超聲檢測1級理論復習題

1、超聲檢測 I 級理論復習題含參考答案，僅供參考1.超聲波是頻率超出人耳聽覺的彈性機械波，其頻率范圍約為：A A、高于2萬赫芝B、110MHz鋼中超聲波縱波聲速為5900m/s,假設頻率為C、高于200Hz D、0.2515MHz10MHz那么其波長為：C A、59rnrnB、5.9mm C、0.59mm3.以下關(guān)于波的表達錯誤的選項是：D A、波動是振動的結(jié)果C、兩個波相遇又可能產(chǎn)生干預現(xiàn)象4.超聲波的波長：C A、與介質(zhì)的聲速和頻率成正比；C、等于聲速與周期的乘積；5.超聲波在彈性介質(zhì)中傳播時有D B、波動傳播時有能量的傳遞D、機械波和電磁波的傳播均依賴于傳播介質(zhì)B、等于聲速與頻率的乘積；D

2、、與聲速和頻率無關(guān)。6.下面哪種超聲波的波長最短。A、水中傳播的2MHz縱波C、鋼中傳播的5MHz縱波7.在金屬材料的超聲波探傷中，使用最多的頻率范圍是：C A、10251MHz B、1 1000KHz C、1 5MHz D、大于20000MHz8.質(zhì)點振動方向垂直于波的傳播方向的波是：B A、縱波B、橫渡C、外表波D、蘭姆波9.在流體中可傳播：A A、縱波B、橫波C、縱波、橫涉及外表波D、切變波10.在液體中唯一能傳播的聲波波型是：C A、剪切波B、瑞利波C、壓縮波D、蘭姆波。A、質(zhì)點振動和質(zhì)點移動B、質(zhì)點振動和振動傳遞C、質(zhì)點振動和能量傳播D、B和C11.一般認為外表波作用于物體的深度大約

3、為：C A、半個波長B、一個波長C、兩個波長12.鋼中外表波的能量大約在距外表多深的距離會降低到原來的A、五個波長B、一個波長C、1/10波長13.假設頻率一定，以下哪種波型在固體彈性介質(zhì)中傳播的波長最短:A、剪切波B、壓縮波14.超聲波按其波陣面形狀可分為：A、平面波B、柱面波15.超聲波在彈性介質(zhì)中的速度是：C、橫波D C、球面波B D、D、3.7個波長1/25。 B D、0.5波長D 瑞利外表波D、以上全部A、質(zhì)點振動的速度B、聲能的傳播速度16.在同種固體材料中，縱波聲速CL,橫波聲速A、CR CS CLB、CS CL CR17.超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與D 有關(guān)。A、介質(zhì)的彈性B、介

4、質(zhì)的密度C、C、波長和傳播時間的乘積外表波聲速CS,C、CL CSCR超聲波波型D、以上都不是CR,之間的關(guān)系是：C D、以上都不對D、以上全部2.D、2.36mmA B、鋼中傳播的D、鋼中傳播的2.5MHz橫波2MHz外表波18.在同一固體材料中，縱、橫波聲速之比，與材料的C 有關(guān)。27.垂直入射于異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓和透射聲壓：C A、與界面二邊材料的聲速有關(guān)B、與界面二邊材料的密度有關(guān)C、與界面二邊材料的聲阻抗有關(guān)D、與入射聲波波型有關(guān)28.在同一固體介質(zhì)中，當分別傳播縱、橫波時，它的聲阻抗將是：C A、一樣B、傳播橫波時大C、傳播縱波時大D、無法確定29.超聲波垂直入射到異質(zhì)界

5、面時，可能發(fā)生：C A.反射B.折射、波型轉(zhuǎn)換C.反射、透射D.反射、折射、波型轉(zhuǎn)換。B、界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)D、以上全部與聲壓反射率C、T= 1 + rR與聲強透過率A、R+ T = 1B、T = 1- RC、R= 1 T33.超聲波入射到異質(zhì)界面時，可能發(fā)生：D A、密度B、彈性模量C、泊松比19.超聲縱波、橫波和外表波速度主要取決于:A、頻率B、C、傳聲材料的彈性模量和密度D、D、以上全部C 傳聲介質(zhì)的幾何尺寸以上都不全面，須視具體情況而定20.不同振動頻率，而在鋼中有最高聲速的波型是：A、0.5MHz的縱波B、2.5MHz的橫波21.在00C740C之間，當溫度升高時，水的聲速將：A

6、、不變B、增大C、變小A C、10MHz的爬波B D、無規(guī)律變化D、5MHz的外表波22.檢驗厚度大于400mm的鋼鍛件時，如降低縱波的頻率，其聲速將：A.提高B.降低C.不變D.不能確定23.在以下不同類型超聲波中，哪種波的傳播速度隨頻率的不同而改變？A、外表波B、板波C、疏密波D、剪切波。24.材料的聲速和密度的乘積稱為聲阻抗，它將影響超聲波B。B、從一個介質(zhì)到達另一個介質(zhì)時在界面上的反射和透射D、擴散角大小D C、往復反射率D A、在傳播時的材質(zhì)衰減C、在傳播時的散射25.材料聲速與密度的乘積稱為:A、反射率B、透射率26.材料的聲阻抗將影響超聲波:A、擴散角的大小B、近場的大小D、聲阻

7、抗C、在傳播時的散射D、在異質(zhì)界面上的反射和投射30.超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時，反射波與透過波聲能的分配比例取決于:A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速C、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗31.在同一界面上，聲強透過率A、T = r2B、T = 1 r232.在同一界面上，聲強反射率B、T = 1- Rr之間的關(guān)系是:D、T=1-rT之間的關(guān)系是:D、以上全對A、反射B、折射C、波型轉(zhuǎn)換D、以上都是34.超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時，其傳播方向的改變主要取決于：A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗B、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速C、界面兩側(cè)介質(zhì)衰減系數(shù)D、以上全部35.傾斜人射到異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓與透射聲壓與哪一因素有關(guān)？ D A

