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1、WORD格式可編輯編制說(shuō)明本規(guī)程依據(jù)JB/T4730.1-4730.6-2005承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)進(jìn)行編寫, 并符合GB150鋼制壓力容器及壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程熱水鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程蒸汽鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程的要求。本規(guī)程由質(zhì)保部提出,探傷室負(fù)責(zé)起草,由公司技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)執(zhí)行,它是本公司無(wú) 損檢測(cè)工作的執(zhí)行法規(guī),本公司所有的無(wú)損檢測(cè)任務(wù)必須以本規(guī)程為依據(jù), 對(duì)于非本公司設(shè)備不具備法定意義。其檢測(cè)專用工藝及產(chǎn)品檢測(cè)工藝卡是 對(duì)本規(guī)程的具體補(bǔ)充,作為本公司檢測(cè)工作的具體指導(dǎo)。專業(yè)知識(shí)整理分享第一章總則1. 主題內(nèi)容及引用標(biāo)準(zhǔn)1.1 本規(guī)程規(guī)定了無(wú)損檢測(cè)人員應(yīng)具備的資格,本公司所采用的四種無(wú)損檢測(cè)
2、方法射線檢 測(cè)、超聲檢測(cè)、磁粉檢測(cè)和滲透檢測(cè),檢測(cè)設(shè)備,檢測(cè)工藝,檢測(cè)時(shí)機(jī),驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)及檔案的 管理等。本規(guī)程適用于本公司I、U、壓力容器及壓力管道的無(wú)損檢測(cè)。1.2 本規(guī)程依據(jù):JB/T4730.1-4730.6-2005承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)和本公司實(shí)際生產(chǎn)情況進(jìn) 行編寫。引用標(biāo)準(zhǔn):(1) GB150鋼制壓力容器(2) 熱水鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程(3) 壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程(4) 蒸汽鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程(5) GB5616無(wú)損探傷應(yīng)用導(dǎo)則(6) GB/T12604( 1-6)無(wú)損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)(7) GB4792射線防護(hù)基本標(biāo)準(zhǔn)(8) 特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則2. 檢測(cè)人員2.1檢測(cè)人
3、員必須按特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則取得資格證書,從事與 其資格證書相適應(yīng)的工作。2.22.3 檢測(cè)人員的身體素質(zhì),視力須滿足JB/T4730.1-2005的要求并定期進(jìn)行身體檢查,并建 立個(gè)人健康檔案。2.4 從事無(wú)損檢測(cè)工作的人員,必須堅(jiān)持職業(yè)道德,抵制降低產(chǎn)品質(zhì)量的行為,嚴(yán)把質(zhì)量關(guān)。 檢測(cè)責(zé)任師有責(zé)任保證標(biāo)準(zhǔn)、法規(guī),工藝的正確實(shí)施,并有權(quán)拒絕不符合標(biāo)準(zhǔn),法規(guī)要求的任何檢測(cè)工作。3. 檢測(cè)方法:3.1各種檢測(cè)方法都各有特點(diǎn),在選用檢測(cè)方法時(shí)應(yīng)根據(jù)圖紙及技術(shù)文件的要求進(jìn)行,并應(yīng) 符合GB150及壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程 熱水鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程 蒸汽鍋爐安全 技術(shù)監(jiān)察規(guī)程的要求。如
4、果選擇兩種或多種檢測(cè)方法進(jìn)行補(bǔ)充檢測(cè)時(shí),則每種方法的檢測(cè) 結(jié)果都應(yīng)合格,才能算合格,否則應(yīng)進(jìn)行返修處理。3.2壓力容器壁厚小于等于 38mn時(shí),其對(duì)接接頭應(yīng)采用射線檢測(cè);由于結(jié)構(gòu)等原因,不能采 用射線檢測(cè)時(shí),允許采用可記錄的超聲檢測(cè)。3.3 壓力容器壁厚大于 38mm(或小于等于 38mm但大于20mm且使用材料搞拉強(qiáng)度規(guī)定值下 限大于等于540Mpa時(shí),其對(duì)接接頭如采用射線檢測(cè),則每條焊縫還應(yīng)附加局部超聲檢測(cè); 如采用超聲檢測(cè),則每條焊縫還應(yīng)附加局部射線檢測(cè)。無(wú)法進(jìn)行射線檢測(cè)或超聲檢測(cè)時(shí),應(yīng) 采用其他檢測(cè)方法進(jìn)行附加局部無(wú)損檢測(cè)。附加局部檢測(cè)應(yīng)包括所有的焊縫交叉部位,附加 局部檢測(cè)的比例為本
5、規(guī)程原無(wú)損檢測(cè)比例的 20%3.4 對(duì)有無(wú)損檢測(cè)要求的角接接頭、T 形接頭,不能進(jìn)行射線或超聲檢測(cè)時(shí),應(yīng)做100%表面檢測(cè)。3.5鐵磁性材料容器的表面檢測(cè)應(yīng)優(yōu)先選用磁粉檢測(cè)。4. 檢測(cè)時(shí)機(jī)的選擇:4.1對(duì)于不同焊接材料的焊接,由于其可焊性的差異,焊接接頭結(jié)構(gòu)的不同,存在的淬硬性 也就不同,因此對(duì)于不同焊接材料的焊接接頭應(yīng)選擇不同的檢測(cè)時(shí)機(jī),以確保檢測(cè)的可靠性。4.2對(duì)焊接接頭的檢測(cè)應(yīng)在焊后進(jìn)行。對(duì)有延遲裂紋傾向的材料,至少應(yīng)在焊后24小時(shí)后進(jìn)行檢測(cè)。4.3對(duì)于檢驗(yàn)熱處理工藝性能時(shí)應(yīng)安排在熱處理后進(jìn)行。4.4對(duì)于封頭的檢測(cè)應(yīng)在沖壓成型后進(jìn)行,否則無(wú)效。5. 檢測(cè)表面的驗(yàn)收5.1凡是進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)的
6、工件,必須經(jīng)外觀檢查合格后方能進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)。5.2進(jìn)行檢測(cè)的工件表面,除應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)要求以外,其表面不得存在:裂紋、氣孔、弧坑、 咬邊和肉眼可見(jiàn)的夾渣等缺陷,焊接接頭兩側(cè)的飛濺和熔渣,必須清除。5.3對(duì)于進(jìn)行超聲波或表面探傷檢查的部件除滿足上條規(guī)定以外,所有影響檢測(cè)的銹蝕、防 護(hù)層和污物都應(yīng)予以清除,其表面粗糙度應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)要求。5.4對(duì)于上述要求不合格的須加以修整,合格后才能進(jìn)行檢測(cè),否則,探傷人員有權(quán)拒絕檢 測(cè)工作。6. 檢測(cè)檔案管理與規(guī)章制度6.1堅(jiān)持嚴(yán)謹(jǐn)?shù)墓ぷ鲬B(tài)度,認(rèn)真學(xué)習(xí)技術(shù),沒(méi)有資格的人員不能獨(dú)立進(jìn)行檢測(cè)工作。6.2認(rèn)真填寫記錄報(bào)告,嚴(yán)格執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,不得弄虛作假。6.3做好檔案的保存
