原子吸收光譜法-2

1、1原子吸收光譜法原子吸收光譜法Atomic Absorption Spectrometry (AAS)2College of Materials Science and Engineering, Liaocheng University2內(nèi)容回顧內(nèi)容回顧 1 AAS1 AAS的分析過程的分析過程 2 AAS2 AAS分析法的特點(diǎn)分析法的特點(diǎn) 3 3 基本原理基本原理 4 AAS4 AAS的儀器的儀器3四、儀器類型四、儀器類型 1 1、單道單光束型、單道單光束型特點(diǎn)：結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，體積小，價(jià)格低，靈敏度較高，特點(diǎn)：結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，體積小，價(jià)格低，靈敏度較高，可滿足一般分析要求?？蓾M足一般分析要求。缺點(diǎn)：不

2、能消除因光源波動(dòng)造成的影響，基線漂移，缺點(diǎn)：不能消除因光源波動(dòng)造成的影響，基線漂移，空心陰極燈預(yù)熱時(shí)間長(zhǎng)?？招年帢O燈預(yù)熱時(shí)間長(zhǎng)。42、雙光束型優(yōu)點(diǎn)：可在一定程度上消除因光源波動(dòng)造成的影優(yōu)點(diǎn)：可在一定程度上消除因光源波動(dòng)造成的影響；空心陰極燈不需預(yù)熱即可工作。響；空心陰極燈不需預(yù)熱即可工作。缺點(diǎn)：因參考光束沒有通過火焰，故不能抵消因缺點(diǎn)：因參考光束沒有通過火焰，故不能抵消因火焰波動(dòng)帶來的影響?；鹧娌▌?dòng)帶來的影響?？招年帢O燈空心陰極燈切光器切光器切光器切光器反射鏡反射鏡反射鏡反射鏡反射鏡反射鏡入射狹縫入射狹縫出射狹縫出射狹縫檢檢測(cè)測(cè)器器單色器單色器光柵光柵原子化器原子化器5（一）測(cè)量條件優(yōu)化（一）

3、測(cè)量條件優(yōu)化1. 1. 分析線的選擇分析線的選擇 通常選共振線通常選共振線（最靈敏線或且大多為最后線），但不是絕對(duì)的。如（最靈敏線或且大多為最后線），但不是絕對(duì)的。如Hg185nm比比Hg254nm靈敏靈敏50倍，但前者處于真空紫外區(qū)，大氣和火焰倍，但前者處于真空紫外區(qū)，大氣和火焰均對(duì)其產(chǎn)生吸收；共振線均對(duì)其產(chǎn)生吸收；共振線Ni232nm附近附近231.98和和232.12nm的原子線和的原子線和231.6nm的離子線，不能將其分開，可選取的離子線，不能將其分開，可選取 341.48nm 作分析線。作分析線。 此外此外, 當(dāng)待測(cè)原子濃度較高時(shí)，為避免過度稀釋和向試樣中引入雜當(dāng)待測(cè)原子濃度較高時(shí)

4、，為避免過度稀釋和向試樣中引入雜質(zhì)，可選取次靈敏線！質(zhì)，可選取次靈敏線！2. 2. 狹縫寬度選擇狹縫寬度選擇 調(diào)節(jié)調(diào)節(jié) Slit 寬度，可改變光譜帶寬寬度，可改變光譜帶寬(=S D)，也可改變照射在檢測(cè)器，也可改變照射在檢測(cè)器上的光強(qiáng)。一般狹縫寬度選擇在通帶為上的光強(qiáng)。一般狹縫寬度選擇在通帶為0.44.0nm 的范圍內(nèi)，對(duì)譜線復(fù)的范圍內(nèi)，對(duì)譜線復(fù)雜的元素如雜的元素如Fe、Co 和和 Ni，需在通帶相當(dāng)于，需在通帶相當(dāng)于1 或更小的狹縫寬度下測(cè)或更小的狹縫寬度下測(cè)定。定。五五 測(cè)定條件的選擇和分析方法測(cè)定條件的選擇和分析方法6 3 3、空心陰極燈的工作電流、空心陰極燈的工作電流 空心陰極燈的發(fā)射

