探槽編錄規(guī)范資料應(yīng)用

1、探槽探槽（investigation pit）一般采用與巖層或礦層走向近似垂直的方向，長(zhǎng)度可根據(jù)用途和地質(zhì)情況決定。槽探施工要求槽形完整、斷面呈梯形、槽幫平滑、槽底平整。槽底寬不小于0.6m，掘進(jìn)深度應(yīng)進(jìn)入新鮮基巖0.30.5m。地質(zhì)編錄在探槽施工終止后由地質(zhì)人員及時(shí)進(jìn)行，采用1/100的比例尺編錄一壁一底。若兩壁地質(zhì)現(xiàn)象變化較大的，則編錄兩壁一底。編錄過(guò)程要記錄巖層分層、巖性、礦化等地質(zhì)現(xiàn)象，同時(shí)現(xiàn)場(chǎng)繪制1/100的素描圖。0 探槽布置原則探槽是用于揭露地質(zhì)體（礦層、礦脈、地層、構(gòu)造及巖性等）為目的，一般垂直礦體（層）走向（或構(gòu)造線的走向），按一定間距布置，與勘探線要一致，探槽一定要貫通礦體

2、厚度（或主要構(gòu)造）。（圖0-1探槽橫斷面圖）圖0-1探槽橫斷面圖1 探槽原始地質(zhì)編錄探槽原始地質(zhì)編錄的對(duì)象是經(jīng)地質(zhì)、施工管理及施工人員三方現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收，施工質(zhì)量符合要求并已達(dá)到地質(zhì)目的的探槽（含樣溝、剝土、采場(chǎng)以及其它的天然露頭）。1.1 準(zhǔn)備工作1.1.1 組成編錄組探槽編錄組一般由23人組成。包括：組長(zhǎng)、作圖員，測(cè)手（可兼任）。1.1.1.1 組長(zhǎng)一般由熟悉探槽編錄工作的助理工程師以上技術(shù)人員擔(dān)任。全面負(fù)責(zé)編錄工作，主要承擔(dān)地質(zhì)觀察、分層、布樣和文字紀(jì)錄工作。組長(zhǎng)應(yīng)掌握有關(guān)規(guī)范、設(shè)計(jì)及工作細(xì)則，熟悉探槽周圍地質(zhì)情況。1.1.1.2 作圖員作圖員一般由熟悉探槽編錄繪圖工作的技術(shù)人員擔(dān)任。協(xié)助組長(zhǎng)

3、工作，主要負(fù)責(zé)素描圖的編制，同時(shí)兼任組內(nèi)合適的其他工作。1.1.1.3 測(cè)手測(cè)手一般由技術(shù)人員或熟練的地質(zhì)工擔(dān)任。主要負(fù)責(zé)編號(hào)、打樁，基線布置、測(cè)量各類數(shù)據(jù)、采集標(biāo)本及各種揀塊樣。1.2 原始地質(zhì)編錄1.2.1 觀察、分層、布樣組長(zhǎng)帶領(lǐng)編錄人員共同觀察擬編錄探槽中的地質(zhì)現(xiàn)象（必要時(shí)還應(yīng)觀察探槽附近有關(guān)地質(zhì)現(xiàn)象），確定編錄壁及基巖面、分層并布樣。1.2.1.1 確定編錄槽壁探槽素描一般只作一壁一底展開圖。當(dāng)兩壁上基巖露頭的地質(zhì)現(xiàn)象可對(duì)應(yīng)吻合時(shí)，東西向或大致東西向的探槽選北壁，南北向或大致南北向探槽選東壁。若首選壁的基巖露頭不理想時(shí)，可選擇對(duì)應(yīng)的另一壁。一般情況下以首選壁為主、對(duì)應(yīng)壁為輔。編錄壁的