7、工作,并根據(jù)要求所有的檢測(cè)檔案報(bào)告及檢測(cè)底片保存不少于七年。7. 安全防護(hù)管理7.1無(wú)損檢測(cè)工作由于其一般工作于現(xiàn)場(chǎng),其檢測(cè)過(guò)程中與電接觸,其射線檢測(cè)具有一定的 輻射危害,滲透檢測(cè)所使用藥品為可燃性和具有毒性介質(zhì)的存在,因此必須注意安全防護(hù)管 理。7.2對(duì)于射線檢測(cè),其工作場(chǎng)地,及防護(hù)措施符合GB4792的規(guī)定。7.3對(duì)于操作過(guò)程必須嚴(yán)格認(rèn)真執(zhí)行操作規(guī)程及廠內(nèi)輻射安全的管理規(guī)定。射線檢測(cè)設(shè)備操 作規(guī)程見(jiàn)附錄第一章無(wú)損檢測(cè)質(zhì)控程序2. 1本程序由無(wú)損探傷室負(fù)責(zé)實(shí)施及控制,并與其他部門配合執(zhí)行。2.2根據(jù)本公司具體情況制定,目的在于有效的服務(wù)于生產(chǎn),并有助于質(zhì)保體系運(yùn)轉(zhuǎn),對(duì)產(chǎn) 品質(zhì)量進(jìn)行有效監(jiān)控,
8、并通過(guò)對(duì)無(wú)損檢測(cè)程序進(jìn)行質(zhì)量控制,為焊接工藝的制訂與校對(duì),產(chǎn) 品焊接結(jié)構(gòu)的內(nèi)在質(zhì)量狀況提供準(zhǔn)確依據(jù)。2.3無(wú)損檢測(cè)責(zé)任師負(fù)責(zé)組織檢測(cè)人員對(duì)材料及焊接接頭的檢驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行評(píng)審,并負(fù)責(zé)對(duì)檢 測(cè)人員的技術(shù)培訓(xùn)。2.3.1相關(guān)部門負(fù)責(zé)按檢測(cè)評(píng)審結(jié)果對(duì)檢測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行處置。2.4工作過(guò)程2.4.1無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)控制一覽表(表1)控制環(huán)節(jié)控制點(diǎn)名稱控制類別負(fù)責(zé)人接受任務(wù)接收委托審閱點(diǎn)探傷專業(yè)負(fù)責(zé)人探傷前準(zhǔn)備人員資格審查檢查點(diǎn)檢查員儀器校驗(yàn)審閱點(diǎn)無(wú)損檢測(cè)專業(yè)負(fù)責(zé)人探傷工藝編制審閱點(diǎn)無(wú)損檢測(cè)專業(yè)負(fù)責(zé)人探傷實(shí)施施探表面復(fù)查檢查點(diǎn)無(wú)損檢測(cè)專業(yè)負(fù)責(zé)人復(fù)驗(yàn)擴(kuò)探審閱點(diǎn)無(wú)損檢測(cè)責(zé)任工程師報(bào)告簽發(fā)報(bào)告簽發(fā)停點(diǎn)無(wú)損檢測(cè)責(zé)任工程師2.
9、4.2無(wú)損檢測(cè)質(zhì)量控制圖(圖1)無(wú)損探傷質(zhì)控系統(tǒng)研究任務(wù)無(wú)損探傷11焊縫返修1-探傷實(shí)施:-_施探表面復(fù)查復(fù)驗(yàn)擴(kuò)探人員培訓(xùn)-接受任務(wù)-接受委托一探傷準(zhǔn)備一購(gòu)置設(shè)備圖例控制環(huán)節(jié)停點(diǎn)檢查點(diǎn)審閱點(diǎn)報(bào)告簽發(fā)工藝審查人審培.儀器校驗(yàn)報(bào)告簽發(fā)探傷責(zé)任工程師探傷專業(yè)負(fù)責(zé)人檢查員2.4.3質(zhì)保部根據(jù)生產(chǎn)任務(wù)情況,技術(shù)圖樣要求、產(chǎn)品及材料工件的原始參數(shù)、填寫無(wú)損檢 測(cè)委托單轉(zhuǎn)到本程序。WORD格式可編輯243.1本程序負(fù)責(zé)人在接受任務(wù)委托后,負(fù)責(zé)組織檢測(cè)人員著手任務(wù)的研究及準(zhǔn)備工作。 243.2質(zhì)保部負(fù)責(zé)組織檢驗(yàn)員對(duì)材料及焊接產(chǎn)品的外觀質(zhì)量驗(yàn)收確認(rèn)合格后,出具無(wú)損檢 測(cè)委托單轉(zhuǎn)到本程序。2.4.4檢測(cè)準(zhǔn)備2.4
10、41無(wú)損檢測(cè)責(zé)任師負(fù)責(zé)組織無(wú)損檢測(cè)工藝的制訂,審核并保證其正確實(shí)施。2.442 檢測(cè)工藝的編制人員必須是由國(guó)家認(rèn)證合格的并具備相應(yīng)U級(jí)或以上資格的人員, 其通用工藝規(guī)程必須經(jīng)廠級(jí)技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)才能實(shí)施執(zhí)行。2.4.4.3 建立無(wú)損檢測(cè)人員的培訓(xùn)、資格檔案和檢測(cè)設(shè)備的購(gòu)置、維護(hù)檔案記錄,并定期進(jìn) 行儀器的校準(zhǔn)檢修。2.4.5檢測(cè)表面的復(fù)查2.4.5.1本程序接到無(wú)損檢測(cè)委托單后,由本程序負(fù)責(zé)人或其指定的檢測(cè)人員進(jìn)行表面復(fù)查。2.4.5.2 檢測(cè)表面的質(zhì)量必須符合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、文件及檢測(cè)技術(shù)條件的要求,且不影響對(duì)檢測(cè) 結(jié)果的評(píng)定,否則檢測(cè)人員拒收并通知有關(guān)部門。2.4.6檢測(cè)的實(shí)施2.4.6.1全過(guò)程
11、應(yīng)執(zhí)行檢測(cè)工藝并認(rèn)真填寫檢測(cè)原始紀(jì)錄,繪制檢測(cè)位置簡(jiǎn)圖。2.4.6.2注意過(guò)程中的安全防護(hù)操作,防止射線輻射對(duì)人體的危害,注意檢測(cè)器材的安全保 管,防止使用過(guò)程的污染及防火。2.4.7檢測(cè)結(jié)果的評(píng)審2.4.7.1無(wú)損檢測(cè)責(zé)任師組織具有相應(yīng)U級(jí)及以上資格的檢測(cè)人員對(duì)檢驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行評(píng)審。2.4.7.2 進(jìn)行評(píng)審的檢測(cè)結(jié)果必須是符合JB/T4730.1-4730.6-2005 標(biāo)準(zhǔn)或其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。2.4.7.3對(duì)評(píng)審結(jié)果不符合標(biāo)準(zhǔn)要求的,進(jìn)行產(chǎn)品的擴(kuò)充檢測(cè)后,填寫焊接不合格檢測(cè)處置 單和檢測(cè)缺陷傳遞單,傳遞到質(zhì)保部,由質(zhì)保部與生產(chǎn)車間協(xié)商進(jìn)行返修處置,并做好檢測(cè) 評(píng)審紀(jì)錄。2.4.8擴(kuò)檢與復(fù)檢2.