5、特性取決于工作電流。燈電流過小，放電不穩(wěn)定，空心陰極燈的發(fā)射特性取決于工作電流。燈電流過小，放電不穩(wěn)定，光輸出的強(qiáng)度??；燈電流過大，發(fā)射譜線變寬，導(dǎo)致靈敏度下降，燈壽命光輸出的強(qiáng)度??；燈電流過大，發(fā)射譜線變寬，導(dǎo)致靈敏度下降，燈壽命縮短?？s短。 選擇燈電流時(shí)，應(yīng)在保證穩(wěn)定和有合適的光強(qiáng)輸出的情況下，盡量選選擇燈電流時(shí)，應(yīng)在保證穩(wěn)定和有合適的光強(qiáng)輸出的情況下，盡量選用較低的工作電流。一般空心陰極燈都標(biāo)有允許使用的最大電流與電流范用較低的工作電流。一般空心陰極燈都標(biāo)有允許使用的最大電流與電流范圍，圍，通常選用最大電流的通常選用最大電流的1/21/22/32/3為工作電流為工作電流。最合適的工作電流

6、應(yīng)通過。最合適的工作電流應(yīng)通過實(shí)驗(yàn)確定?？招年帢O燈一般須預(yù)熱實(shí)驗(yàn)確定?？招年帢O燈一般須預(yù)熱101030min30min。 4 4、原子化條件、原子化條件 火焰原子化法火焰原子化法 火焰類型的選擇是至關(guān)重要的。對(duì)于低溫、中溫火焰，適合的元素火焰類型的選擇是至關(guān)重要的。對(duì)于低溫、中溫火焰，適合的元素可使用乙炔可使用乙炔- -空氣火焰；在火焰中易生成難解離的化合物及難熔氧化物的空氣火焰；在火焰中易生成難解離的化合物及難熔氧化物的元素，宜使用乙炔元素，宜使用乙炔- -氧化亞氮高溫火焰；分析線在氧化亞氮高溫火焰；分析線在220nm220nm以下的元素，可選以下的元素，可選用氫氣用氫氣- -空氣火焰?？諝?/p>

7、火焰。7 燃燒器高度是控制光源光束通過火焰區(qū)域的。由于在火焰區(qū)內(nèi)，自燃燒器高度是控制光源光束通過火焰區(qū)域的。由于在火焰區(qū)內(nèi)，自由原子的空間分布是不均勻的，而且隨火焰條件及元素的性質(zhì)而改由原子的空間分布是不均勻的，而且隨火焰條件及元素的性質(zhì)而改變。因此必須調(diào)節(jié)燃燒器高度，使測(cè)量光束從自由原子濃度最大的變。因此必須調(diào)節(jié)燃燒器高度，使測(cè)量光束從自由原子濃度最大的區(qū)域通過，可以得到較高的靈敏度。各元素在火焰中都有合適的測(cè)區(qū)域通過，可以得到較高的靈敏度。各元素在火焰中都有合適的測(cè)量位置，這可以通過調(diào)節(jié)燃燒器的高度來獲得最大的吸收信號(hào)。量位置，這可以通過調(diào)節(jié)燃燒器的高度來獲得最大的吸收信號(hào)。 CrCr、A

8、gAg和和MgMg自由原自由原子在不同火焰區(qū)域子在不同火焰區(qū)域的分布曲線。的分布曲線。8 石墨爐原子化法石墨爐原子化法 石墨爐原子化法要合理選擇干燥、灰化、原子化及除殘石墨爐原子化法要合理選擇干燥、灰化、原子化及除殘等階段的溫度與時(shí)間。干燥多在等階段的溫度與時(shí)間。干燥多在105105125125的條件下進(jìn)行。的條件下進(jìn)行?；一x擇能除掉試樣中基體與其他組分而被測(cè)元素不損失灰化要選擇能除掉試樣中基體與其他組分而被測(cè)元素不損失的情況下，盡可能高的溫度。原子化溫度則選擇可達(dá)到原子的情況下，盡可能高的溫度。原子化溫度則選擇可達(dá)到原子吸收最大吸光度值的最低溫度。除殘階段，溫度應(yīng)高于原子吸收最大吸光度值

9、的最低溫度。除殘階段，溫度應(yīng)高于原子化溫度，時(shí)間僅為化溫度，時(shí)間僅為3 35s5s，以便消除試樣的殘留物產(chǎn)生的記，以便消除試樣的殘留物產(chǎn)生的記憶效應(yīng)。憶效應(yīng)。具體的溫度與時(shí)間條件的選擇，一般都應(yīng)通過實(shí)驗(yàn)，具體的溫度與時(shí)間條件的選擇，一般都應(yīng)通過實(shí)驗(yàn)，以得到滿意的分析結(jié)果以得到滿意的分析結(jié)果。 5 5、進(jìn)樣量、進(jìn)樣量 進(jìn)樣量過大或過小都會(huì)影響測(cè)量過程：過小，信號(hào)太弱。進(jìn)樣量過大或過小都會(huì)影響測(cè)量過程：過小，信號(hào)太弱。過大，在火焰原子化法中，對(duì)火焰會(huì)產(chǎn)生冷卻效應(yīng)；在石墨過大，在火焰原子化法中，對(duì)火焰會(huì)產(chǎn)生冷卻效應(yīng)；在石墨爐原子化法中，會(huì)使除殘產(chǎn)生困難。在實(shí)際工作中，通過實(shí)爐原子化法中，會(huì)使除殘產(chǎn)生