8、、反射波波型B、入射角度C、界面兩側(cè)的聲阻抗D、以上都是36.超聲波在水/鋼界面上的反射角：B A.等于入射角的1/4 B.等于入射角C.縱波反射角大于橫波反射角D.以上B和Co37.在水/鋼界面上，水中入射角為11,在鋼中傳播的主要振動波型為：D A、外表波B、橫波C、縱波D、B和C38.當超聲縱波由有機玻璃以入射角15射向鋼界面時，可能存在：D 超聲檢測1級理論復習題C、聲束擴散D、以上全部5A、反射縱波B、反射橫波C、折射縱波和折射橫波D、以上都有39.超聲波橫波傾斜入射至鋼/水界面，貝U: D A、縱曲折射角大于入射角B、縱、橫曲折射角均小于入射角C、橫曲折射角小于入射角D、以上全不對

9、40.如果將用于鋼的K2探頭去探測鋁CFe=3230m/s, CAI= 3100m/s那么K值會：B A、大于2B、小于2C、仍等于2 D、還需其它參數(shù)才能確定41.在超聲波探傷時，采用K1斜探頭Ci有機有機=2700m/s, CS鋼=3200rn/s,檢測某合金焊縫CS合金合金=3800m/s,此時合金中的實際K值為：B A、K B、K = 1.54 C、K= 2D、以上全不是42.使橫曲折射角等于90的縱波入射角叫做：B A、第一臨界角B、第二臨界角C、第三臨界角D、反射角。43.第一臨界角是：(C )A、折射縱波等于90時的橫波入射角B、折射橫波等于90時的縱波入射角C、折射縱波等于90

10、時的縱波入射角D、入射縱波接近90時的折射角44.第二臨界角是：(B )A、折射縱波等于90時的橫波入射角B、折射橫波等于90時的縱波入射角C、折射縱波等于90時的縱波入射角D、入射縱波接近90時的折射角45.要在工件中得到純橫波，探頭人射角a必須：C A、大于第二臨界角B、大于第一臨界角C、在第一、第二臨界角之間D、小于第二臨界角46.斜探頭直接接觸法探測鋼板焊縫時，其橫波：D A、在有機玻璃斜楔塊中廣生B、從晶片上直接廣生C、在有機玻璃與耦合層界面上產(chǎn)生D、在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生47.第一介質(zhì)為有機玻璃CL= 2700m/s,第二介質(zhì)為銅CL=4700m/s; CS=3300m/s，那么

11、第臨界角為B 270027002300、A、 a2=arcsin -B、 ct2=arcsin -C、ot2=arcsin -D、以上者E不對47003300270048.用直探頭以水為透聲楔塊使鋼板對接焊縫中得到橫波檢測，此時探頭聲束軸線相對于探測面的傾角范圍為：B A、14.7 27.7 B、62.3 75.3 C、27.2 56.7 D、不受限制49.使用粘貼于平面晶片前的凹球面聲透鏡 其縱波速度為G、聲阻抗為Z制作聚焦探頭，為了使聲束在介質(zhì)其縱波速度為C2、聲阻抗為Z2中聚焦，條件是：B A、C1 C2C、Z1C2的凸透鏡B. C1C2的凹透鏡51.當超聲波入射到凸界面時，其透射波：A

12、、不發(fā)散、不聚焦B、發(fā)散52.當超聲波入射到凹界面時，其反射波：A、不發(fā)散、不聚焦B、發(fā)散D、Z Z2 A C、C1v C2的凸透鏡D、條件不夠，不能確定B D C、聚焦C C、聚焦D、D、條件不夠，不能確定條件不夠，不能確定。A 53.水浸聚焦探頭聲透鏡的曲率半徑增大時，透鏡焦距將：A、增大B、不變C、減小D、以上都不對54.用水浸聚焦探頭局部水浸法檢驗鋼板時，聲束進入工件后將：A、因折射而發(fā)散B、進一步集聚C、保持原聚焦狀況55.超聲波活塞振源在非均勻介質(zhì)中傳播，引起聲能衰減的原因是：A、介質(zhì)對超聲波的吸收B、介質(zhì)對超聲波的散射56.引起超聲波衰減的原因是：D 超聲檢測1級理論復習題C、聲

13、束擴散D、以上全部6D、以上都可能。D 超聲檢測1級理論復習題7A、聲束擴散B、晶粒散射C、介質(zhì)吸收D、以上全都。57.超聲波的擴散衰減主要取決于：A A、波陣面的幾何形狀B、材料的晶粒度C、材料的粘滯性D、以上全部58.在通常的細晶金屬材料，超聲檢測時所引起的超聲波衰減的主要因素是：C A、吸收B、散射C、聲束擴散D、繞射59.由材料晶粒粗大而引起的衰減屬于：B A、擴散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是60.在A型脈沖反射式單探頭檢測中，探頭從不同聲程的相同反射體收到的信號有差異的原因是:A、材料衰減B、聲束擴散C、近場效應D、以上均有可能61.在相同的探測條件下，橫波的衰減將：B

14、A、小于縱波B、大于縱波C、等于縱波D、不一定小于縱波62.一般地說，如果頻率相同。那么在粗晶材料中穿透能力最強的振動波型為：B A、外表波B、縱波C、橫波D、三種波型的穿透力相同63.超聲波傳播過程中，遇到尺寸與波長相當?shù)恼系K物時，將發(fā)生：B A、只繞射，無反射B、既反射又繞射C、只反射無繞射64.活塞振源聲場，聲束軸線上最后一個聲壓極大值到聲源的距離稱為：A、近場長度B、未擴散區(qū)C、主聲束D、超聲場65.活塞振源聲場，聲束軸線上最后一個聲壓極小值到聲源的距離為：69.下面有半擴散角的表達，哪一條是錯誤的？ B A、用第一零輻射角表示B、為指向角的一半C、與指向角相同D、是主聲束輻射錐角之半

15、70.波束擴散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長的函數(shù)并且隨A、頻率增加，晶片直徑減小而減小B、 頻率或晶片直徑減小而增大C、頻率或晶片直徑減小而減小D、 頻率增加， 晶片直徑減小而增大71.直徑12mm晶片5MHz直探頭在鋼中的指向角是：C A、5.6 B、3.5 C、72.以下直探頭，在鋼中指向性最好的是:A、2.5P20ZB、3P14Z73.在探測條件相同的情況下，面積比為A、6dBB、12dB74.在探測條件相同的情況下、孔徑比為A、6dB B、12dB 75.在探測條件相同的情況下，直徑比為6.8 D、24.6C C、4P20ZD、5P14Z2的兩個平底孔，其反射波高相差A 。C、9d