12、4.8.1 對(duì)局部射線檢測(cè)或超聲檢測(cè)的焊接接頭,若在檢測(cè)部位出現(xiàn)超標(biāo)缺陷時(shí)。則應(yīng)時(shí)行不少于該條焊接接頭長(zhǎng)度 10%勺,且不小于250mm勺補(bǔ)充局部檢測(cè);如仍不合格,則應(yīng)對(duì)該 條焊接接頭全部檢測(cè)。2.4.8.2對(duì)返修部位的復(fù)檢根據(jù)附錄 E執(zhí)行。2.4.9檢測(cè)報(bào)告的填寫、審核與簽發(fā)2.4.9.1經(jīng)檢測(cè)評(píng)審合格后,并開(kāi)具無(wú)損檢測(cè)合格通知單,通知車間進(jìn)行下序工作。并進(jìn)行 檢測(cè)報(bào)告的填寫,報(bào)告人員根據(jù)評(píng)審紀(jì)錄和檢測(cè)紀(jì)錄認(rèn)真填寫。2.4.9.2填寫好的報(bào)告經(jīng)審核人審核簽字后。最后由無(wú)損檢測(cè)責(zé)任師進(jìn)行核定簽字。2.4.9.3在報(bào)告的審核及核定過(guò)程中如發(fā)現(xiàn)問(wèn)題,則重新進(jìn)行檢測(cè)結(jié)果的評(píng)審復(fù)驗(yàn)。專業(yè)知識(shí)整理分享W
13、ORD格式可編輯249.4 核定合格后的報(bào)告,一式三份,一份留存入檔,兩份由質(zhì)保部存入產(chǎn)品檔案及提交 用戶。2.4.10檢測(cè)檔案內(nèi)容:a:無(wú)損檢測(cè)委托單b:焊接不合格檢測(cè)處置單C:無(wú)損檢測(cè)合格通知單d:無(wú)損檢測(cè)報(bào)告e:無(wú)損檢測(cè)位置簡(jiǎn)圖f:無(wú)損檢測(cè)工藝卡g:底片專業(yè)知識(shí)整理分享第二章射線檢測(cè)工藝規(guī)程1. 主題內(nèi)容及工藝范圍1.1本工藝具體規(guī)定了射線檢測(cè)對(duì)象、方法、人員資格、設(shè)備、檢測(cè)技術(shù)及驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的基本 要求。1.2本工藝根據(jù)JB/T4730.2-2005的要求及我公司具體情況制訂,適合用于 2-50mm的鋼制水 壓設(shè)備A、B類對(duì)焊接縫及鋼管的對(duì)接焊縫射線檢測(cè),并符合容規(guī)及 GB150蒸規(guī)熱 規(guī)
14、的要求。1.2.1本工藝實(shí)施過(guò)程中在滿足標(biāo)準(zhǔn)的前提下,必須遵照產(chǎn)品設(shè)計(jì)圖樣的技術(shù)要求規(guī)定。1.2.2對(duì)特殊檢測(cè)工件以及本工藝范圍外的檢測(cè),必須制訂相應(yīng)的工藝措施,在保證檢測(cè)結(jié) 果的準(zhǔn)確性的前提下進(jìn)行。1.2.3射線檢測(cè)專用工藝及具體產(chǎn)品工藝卡為本工藝具體補(bǔ)充,其規(guī)定更明確,作為檢測(cè)實(shí) 施過(guò)程中的具體指導(dǎo)。2. 人員要求2.1檢測(cè)人員必須經(jīng)技術(shù)培訓(xùn),應(yīng)按照特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)人員考核監(jiān)督管理規(guī)則進(jìn)行考 核,取得資格證書,方能承擔(dān)與資格證書技術(shù)等級(jí)相適應(yīng)的無(wú)損檢測(cè)工作。2.2射線檢測(cè)人員未經(jīng)矯正或經(jīng)矯正的視力應(yīng)不低于1.0,從事評(píng)片的人員每年檢查一次視力。3. 安全防護(hù)3.1在檢測(cè)的實(shí)施工作中,應(yīng)遵循
15、時(shí)間、距離及屏蔽的三大防護(hù)方法,全過(guò)程控制射線防護(hù) 的安全,并符合 GB18871 GB1635和GB18465的規(guī)定。3.2現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行X射線檢測(cè)時(shí),應(yīng)按GB16357的規(guī)定劃定控制區(qū)和管理區(qū),設(shè)置警告標(biāo)志,檢 測(cè)人員應(yīng)佩帶個(gè)人計(jì)量?jī)x。4. 檢測(cè)設(shè)備、器材和材料4.1本公司現(xiàn)有設(shè)備見(jiàn)表14.1.1設(shè)備的選用:根據(jù)工件材料密度、形狀、厚度尺寸選擇。為保障設(shè)備的使用壽命,必 須嚴(yán)格執(zhí)行操作規(guī)程,選擇的透照規(guī)范盡量在選擇使用的X光機(jī)額定電壓的80%內(nèi)。4.2膠片:根據(jù)JB/T4730.2-2005要求,一般選用T3型膠片,我公司基本選用愛(ài)克發(fā)膠片, 也可選用相同類型膠片。4.2.1無(wú)論選用任何類型膠片
16、,但其暗室處理的配方必須與所用膠片配套。4.3增感屏:采用鉛箔增感屏,前后均為 0.03mm4.3.1膠片和增感屏在透照過(guò)程中應(yīng)始終貼緊。432增感屏的表面應(yīng)保持光滑清潔,無(wú)污染損傷,變形。4.4觀片燈4.4.1觀片燈的主要性能應(yīng)符合JB/T7903的有關(guān)規(guī)定。4.4.2觀片燈的最大亮度應(yīng)能滿足評(píng)片的要求。4.5黑度計(jì)(光學(xué)密度計(jì))4.5.1黑度計(jì)可測(cè)的最大黑度應(yīng)不小于 4.5,測(cè)量值的誤差應(yīng)不超過(guò)+0.05。4.5.2黑度計(jì)至少每6個(gè)月校驗(yàn)一次。校驗(yàn)方法可參照 JB/T4730.2-2005附錄B的規(guī)定進(jìn)行, 黑度片應(yīng)每隔兩年校驗(yàn)一次。4.6像質(zhì)計(jì)4.6.1底片影像質(zhì)量采用線型像質(zhì)計(jì)測(cè)定。線
17、型像質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合 JB/T7902的規(guī)定, JB/T7902中未包含的絲徑、線號(hào)等內(nèi)容,應(yīng)符合HB7684勺有關(guān)規(guī)定。4.6.2像質(zhì)計(jì)的材料、材料代號(hào)和不同材料的像質(zhì)計(jì)適用的工件材料范圍應(yīng)符合JB/T4730.2-2005 表 2 的規(guī)定。5. 檢測(cè)表面制備5.5.1檢測(cè)表面制備見(jiàn)總則第5條的規(guī)定6. 檢測(cè)時(shí)機(jī)6.1檢測(cè)時(shí)機(jī)見(jiàn)見(jiàn)總則第4條的規(guī)定7. 檢測(cè)工藝和檢測(cè)技術(shù)7.1透照布置7.1.1透照方式應(yīng)根據(jù)工件特點(diǎn)和技術(shù)條件的要求選擇適宜的透照方式。在可以實(shí)施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式,在單壁透照不能實(shí)施時(shí)才允許采用雙壁透照方式。典型的透照方式 見(jiàn)下圖1圖17.1.2透照方向 透照時(shí)射
18、線束中心應(yīng)垂直指向透照區(qū)中心,需要時(shí)也可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷 的方向透照。7.1.3 一次透照長(zhǎng)度應(yīng)以透照厚度比K進(jìn)行控制。不同級(jí)別射線檢測(cè)技術(shù)和不同類型對(duì)接焊接接頭的透照厚度比應(yīng)符合表1的規(guī)定射線檢測(cè)技術(shù)級(jí)別A'級(jí)、AB級(jí)B級(jí)縱向焊接接頭Kw 1.03Kw 1.01環(huán)向焊接接頭Kw 1.1 11Kw 1.011)對(duì)100mrKDbW400的環(huán)向?qū)咏宇^(包括曲率相同的曲面焊接接頭),A級(jí)、AB級(jí)允許采用K w 1.2 o7.1.4小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^的透照布置小徑管采用雙壁雙影透照布置,當(dāng)同時(shí)滿足下列兩條件時(shí)應(yīng)采用傾斜透照方式橢圓成像a)T (壁厚)w 8mmb)g (焊縫寬度)w
19、Do /4。橢圓成像時(shí),應(yīng)控制影像的開(kāi)口寬度在1倍焊縫寬度左右。不滿足上述條件或橢圓成像有困難時(shí)可采用垂直透照方式重疊成像。7.1.5小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^的透照次數(shù)小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^100%檢測(cè)的透照次數(shù):采用傾斜透照方式橢圓成像時(shí),當(dāng)T/DW 0.12時(shí)相隔90透照2次。當(dāng)T/D> 0.12時(shí)相隔120或60透照3次。垂直透照重疊成 像時(shí),一般應(yīng)相隔120或60透照3次。由于結(jié)構(gòu)原因不能進(jìn)行多次透照時(shí),可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次。鑒于 透照一次不能實(shí)現(xiàn)焊縫全長(zhǎng)的100%檢測(cè),此時(shí)應(yīng)采取有效措施擴(kuò)大缺陷可檢出范圍,并保證底片評(píng)定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿足要求。7.2射線能量7
