無(wú)損檢測(cè)超聲波二、三考試復(fù)習(xí)題庫(kù)_第1頁(yè)
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1、無(wú)損檢測(cè)超聲波二、三考試復(fù)習(xí)題庫(kù)無(wú)損檢測(cè)超聲波二、三級(jí)考試復(fù) 習(xí) 題 庫(kù)1、超聲波是一種機(jī)械震動(dòng)波,描述機(jī)械震動(dòng)波的特征量是(e)a.頻率;b.周期;c.波速;d.波長(zhǎng);e.以上都是2反映超聲波特征的重要物理量是(d)a.聲壓;b.聲強(qiáng);c.聲阻抗;d.以上都是3、波動(dòng)的形式(波形)可以分為(e)a.聲壓;b.聲強(qiáng);c.聲阻抗;d.以上都是4、聲波在無(wú)限大且各向同性的介質(zhì)中傳播時(shí),同一時(shí)刻介質(zhì)中振動(dòng)相位相同的所有質(zhì)點(diǎn)所聯(lián)成的面稱(chēng)為(a)。a.波振面;b.波前;c.波線(xiàn);d.以上都不是5、聲波在無(wú)限大且各向同性的介質(zhì)中傳播時(shí),某一時(shí)刻振動(dòng)所傳到的距離最遠(yuǎn)的各點(diǎn)所聯(lián)成的面稱(chēng)為(b)a.波陣面;b.

2、波前;c.波線(xiàn);d.以上都不是6、兩列振幅相同的相干波在同一直線(xiàn)上沿相反方向彼此相同傳播時(shí)會(huì)產(chǎn)生(c)現(xiàn)象a.疊加;b.干涉;c. 駐波;d.以上都不是7、產(chǎn)生明顯駐波的條件是(d)a. 介質(zhì)厚度有限;b. 介質(zhì)厚度等于半波長(zhǎng);c. 介質(zhì)厚度為半波長(zhǎng)的整數(shù)倍;d.以上都是8、單位時(shí)間內(nèi)通過(guò)超聲波傳播方向垂直截面單位面積上,并且與聲壓的振幅平方成正比的聲能稱(chēng)為(b)a. 聲壓;b.聲強(qiáng);c.聲強(qiáng);d.聲能9、在有聲波傳播的介質(zhì)中,某一點(diǎn)在某一瞬間所具有的壓強(qiáng)與沒(méi)有聲波存在時(shí)該點(diǎn)的靜壓強(qiáng)之差稱(chēng)為(a)。a. 聲壓;b.聲強(qiáng);c.聲強(qiáng);d.聲能10、聲壓P與聲強(qiáng)I的關(guān)系式是(c)a.I=P/2Z;b

3、. I=P2/Z2;c. I=P2/2Z;d. I=P2/4Z(式中Z為傳聲介質(zhì)的聲阻抗)11、聲壓P、介質(zhì)、聲速C、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度V之間的關(guān)系是(d)a. P=2CV;b. P=C2V;c. P=2CV2;d. P=CV12、振動(dòng)質(zhì)點(diǎn)在到達(dá)振幅最大(最大位移)的位置時(shí)速度為(C)a.極大;b.極小;c. 零;d. 以上都不是13、質(zhì)點(diǎn)作簡(jiǎn)諧振動(dòng)時(shí),其加速度方向總是指向(b)a.最大位移方向;b.平衡點(diǎn)位置;c.與運(yùn)動(dòng)方向相同14、質(zhì)點(diǎn)作簡(jiǎn)諧振動(dòng)時(shí),其加速度的大小與振動(dòng)的位移(a)a.成正比;b.成反比;c.無(wú)關(guān);d.以上都不是15、超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),任一點(diǎn)的聲壓和該點(diǎn)振動(dòng)速度之比稱(chēng)為(a)

4、a.聲阻抗;b. 介質(zhì)密度;c.聲速;d.聲壓16、超聲波在兩種不同介質(zhì)界面上發(fā)生反射時(shí),同一波型的超聲波反射角(a)a.等于入射角;b.等于折射角;c.與使用的耦合劑有關(guān);d.與使用頻率有關(guān)17、超聲波的反射特征性取決于(C)a.輻射功率;b.透過(guò)率;c.界面兩側(cè)的聲阻抗差異;d.界面兩側(cè)的聲速差異18、下面有關(guān)61反射波的說(shuō)法,那一點(diǎn)是錯(cuò)誤的(c)a.產(chǎn)生61反射時(shí),縱波入射角與橫波反射角之和為90b.產(chǎn)生61反射時(shí),縱波入射角為61,橫波反射角為29c.產(chǎn)生61反射時(shí),聲波入射角為29,縱波反射角為61d.產(chǎn)生61反射時(shí),其聲程是恒定的19、在橫波檢測(cè)中避免使用折射角30和60檢測(cè)垂直于