10、困難。在實(shí)際工作中，通過實(shí)驗(yàn)測(cè)定吸光度值與進(jìn)樣量的變化，選擇合適的進(jìn)樣量。驗(yàn)測(cè)定吸光度值與進(jìn)樣量的變化，選擇合適的進(jìn)樣量。91. 1. 校準(zhǔn)曲線法校準(zhǔn)曲線法i）討論高濃度時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)曲線向濃度軸彎曲的原因?。┯懻摳邼舛葧r(shí)，標(biāo)準(zhǔn)曲線向濃度軸彎曲的原因！理想情況下，校正曲線是一條通過原點(diǎn)的直線，但在通常的理想情況下，校正曲線是一條通過原點(diǎn)的直線，但在通常的情況下并非如此。造成校正曲線彎曲的主要原因有：情況下并非如此。造成校正曲線彎曲的主要原因有： a 非吸收光的影響非吸收光的影響 當(dāng)共振線和非吸收線同時(shí)進(jìn)入檢測(cè)器,非吸收線不遵循比耳定律; b 共振變寬共振變寬 當(dāng)待測(cè)元素濃度大時(shí)，原子的蒸氣的分壓增大

11、， 產(chǎn)生共振變寬，使吸收強(qiáng)度下降; c 電離效應(yīng)電離效應(yīng) 在火焰中發(fā)生電離，使基態(tài)原子數(shù)減小。濃度低時(shí)，電離度大；濃度增高， 電離度逐漸減小，吸光度下降程度也逐漸減小，所以引起標(biāo)準(zhǔn)工作曲線向濃度軸彎曲； d 噴霧效率變化噴霧效率變化 標(biāo)準(zhǔn)與試樣物理狀態(tài)的一致性。（二）定量分析方法（二）定量分析方法10ii）標(biāo)液使用注意事項(xiàng)：）標(biāo)液使用注意事項(xiàng)： 合適的濃度范圍；扣除空白；標(biāo)樣和試樣的測(cè)定條件合適的濃度范圍；扣除空白；標(biāo)樣和試樣的測(cè)定條件相同；每次測(cè)定重配標(biāo)準(zhǔn)系列。相同；每次測(cè)定重配標(biāo)準(zhǔn)系列。2. 2. 標(biāo)準(zhǔn)加入法標(biāo)準(zhǔn)加入法： 主要是為了克服標(biāo)樣與試樣基體不一致所引起的誤差主要是為了克服標(biāo)樣與試

12、樣基體不一致所引起的誤差（基體效應(yīng)）。（基體效應(yīng)）。注意事項(xiàng)：注意事項(xiàng)： 須線性良好；至少四個(gè)點(diǎn)（在線性范圍內(nèi)可用兩點(diǎn)須線性良好；至少四個(gè)點(diǎn)（在線性范圍內(nèi)可用兩點(diǎn)直接計(jì)算）；只消除基體效應(yīng)，不能消除分子和背景吸直接計(jì)算）；只消除基體效應(yīng)，不能消除分子和背景吸收；斜率小收；斜率小 時(shí)誤差大。時(shí)誤差大。11依據(jù)：依據(jù)：A= kc標(biāo)準(zhǔn)曲線法標(biāo)準(zhǔn)曲線法 最常用的分析方法，要繪制一條標(biāo)準(zhǔn)工作曲線。配制一組不同濃度最常用的分析方法，要繪制一條標(biāo)準(zhǔn)工作曲線。配制一組不同濃度的被測(cè)元素的標(biāo)準(zhǔn)溶液的被測(cè)元素的標(biāo)準(zhǔn)溶液, ,在與試樣測(cè)定完全相同的條件下，依濃度由低在與試樣測(cè)定完全相同的條件下，依濃度由低到高的順序