20、.2.1 X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時(shí),應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?。?duì)截面厚度變化大的承壓設(shè)備,在保證靈敏度要求的前提下,允許采用超過(guò)規(guī)定的X射線管電壓。但管電壓增量不應(yīng)超過(guò) 50KV7.3射線源至工件表面的最小距離7.3.1由于本公司產(chǎn)品射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)為 AB級(jí),所選用的射線源至工件表面的距離AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù):? > 10d b2/37.3.2采用源在內(nèi)中心透照方式周向曝光時(shí),只要得到的底片質(zhì)量符合7.11.2和7.11.3的要 求,值可以減小,但減小值不應(yīng)超過(guò)規(guī)定值的50% .7.3.3采用源在內(nèi)單壁透照方式時(shí),只要得到的底片質(zhì)量符合7.11.2和7.11.3的要
21、求,?值 可以減小,但減小值不應(yīng)超過(guò)規(guī)定值的20% .7.4曝光量7.4.1 X 射線照相,當(dāng)焦距為700mm寸,曝光量的推薦值為15mA-min:當(dāng)焦距改變時(shí)可按平方 反比定律對(duì)曝光量的推薦值進(jìn)行換算.7.5曝光曲線7.5.1對(duì)每臺(tái)在用射線設(shè)備均應(yīng)作出經(jīng)常檢測(cè)材料的曝光曲線,依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)7.5.2制作曝光曲線所采用的膠片.增感屏.焦距.射線能量等條件以及底片應(yīng)達(dá)到的靈敏度. 黑度等參數(shù)均應(yīng)符合本部分的規(guī)定.7.5.3對(duì)使用中的曝光曲線,每年至少應(yīng)校驗(yàn)一次.射線設(shè)備更換重要部分或經(jīng)較大修理后應(yīng)及時(shí)對(duì)曝光曲線進(jìn)行校驗(yàn)或重新制作.7.6無(wú)用射線和散射線屏蔽7.6.1本公司采用金屬增感屏
22、.鉛板等適當(dāng)措施,屏蔽散射線和無(wú)用射線,限制照射場(chǎng)范圍.7.6.2對(duì)初次制定的檢測(cè)工藝,或使用中檢測(cè)工藝的條件.環(huán)境發(fā)生改變時(shí),應(yīng)進(jìn)行背散射防護(hù) 檢查.檢查背散射防護(hù)的方法是:在暗盒背面貼附“B'鉛字標(biāo)記,一般鉛字的高度為13mm厚度為1.6mm,按檢測(cè)工藝的規(guī)定進(jìn)行透照和暗室處理.若在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑 度的“B'字影像,則說(shuō)明背散射防護(hù)不夠,應(yīng)增大背散射防護(hù)鉛板的厚度.若底片上不出現(xiàn)“B'字影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“ B'字影像,則說(shuō)明背散射防護(hù)符合要求.7.7像質(zhì)計(jì)的使用7.7.1像質(zhì)計(jì)一般應(yīng)放置在工件源側(cè)表面焊接接頭的一端(在被檢區(qū)長(zhǎng)度
23、1/4左右位置),金屬 絲應(yīng)橫跨焊縫,細(xì)絲置于外側(cè).當(dāng)一張膠片上同時(shí)透照多條焊接接頭時(shí),像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在透照 區(qū)最邊緣的焊縫處.7.7.2像質(zhì)計(jì)放置原則a)單壁透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在源側(cè).雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè).雙壁雙影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)可放置在源側(cè),也可放置在膠片側(cè).b)單壁透照中,如果像質(zhì)計(jì)無(wú)法放置在源側(cè),允許放置在膠片側(cè),c)單壁透照中像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí),應(yīng)進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn),對(duì)比試驗(yàn)方法時(shí)在射源側(cè)和膠片 側(cè)各放一個(gè)像質(zhì)計(jì),用與工件相同的條件透照,測(cè)定出像質(zhì)計(jì)放置在源側(cè)和膠片側(cè)的靈 敏度差異,以此修正應(yīng)識(shí)別像質(zhì)計(jì)絲號(hào),以保證實(shí)際透照的底片靈敏度符合要求.d)當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí),應(yīng)在像
24、質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記,“F”標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上,且應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中注明.7.7.3原則上每張底片上都應(yīng)有像質(zhì)計(jì)的影像.當(dāng)一次曝光完成多張膠片照相時(shí),使用的像質(zhì) 計(jì)數(shù)量允許減少但應(yīng)符合以下要求:a)環(huán)形對(duì)接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時(shí),至少在圓周上等間隔地放置3個(gè)像質(zhì)計(jì).b)一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時(shí),至少在第一張.中間一張和最后一張膠片處各放置一 個(gè)像質(zhì)計(jì).7.7.4小徑管可選用通用線型像質(zhì)計(jì)或附錄F(規(guī)范性附錄)規(guī)定的專用(等經(jīng)金屬絲)像質(zhì)計(jì),金WORD格式可編輯屬絲應(yīng)橫跨焊縫放置。7.7.5如底片黑度均勻部位(一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū))能夠清晰
25、地看到長(zhǎng)度不小于10mm 的連續(xù)金屬絲影像時(shí),則認(rèn)為該絲是可識(shí)別的。專用像質(zhì)計(jì)至少應(yīng)能識(shí)別兩根金屬絲。7.8標(biāo)記7.8.1透照部位的標(biāo)記由識(shí)別標(biāo)記和定位標(biāo)記組成。標(biāo)記一般由適當(dāng)尺寸的鉛(或其他適宜 的重金屬)制數(shù)字.拼音字母和符合等構(gòu)成。7.8.2識(shí)別標(biāo)記一般包括:產(chǎn)品編號(hào).對(duì)接焊接接頭編號(hào).部位編號(hào)和透照日期。返修后的透 照還應(yīng)有返修標(biāo)記,擴(kuò)大檢測(cè)比例的透照應(yīng)有擴(kuò)大檢測(cè)標(biāo)記。具體標(biāo)識(shí)方法見(jiàn)附錄C。7.8.3定位標(biāo)記一般包括中心標(biāo)記和搭接標(biāo)記。中心標(biāo)記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分 段編號(hào)的方向,一般用十字箭頭表示。搭接標(biāo)記是連續(xù)檢測(cè)時(shí)的透照分段標(biāo)記,可用符合“T”或其他能顯示搭接情況的方法表
26、示。7.8.4標(biāo)記一般應(yīng)放置在距焊縫邊緣至少5mm以外的部位,所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊,且不應(yīng)干擾有效評(píng)定范圍內(nèi)的影像。7.9膠片處理7.9.1本公司采用手工沖洗方式處理。7.9.2膠片處理一般應(yīng)按使用說(shuō)明書的規(guī)定進(jìn)行。7.10評(píng)片要求7.10.1評(píng)片一般應(yīng)在專用的評(píng)片室內(nèi)進(jìn)行。評(píng)片室應(yīng)整潔、安靜、溫度適宜,光線應(yīng)暗且柔 和。7.10.2評(píng)片人員在評(píng)片前應(yīng)經(jīng)歷一定的暗適應(yīng)時(shí)間.從陽(yáng)光下進(jìn)入評(píng)片的暗適應(yīng)時(shí)一般為5mi n10mi n;從一般的室內(nèi)進(jìn)入評(píng)片的暗適應(yīng)時(shí)間應(yīng)不少于30s。7.10.3評(píng)片時(shí),底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)符合下列規(guī)定:a)當(dāng)?shù)灼u(píng)定范圍內(nèi)的黑度 D< 2.5時(shí),透過(guò)底片評(píng)定