4、選取及繪圖方向：東西向探槽：編北壁北高、南低或相近；編南壁南高北低。南北向探槽：東壁東高、西低或相近；編西壁西高東低。編錄壁確定下來(lái)后，確定方位，方位向的左壁就是編錄壁。如果先確定方位，那么要編錄的壁必須是方位向的左邊那個(gè)壁。 編錄方位0-180，畫圖方向從左往右；方位180-360，畫圖方向從右往左。這樣畫出來(lái)的圖是一張幾乎相同的圖。1.2.1.2 確定基巖面槽壁上的風(fēng)化基巖高度應(yīng)不小于30cm，通過(guò)觀察正確判斷殘坡積物與風(fēng)化基巖的界線。1.2.1.3 分層應(yīng)首先確定分層單元，分層單元視礦體復(fù)雜程度而定，一般同礦區(qū)填圖單元一致，復(fù)雜礦體的分層單元應(yīng)小于礦區(qū)填圖單元。分層厚度及夾石剔除厚度，按

5、工業(yè)指標(biāo)或設(shè)計(jì)要求進(jìn)行，不同礦（化）體層，不同礦石類型和工業(yè)品級(jí)、不同巖石類型和較大構(gòu)造應(yīng)分開。分層位置讀數(shù)應(yīng)從槽底開始，如圖6，a處為分層處，對(duì)應(yīng)的標(biāo)尺讀數(shù)為a米。1.2.1.4 布樣應(yīng)根據(jù)探槽對(duì)礦體的剝露情況布置樣品，在保證樣品代表性及槽樣規(guī)格的前提下，可在槽底布樣，也可在槽壁上布樣?；瘜W(xué)分析樣應(yīng)按規(guī)格連續(xù)布置，必須穿越礦層及礦化層，并且在礦層頂、底板有控制樣。樣槽應(yīng)盡量垂直于礦層走向布置，樣品對(duì)礦層控制既不間斷也不重復(fù)，同一個(gè)樣品不可垮跨層布設(shè)。（1）沿厚度方向連續(xù)控制礦體及直接頂?shù)装?。?）布樣“三不”原則：不跨礦石類型、品級(jí)；不跨礦種（斷層）；樣長(zhǎng)真厚不超過(guò)工業(yè)可采厚度。（3）巖石（

6、脈巖）剔除原則：以工業(yè)指標(biāo)的剔除厚度為準(zhǔn)、夾石薄時(shí)與低品位礦石合采貧化。（4）樣品編號(hào)：以任何時(shí)候都不至引起錯(cuò)混為準(zhǔn)。（5）布樣后應(yīng)及時(shí)采樣，特別是刻槽樣。1.2.2 設(shè)置基線1.2.2.1 基線位置選擇基線位置宜選擇在基巖與浮土的分界線附近，但工程起、止兩個(gè)端點(diǎn)應(yīng)布在地表。當(dāng)探槽過(guò)長(zhǎng)或有拐彎時(shí)，應(yīng)分段設(shè)置基點(diǎn)及基線，見(jiàn)圖1。1.2.2.2 操作方法在基點(diǎn)處打上編好號(hào)的基線樁，然后用皮尺拉緊，固定在兩個(gè)基線樁上部就成為基線，第一條基線起點(diǎn)為零。1.2.2.3 測(cè)量方位角及坡度角組長(zhǎng)及測(cè)手分別作為前、后測(cè)手，用羅盤測(cè)定皮尺的方位角和坡度角，二者的讀數(shù)誤差在3°之內(nèi)時(shí)，取平均值作為基線的