13、測(cè)定吸光度。繪制吸光度到高的順序測(cè)定吸光度。繪制吸光度A A對(duì)濃度對(duì)濃度c c的工作曲線。測(cè)定試樣的的工作曲線。測(cè)定試樣的吸光度值，在標(biāo)準(zhǔn)曲線上用內(nèi)插法求出被測(cè)元素的含量。吸光度值，在標(biāo)準(zhǔn)曲線上用內(nèi)插法求出被測(cè)元素的含量。標(biāo)準(zhǔn)加入法標(biāo)準(zhǔn)加入法 取幾份相同量的被測(cè)試液，分別加入不同量被測(cè)元素的標(biāo)準(zhǔn)溶液，取幾份相同量的被測(cè)試液，分別加入不同量被測(cè)元素的標(biāo)準(zhǔn)溶液，其中一份不加入被測(cè)元素標(biāo)準(zhǔn)溶液，最后稀釋至相同的體積，然后分別其中一份不加入被測(cè)元素標(biāo)準(zhǔn)溶液，最后稀釋至相同的體積，然后分別測(cè)定它們的吸光度值。以加入的標(biāo)準(zhǔn)溶液濃度與吸光度值繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線，測(cè)定它們的吸光度值。以加入的標(biāo)準(zhǔn)溶液濃度與吸光度值繪

14、制標(biāo)準(zhǔn)曲線，再將該曲線外推至與濃度軸相交。交點(diǎn)至坐標(biāo)原點(diǎn)的距離再將該曲線外推至與濃度軸相交。交點(diǎn)至坐標(biāo)原點(diǎn)的距離C Cx x即是被測(cè)元即是被測(cè)元素經(jīng)稀釋后的濃度。素經(jīng)稀釋后的濃度。 這個(gè)方法稱為作圖外推法。這個(gè)方法稱為作圖外推法。 12根據(jù)吸收定律，曲線上各點(diǎn)均可根據(jù)吸收定律，曲線上各點(diǎn)均可表示為表示為 A = k (Cx + Cs) 式中式中Cs為稀釋后標(biāo)準(zhǔn)溶液的濃度。為稀釋后標(biāo)準(zhǔn)溶液的濃度。當(dāng)當(dāng)A=0時(shí)，時(shí)，k (Cx + Csi ) = 0 Cx = -Csi 標(biāo)準(zhǔn)加入法有時(shí)用單標(biāo)準(zhǔn)加入法，即取兩份相同量的被測(cè)試液，標(biāo)準(zhǔn)加入法有時(shí)用單標(biāo)準(zhǔn)加入法，即取兩份相同量的被測(cè)試液，其中一份加入一定

15、量的標(biāo)準(zhǔn)溶液，另一份不加。稀釋到相同體其中一份加入一定量的標(biāo)準(zhǔn)溶液，另一份不加。稀釋到相同體積后分別測(cè)定吸光度。積后分別測(cè)定吸光度。根據(jù)吸收定律，可得根據(jù)吸收定律，可得 Ax = k Cx Ax+s =k(Cx + Cs ) 則則 C Cx x和和C Cs s分別為測(cè)量溶液中被測(cè)元分別為測(cè)量溶液中被測(cè)元素和標(biāo)準(zhǔn)加入的濃度素和標(biāo)準(zhǔn)加入的濃度 13六六 干擾效應(yīng)及其干擾效應(yīng)及其 消除方法消除方法1.1. 物理干擾物理干擾 物理干擾指的是試樣在處理、轉(zhuǎn)移、蒸發(fā)和原子化的物理干擾指的是試樣在處理、轉(zhuǎn)移、蒸發(fā)和原子化的過程中，由于物理性質(zhì)的變化而引起吸光度變化的現(xiàn)過程中，由于物理性質(zhì)的變化而引起吸光度變

16、化的現(xiàn)象。物理干擾具有非選擇性質(zhì)。象。物理干擾具有非選擇性質(zhì)。 消除的方法消除的方法：配制與被測(cè)試樣組成相同或相近的標(biāo)準(zhǔn)配制與被測(cè)試樣組成相同或相近的標(biāo)準(zhǔn)溶液采用標(biāo)準(zhǔn)加入法。若試樣溶液濃度過高，還可以溶液采用標(biāo)準(zhǔn)加入法。若試樣溶液濃度過高，還可以采用稀釋法。采用稀釋法。 干擾非光譜干擾光譜干擾物理干擾化學(xué)干擾電離干擾背景干擾譜線干擾干擾非光譜干擾光譜干擾物理干擾化學(xué)干擾電離干擾背景干擾譜線干擾142. 2. 化學(xué)干擾化學(xué)干擾化學(xué)干擾指的是被測(cè)元素原子與共存組分發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，生成熱力化學(xué)干擾指的是被測(cè)元素原子與共存組分發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，生成熱力學(xué)更穩(wěn)定的化合物，影響被測(cè)元素的原子化，使吸光度下降的現(xiàn)