16、BD、3dB4的兩個球形人工缺陷，其反射波高相差C、N/3A、N B、N/2N為近場區(qū)長度66.14mm, 2.5MHz直探頭在鋼中近場區(qū)為:D、N/4A、27mmB、21mm67.超聲場的未擴散區(qū)長度為：A、約等于近場長度C、約為近場長度1.6倍68.在超聲探頭遠場區(qū)中：B A、聲束邊緣聲壓較大C、聲束邊緣與中心強度一樣C、38mm(C )B D、以上都不對B、約等于近場長度0.6倍D、約等于近場長度3倍B、 聲束中心聲壓最大C、 聲壓與聲束寬度成正比D、以上都可能A (B)。A、12dBB、9dBC、6dB76.同直徑的平底孔在球面波聲場中距聲源距離增大(B)。(C)。超聲檢測1級理論復習

17、題8C、24dBD、18dB2的兩個實心圓柱體，其曲底面回波相差D、3dB1倍那么回波減弱：B 超聲檢測1級理論復習題9A、6db B、12db C、3db D、9db83.離鍛件檢測面下200mm處的一個缺陷回波波幅比距離400mm處力4平底孔回波波幅高12dB,那么此缺陷當量為：C A、12mm B、8mmC、4mm84.通用AVC曲線的通用性表現(xiàn)在可適用于:A、不同的探測頻率C、不同示波屏尺寸的A型探傷儀85.當使用通用AVG曲線時，下述哪條表達是錯誤的？ D A、不受示波屏尺寸的限制B、不受檢測頻率的限制86. A型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是：C A、缺陷的性質(zhì)和大小B、

18、缺陷的形狀和取向C、缺陷回波的大小和超聲傳播的時間D、以上都是87. A型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示大小表示：A A、超聲回波的幅度大小B、缺陷的位置C、被探材料的厚度D、超聲傳播時間88. A型掃描顯示中，水平基線 時基線代表：C A、超聲回波的幅度大小B、探頭移動距離C、聲波傳播時間D、缺陷尺寸大小89. A型顯示檢測儀，從示波屏上可獲得的直接信息是：C A、缺陷的指示長度B、缺陷的尺寸大小C、缺陷的傳播時間D.缺陷的取向90.脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做：C A、發(fā)射電路B、掃描電路C、同步電路D、顯示電路91.脈沖反射超聲波探傷儀中，產(chǎn)生時基線的電路單元叫做：

19、A A、掃描電路B、觸發(fā)電路C、同步電路D、發(fā)射電路116.將換能器接收的信號放大，并將信號轉(zhuǎn)換成可在熒光屏上顯示的信號的電路是：D 77.同直徑的長橫孔在球面波聲場中距離聲源距離增大A、6dbB、12dbC、3db D、9db78.在球面波聲場中大平底距聲源距離增大1倍回波減弱：A D、9db1倍回波減弱：DA、6dbB、12db79.對于球面波，距聲源距離增大A、增大6dbB、減小6dbC、3db1倍，聲壓變化是:C、增大80.鑄鍛件超聲檢測中，經(jīng)常使用平底孔試塊，4 14 1A、10lg云B、20lg切B 3db D、減小3db同聲程不同孔徑的平底孔的反射規(guī)律是是孔徑:D 30lg D、

20、40lggj 2j 281.焊縫超聲檢測中，經(jīng)常使用長橫孔試塊，同聲程不同孔徑的橫孔反射規(guī)律是A、10lg山B、20lg史C、30lg D、40lg#j 2j 2j 2j 282.焊縫超聲檢測中，經(jīng)常使用長橫孔試塊，同孔徑不同聲程的橫孔反射規(guī)律是C、是孔徑：A S是聲程：C B、20lgWSIC、30lgSD、40颼D、2mmD B、不同的晶片尺寸D、以上都是C、不受探頭晶片直徑的限制D、不受探頭晶片直徑的限制但受檢測頻率的限制超聲檢測1級理論復習題1094.探頭上標的2.5MHz是指：B A、脈沖發(fā)生器電路B、指示器電路92.發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通常可達A、幾百伏到上千伏B、幾十伏9

21、3.發(fā)射脈沖的持續(xù)時間叫：A A、始脈沖寬度B、脈沖周期C、定時器電路D、接收器放大電路A。C、幾伏D、1伏C、脈沖振幅D、以上都不是超聲檢測1級理論復習題11A、掃描長度B、掃描速度C、單位時間內(nèi)重復掃描次數(shù)99.一般探傷時不使用深度補償是因為它會：B A、影響缺陷的精確定位B、影響AVG曲線或當量定量法的使用C、導致小缺陷漏檢D、以上都不對100. A掃描超聲探傷儀中，哪些旋鈕可以改變探傷儀的水平掃描基線：B A、深度粗調(diào)、重復頻率、延退B、深度粗調(diào)、深度微調(diào)、延退C、重復頻率、延退、抑制D、延退、深度粗調(diào)、抑制101. A掃描超聲探傷儀中，哪些旋鈕可以改變探傷儀熒光屏上所顯示的信號高度：

22、C A、抑制、發(fā)射強度、重復頻率B、發(fā)射強度、增益、延退C、增益、抑制、發(fā)射強度D、發(fā)射強度、抑制、延退102.發(fā)射強度旋鈕用于改變發(fā)射電路中的阻尼電阻， 到達改變發(fā)射超聲波強度的目的， 發(fā)射強度增大時, 會：D A、提高靈敏度B、盲區(qū)增大C、分辨能力降低D、以上都對103.以下有關(guān)水平位移旋鈕的表達中，錯誤的選項是：B A、調(diào)節(jié)時基線和整個圖形左右移動，進行零位凋節(jié)B、調(diào)節(jié)時基線，使其與超聲波在工件的傳播時間成比例C、水平位移旋鈕屬于調(diào)節(jié)顯示器的旋鈕D、水平位移旋鈕也稱零位調(diào)節(jié)旋鈕104.影響儀器靈敏度的旋紐有：D A、發(fā)射強度和增益旋紐B、衰減器和抑制C、深度補償D、以上都是105.衰減器