5、探測(cè)面的裂紋是因?yàn)榭赡艽嬖冢╝)a.端角反射低谷;b.過(guò)強(qiáng)的端角反射;c.不需要考慮20、聲程大于3N時(shí),聲程增加一倍,大平底的反射聲壓為原來(lái)的(a)a.1/2倍;b.1/4倍;c.1/2.8倍;d.1/4倍21、同聲程的理想大平面與平底孔回波聲壓的比值隨頻率的提高而(b)a.不變;b.降低;c.升高22、對(duì)空心圓柱體用垂直入射縱波在外圓周?chē)咸絺麜r(shí),曲底面回波聲壓比同聲程大平面(a)a.高;b.低;c.相同23、超聲波在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)探測(cè)兩個(gè)直徑相同、聲程相差一倍的長(zhǎng)橫孔,在不計(jì)材質(zhì)衰減的情況下,兩個(gè)長(zhǎng)橫孔的回波聲壓差為(b)a.6db;b.9db;c.12db;d. 以上都不是24、在X3N的距離

6、上,聲程相同時(shí),若孔徑差1倍,平底孔回波高差(d)DBa.3;b.6;c.9;d.1225、在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),同直徑的平底孔,聲程從100mm增加到300mm,若不計(jì)材質(zhì)衰減,則聲壓減?。╟)a.6db;b.12db;c.19db;d.24db26、超聲波在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)探測(cè)兩個(gè)直徑相同的平底孔,一個(gè)聲程為200mm,另一個(gè)為300mm,在不計(jì)材質(zhì)衰減的情況下,兩個(gè)平底孔的回波聲壓差為(a)a.7db;b.12db;c.24db;d. 以上都不是27、兩個(gè)不同聲強(qiáng)間的分貝差表示為(a)a.db=20lg(I1/I2);b. db=10lig(I1/I2);c. db=20lg(I2/I1)28、超聲波從一種介

7、質(zhì)進(jìn)入另一種不同介質(zhì)而改變傳播方向的現(xiàn)場(chǎng)叫做(c)a.散熱;b.繞射;c.折射;d.反射;e. 衍射29、超聲波傾斜入射至兩種不同介質(zhì)界面時(shí),其傳播方向的改變主要取決于(b)a.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗;b.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速c.界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù);d.以上全部30、超聲波通過(guò)兩種材料的界面時(shí),如果第一介質(zhì)的聲阻抗比較大,但聲速與第二介質(zhì)相同,則折射角(c)a.大于入射角;b.小于入射角;c.與入射角相同;d.在臨界角之外31、超聲波傾斜通過(guò)兩種材料的界面時(shí),如果兩種材料聲阻抗相同,但是第一種材料的聲速小于第二材料的聲速(相同波型),則該波型在第二種材料中的折射角(a)a.大于入射角;b.小于

8、入射角;c.等于入射角相同;d.等于臨界角32、超聲波從一種介質(zhì)進(jìn)入另一介質(zhì)后,其聲束軸線(xiàn)與界面法線(xiàn)所成的夾角稱(chēng)為(b)a.入射角;b.折射角;c.擴(kuò)散角;d.反射角33、兩種材料的聲波速度之比叫做(d)a.界面聲阻抗;b.楊氏模具;c.泊松比;d.折射率34、超聲波從水中以5角入射到鋼內(nèi),此時(shí)的橫波折射角(a)a.小于縱波折射角;b.等于縱波折射角;c.大于縱波折射角;d.為零35、要使鋼中折射橫波的折射角是60,縱波在水中的入射角應(yīng)約為(b)a.36;b.24;c.30;d.4536、所謂第一臨界角是指(a)a.入射縱波軸線(xiàn)與通過(guò)入射點(diǎn)法線(xiàn)的夾角;b.入射橫波軸線(xiàn)與通過(guò)入射點(diǎn)法線(xiàn)的夾角;c