17、象。學(xué)更穩(wěn)定的化合物，影響被測(cè)元素的原子化，使吸光度下降的現(xiàn)象。如如Al的存在，對(duì)的存在，對(duì)Ca、Mg的原子化起抑制作用，因?yàn)闀?huì)形成熱穩(wěn)定的原子化起抑制作用，因?yàn)闀?huì)形成熱穩(wěn)定性高的性高的 的化合物的化合物MgO.Al2O3，3CaO.5Al2O3；PO43-的存在會(huì)形成的存在會(huì)形成Ca3(PO4)2而影響而影響Ca的原子化，同樣的原子化，同樣F-、SO42-也影響也影響Ca的原子化。的原子化。化學(xué)干擾具有選擇性，要消除其影響應(yīng)根據(jù)其性質(zhì)而選擇合適的方化學(xué)干擾具有選擇性，要消除其影響應(yīng)根據(jù)其性質(zhì)而選擇合適的方法。消除的方法法。消除的方法: （1）加入釋放劑）加入釋放劑其作用是能與干擾物生成比被測(cè)

18、元素更穩(wěn)定的其作用是能與干擾物生成比被測(cè)元素更穩(wěn)定的化合物，使被測(cè)元素從與干擾物質(zhì)形成的化合物中釋放出來。如化合物，使被測(cè)元素從與干擾物質(zhì)形成的化合物中釋放出來。如PO43-干擾干擾Ca的測(cè)定，可加入的測(cè)定，可加入La、Sr鹽類，它們會(huì)生成更穩(wěn)定的磷鹽類，它們會(huì)生成更穩(wěn)定的磷酸鹽，把酸鹽，把Ca釋放出來。同樣，釋放出來。同樣，Al對(duì)對(duì)Ca、Mg的干擾，也可以通過加的干擾，也可以通過加LaCl3，而釋放，而釋放Ca、Mg。15（2 2）加入保護(hù)劑）加入保護(hù)劑作用是能與被測(cè)元素生成穩(wěn)定且易分解的配合物，以防止作用是能與被測(cè)元素生成穩(wěn)定且易分解的配合物，以防止被測(cè)元素與干擾組分生成難解離的化合物。保

19、護(hù)劑一般是有機(jī)配合劑，用的被測(cè)元素與干擾組分生成難解離的化合物。保護(hù)劑一般是有機(jī)配合劑，用的最多的是最多的是EDTAEDTA和和8-8-羥基喹啉。例如，羥基喹啉。例如，POPO4 43-3-干擾干擾CaCa的測(cè)定，當(dāng)加的測(cè)定，當(dāng)加EDTAEDTA后，生成后，生成EDTA-CuEDTA-Cu配合物，且既穩(wěn)定又易破壞。配合物，且既穩(wěn)定又易破壞。AlAl對(duì)對(duì)CaCa、MgMg的干擾可用的干擾可用8-8-羥基喹啉作保羥基喹啉作保護(hù)劑；護(hù)劑； （3 3）加入緩沖劑）加入緩沖劑有的干擾當(dāng)干擾物質(zhì)達(dá)到一定濃度時(shí)，干擾趨于穩(wěn)定，如有的干擾當(dāng)干擾物質(zhì)達(dá)到一定濃度時(shí)，干擾趨于穩(wěn)定，如用乙炔用乙炔一氧化二氮火焰測(cè)定

20、一氧化二氮火焰測(cè)定TiTi時(shí)，時(shí)，AlAl抑制了抑制了TiTi的吸收。但是當(dāng)?shù)奈?。但是?dāng)AlAl的濃度大的濃度大于于200ug/ml200ug/ml后，吸收就趨于穩(wěn)定。因此在試樣及標(biāo)樣中都加后，吸收就趨于穩(wěn)定。因此在試樣及標(biāo)樣中都加200ug/ml200ug/ml的干擾的干擾元素，則可消除其干擾。元素，則可消除其干擾。（4 4）加入基體改進(jìn)劑用石墨爐原子化時(shí)，在試樣中加入基體改進(jìn)劑，使其）加入基體改進(jìn)劑用石墨爐原子化時(shí)，在試樣中加入基體改進(jìn)劑，使其在干燥或灰化階段與干擾無發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，生成易揮發(fā)的化合物在原子化前在干燥或灰化階段與干擾無發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，生成易揮發(fā)的化合物在原子化前除去。如除去。