23、旋鈕的作用是：D A、調(diào)節(jié)探傷靈敏度B、調(diào)節(jié)缺陷回波高度；C、用于確定缺陷當量的大小D、以上都對。106.以下有關(guān)增益旋鈕的表達中，正確的選項是：A A、增益旋鈕可調(diào)節(jié)示屏上的波幅升高或降低B、距離一波幅曲線制作完畢后，如需要，還可再調(diào)節(jié)增益旋鈕C、增益旋鈕不可連續(xù)地調(diào)節(jié)示屏上的波幅高度D、以上都不對107.調(diào)節(jié)儀器面版上的“抑制旋鈕會影響探傷儀的D 。A、垂直線性B、動態(tài)范圍C、靈敏度D、以上全部108.使用抑制旋鈕的目的是：A A、提高信噪比B、改善垂直線性C、容易檢出小缺陷D、提高靈敏度109.以下有關(guān)壓電效應的表達中，錯誤的選項是：B A、正壓電效應是指材料在交變應力作用下產(chǎn)生形變時而

24、產(chǎn)生交變電場的現(xiàn)象B、正壓電效應是指材料在交變電場作用下產(chǎn)生形變時而產(chǎn)生交變應力的現(xiàn)象C、正壓電效應和逆壓電效應統(tǒng)稱為壓電效應A、重復頻率B、工作頻率C、觸發(fā)脈沖頻率95.接收電路中，放大器輸入端接收的回波電壓約有A、幾百伏B、100V左右C、10V左右96.同步電路每秒鐘產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖數(shù)為B 。A、l2個B、數(shù)、數(shù)十個到數(shù)千個97.同步電路的同步脈沖控制是指：D A、發(fā)射電路在單位時間內(nèi)重復發(fā)射脈沖次數(shù)C、探頭晶片在單位時間內(nèi)向工件重復幅射超聲波次數(shù)98.脈沖反射式超聲波探傷儀同步脈沖的重復頻率決定著：(D) )。D、0.001 1VD、以上都不對C、與工作頻率相同D、以上都不對。B、掃描電

25、路每秒鐘內(nèi)重復掃描次數(shù)D、以上全部都是C D、鋸齒波電壓幅度超聲檢測1級理論復習題12D、正壓電效應和逆壓電效應能同時存在于同一材料中120.超聲波探頭發(fā)射超聲波時C 。C、由逆壓電效應將電能轉(zhuǎn)化為聲能D、由正壓電效應將電能轉(zhuǎn)化為聲能121.在探頭中，通過振動產(chǎn)生超聲波的壓電材料叫做：C A、背襯材料；B、透明合成樹脂楔塊；C、晶片；D、耦合劑。122.探頭中壓電材料的作用是：C A、將電能轉(zhuǎn)換為機械能B、將機械能轉(zhuǎn)換為電能C、A和B都是D、A和B都不是123.目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是：C A、石英B、鈦酸徹C、錯鈦酸鉛D、硫酸鋰124.超聲波探傷儀的探頭晶片用的是下面哪種材料：

26、C A、導電材料B、磁致伸縮材料C、壓電材料D、磁性材料125.壓電晶片的基頻是：A A、晶片厚度的函數(shù)C、放大器放大特性的函數(shù)126.探頭中壓電晶片的基頻取決于:A、鼓勵電脈沖的寬度C、晶片材料和厚度127.為了從換能器獲得最高靈敏度：C A、應減小阻尼塊C、應使壓電晶片在它的共振基頻上鼓勵128.晶片共振波長是晶片厚度的：A A、2倍B、1/2倍C、1倍129.超聲波探頭中的壓電晶片厚度為B 時，晶片產(chǎn)生共振，振幅最大。A、1616B、1212C 1919D、入、入130. PZT 4的頻率常數(shù)是2000m/s, 2.5MHz的PZT 4晶片厚度約為：A A、0.8mmB、1.25mm C

27、、1.6mmD、0.4mm131.下述有關(guān)探頭的描述中，哪一點是正確的？ A A、探頭的實質(zhì)是一種換能器B、探頭的作用是僅將電能轉(zhuǎn)換為機械能;C、探頭的作用是僅將機械能轉(zhuǎn)換為電能D、以上都正確。132.探頭軟保護膜和硬保護膜相比，突出優(yōu)點是：C A、透聲性能好B、材質(zhì)衰減小C、有利消除耦合差異D、以上全部133.超聲橫波斜探頭的標稱K值為：B A、鋁中橫曲折射角的正弦值B、鋼中橫曲折射角的正切值C、鋁中橫曲折射角的正切值D、鋼中縱曲折射角的正切值134.常用的有機玻璃楔斜探頭，當溫度升高時，其K值將B。A、減小B、增大C、不變D、以上都不對135.探頭晶片尺寸不變而頻率提高時：C A、橫向分辨

28、力降低B、聲束擴散角增大C、近場長度增大D、指向性變差。136.以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點。A A、探測范圍大B、盲區(qū)小C、工件中近場長度小D、雜波少137.聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是：A A、探測近外表缺陷B、精確測定缺陷長度C、精確測定缺陷高度D、用于外表缺陷探傷138.以下有關(guān)雙晶探頭的特點的表達中，正確的選項是：B A、由正壓電效應將機械能轉(zhuǎn)化為電能B、由逆壓電效應將聲能轉(zhuǎn)化為電能B、施加的脈沖寬度的函數(shù)D、以上都不對C B、發(fā)射電路阻尼電阻的大小D、晶片的機電耦合系數(shù)B、應使用大直徑晶片D、換能器頻帶寬度應盡可能大D、4倍超聲檢測1級理論復習題13A、靈敏度低、分辨率好、脈沖窄

29、、盲區(qū)小、雜波小B、靈敏度高、分辨率好、脈沖窄、盲區(qū)小、雜波小C、靈敏度高、分辨率好、脈沖窄、無盲區(qū)、雜波小D、靈敏度低、分辨率差、脈沖窄、盲區(qū)小、雜波小139.以下有關(guān)雙晶探頭檢測范圍的表達中，正確的選項是：B A、傾角大，檢測范圍大B、傾角小，檢測范圍大C、雙晶探頭的傾角與檢測范圍無關(guān)D、傾角小，檢測范圍小140.應用有人工反射體的比照試塊的主要目的是：A A、作為檢測時的校準基準，并為評價工作中缺陷嚴重程度提供依據(jù)B、為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具C、為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證D、提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體141.下面哪種反射體的反