27、范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于30cd/m2.b)當(dāng)?shù)灼u(píng)定范圍內(nèi)的黑度 D>2.5時(shí),透過(guò)底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于10cd/m2。7.10.4底片評(píng)定范圍的寬度一般為焊縫本身及焊縫兩側(cè)5mn寬的區(qū)域。7.11底片質(zhì)量7.11.1底片上,定位和識(shí)別標(biāo)記影像應(yīng)顯示完整、位置正確。7.11.2底片評(píng)定范圍內(nèi)的黑度 D應(yīng)符合下列規(guī)定:AB 級(jí):2.0 < D< 4.0 ;用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時(shí),AB級(jí)最低黑度允許降至1.5 ;7.11.3底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度單壁透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)應(yīng)符合JB/T4730.2-2005表5的規(guī)定;雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)應(yīng)符合
28、表6的規(guī)定;雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于膠片側(cè)時(shí)應(yīng)符合 JB/T4730.2-2005 表 7 的規(guī)定。7.11.4底片評(píng)定范圍內(nèi)不應(yīng)存在干擾缺陷影象識(shí)別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。專業(yè)知識(shí)整理分享8鋼制承壓設(shè)備熔化焊對(duì)接焊接接頭射線檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)8.1范圍:本條適用于厚度為2mm-50m的碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼制承壓設(shè)備熔 化焊對(duì)接焊接接頭射線檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)。8.2缺陷類型對(duì)接焊接接頭中的缺陷按性質(zhì)可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷共五類。8.3質(zhì)量分級(jí)依據(jù)根據(jù)對(duì)接接頭中存在的缺陷性質(zhì)、數(shù)量和密集程度可分為I、U、M、W級(jí)。8.4質(zhì)量分級(jí)的規(guī)定鋼制承壓設(shè)備熔化焊對(duì)接
29、焊接接頭射線檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)應(yīng)見(jiàn)底片評(píng)片工藝(附錄D)9.檢測(cè)報(bào)告9.1檢測(cè)過(guò)程中應(yīng)做好原始記錄,包括日期、編號(hào)、檢測(cè)位置、工件名稱、規(guī)格尺寸、透照 方式及參數(shù)并繪出位置簡(jiǎn)圖。9.2底片評(píng)定合格后,出具檢測(cè)報(bào)告,檢測(cè)報(bào)告和底片至少要保存七年。第四章超聲檢測(cè)工藝規(guī)程1. 主題內(nèi)容與適用范圍1.1本規(guī)程規(guī)定了超聲檢測(cè)人員資格、儀器、探頭、試塊、檢測(cè)范圍、方法和質(zhì)量分級(jí)等。1.2本規(guī)程采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀對(duì)金屬材料制承壓設(shè)備用原材料.零部件和焊接 接頭進(jìn)行檢測(cè)。2. 引用標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)程2.1壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程2.2 GB150-98鋼制壓力容器2.3 JB/T4730.1-4730.6-20
30、05承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)2.4 JB/T7913-1995 超聲波檢測(cè)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法2.5 JB/T9214-1999 A 型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能,測(cè)試方法2.6 JB/T10061-1999 A 型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件2.7 JB/T10062-1999超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法2.8 JB/T10063-1999超聲探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件3. 檢測(cè)人員應(yīng)符合本規(guī)程中總則的有關(guān)規(guī)定4. 檢測(cè)設(shè)備本公司現(xiàn)使用的是汕頭超聲儀器廠生產(chǎn)的CTS-22A和 CTS-26A兩臺(tái)設(shè)備。4.1探傷儀采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀。其工作頻率范圍為0.5MHZ-10MH
31、Z儀器至少專業(yè)知識(shí)整理分享WORD格式可編輯在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具備有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器,步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB,任意相鄰12dB誤差在土 1dB以內(nèi),最大累計(jì)誤差不超過(guò)1dB。水平 線性誤差不大于1 %,垂直線性誤差不大于5%其余指標(biāo)應(yīng)符合JB/T10061的規(guī)定。4.2探頭(1) 晶片有效面積除另有規(guī)定外一般不應(yīng)超過(guò)500口命且任意一邊不大25mm.(2) 單斜探頭聲束軸線水平偏離不應(yīng)大于 2。,主聲束垂直主方向不應(yīng)有明顯的雙峰。4.3超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能4.3.1在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí),其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB4.3.2儀器和探
32、頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于土10%。4.3.3儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準(zhǔn)靈敏度下):對(duì)于頻率為5MHZ勺探頭,寬 度不大于10mm對(duì)于頻率為2.5MHZ的探頭,寬度不大于15mm4.3.4直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)大于或等于 30dB,斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)大于或等于 6dB。4.3.5儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按 JB/T9214和JB/T10062的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。4.4試塊4.4.1標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件相同或近似聲學(xué)性能的材料制成,該材料用直探頭檢測(cè)時(shí),不得有大于© 2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。4.4.2標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合JB/T4730.3-2005的要求,且其他
33、制造要求應(yīng)符合JB/T10063 和 JB/T7913 的規(guī)定。4.4.3現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)時(shí),允許采用其它形式的等校對(duì)比試塊,其反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合 JB/T4730.3-2005 的規(guī)定。5. 檢測(cè)的一般方法5.1檢測(cè)準(zhǔn)備5.1.1承壓設(shè)備超聲檢測(cè)的檢測(cè)時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定5.1.2所確定檢測(cè)面應(yīng)保證檢查到工件被檢部分的整個(gè)體積。對(duì)于鋼板和鍛件應(yīng)檢查道整 個(gè)工件;而對(duì)熔接焊則應(yīng)檢查到整條焊縫。5.1.3檢查面應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格,所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物者應(yīng)予以清除,其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。5.2檢測(cè)覆蓋率 檢測(cè)時(shí),探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于