7、方位角和坡角。圖 1 基線布設(shè)圖1.2.2.4 基點(diǎn)基線記錄將測(cè)量的基點(diǎn)基線數(shù)據(jù)記錄于槽、井、坑探工程基點(diǎn)基線記錄表中。1.2.2.5 文字記錄槽探編錄的文字記錄，按xx表的內(nèi)容和要求進(jìn)行。如果采用攝像、照片等形式記錄地質(zhì)現(xiàn)象，應(yīng)按xx要求填寫音像記錄表。a）槽底不同的巖性層、含礦層（體）、蝕變帶、斷層及破碎帶等界線，以槽底界線鉛直投影到基線交點(diǎn)的讀數(shù)為準(zhǔn)，槽壁地質(zhì)現(xiàn)象以及樣品、標(biāo)本、產(chǎn)狀等位置，則按產(chǎn)狀水平投影在基線上讀數(shù)為準(zhǔn)。b）記錄時(shí)，應(yīng)針對(duì)該段反映的主要地質(zhì)體或地質(zhì)現(xiàn)象，有側(cè)重的進(jìn)行。例如描述礦層19（體），要抓住礦石特征，重點(diǎn)描述礦石成因的特征和現(xiàn)象。描述斷層，應(yīng)記錄斷層特征（含斷層

8、面、破碎帶、兩盤相對(duì)移動(dòng)方向等），達(dá)到反映斷層性質(zhì)和破壞程度等要求。c）文字記錄內(nèi)容應(yīng)與素描圖上的內(nèi)容完全吻合，在編錄過(guò)程中，記錄人員和作圖者應(yīng)經(jīng)常核對(duì)，發(fā)現(xiàn)問(wèn)題現(xiàn)場(chǎng)修正。d）以基線為準(zhǔn)，依次逐一記錄，巖性、礦體按分層為單元描述記錄：在基線中間分層時(shí)，分段描述記錄；跨導(dǎo)線分層時(shí)，將所跨導(dǎo)線內(nèi)的同一分層統(tǒng)一描述。1.2.3 繪制素描圖素描圖是通過(guò)測(cè)量槽壁及槽底上的各類地質(zhì)編錄要素（界線、產(chǎn)狀、標(biāo)本及樣品位置等）與基線的相對(duì)位置，按比例縮小后描繪到坐標(biāo)紙上的槽壁、槽底展開圖。根據(jù)探槽長(zhǎng)度和地質(zhì)復(fù)雜程度，素描圖比例尺一般為11001200。見(jiàn)附錄a 中圖a.3。1.2.3.1 基本要求1.2.3.1

9、.1 槽壁圖一般繪于素描圖的上方，槽底圖繪于素描圖的下方，槽底與槽壁之間應(yīng)留1cm以上間隔（以便標(biāo)注產(chǎn)狀、樣號(hào)等），槽底按正投影繪成等寬的長(zhǎng)方形，其寬度一般為11.5cm；若遇特殊情況，需繪另一槽壁時(shí)，應(yīng)投繪在槽底的下方，見(jiàn)圖2。1.2.3.1.2 作圖時(shí)，應(yīng)根據(jù)地質(zhì)體的形態(tài)（如透鏡狀、波狀、分枝狀等）特征勾繪，保持素描圖中地質(zhì)體的形態(tài)與實(shí)際吻合。1.2.3.1.3 一般按比例縮小后寬度大于1mm 的地質(zhì)體均應(yīng)勾繪到素描圖上。有特殊意義的小礦體或地質(zhì)現(xiàn)象雖小于1mm，也應(yīng)放大表示，其方法是從該點(diǎn)引出圖外，作一幅放大素描圖，見(jiàn)圖3。1.2.3.1.4 作大坡度槽壁圖時(shí)，槽壁圖可分段垂直上下移動(dòng)，

10、形成鋸齒狀（槽底圖仍連續(xù)）。這時(shí)要注意各段之間的地質(zhì)要素應(yīng)嚴(yán)格吻合，見(jiàn)圖4。圖 2 槽壁、槽底位置示意圖圖 3 特殊地質(zhì)現(xiàn)象放大素描圖圖 4 上下移動(dòng)槽壁示意圖1.2.3.2 作圖基本步驟作圖員應(yīng)面向編錄壁作圖。a）合理布置各繪圖要素。首先準(zhǔn)備好坐標(biāo)紙。然后根據(jù)探槽的長(zhǎng)度、高差等，確定圖名、比例尺、基線起點(diǎn)、槽壁、槽底、責(zé)任表及樣品分析結(jié)果表在坐標(biāo)紙上的相應(yīng)位置，原則上應(yīng)布局合理，整齊美觀。使用礦區(qū)統(tǒng)一圖例。b）繪制基點(diǎn)、基線。以圖上確定的第一條基線為起點(diǎn)，編號(hào)為0（基點(diǎn)位置畫2mm直徑的園圈、園心加點(diǎn)，下同）開始，用測(cè)出的坡度角在坐標(biāo)紙上畫出基線并按比例尺確定基線在圖上的長(zhǎng)度、基線的終點(diǎn)為基