30、射波幅與入射聲束角度無關(guān)：C A、平底孔B、平底槽C、平行于探測面且垂直于主聲束軸線的橫通孔D、V型缺口142.試塊的用途是：D A、測試儀器和探頭的組合性能；B、測定材料的聲學性質(zhì)；C、調(diào)節(jié)探傷儀的掃描速度和靈敏度；D、以上都對。143.在超聲波探傷中，比照試塊應用于：D A、探傷系統(tǒng)狀態(tài)調(diào)整B、缺陷評定C、探傷系統(tǒng)狀態(tài)檢查D、以上都是144.可用于測試探頭入射點的常用試塊是：D A、IIW試塊B、CSKI A試塊C、半圓試塊D、以上都可以145. CSKI A試塊將IIW試塊上的R100mm圓柱面改為R50mm、R100mm階梯圓柱面，其目的是：A A、獲得兩次反射波來調(diào)節(jié)橫波掃描速度，確

31、定探測范圍B、測試超聲檢測系統(tǒng)的分辨力C、測量斜探頭的K值D、僅是為了試塊外形美觀，減少試塊重量146. CSK-IA試塊將IIW試塊的50孔改為*40, *44,巾50臺階孔，其目的是：C A、測定斜探頭K值B、測定直探頭盲區(qū)范圍C、測定斜探頭分辨力D、以上全部147. RB 1試塊的用途是：D A、 調(diào)節(jié)掃描速度和探測范圍B、測量斜探頭的前沿和K值B、 繪制距離-波幅曲線D、以上都對。148.半圓試塊的用途是：D A、 調(diào)節(jié)掃描速度和探測范圍B、測量斜探頭的前沿B、 測量探傷儀的水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍D、以上都對149.假設將斜探頭對準IIW2的R25mm圓弧面，并將反射波調(diào)至25格

32、，如儀器水平線性調(diào)節(jié)良好，那么第二 次反射波應在D 格出現(xiàn)。A、50B、65 C、75、100150.假設將斜探頭對準IIW2的R50mm圓弧面，并將反射波調(diào)至25格，如儀器水平線性調(diào)節(jié)良好，那么第二 次反射波應在B 格出現(xiàn)。A、50B、62.5 C、100 D、125151.將IIW試塊與IIW2試塊相比，IIW2試塊的優(yōu)點是：D A、重量輕，體積小B、尺寸小，便于攜帶，適于現(xiàn)場使用C、形狀簡單，便于加工D、以上都是超聲檢測1級理論復習題14152.假設將斜探頭對準中心沒有刻槽的半圓試塊的圓弧面并將第一次反射波調(diào)至30格，如儀器水平線性調(diào)節(jié)良好，那么第二次反射波應在B 格出現(xiàn)。A、60 B、

33、90 C、120 D、150153.有的半圓試塊在中心側(cè)壁開有5mm深的切槽，其主要目的是：C A、標記試塊中心B、消除邊界效應C、獲得R曲面等距離反射波D、以上全部超聲檢測1級理論復習題15154.對超聲探傷試塊材質(zhì)的根本要求是：D A、其聲速與被探工件聲速根本一致B、材料中沒有超過2mm平底孔當量的缺陷C、材料衰減不太大且均勻D、以上都是155.超聲檢測中下面與入射聲束角無關(guān)的反射體是：C A、平底孔B、平底槽C、橫孔D、V型槽156.調(diào)節(jié)儀器面板上的“抑制旋鈕會影響探傷儀的D 。A、垂直線性B、動態(tài)范圍C、靈敏度D、以上全部157.放大器的不飽和信號高度與缺陷面積成比例的范圍叫做放大器的

34、：B A、靈敏度范圍B、線性范圍C、分辨力范圍D、選擇性范圍158.單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出、這是因為：C C、 盲區(qū)D、折射哪種方法精度最高：A C、 直角邊法D、不一定，須視具體情況而定C、 缺陷的精確定位D、以上都對C、缺陷的定位D、以上都對D B、探頭的主聲束軸線水平偏離角要小D、以上都不對C、聲束特性D、以上都是D C、 垂直線性D、分辨力B B、靈敏度余量、盲區(qū)、遠場分辨力D、垂直極限、水平極限、重復頻率B、取決于同步脈沖發(fā)生器D、隨分辨力提高而提高B、聲束擴散角以外區(qū)域D、 以上均是與脈沖寬度成正比以上都不對B D、以上均不可能D C、斜

35、探頭探傷法D、穿透法D。C、 軟保護膜探頭D、以上都對D 。A、近場干擾B、材質(zhì)衰減159.斜探頭前沿長度和K值測定的幾種方法中，A、半圓試塊和橫孔法B、雙孔法160.儀器水平線性的好壞直接影響：C A、缺陷性質(zhì)判斷B、缺陷大小判斷161.儀器的垂直線性好壞會影響：A A、缺陷的定量B、缺陷的定性162.以下有關(guān)探頭性能的表達中， 哪點是正確的？A、探頭的主聲束垂直方向不應有雙峰C、距離一波幅特性好163.探頭的主要性能是：D A、頻率特性B、距離一波幅特性164.超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩缺陷的能力稱為：A、檢測靈敏度B、時基線性165.表示探傷儀與探頭組合性能的指標有：A、水平線性、垂直線性、

36、衰減器精度C、動態(tài)范圍、頻帶寬度、探測深度167.超聲試驗系統(tǒng)的靈敏度：A A、取決于探頭、高頻脈沖發(fā)生器和放大器C、取決于換能器機械阻尼168. A型掃描顯示，“盲區(qū)是指：C A、近場區(qū)C、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復時間169.探頭的分辨力：D A、與探頭晶片直徑成正比B、C、與脈沖重復頻率成正比D、170.當超聲檢測探頭頻率增加時，其分辨力將：A、不變B、提高C、降低171.采用什么超聲探傷技術(shù)不能測出缺陷深度？A、直探頭探傷法B、脈沖反射法172.超聲檢驗中，當探傷面比擬粗糙時，宜選用超聲檢測1級理論復習題16C、 軟保護膜探頭D、以上均可C 173.在超聲波探傷時，當探傷面比擬粗糙時，宜

