核能研究所(中華民國的非營利機構)、芝加哥大學(美國阿崗國家

1、【法規(guī)名稱】 核能研究所（中華民國的非營利機構）、芝加哥大學（美國阿崗國家實驗室運轉機構）及日本中央電力產業(yè)研究所三方合作交換計畫協議書（中譯本）【頒布部門】【頒布時間】 1995-03-30【正 文】核能研究所（中華民國的非營利機構）、芝加哥大學（美國阿崗國家實驗室運轉機構）及日本中央電力產業(yè)研究所三方合作交換計畫協議書（中譯本）第一款名詞定義(a) “ANL”系指芝加哥大學，依照 NO.W-31-109-ENG-38號合約乃是阿崗國家實驗室的營運機構。(b) “INER”-系指核能研究所，為中華民國內非營利之機構。(c) “CRIEPI”-系指中央電力產業(yè)研究所，為日本國內非營利之機構。(

2、d) “DOE”-系指美國能源部。(e) “Contracting Officer” 系指美國能源部人員，主管能源部與阿崗實驗室間之合約。(f) “Government”系指美國政府及所屬機關。(g) “Parties” 系指阿崗國家實驗室，核能研究所及中央電力產業(yè)研究所。第二款工作目標INER,ANL與 CRIEPI 對于經放射線照射的敏化 304不銹鋼材料進行歐杰電子光譜分析工作。第三款工作項目本計劃預定完成的工作項目分別列于本協議書的附錄、及。第四款計劃期限本計劃的期限為自合約生效日期起 24 個月，得依本合約約定經各方同意后終止或延展。第五款預算經費(a) 參加各方將各自負擔完成自己工

3、作項目的費用。(b) 參加各方彼此間沒有經費的往來。(c) ANL 在本計劃所進行的工作也屬于美國核能管制委員會委讬的“放射線對奧斯田系不銹鋼應力腐蝕的影響“計劃的一部分，并由能源科技組負責進行。第六款工作保證參加的各方將盡最大的努力完成計劃所列的目標，但不保證所列的工作項目都能于計劃期限內全部完成。第七款責任歸屬(a) CRIEPI 將提供如目錄所列，各種照射過及未照射的敏化 304 不銹鋼材料，并負責將上述材料運到美國伊利諾州芝加哥的歐哈拉國際機場由 ANL所指定的運送公司。同時 CRIEPI 將提供所擁有關于材料的敏化情形、未照射前的化學組成、中子照射量、及應力腐蝕的易感性等相關資料。(

4、b) INER將提供如目錄所列，從運轉中的 BWR電廠受損爐心側板的裂縫處及熱感區(qū)切下的試片，并負責將上述材料運到美國伊利諾州芝加哥的歐哈拉國際機場由 ANL所指定的運送公司。INER亦將提供可能的化學組成、中子照射量、焊材種類等試片的有關資料。(C) ANL 負責完成附錄中的各項工作。所有的工作將在收到上述(a)及 (b)所述的材料及數據后之一年內完成。但是如果美國能源部認為有悠關美國公共利益，必需由 ANL全力完成的任務時，則前述的工作必須延后。如果有此情形發(fā)生時，參與的各機構以及政府或人員，皆不須為工作的延遲負責。(d) 在完成歐杰電子光譜分析及其他可能的分析后，ANL 負責放射性物質的

5、處理問題，不須將 INER 或 CRIEPI 提供的任何物品退回。第八款協議書范圍簽約各方都了解且同意，此一份協議書包含各方對合作計劃內容的所有在先之協議，并取代以前所有的聲明、保證及協議。第九款計劃變更及延展任何一方皆可提出延長計劃的建議，如經其他各方也同意得以書面修改變更合約內容。第一款損害賠償責任(a) INER及 CRIEPI 同意，如果 INER 、CRIEPI或其代理人由于使用 ANL授權的研究成果、技術發(fā)展，或由 ANL技術衍生的產品的使用、買賣，造成的任何責任、要求、損害、費用、訴訟費用支出和損失，ANL 或美國政府不負擔任何責任，此約定在計劃結束或合約終止后仍然生效。(b)

6、對本計劃所完成研發(fā)得到的有形及無形的研究成果，不論是物品或無體財產權，依本約之資源加以制造或開發(fā)，或取得所有權，商品責任之存在，或是供特殊目的而致之研究發(fā)明或制造之產品，當事人間不負明示及默示責任及擔保，如因此造成損害，本合約當事人及政府亦不負任何責任。第一一款結果與報告(a) ANL 完成計劃的工作所產生的研究成果，將依本實驗室的營運一者芝加哥大學，與美國能源部之間 W31-109-ENG-38 號合約中的智慧財產權條款決定歸屬。INER與 CRIEPI 對上述的成果有無限制使用權。無限制使用權指可用任何的形式，或任何的目的來使用，重復或發(fā)表全部或部分的數據，也允許其他各方如此做。(b) A

7、NL 及美國政府也對 INER 及 CRIPEI 在此計劃中得到的成果有無限使用權。無限制使用權指可用任何的形式，任何的目的使用、重復或發(fā)表全部或部分的數據，也允許其他各方如此做。(C) INER、CRIEPI和 ANL同意在執(zhí)行此計劃時將不提供或使用任何具有專屬權利的資料。(d) ANL 將在完成附錄中的各項工作，得到初步的數據結果后，以書面報告?zhèn)鬟_給 CRIEPI 及 INER 。ANL 保留將此報告交給美國的核能管制委員會的權利。該會資助 ANL的“放射線對奧斯田系不銹鋼應力腐蝕的影響”的計劃，并提供 ANL在本次計劃工作的全部費用。(e) 參與的各方將召開一次學術會議，討論本計劃所獲得