34、探頭直徑的15%。5.3探頭的移動(dòng)速度探頭的掃查速度不應(yīng)超過(guò)去150mm/S當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí),不受此限。5.4掃查靈敏度掃查靈敏度至少比基準(zhǔn)靈敏度高 6dB。5.5耦合劑專業(yè)知識(shí)整理分享WORD格式可編輯采用機(jī)油、漿糊和水等透聲性好,且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑。6. 校準(zhǔn)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行,校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的軸線,以獲取穩(wěn)定 和最大的反射信號(hào)。6.1儀器校準(zhǔn)在儀器開(kāi)始使用前,應(yīng)對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行測(cè)定,在使用過(guò)程中,每隔三 個(gè)月至少應(yīng)對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定,測(cè)定方法按JB/T10061的規(guī)定。6.2探頭校準(zhǔn)新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、
35、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的 測(cè)定。測(cè)定方法按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行,并滿足其要求。6.3儀器和探頭系統(tǒng)的測(cè)定和復(fù)核6.3.1檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)的測(cè)定a)使用儀器-斜探頭系統(tǒng),檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、K值、主聲束偏離,調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。b)使用儀器-直探頭系統(tǒng),檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力,調(diào)節(jié)或復(fù) 核掃描量程和掃查靈敏度。6.3.2檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核遇到下列情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核:a)校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí);b)檢測(cè)人員懷疑掃描量程和掃查靈敏度有變化時(shí);c)連續(xù)工作4h以上時(shí);d)工作結(jié)束時(shí)。6.3.3 檢測(cè)
36、結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核a)應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線讀數(shù)的10%,則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整,并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。b)應(yīng)對(duì)掃描靈敏度進(jìn)行復(fù)核。校核點(diǎn)不應(yīng)小于3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)下降2dB,則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢;如上升2dB,則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn) 行重新評(píng)定。7. 承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測(cè)7.1本條適用于板厚6mm-250m的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)和質(zhì) 量分級(jí)。奧氏體鋼板、鎳及鎳合金板以及雙向不銹鋼板的超聲檢測(cè)也可參照本條執(zhí)行。7.2探頭選用探頭選用應(yīng)按表1的規(guī)定執(zhí)行。表1探頭選用專業(yè)知識(shí)整理分享板
37、厚mm采用探頭公稱頻率MH晶片尺寸620雙晶直探頭5晶片面積不小于150mm2040單晶直探頭5 14 mmQ 20 mm40250單晶直探頭2.5 20 mmQ 25 mm7.3 標(biāo)準(zhǔn)試塊731 用雙晶直探頭檢測(cè)壁厚小于或等于20mm勺鋼板時(shí),采用JB/T4730 3-2005圖1所示的CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊。7.3.2 用單直探頭檢測(cè)板厚大于 20mm的鋼板時(shí),采用表2及JB/T4730.3-2005圖2CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊的規(guī)定,試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。7.4檢測(cè)靈敏度7.4.1板厚小于或等于20mm寸,用CBI試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度 的50%,再提高10dB作為檢測(cè)靈敏
38、度。7.4.2 板厚大于20mm寸,應(yīng)將CBU試塊5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的 50 %作 為檢測(cè)靈敏度。表2 CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊試塊編號(hào)被檢鋼板厚度檢測(cè)面到平底孔的距離s試塊厚度TCBII-1> 20 4015> 20CBII-2> 40 6030> 40CBII-3> 6010050> 65CBII-4>10016090> 110CBII-5>160200140> 170CBII-6>200250190> 2207.4.3 板厚不小于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí),也可取鋼板無(wú)缺陷完好部位的第一次底波來(lái)校準(zhǔn)靈敏度,其結(jié)果應(yīng)與
39、7.4.2的要求相一致.7.5檢測(cè)方法7.5.1檢測(cè)面可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測(cè),若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上要求時(shí),也可選鋼 專業(yè)知識(shí)整理分享板的上下兩軋制平面分別進(jìn)行檢測(cè).7.5.2 掃查方式圖1圖1探頭掃查示意圖a探頭沿垂直鋼板壓延方向,間距為100mm的平行線進(jìn)行掃查.在鋼板坡口預(yù)定線兩側(cè)各 50mn內(nèi)應(yīng)作100%掃查,掃查示意圖如圖1.b根據(jù)合同.技術(shù)協(xié)議或圖樣的要求,也可進(jìn)行其它形式的掃查.7.6缺陷的測(cè)定與記錄7.6.1在檢測(cè)過(guò)程中,發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一者即作為缺陷:a缺陷第一次反射波(F1)波高大于或等于滿刻度的50% ,即F1>50%者.b當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1)波
40、高未達(dá)到滿刻度,此時(shí),缺陷第一次反射波(F1)波高與底面 第一次反射波(B1)波高之比大于或等于50% ,即(B1) V 100% ,而F1/B1 >50%者.c當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1)波高低于滿刻度的50% ,即(B1) V 50%者.7.6.2缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法a檢出缺陷后,應(yīng)在它的周圍繼續(xù)檢測(cè),以確定缺陷的范圍.b用雙晶直探頭確定缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí),探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直, 并使缺陷波下降到檢測(cè)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷的第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為 50 % .此時(shí),探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度,探頭中心點(diǎn)即 為缺