37、選用A、較低頻率的探頭B、高聲阻抗的耦合劑174.超聲檢驗中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點是：超聲檢測1級理論復習題17179.探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測時，如儀器用平試塊按深度1:1調(diào)掃描，下面哪種說法正確？ A A、缺陷實際徑向深度總是小于顯示值B、顯示的水平距離總是大于實際孤長C、顯示值與實際值之差，隨顯示值的增加而減小D、以上都正確180.采用底波高度法F/B百分比法對缺陷定量時，下面哪種說法正確？ B A、F/B相同，缺陷當量相同B、該法不能給出缺陷的當量尺寸C、適于對尺寸較小的缺陷定量D、適于對密集性缺陷的定量181.在頻率一定和材料相同情況下，橫波對小缺陷探測靈敏度高于縱波的原因

38、是：C A、橫波質(zhì)點振動方向?qū)θ毕莘瓷溆欣鸅、橫波探傷雜波少C、橫波波長短D、橫波指向性好182.采用以下何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時，可獲得較好的穿透能力：A A、1.25MHz B、2.5MHzC、5MHz D、10MHz183.單斜探頭探傷時，在近區(qū)有幅度波動較快，探頭移動時水平位置不變的回波，它們可能是:B、來自探頭的噪聲D、耦合劑噪聲B C、脈沖后沿D、以上都可以184.能使K2斜探頭得到圖示深度1:1調(diào)節(jié)波形的鋼半圓試塊半徑R為：C 185.在厚焊縫斜探頭探傷時，一般宜使用什么方法標定儀器時基線？ B A、水平定位法B、深度定位法C、聲程定位法D、一次波法186.在中薄板焊

39、縫斜探頭探傷時，宜使用什么方法標定儀器時基線？ A A、水平定位法B、深度定位法C、聲程定位法D、二次波法187.對圓柱形筒體環(huán)縫探測時的缺陷定位應：A A、按平板對接焊縫方法B、作曲面定位修正C、使用特殊探頭D、視具體情況而定采用各種方法A、曲面探傷時可減少耦合損失B、可減少材質(zhì)衰減損失C、輻射聲能大且能量集中D、以上全部175.探傷時采用較高的探測頻率，可有利于D。A、發(fā)現(xiàn)較小的缺陷B、區(qū)分開相鄰的缺陷176.超聲探傷中，耦合劑的作用是：D A、排除探頭和工件間的空氣，使超聲波能較好地傳入工件C、保護探頭，減少磨損177.手動超聲接觸法探傷時，使用耦合劑的最主要目的是：A、提高超聲波在探頭

40、與被檢測部件間的透射率C、浸潤探頭外表，延長探頭使用壽命178.超聲波探傷時，如果聲波在耦合介質(zhì)中的波長為A、泌、泌的奇數(shù)倍B、2的整數(shù)倍B、D、C、改善聲束指向性D、以上全部B、方便操作D、以上都對A 浸潤被探傷部件外表，防止被探傷外表磨損以上都不是入為使透聲效果好，耦合層厚度應為C、小于泌且很薄D、以上B和C(B)。A、來自工件外表的雜波C、工件上近外表缺陷的回波183.確定脈沖在時基線上的位置應根據(jù):A、脈沖波峰B、脈沖前沿A、50mrnB、60mmC、67mrnEk 40mm超聲檢測1級理論復習題18188.在斜探頭厚焊縫探傷時，為提高缺陷定位精度可采取措施是：D A、提高探頭聲束指向

41、性B、校準儀器掃描線性超聲檢測1級理論復習題19191.使用半波高度法超聲測定小于聲束直徑的缺陷尺寸時，所測的結(jié)果往往是：B A、小于實際尺寸B、稍大于實際尺寸C、接近聲束寬度D、遠大于實際尺寸192.在超聲探傷時，如果聲束指向不與平面缺陷垂直，那么缺陷尺寸一定時，缺陷外表越平滑反射回波越:B A、大B、小C、無影響D、不一定193.當聲束指向不與平面缺陷垂直時，在一定范圍內(nèi)，缺陷尺寸越大，其反射回波強度越：B A、大B、小C、無影響D、不一定194.直探頭縱波探傷時，工件上下外表不平行會產(chǎn)生：A A、底面回波降低或消失B、底面回波正常C、底面回波變寬D、底面回波變窄195.以下關(guān)于縱波直探頭

42、和橫波斜探頭超聲檢測的哪種說法是錯誤的：D A、縱波直射法時，缺陷波往往出現(xiàn)在底波之前B、斜射法一般沒有底波，且探頭移動時，缺陷波幅和位置隨之改變C、直射法缺陷位置往往不隨探頭移動而變化D、直射法比斜射法對缺陷的定量更準確196.在脈沖反射法探傷中可根據(jù)什么判斷缺陷的存在？ D A、缺陷回波B、底波或參考回波的減弱或消失C、接收探頭接收到的能量的減弱D、AB都對197.在直接接觸法直探頭探傷時，底波消失的原因是：D A、耦合不良B、存在與聲束不垂直的平面缺陷C、存在與始脈沖不能分開的近外表缺陷D、以上都是198.在直探頭探傷時，發(fā)現(xiàn)缺陷回波不高，但底波降低較大，那么該缺陷可能是：C A、與外表

43、成較大角度的平面缺陷B、反射條件很差的密集缺陷C、AB都對D、AB都不對199.影響直接接觸法耦合損耗的原因有：D A、耦合層厚度，超聲波在耦合介質(zhì)中的波長及耦合介質(zhì)聲阻抗C、被探測工件材料聲阻抗200.被檢工件晶粒粗大，通常會引起：D A、草狀回波增多B、信噪比下降C、底波次數(shù)減少201.應用有人工反射體的參考試塊主要目的是：A A、作為探測時的校準基準，并為評價工件中缺陷嚴重程度提供依據(jù)B、為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具C、為檢出小于某工規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證D、提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體C、提高探頭前沿長度和K值測定精度189.當量大的缺陷實