21、如NaClNaCl對(duì)測(cè)對(duì)測(cè)CdCd的干擾可通過加入的干擾可通過加入NHNH4 4NONO3 3，使其轉(zhuǎn)變成易揮發(fā)的，使其轉(zhuǎn)變成易揮發(fā)的NHNH4 4ClCl和和NaNONaNO3 3，在灰化階段即可消除。，在灰化階段即可消除。16（5 5）選擇合適的原子化條件）選擇合適的原子化條件 提高原子化溫度，化學(xué)干擾一般會(huì)減小。使用高溫火焰或提提高原子化溫度，化學(xué)干擾一般會(huì)減小。使用高溫火焰或提高石墨爐原子化溫度，可使難解離的化合物分解。如在乙炔高石墨爐原子化溫度，可使難解離的化合物分解。如在乙炔一一氧化二氮高溫火焰中，氧化二氮高溫火焰中，POPO4 43-3-不干擾不干擾CaCa的測(cè)定。采用還原性強(qiáng)的

22、火的測(cè)定。采用還原性強(qiáng)的火焰，可以使難離解的氧化物還原、分解。焰，可以使難離解的氧化物還原、分解。 當(dāng)以上方法都未能消除化學(xué)干擾時(shí)，只好采用化學(xué)分離的方當(dāng)以上方法都未能消除化學(xué)干擾時(shí)，只好采用化學(xué)分離的方法，如溶劑萃取、離子交換、沉淀分離等方法。用的較多的是溶法，如溶劑萃取、離子交換、沉淀分離等方法。用的較多的是溶劑萃取的方法。劑萃取的方法。 3 3、電離干擾電離干擾 電離干擾指的是在高溫條件下，原子發(fā)生電離成為電離干擾指的是在高溫條件下，原子發(fā)生電離成為離子，使基態(tài)原子數(shù)減少，吸光值下降。離子，使基態(tài)原子數(shù)減少，吸光值下降。 消除的方法：消除電離干擾的有效方法是加入消電消除的方法：消除電離干

23、擾的有效方法是加入消電離劑。消電離劑一般是比被測(cè)元素電離電位低的元素，離劑。消電離劑一般是比被測(cè)元素電離電位低的元素，在相同條件下，消電離劑首先被電離，產(chǎn)生大量電子，在相同條件下，消電離劑首先被電離，產(chǎn)生大量電子，抑制被測(cè)元素的電離。抑制被測(cè)元素的電離。 17 例如，測(cè)例如，測(cè)Ba時(shí)有電離干擾，加入過量時(shí)有電離干擾，加入過量KCl，可，可以消除。以消除。Ba的電離電位的電離電位5.21ev，K的電離電位的電離電位4.3ev/。K電離產(chǎn)生大量電子，使電離產(chǎn)生大量電子，使Ba+得到電子得到電子而生成原子。而生成原子。 1 1、在純水中在純水中2 2、在、在KClKCl溶液中溶液中18 4.4.譜線

24、干擾譜線干擾擾擾 光譜干擾光譜干擾通常有兩種情況，即吸收線重疊和非吸收線的干擾。通常有兩種情況，即吸收線重疊和非吸收線的干擾。 吸收線吸收線重疊是指試樣中共存元素的吸收線與被測(cè)元素的分析線很靠近時(shí)，兩譜線重疊是指試樣中共存元素的吸收線與被測(cè)元素的分析線很靠近時(shí)，兩譜線重疊或部分重疊，使測(cè)得的吸光度偏高。重疊或部分重疊，使測(cè)得的吸光度偏高。 消除的方法：消除的方法：另選分析線，若還未能消除干擾，就只好進(jìn)行試樣的分另選分析線，若還未能消除干擾，就只好進(jìn)行試樣的分離。離。 非吸收線干擾非吸收線干擾是指光源不僅發(fā)射被測(cè)元素的共振線，而且在其共振線是指光源不僅發(fā)射被測(cè)元素的共振線，而且在其共振線的附近有