11、點(diǎn)1。c）測(cè)手測(cè)量各地質(zhì)要素點(diǎn)坐標(biāo)。測(cè)手測(cè)量并報(bào)出各地質(zhì)要素特征點(diǎn)相對(duì)于基線的坐標(biāo)位置。d）槽壁素描。各導(dǎo)線起點(diǎn)讀數(shù)均為0m，設(shè)各點(diǎn)鉛垂投影到基線上的位置為xm，即皮尺上的讀數(shù)，該點(diǎn)距基線的鉛垂距離為ym（分基線上或基線下，用標(biāo)桿丈量出數(shù)據(jù)），作圖員可據(jù)此將各點(diǎn)位置投到圖上、并分類連接成圖。如圖5，地表點(diǎn)a垂直投在導(dǎo)線上的點(diǎn)為a，a在皮尺（導(dǎo)線）上的讀數(shù)為5.5m。a點(diǎn)距導(dǎo)線的垂距aa為1.9m（讀成基上1.9m），則a點(diǎn)的x坐標(biāo)5.5m。y坐標(biāo)基上1.9m，據(jù)此可在圖上確定出a點(diǎn)位置，再依次確定出地表b點(diǎn)的位置。這樣依次連接o、a、b點(diǎn)即成地形線（地表線）。將c、d、e點(diǎn)相聯(lián)為基巖線；將f、

12、q、j點(diǎn)相聯(lián)為槽底線；將k、i點(diǎn)相聯(lián)為礦體頂界；將n、m點(diǎn)相聯(lián)為礦體底界。圖5 槽壁投影素描示意圖e）槽底素描測(cè)手將槽底上的各編錄要素點(diǎn)先按地質(zhì)走向投到槽底與槽壁交界處，然后再垂直投到基線上報(bào)出該點(diǎn)在基線上的一個(gè)讀數(shù)點(diǎn)（x坐標(biāo)），作圖員即可將該點(diǎn)自基線上投影到槽底圖上將地質(zhì)體、樣品等繪出（因槽底為平面圖，故無(wú)y坐標(biāo)點(diǎn)）。破碎帶控制點(diǎn)a、b及樣槽控制點(diǎn)c、d、e、f各點(diǎn)在基線上的投影點(diǎn)分別為a、b、c、d及f，據(jù)其在導(dǎo)線上的讀數(shù)在圖上反投影到槽底上，然后根據(jù)走向素描成圖，見(jiàn)圖6。f）測(cè)量的產(chǎn)狀、采集的標(biāo)本、揀塊樣的位置應(yīng)用符號(hào)標(biāo)注在圖上（方法同上）。圖 6 槽底投影素描示意圖1.3 探槽原始地質(zhì)編錄應(yīng)提交的資料a）音像記錄表b）槽、井、坑探工程基點(diǎn)基線記錄表c）槽、井、坑探工程原始地質(zhì)記錄表d）槽、井、坑探工程采樣記錄表及送樣單e）標(biāo)本登記表f）巖礦石標(biāo)本g）鑒定及測(cè)試成果h）探槽素描圖_2 畫圖注意事項(xiàng)：1、 主要地質(zhì)編錄要素：界線、產(chǎn)狀、樣品及標(biāo)本位置、導(dǎo)線點(diǎn)等按與基線的相對(duì)位置，按比