44、際尺寸：A A、一定大B、不一定大190.當量小的缺陷實際尺寸：B A、一定小B、不一定小D、以上都對C、一定不大D、等于當量尺寸C、一定不小D、等于當量尺寸B、探頭接觸面介質(zhì)聲阻抗D、以上都對D、以上全部超聲檢測1級理論復習題20202.下面哪種參考反射體與入射聲束角度無關(guān)：A、平底孔C、平行于探測面且垂直于聲束的橫通孔203.換能器尺寸不變而頻率提高時：C A、橫向分辨力降低B、聲束擴散角增大204.考慮靈敏度補償?shù)睦碛墒牵篋 C B、平行于探測面且垂直于聲束的平底槽D、平行于探測面且垂直于聲束的V型缺口C、近場區(qū)增大D、指向性變鈍超聲檢測1級理論復習題21205.探測粗糙外表的工件時，為

45、提高聲能傳遞，應選用：C A、聲阻抗小且粘度大的耦合劑B、聲阻抗小且粘度小的耦合劑C、聲阻抗大且粘度大的耦合劑D、以上都不是206.超聲容易探測到的缺陷尺寸一般不小于：A A、波長的一半B、一個波長C、四分之一波長D、假設干個波長207.與探測面垂直的內(nèi)部平滑缺陷，最有效的探測方法是：C A、單斜探頭法B、單直探頭法C、雙斜探頭前后串列法D、分割式雙直探頭法208.鍛件探傷中，熒光屏上出現(xiàn)“林狀波時，是由于B。A、工件中有大面積傾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部209.長軸類鍛件從端面作軸向探測時，容易出現(xiàn)的非缺陷回波是：D A、三角反射波B、61反射波C、輪廓回波D

46、、退到波211.缺陷反射聲壓的大小取決于：D A、缺陷反射面大小B、缺陷性質(zhì)C、缺陷取向D、以上全部212.缺陷反射聲能的大小，取決于：D A、缺陷的尺寸B、缺陷的類型C、缺陷的形狀和取向D、以上全部213.聲波垂直入射到外表粗糙的缺陷時，缺陷外表粗糙度對缺陷反射波高的影響是：C A、加熱B、形變C、成型D、冷卻218.軸類鍛件最主要探測方向是：B A、軸向直探頭探傷B、徑向直探頭檢測C、斜探頭外圓面軸向探傷D、斜探頭外圓面周向探傷219.餅類鍛件最主要探測方向是：A A、直探頭端面探傷B、直探頭側(cè)面探傷C、斜探頭端面探傷D、斜探頭側(cè)面探傷220.筒形鍛件最主要探測方向是：A A、直探頭端面和

47、外圓面探傷B、直探頭外圓面軸向探傷C、斜探頭外圓面周向探傷D、以上都是221.鍛件中非金屬夾雜物的取向最可能的是：C A、與主軸線平行B、與鍛造方向一致A、被檢工件厚度太大B、工件底面與探測面不平行C、耦合劑有較大聲能損耗D、工件與試塊材質(zhì)，外表光潔度有差異210.方形鍛件垂直法探傷時,能是：C A、平行且靠近探測面C、與探測面成較大角度熒光屏上出現(xiàn)一游動缺陷回波,B、與聲束方向平行D、平行且靠近底面其波幅較低但底波降低很大。該缺陷取向可A、反射波高隨粗糙度的增大而增加B、C、反射波高隨粗糙度的增大而下降D、214.鍛件的鍛造過程包括：A A、加熱、形變、成型和冷卻B、加熱、215.鍛件缺陷包

48、括：D A、原材料缺陷B、鍛造缺陷C、216.鍛件中的粗大晶?？赡芤穑篋 A、底波降低或消失B、噪聲或雜波增大217.鍛件中的白點是在鍛造過程中哪個階段形成：無影響以上A和C都可能形變C、形變、成型D、以上都不全面熱處理缺陷D、以上都有C、超聲嚴重衰減D、以上都有D 超聲檢測1級理論復習題22C、與鍛件金屬流線一致D、與鍛件金屬流線垂直222.鍛鋼件探測靈敏度的校正方式是：D 超聲檢測1級理論復習題23A、沒有特定的方式B、米用底波方式C、米用試塊方式D、米用底波方式和試塊方式223.在直探頭探傷，用2.5MHz探頭，調(diào)節(jié)鍛件200mm底波于熒光屏水平基線滿量程刻度10。如果改用5MHz直探

49、頭，儀器所有旋紐保持不變，那么200mm底波出現(xiàn)在：C A、刻度5處B、越出熒光屏外C、仍在刻度10處D、須視具體情況而定224.化學成份相同，厚度相同，以下哪一類工件對超聲波衰減最大？ D A、鋼板B、鋼管C、鍛鋼件D、鑄鋼件225.鍛鋼件大平底面與探測面不平行時，會產(chǎn)生：A A、無底面回波或底面回波降低B、難以發(fā)現(xiàn)平行探測面的缺陷C、聲波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影響226.以下哪種方法可增大超聲波在粗晶材料中的穿透能力：B A、用直徑較大的探頭進行檢驗B、在細化晶粒的熱處理后檢驗C、將接觸法探傷改為液浸法探傷D、將縱波探傷改為橫波探傷227.以下有關(guān)鍛件白點缺陷的表達，哪一條是錯

50、誤的？ A A、白點是一種非金屬夾雜物B、白點通常發(fā)生在鍛件中心部位C、白點的回波清晰、鋒利、往往有多個波峰同時出現(xiàn)D、一旦判斷是白點缺陷，該鍛件即為不合格228.鍛件超聲波探傷時機應選擇在B。A、熱處理前、孔、槽、臺階加工前C、熱處理前、孔、槽、臺階加工后229.鋼鍛件探傷中，超聲波的衰減主要取決于A、材料的外表狀態(tài)B、材料晶粒度的影響C、材料的幾何形狀230.下面有關(guān)用試塊法調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的表達中，哪點是正確的？ D A、對厚薄鍛件都適用B、對平面和曲面鍛件都適用C、應作耦合及衰減差補償D、以上全部231.用底波法調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度時，下面有關(guān)缺陷定量的表達中哪點是錯誤的？ D A、可