8、得數據，以及有關的資料及成果。(f) INER、ANL 和 CRIEPI 將在附錄的工作完成后的合理的時間內，以三方都認為公平的方式，將結果在學術會議及科學期刊上提出及發(fā)表。第一二款協議書修正對本協議書內容的任何修改，都必需由各方授權的代表，以書面的方式提出，經過共同的同意才有效。第一三款疑義有關本協議的解釋及施行，如有任何疑義，將由各方經由討論后以友好的方式解決。日本中央電力產業(yè)研究所代表簽署人：武燕町田簽字-職銜：江研究所副理事長，所長-日期：1995年 1月 18 日-核能研究所代表簽署人：夏德鈺簽字-職銜：所長-日期：1995年 3月 30 日-美國芝加哥大學(阿岡國家實驗室運轉機構)

9、簽署人：Dennis Bugielski-簽字職銜：采購部經理-日期：1995年 1月 9日附錄附錄描述 CRIEPI 在合作計劃中，將提供 ANL照射過及未照射的敏化304不銹鋼材料種類及數量，詳述如下：試片編號熱處理中子照射量數說明(CRIEPI編號)(n/cm,E>1MeV) 量1 固溶退火未照射22 (Z18) 固溶退火3.4×10 (19次方)13 熱敏化未照射24 (X6)熱敏化3.4×10 (19次方)1 在 0.01ppmDO或氬氣中有沿晶斷裂5 熱敏化未照射26 (V7)熱敏化4×10 (18次方)1 在 0.01ppmDO或氬氣中有沿晶斷

10、裂7 (V16) 熱敏化8×10 (18次方)1 同上8 (V39) 熱敏化5×10 (19次方)1 同上9 (V59) 熱敏化1×10 (20次方)1 同上10 (V33)熱敏化，350 5×10 (19次方)1 RAH 極值回火 1小時11 (V63)熱敏化，350 5×10 (19次方)1 RAH 極值回火 1小時注一：試片 1到 4由同一塊材料制成，試片 5到 11 由另一塊相似材料制成。注二：試片形狀大小略圖如下：(備注：附圖請參閱中外條約輯編第 11 編外交部 253 頁)附錄附錄描述INER在合作計劃中，將提供 ANL BWR電廠

11、的受損爐心側板的裂縫處及熱感區(qū)切下的試片的種類、尺寸及數量。試片編號中子照射量尺寸說明數說明(INER編號)(E>1MeV)量4.55×10 (19BM/HAZ 11x(4-6)X1 1次方)n/cm (2次方)4.55×10 (19HAZ/FS 14x(3-5)X3 1 沿晶斷裂次方)n/cm (2次方)BM=基材，HAZ=熱感區(qū)，WD=焊道，FS=斷裂面附錄附錄記載 ANL進行歐杰電子光譜分析的范疇，試片準備的要求，及分析的程序。1 范疇ANL 會對 INER 及 CRIEPI 提供的，照射后 304不銹鋼試片，利用歐杰電子光譜儀分析，并對晶界上的微觀化學組成做重

12、點的研究，詳如下：1.1 儀器：JOEL Model JAMP 10屏蔽式掃瞄歐杰顯微鏡 (SAM)。1.2 主要分析工作：斷裂面的破損形態(tài)。利用深度掃瞄法測量晶界上乏鉻形態(tài)的分布情形。測量在晶界及其附近，Ni、Si、P 、S 、F 、V 、B 、N 及其他重要微量元素含量的變化情形。如有析出物則分析其化學組成。2 試片大小形狀及化學組成的資料：預定分析所需要的適當試片敘述如下：2.1 爐心側板試片 (INER) ：二片如附錄中記載，在側板裂縫處切下，包含有斷裂面、熱感應區(qū)、基材及焊料等區(qū)域之試樣。2.2 慢速伸試片 (CRIEPI) ：附錄中的每一類材料，在拉伸試片拉斷后，由未變形的尾端切下

13、15mm×15mm大小的分析試片各一片。試片的化學組成及爐心側板試片的焊料種類都將告知 ANL。3 分析程序：充氫之試片在歐杰顯微鏡的超高真空環(huán)境中予以斷裂，以造成沿晶斷裂及韌性斷裂的表面。試片在 100mg/1 NaAsO2 及 0.1N H2SO4 的溶液中，在 60 及 50mA/cm (2 次方) 的電流密度下，經過 48 小時的陽極處理后，可達到所需要的充氫狀態(tài)。選定 5到 10 處之沿晶或韌性斷裂面后，利用歐杰電子光譜的訊號，在各區(qū)域的特定點進行連續(xù)的測量及分析。在沿晶斷裂表面利用濺離法，測量晶界表面下內層乏鉻的分布情形。典型的濺離程序是利用控制好流速的氬離子，撞擊表面數

14、秒鐘，將表面數層的原子撞離后的表面測量歐杰電子訊號 60 秒。整個程序皆由電腦自動控制完成。4 附加的場射槍式精密電子分析顯微鏡分析ANL 最先進的場射槍式精密電子分析顯微鏡已開始使用。此 HB603-FEGAAEM的顯微鏡，具有現在世界最進步且獨一無二掃瞄穿透式顯微鏡及歐杰電子分析儀的雙重功能，其場射槍電子束的柱徑較一般研究放射線促進應力腐蝕應常用的 HB501型小 2.53 倍，使得其光能量光譜的解析度較 HB501型提高了十倍。如果 ANL認為 INER 及 CRIEPI 提供的試片合適時，ANL 將會在預定的 JOEL JAMP 10 SAM 的分析外，再進行 HB603FEG AAEM的分析。由于此項分析不是 ANL對本計劃的承諾，而屬附加的，其實