25、其他的譜線，這些干擾線可能是多譜線元素如的附近有其他的譜線，這些干擾線可能是多譜線元素如CoCo、NiNi、FeFe等發(fā)射等發(fā)射的非測(cè)量線，也可能是燈內(nèi)雜質(zhì)所發(fā)射的譜線。對(duì)于這些多重發(fā)射，被測(cè)的非測(cè)量線，也可能是燈內(nèi)雜質(zhì)所發(fā)射的譜線。對(duì)于這些多重發(fā)射，被測(cè)元素的原子若不吸收，它們即被檢測(cè)器所檢測(cè)，產(chǎn)生一個(gè)不變的背景信號(hào)，元素的原子若不吸收，它們即被檢測(cè)器所檢測(cè)，產(chǎn)生一個(gè)不變的背景信號(hào)，降低了靈敏度。降低了靈敏度。 消除的方法消除的方法：減小狹縫寬度，使光譜通帶小到足以遮去多重發(fā)射的譜減小狹縫寬度，使光譜通帶小到足以遮去多重發(fā)射的譜線；若波長(zhǎng)差很小，則另選分析線；降低燈電流也可以減少多重發(fā)射。線

26、；若波長(zhǎng)差很小，則另選分析線；降低燈電流也可以減少多重發(fā)射。195 5、背景干擾、背景干擾背景干擾包括背景干擾包括分子吸收及光散射分子吸收及光散射兩個(gè)方面。兩個(gè)方面。 分子或半分解產(chǎn)物的背景吸收分子或半分解產(chǎn)物的背景吸收一些堿金屬、堿土金屬的鹵一些堿金屬、堿土金屬的鹵化物如化物如NaCl、KCl、CaCl2等在紫外光區(qū)有吸收。等在紫外光區(qū)有吸收。Ca(OH)2在在530560 nm有吸收，干擾有吸收，干擾Ba 553.6 nm的測(cè)定；半分解產(chǎn)物在的測(cè)定；半分解產(chǎn)物在一定波段也有吸收，如一定波段也有吸收，如OH在在309330nm及及281206 nm有吸收，有吸收，分別干擾分別干擾Cu 324

27、.7 nm及及Mg 285.2 nm的測(cè)定，的測(cè)定，CH在在387410 nm有吸收，有吸收，C2在在486474 nm有吸收；一些無機(jī)酸也有吸收，有吸收；一些無機(jī)酸也有吸收，如如H2SO4和和H3PO4在小于在小于250 nm波長(zhǎng)處有強(qiáng)烈吸收，而波長(zhǎng)處有強(qiáng)烈吸收，而HNO3和和HCl吸收很小。因此原子吸收分析中常用吸收很小。因此原子吸收分析中常用HNO3或或HCl配制溶液。配制溶液。 光散射光散射原子化過程產(chǎn)生的微小固體顆粒使光產(chǎn)生散射，使原子化過程產(chǎn)生的微小固體顆粒使光產(chǎn)生散射，使沒被吸收的光不能達(dá)到檢測(cè)器被檢測(cè)，吸光度增加。沒被吸收的光不能達(dá)到檢測(cè)器被檢測(cè)，吸光度增加。消除方法：背景校正

28、。消除方法：背景校正。201 1）鄰近線背景校正）鄰近線背景校正（The two-line correction methodThe two-line correction method）參比譜線選擇：參比線與測(cè)量線很近（保證二者經(jīng)過的背景一致）。參比譜線選擇：參比線與測(cè)量線很近（保證二者經(jīng)過的背景一致）。待測(cè)物基態(tài)原子不吸收參比線。參比線是待測(cè)原子的非共振線或元素待測(cè)物基態(tài)原子不吸收參比線。參比線是待測(cè)原子的非共振線或元素?zé)魞?nèi)惰性氣體元素的譜線。燈內(nèi)惰性氣體元素的譜線。 因?yàn)楣舱窬€（此時(shí)為分析線）的總吸光度因?yàn)楣舱窬€（此時(shí)為分析線）的總吸光度A AT T包括基態(tài)原子的吸收包括基態(tài)原子的吸收A

29、 A和背景吸收和背景吸收A AB B，即，即A AT T=A+A=A+AB B 通過測(cè)量共振線旁的通過測(cè)量共振線旁的“鄰近線鄰近線”的吸收，得到的吸收，得到A AB B 此時(shí)得到凈吸收度此時(shí)得到凈吸收度A=AA=AT T-A-AB B 1 2基態(tài)原子基態(tài)原子+ + 背景背景ABAT1為共振線為共振線；2為鄰近線為鄰近線本法適用于分析線附近，背景吸收變化不大的情況，否則準(zhǔn)確度較差本法適用于分析線附近，背景吸收變化不大的情況，否則準(zhǔn)確度較差背景校正假設(shè)：當(dāng)背景分布比較均勻時(shí)，可認(rèn)為與分析線鄰近的非共振線的吸收與分析線的背景吸收相等。212）連續(xù)光源背景校正）連續(xù)光源背景校正（The continu

