件系統(tǒng)的中心，

49、同時也是整個測捽儀器的神經(jīng)中4）電源 電源的上耍作用包括：為整個電路系統(tǒng)各單元捉供必耍的能S，為?V個電路單 兒提供電半呈準，為抽雖仿號和控制伉號提供參考電、卜尊等5）軟FI系統(tǒng) 軟fl系統(tǒng)對r亢成各種依息處理、捉局系統(tǒng)的口功化和徑葩化水平、捉升系統(tǒng) 性能和可徐性、共享測吊數(shù)據(jù)以及系統(tǒng)之間九和通訊和聯(lián)絡等具有血援的作用，同時它也是提 局測控儀器陽加位的巫婪于段Z。測控軼fl的設計般應遵循那*«原則？答： 先進的：軟件設計方肚與采用的:TJI孌符合計錚機技術發(fā)展趨勢，采用先進成熟的技 術和手段，易r技術更新.（2）町擴充弘 軟件系統(tǒng)的架構應當方便系統(tǒng)和支搏Y臺的升級，満足用八對竹息需求

50、不斷變化的甜畛，以及系統(tǒng)投資建設的長列件效益。（3）乂活件：通過采用紂沖J化，倶塊化的設計形式，滿足系統(tǒng)及用戶各種不同的需求，適 丿電不幣變化的耍求.（4）規(guī)范性：采用的技術標準耍i9®W際標范利國家標爪與觀范，保證系統(tǒng)發(fā)肚的延續(xù)和 可靠tt（5）系統(tǒng)性：軟件的設訃）"、是獨立J系統(tǒng)械!件之外的，應當在滿足系統(tǒng)設口的總體諭提 卜條合考慮.典片9的情況，就足經(jīng)常采用“以軼代帔”的方2：4. 光電系統(tǒng)設耍考慮哪些車耍廉則？存：D匹配®則 光電系統(tǒng)的核心是比變換與比電變換因而）t電系統(tǒng)的尢學部分與電子 那分們1!1：配是I分巫S的.這些匹配包拈光譜匹配、功率匹配和阻抗匹

51、配.匹配的核心是如何 止林猶樣光電檢測器件.2）干擾光最小廉則光電系統(tǒng)屮的干擾光5&指雜散光、杵景光和“冋授光“干擾光最小原 則折丁擾比對比電系統(tǒng)影響就小.以使系統(tǒng)穩(wěn)淀件好，抗丁擾能力強.3共比路廉則 測屋比束丄j參考比束¥木上處TkJ環(huán)境屮.沿度變化和外界扳動的影響對 兩束完基木丄和同.因而有利丁提島測雖W度。丁涉條紋外芳檢測系統(tǒng)設計時耍考®SP匕問邂？答：I）比外苯撿測的空間條件 信號比和點扳比的波前必須匝A,也就足說，必須保持信號 比和+扳比在空耐上的角準了i2）比外益檢測的坯率條01允外幷探測除了婆求信號和本扳朮必須保持牢間準血、具軸以外, 還耍求兩者H有高

52、度的的色杵和頻率穩(wěn)注度。3比外興楡測的偏振條件 在）t混頻器上要求信號比打木扳光的偏振方向致，這樣兩束比 才能按尤束呑加觀丫卞逬行合成4）外岸椅測的功崇穩(wěn)定外幷拾測屮，木機振蕩功率珂若不穩(wěn)定將會引起很大的啼奇.因此 外北松測耍求木扳尤功率耍穩(wěn)，除了采用穩(wěn)頻率和穩(wěn)功率技術來穩(wěn)£ Po外，在比略中釆用 雙通道混頻技術來減小P。的影響分有效的- 四、分析計算a：（每小趣川分，共卻分）I. 門準左儀簡化廉理圖如圖所示，用分劃板I：的刻尺來測星反対鏡W轉角a,分劃板上的刻 間隔足均勻的，求原珅課幷:。ftV： rtl圖示幾何關系f*J tan2a = y.則 a = -arcian - = -

53、丄（三）'=2 f 2*/3/2/6 /其原理謀差為Aa = （-f6 J2. 有 摩擦盤左尺運幼劇（見右圖）.«原始沃涇有馀擦S賺擦盤AbK偏心S凍擦盤轉和從©W到5 ,求它們帶來的作川蟆耳?（AD =0005mm, c=0.002mm,sV1 '-1r“二 r 晉"eqs/)AD解：30引起的作用謀羞壟圓盤安裝偏心可以轉換成瞬時臂誤岸方協(xié)例=于，則引起的 作用俁善:為AFp =1)= 7(0.523 0) = 0.<X)l3(w/zj)e引起的作用謀差 卑岡盤安裝偏心可以轉換成瞬時骨謀策5/;/0）= esine，則引起的作用誤幷為A?；

54、 = £ 6和0卩=£* e*sinifid<p = e(cos-cos,) = (UX)2(1 -0.866) = ().00()27(ni/?/)2冇 測桿在軸全孔屮運動.測杯和軸去孔的公羞分別為d：唄、DJE 軸套KhJ血m 測桿長l=5（）mm.求測桿傾斜帯來的謀彖（10分） 僑：A = (M)l3-(-(MKn)= ().()163機械式測微儀的原理如圖230所示。“試分析儀器的原理謀址。2闡述儀器各個謀疋源。3）用件用線弓瞬時臂法分析杠桿短臂誤才皿蘇表盤刻劃 半徑券A丨和表盤安裝偏心C所引起的局部誤差。W譏解：I）儀器的原理誤玉：設被測長丿支為相應杠桿轉角為0 則x = asing由麥克勞林公成得sin0 = e 即則x = dsin0 = n(e彳) 其廉理諜差為杠桿短宵誤>)】町以知換成瞬時臂謀則引Ai：件用謀幾為 I引赴的作用謀#= d陽(卩)卩=f= M<p農(nóng)盤刻劃半秤蟆屋nJ以轉換成綺時烤謀芳，則引起件用誤雄為A斥=f 5標糾卩=£ Sidip = A/,引起的竹用誤并圓獄安發(fā)偏心町以轉換成瞬時罟誤并"/卩)之油0則引起的竹用謀捲為巴=P &(0)0= f esinyde = <?