51、不考慮探傷耦合差補償B、缺陷定量可采用計算法或AVG曲線法C、可不使用試塊D、缺陷定量可不考慮材質(zhì)衰減差修正232.鍛件探傷中，如果材料的晶粒粗大，通常會引起D。A、底波降低或消失B、有較高的“噪聲.顯示C、使聲波穿透力降低D、以上全部233.鍛件探傷時，如果用試塊比擬法對缺陷定量，對于外表粗糙的缺陷，缺陷實際尺寸會：A A、大于當量尺寸B、等于當量尺寸C、小于當量尺寸D、以上都可能234.大型鑄件應用超聲波探傷檢查的主要困難是：D A、組織不均勻B、晶粒非常粗C、外表非常粗糙D、以上都對235.鑄鋼件超聲波探傷頻率一般選擇：A A、0.5 2.5MHZB、l 5MHZC、2.55MHZ D、

52、5 10MHZ236.在粗晶材料如鑄鋼件的超聲檢測中，通常使用以下的超聲頻率為：A 221.利用試塊法校正探傷靈敏度的優(yōu)點是：A、校正方法簡單C、可以克報探傷面形狀對靈敏度的影響222.以工件底面作為靈敏度校正基準，可以:A、不考慮探測面的耦合差補償C、不必使用校正試塊B B、對大于3N和小于3N的鍛件都適用D、不必考慮材質(zhì)差異D B、不考慮材質(zhì)衰減差補償D、以上都是B、熱處理后、孔、槽、孔、槽、臺階加工前D、熱處理后、孔、槽、孔、槽、臺階加工后B。D、材料對聲波的吸收超聲檢測1級理論復習題24A、1.25MHzB、5MHz C、10MHz D、15MHz237.以下關(guān)于鑄鋼件超聲檢測，應具有

53、的檢測系統(tǒng)要求是：D A、具有較低頻率的儀器和探頭B、一般采用軟保護膜探頭C、應用與工件同樣澆注工藝和材料制成的比照試塊D、以上全部238.在鑄鋼件等粗晶材料檢測中，假設使用的探頭頻率相同，那么穿透力強的波型是：A A、橫波B、外表波C、縱波D、A、B、C三種波型相同239.下面有關(guān)鑄鋼件探測條件選擇的表達中，哪點是正確的？ B A、探測頻率5MHz B、透聲性好粘度大的耦合劑C、晶片尺寸小的探頭D、以上全部240.通常要求焊縫探傷在焊后48小時進行是因為：C A、讓工件充分冷卻B、焊縫材料組織穩(wěn)定C、冷裂縫有延時產(chǎn)生的特點D、以上都對241.橫波測量最普遍的應用是：A A、檢查焊縫中的不連續(xù)

54、B、檢查厚板中的分層C、測量薄板的厚度D、檢查棒材中心的不連續(xù)242.對接焊縫探傷時，在CSK II A試塊上測得數(shù)據(jù)繪制距離一dB曲線，現(xiàn)要計入外表補償4dB ,那么應:D A、將測長線下移4dBB、將判廢線下移4dBC、三條線同時上移4dBD、三條線同時下移4dB243.焊縫斜角探傷時，正確調(diào)節(jié)儀器掃描比例是為了： D A、缺陷定位B、缺陷定量C、判定結(jié)構(gòu)反射波和缺陷波D、以上A和C244.采用半圓試塊調(diào)節(jié)焊縫探傷掃描比例時，如圓弧第一次反射波對準時基刻度2,那么以后各次反射波對應的刻度為：CA、4, 6, 8, 10B、3, 5, 7, 9 C、6, 10 D、以上都不對245.探測出焊

55、縫中與外表成不同角度的缺陷，應采取的方法是：B A、提高探測頻率B、用多種角度探頭探測C、修磨探傷面D、以上都可以246.焊縫斜角探傷時，焊縫中與外表成一定角度的缺陷，其外表狀態(tài)對回波高度的影響是：A A、粗糙外表回波幅度高B、無影響C、光滑外表回波幅度高D、以上都可能247.焊縫斜角探傷時，熒光屏上的反射波來自：D A、焊道B缺陷C、結(jié)構(gòu)D、以上全部248.斜角探傷時，焊縫中的近外表缺陷不容易探測出來，其原因是：B A、遠場效應B、受分辨力影響C、盲區(qū)D、受反射波影響249.厚板焊縫斜角探傷時，時常會漏掉：D A、與外表垂直的裂紋B、方向無規(guī)律的夾渣C、根部未焊透D、與外表平行未熔合250.

56、焊縫檢驗中，對一缺陷環(huán)繞掃查，其動態(tài)波形包絡線是方形的，那么缺陷性質(zhì)可估判為B。A、條狀夾渣B、氣孔或圓形夾渣C、裂紋D、以上A和C251.板厚100mm以上窄間隙焊縫作超聲檢驗時，為探測邊緣未熔合缺陷，最有效的掃查方法是：B A、斜平行掃查B、串列掃查C、雙晶斜探頭前后掃查D、交叉掃查252.檢測鋼對接焊縫中沿熔合線取向的缺陷時，應選擇的方法是：A A、橫波斜射法B、外表波法C、垂直縱波法D、板波法253.通常檢測焊縫的常用超聲波檢測方式是：D A、縱波直接接觸法B、外表波直接接觸法C、橫波水浸法D、橫波直接接觸法254.焊縫超聲波檢測，根本上采用斜探頭，這主要是因為：C A、焊縫外表凹凸不平B、焊縫余高高于母材C、焊縫中危害性缺陷與外表近似垂直D、以上諸點255.焊縫檢測時，在一側(cè)掃查時反射信號測得的缺陷水平位置處于焊縫區(qū)，深度與板厚相當，另一側(cè)探測超聲檢測1級理論復習題25時，此水平位置未見反射波，一般認為這可能是：D A、溝槽反射B、咬邊反射C、下焊縫寬度較大D、焊縫上下錯位256.在焊縫檢測中主要可利用下述哪種方法來鑒別缺陷的性質(zhì)？ D A、靜態(tài)波形圖B、動態(tài)波形圖C