30、um-source correction method） 切光器使銳線源和氘燈源切光器使銳線源和氘燈源交替進(jìn)入原子化器。然后分別交替進(jìn)入原子化器。然后分別測(cè)定吸光值：測(cè)定吸光值： A銳銳=A+AB A氘氘=a+AB=AB則則 A=A銳銳-AB=A銳銳-A氘氘式中式中a為基態(tài)原子對(duì)連續(xù)光源為基態(tài)原子對(duì)連續(xù)光源的吸光值，因待測(cè)原子濃度很的吸光值，因待測(cè)原子濃度很低，相對(duì)而言，低，相對(duì)而言，a可勿略?？晌鹇浴Ｗ贤鈪^(qū)用氘燈；可見紫外區(qū)用氘燈；可見光區(qū)用碘鎢燈或氙燈。光區(qū)用碘鎢燈或氙燈。評(píng)論：評(píng)論：盡管很多儀器均帶有這種扣背景裝置，但其性能并不理想！主要原因包盡管很多儀器均帶有這種扣背景裝置，但其性能并

31、不理想！主要原因包括，括，連續(xù)光源和切光器可降低連續(xù)光源和切光器可降低S/N； 原子化焰中氣相介質(zhì)和粒子分布不均，原子化焰中氣相介質(zhì)和粒子分布不均，對(duì)兩個(gè)光源的排列要求極高；對(duì)兩個(gè)光源的排列要求極高；大多儀器裝配的大多儀器裝配的D燈不適于可見光區(qū)（燈不適于可見光區(qū)（I太小，太小，僅適合于僅適合于360nm）。）。223）塞曼效應(yīng)背景校正）塞曼效應(yīng)背景校正（Background correction based on the Zeeman effect）a）Zeeman效應(yīng)：原子蒸汽在強(qiáng)磁場(chǎng)效應(yīng)：原子蒸汽在強(qiáng)磁場(chǎng)（10 kG）作用下，各個(gè)電子能級(jí)作用下，各個(gè)電子能級(jí) 會(huì)進(jìn)一步分裂，即每條譜線進(jìn)一

32、步分裂（從會(huì)進(jìn)一步分裂，即每條譜線進(jìn)一步分裂（從2S+1條分條分 裂成裂成2J+1條）的現(xiàn)象條）的現(xiàn)象(n2S+1LJ n2S+1L2J+1)。分裂的。分裂的 譜線間波長(zhǎng)差很小，約為譜線間波長(zhǎng)差很小，約為0.01nm。b）校正原理：）校正原理：Zeeman背景校正是根據(jù)磁場(chǎng)將（簡(jiǎn)并的）譜線分裂成具背景校正是根據(jù)磁場(chǎng)將（簡(jiǎn)并的）譜線分裂成具 有不同偏振特性的成份。對(duì)單重線而言，分裂成振動(dòng)方向有不同偏振特性的成份。對(duì)單重線而言，分裂成振動(dòng)方向 平行于磁場(chǎng)的平行于磁場(chǎng)的 線（波長(zhǎng)不變）和垂直于磁場(chǎng)的線（波長(zhǎng)不變）和垂直于磁場(chǎng)的 線（線（ 波長(zhǎng)增加或降低，并呈對(duì)稱分布）由譜線的磁特性和偏振波長(zhǎng)增加或降低，并呈對(duì)稱分布）由譜線的磁特性和偏振 特性來區(qū)別被測(cè)元素吸收和背景吸收。特性來區(qū)別被測(cè)元素吸收和背景吸收。c）分類：）分類：光源調(diào)制光源調(diào)制磁場(chǎng)加在光源上。因應(yīng)用較少，此處不作討論。磁場(chǎng)加在光源上。因應(yīng)用較少，此處不作討論。吸收線調(diào)制吸收線調(diào)制磁場(chǎng)加在原子化器上?？煞譃楹愣ù艌?chǎng)和可變磁場(chǎng)。磁場(chǎng)加在原子化器上?？煞譃楹愣ù艌?chǎng)和可變磁場(chǎng)。23恒定磁場(chǎng)調(diào)制：原子化器中譜線分裂所產(chǎn)生的恒定磁場(chǎng)調(diào)制：原子化器中譜線分裂所產(chǎn)生的 線的振動(dòng)方向始終平行于線的振動(dòng)方向始終平行于 磁場(chǎng)（圖中磁場(chǎng)（圖中B和和D）。）。Bi）當(dāng)通過偏振器）當(dāng)通過偏振