41、陷的邊界點(diǎn).兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn).c用單直探頭確定缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí),移動(dòng)探頭,使缺陷波第一次反射波高下降到 檢測(cè)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25 %或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比 為50% .此時(shí),探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度,探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn).兩種方法 測(cè)得的結(jié)果比較嚴(yán)重者為準(zhǔn).d確定7.6.1c條缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí),移動(dòng)探頭,使底面第一次反射波升高到熒光屏 滿刻度的50% .此時(shí),探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度,探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn).e當(dāng)采用第二次缺陷波和第二次底波來(lái)評(píng)定缺陷時(shí),檢測(cè)靈敏度以相應(yīng)底第二次反射波來(lái) 校準(zhǔn).7.7缺陷的
42、評(píng)定方法7.7.1缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定規(guī)則單個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度為該缺陷的指示長(zhǎng)度.若單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度小于40mm專業(yè)知識(shí)整理分享WORD格式可編輯時(shí),可不做記錄。7.7.2單個(gè)缺陷面積的評(píng)定規(guī)則a一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積.指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見(jiàn)表 3b多個(gè)缺陷按其相鄰間距小于100mn或間距小于相鄰校缺陷的指示長(zhǎng)度(取其校大值)時(shí), 其各塊缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積.7.7.3缺陷面積占有率的評(píng)定規(guī)則在任一imx 1m檢測(cè)面積內(nèi),按缺陷面積所占的百分比來(lái)確定.如鋼板面積小于1mx 1mm可按比例折算.7.8鋼板缺陷等級(jí)評(píng)定7.8.1鋼板缺陷等級(jí)劃分見(jiàn)表37.8
43、.2在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm板厚大于100mm寸,以板厚的一半為準(zhǔn))內(nèi),缺陷的指示長(zhǎng)度 大于或等于50mm寸,則應(yīng)判廢,不作評(píng)級(jí).7.8.3在檢測(cè)過(guò)程中,檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn).裂紋等危害性缺席那存在時(shí),則應(yīng)判廢, 不作評(píng)級(jí).8. 承壓設(shè)備鍛件超聲檢測(cè)8.1檢測(cè)范圍和一般要求 本條適用于承壓設(shè)備用碳素鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)和缺陷等級(jí)評(píng)定.本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料的超聲檢測(cè),也不適用于內(nèi)外半徑之比小于80 %的環(huán)形和筒型鍛件的周向橫波檢測(cè).表3鋼板質(zhì)量分級(jí)等級(jí)單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度單個(gè)缺陷指示面積cm在任一 1mx 1m檢測(cè)面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比以下單個(gè)缺陷指示面積不計(jì)cmIv 8
44、0v 25< 3v 9nv 100v 50< 5v 15出v 120v 100< 10v 25IVv 150v 100< 10v 25V超過(guò)V級(jí)者8.2試塊應(yīng)符合4.4條的規(guī)定8.2.1縱波直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用 CSI,其形狀和尺寸按表4和JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)圖4 的規(guī)定。表4 CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸mm試塊序號(hào)CSI -1CSI -2CSI -3CSI -4L50100150200D50608080822縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊a工件檢測(cè)距離小于45mm寸,應(yīng)采用CSU標(biāo)準(zhǔn)試塊。b CSH標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸按表 5和JB/4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。8
45、.2.3檢測(cè)面是曲面時(shí),應(yīng)采用 CSIH試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同引起的聲能損失,其形狀和尺寸按JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)圖6所示。8.3檢測(cè)時(shí)機(jī)原則上應(yīng)安排在熱處理后,槽、孔、臺(tái)階加工前進(jìn)行,檢測(cè)面的表面粗糙讀RsK6.3卩m.8.4檢測(cè)方法鍛件一般應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè),筒形鍛件還應(yīng)進(jìn)行橫波檢測(cè),但掃查部位和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)由供需 雙方商定。8.4.1橫波檢測(cè)鋼鍛件橫波檢測(cè)應(yīng)按JB/T4730.3-2005附錄C的要求進(jìn)行。表5 CS U標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸試塊序號(hào)孔徑檢測(cè)距離L123456789csn -10 251015202530354045csn -2© 3csn -30 4csn -4&
46、#169; 68.4.2縱波檢測(cè)a)原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行檢測(cè),盡可能地檢測(cè)到鍛件地全體積。主要檢測(cè) 方向如JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)圖7所示,其它形狀的鍛件也可參照?qǐng)?zhí)行。b)鍛件厚度超過(guò)400mm時(shí),應(yīng)從相對(duì)兩端面進(jìn)行100%的掃查.8.5靈敏度地確定8.5.1縱波直探頭檢測(cè)靈敏度地確定當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的 3倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度,且探測(cè)面與底面平行時(shí),原則上可采 用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度,對(duì)由于幾何形狀所限,不能獲得底波或壁厚小于探頭的3倍專業(yè)知識(shí)整理分享WORD格式可編輯近場(chǎng)區(qū)時(shí),可直接采用CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊來(lái)確定基準(zhǔn)靈敏度。8.5.2縱波雙晶直探頭檢測(cè)靈敏度的確定使
47、用CSH ,試塊,依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的©3mm平底孔(至少三個(gè))。調(diào)節(jié)衰減器,作出雙晶直探頭的距離一波幅曲線,并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。8.5.3掃查靈敏度一般不得低于最大檢測(cè)距離處的©2mm平底孔當(dāng)量直徑。8.6工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定8.6.1在工件無(wú)缺陷完好區(qū)域,選取三處檢測(cè)面與底面平行且有代表性部位,調(diào)節(jié)儀器使 第一次底面回波幅度(B或B)為滿刻度的50%,記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù),再調(diào)衰減器,使 第二次底面回波幅度(B2或B)為滿刻度的50%,兩次衰減器讀數(shù)之差即為(B1.B2)或(Bn.B) 的dB差值(不考慮底面反射損失。8.6.2衰減系數(shù)(Tv 3N,且滿足n&
48、gt;3N/T,m=2n=按式(1)計(jì)算:a= (B n-Bj-6 /2(m-n)T (1)式中:a-衰減系數(shù),dB/m (單程)(Bn-Bd-兩次衰減器的讀數(shù)之差,dB:T工件檢測(cè)厚度,mmN單直探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度,mmM,n底波反射次數(shù).8.6.3衰減系數(shù)(T> 3N)按式(2)計(jì)算a=(B1-B2)-6/2T 式中:(B1-B2) 兩次衰減器的讀數(shù)之差,dB:其余符號(hào)意義同式(1)。8.6.4工件上三處衰減系數(shù)的平均值即為該工件的衰減系數(shù)。8.7缺陷當(dāng)量的確定8.7.1被檢缺陷空的深度大于或等于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí),采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。對(duì)于3倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷,可采用單直探
49、頭或雙晶直探頭的距離一波幅曲線來(lái)確定 缺陷當(dāng)量。也可采用其它等效方法來(lái)確定。8.7.2計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí),當(dāng)材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò) 4dB/m,應(yīng)考慮修正。8.8缺陷記錄8.8.1記錄當(dāng)量直徑超過(guò)© 4mm的單個(gè)缺陷的波幅和位置。8.8.2密集區(qū)缺陷:記錄密集區(qū)缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和分布。餅形鍛件應(yīng)記錄大于或等于© 4mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū),其它鍛件應(yīng)記錄大于或等于© 3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集 區(qū),缺陷密集區(qū)面積以50mM 50mm的方塊作為最小量度單位,其邊界可由 6dB法決定,應(yīng)按 表7要求記錄底波降低量。8.9缺陷等級(jí)評(píng)定8.9.1單個(gè)缺陷的等級(jí)評(píng)定見(jiàn)表6專業(yè)知
50、識(shí)整理分享WORD格式可編輯8.9.2底波降低量的等級(jí)評(píng)定見(jiàn)表 78.9.3密集區(qū)缺陷等級(jí)評(píng)定見(jiàn)表88.9.4表6表7和表8的等級(jí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用8.9.5如果工件的材質(zhì)衰減對(duì)檢測(cè)效果有較大的影響,應(yīng)重新進(jìn)行熱處理8.9.6如果被檢測(cè)人員判定為危害性缺陷時(shí),鍛件的質(zhì)量等級(jí)為V級(jí).8.9.7鍛件修補(bǔ)后,應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)的要求進(jìn)行檢測(cè)評(píng)定。9. 鋼制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)9.1檢測(cè)范圍和一般要求本條適用于母材厚度為8-400mm全熔化焊對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè),承壓設(shè)備有關(guān)的支撐件 和結(jié)構(gòu)件以及螺旋焊接接頭的超聲檢測(cè)也可按本條的規(guī)定進(jìn)行。本條不適用于鑄鋼及奧氏體 鋼對(duì)接焊接接頭,外
51、徑小于159mm勺鋼管環(huán)向?qū)雍附咏宇^,內(nèi)徑小于或等于200mm勺管座角焊縫,也不適用于外徑小于250mn或內(nèi)外徑之比小于80%的縱向?qū)雍附咏宇^的超聲檢測(cè)。表6單個(gè)缺陷的等級(jí)評(píng)定mm等級(jí)In出IVV缺陷當(dāng)量直徑40 4+(> 08dB)0 4+ (> 812dB)0 4+ (1216 dB )>0 4+16dB表7由缺陷引起底波降低量的等級(jí)評(píng)定dB等級(jí)In出VV底波降低量BG/BF< 8> 8 14> 14 20> 20 26> 26注:本表僅使用與聲程大于一倍近場(chǎng)區(qū)的缺陷表8密集區(qū)缺陷的等級(jí)評(píng)定等級(jí)In出VV密集區(qū)缺陷占檢測(cè)總面積的百分比0&
52、gt; 0-5> 5-10> 10-20> 209.2試塊9.2.1試塊制作應(yīng)符合4.144條的規(guī)定9.2.2采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-I A.CSK-川A.其形狀和尺寸應(yīng)分別符合 JB/T4730.3-2005標(biāo)圖14和圖16的規(guī)定.9.2.3 CSK- I A.和CSK-IH A試塊適用壁厚范圍為6-120mm焊接接頭,在滿足靈敏度要求時(shí),也 可采用其它形式的等效試塊924檢測(cè)曲面工件時(shí),如檢測(cè)面曲率半徑R小于等于W/4時(shí)(W為探頭接觸面寬度,環(huán)縫檢測(cè) 時(shí)為探頭寬度,縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度),應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同的對(duì)比試塊,反射孔的位置 可參照標(biāo)準(zhǔn)試塊確定.試塊寬度b 一般
53、應(yīng)滿足:b>2 入 S/D。 ( 3)式中:b試塊寬度,mm;入超聲波波長(zhǎng),mm; S 聲程,mm;D0 聲源有效直徑,mm;9.3檢測(cè)準(zhǔn)備9.3.1檢測(cè)面a)檢測(cè)區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身,再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域,這個(gè)區(qū)域最小為5mm最大為10mm.b)探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺.鐵屑.油垢及其它雜質(zhì).檢測(cè)表面應(yīng)平整光滑,便于探頭的自 由掃查,其表面粗糙度Raw 6.3卩m,一般應(yīng)進(jìn)行打磨.(1)采用一次反射法檢測(cè)時(shí),探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)不小于1.25P: 式中:P=2KT 或 P=2Ttan BP-跨距,mmT-母材厚度,mmK-探頭K值B探頭折射角(°)(2)采
54、用直射法檢測(cè)時(shí),探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)不小于0.75P.c)去除余高的焊縫,應(yīng)將余高打磨到與相鄰母材平齊,保留余高的焊縫,如果焊縫表面有咬邊. 較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?,并作圓滑過(guò)渡,以免影響檢驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定.9.3.2探頭K值斜探頭的K值選取可參照表9的規(guī)定,條件允許時(shí),應(yīng)盡量采用較大K值探頭.表9 推薦應(yīng)用的斜探頭K值板厚T, mmK值6253.0 2.0 (7260 )> 25 462.5 1.5 (6856 )>461202.5 1.0 (6045 )>1204002.0 1.0(60 45 )9.3.3母材的檢驗(yàn)對(duì)于C級(jí)檢測(cè),斜探頭掃查聲束通過(guò)的母材區(qū)域,應(yīng)先用直探頭檢測(cè),以便檢測(cè)是否有影響斜專業(yè)知識(shí)整理分享WORD格式可編輯探檢測(cè)結(jié)果的分層或其它種類缺陷存在,該項(xiàng)檢測(cè)僅作記錄,不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測(cè)母材檢測(cè)的規(guī)程要點(diǎn)如下:a)檢測(cè)方法:接觸式脈沖反射法,采用頻率2-5MHZ的直探頭,晶片直徑10-25mm:b)檢測(cè)靈敏度:將無(wú)缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100% :c)凡缺陷信號(hào)幅度超過(guò)熒光屏滿刻度20 %的部位,應(yīng)再工件表面作出標(biāo)記,并予以記
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