9、.傾斜晶片與探測(cè)面的夾角;d.入射波軸線(xiàn)與界面的夾角37、有機(jī)玻璃(CL=2700m/s)/鋼(CL=5850m/s)界面情況下 第一臨界角是(a)a.27.5;b.45;c.50;d.不成立38、水(CL=1500m/s)/鋼(CL=5900m/s)界面情況下 第一臨界角是(a)a.14.7;b.17;c.20;d.不成立39、在異質(zhì)界面上斜入射縱波,如果入射角到達(dá)第二臨角,降會(huì)發(fā)生(c)a.表面波全反射;b.橫波45;c.表面波;d.以上都不對(duì)40、在兩種不同介質(zhì)的界面上垂直入射時(shí)的聲壓透射率等于(b)a.(Z2-Z1)/(Z2+Z1);b. 2Z2/(Z2+Z1);c. (Z2-Z1)2

10、/(Z2+Z1)2;;d.4Z1 Z2/ Z2+Z1)241、在兩種不同介質(zhì)的界面上垂直入射時(shí)的聲強(qiáng)透射率等于(d)a.(Z2-Z1)/(Z2+Z1);b. 2Z2/(Z2+Z1);c. (Z2-Z1)2/(Z2+Z1)2;d.4Z1 Z2/ Z2+Z1)242、在兩種不同介質(zhì)的界面上垂直入射時(shí)的聲壓往復(fù)透過(guò)率等于(d)(Z2-Z1)/(Z2+Z1);b. 2Z2/(Z2+Z1);c. (Z2-Z1)2/(Z2+Z1)2;d.4Z1 Z2/ Z2+Z1)243、在兩種不同材料的界面上,聲阻抗差異的存在會(huì)使得(c)a.超聲波無(wú)法透過(guò);b.聲波被吸收;c.聲波分為透過(guò)波和反射波兩部分;d.以上都不

11、是44、決定超聲波在界面上的反射與透射能力是(c)a.聲衰減;b.聲速;c.聲阻抗比;d.升頻率超聲波垂直入射到兩種不同介質(zhì)界面時(shí)可能發(fā)生(a)a.反射;b.折射;c.波型轉(zhuǎn)換;d.以上都可能36、超聲波斜入射至異界面上時(shí),有可能發(fā)生的現(xiàn)象是(d)a.波型轉(zhuǎn)換;b.折射;c.反射;d.以上都是37、超聲波在傳聲介質(zhì)中的擴(kuò)撒衰減主要決于(a)a.波陣面的幾何形狀;b.材料的晶粒度;c.材料的粘滯性;d. d.以上都是38、下面的衰減類(lèi)型中不屬于材料特征的是(a)a.擴(kuò)散衰減;b.吸收衰減;c.散射衰減;d. 以上都是39、熱傳導(dǎo)、粘滯摩擦、彈性滯后和散射是引起那種現(xiàn)象的四種不同的機(jī)理?(a)a.

12、衰減;b. 衍射;c.聲束發(fā)散;d. 以上都不是40、脈沖反射式超聲波探傷儀中,產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做(c)a.發(fā)射電路;b.掃描電路;c.同步電路;d.標(biāo)距電路41、超聲波檢測(cè)儀在單位時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生的脈沖數(shù)量叫做(d)a.脈沖距離;b.脈沖恢復(fù)時(shí)間;c.超聲波頻率;d.脈沖的重復(fù)頻率42、超聲波探傷儀中,產(chǎn)生高壓電脈沖以激發(fā)探頭工作的電路單元稱(chēng)為(c)a.放大器;b.接收器;c. 脈沖發(fā)生器;d.同步器43、超聲波探傷儀發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間叫做(a)a.脈沖長(zhǎng)度或脈沖寬度;b.脈沖振幅;c.脈沖形狀;d.以上都不是44、對(duì)于超聲波檢測(cè)儀的發(fā)射電路而言,如果脈沖重復(fù)頻率太高,容易導(dǎo)致(d)a.發(fā)

13、射脈沖幅度減??;b.發(fā)射功率下降;c.檢測(cè)臨敏度降低;d.以上都對(duì)45、在脈沖反射式超聲波探傷儀示波管上產(chǎn)生用于表征距離的可見(jiàn)信號(hào)的單元叫做(a)a. 掃描電路;b. 標(biāo)距電路;c. 接收電路;d.同步電路46、一臺(tái)新出廠(chǎng)的超聲波探傷儀,其水平線(xiàn)性誤差應(yīng)為(d)a.6分貝;b.1%;c.6分貝;d.1%47、發(fā)射脈沖波進(jìn)入接收電路導(dǎo)致放大器的放大倍數(shù)降低甚至沒(méi)有放大作用的現(xiàn)象稱(chēng)為(a)a.阻塞;b.脈沖后沿下降時(shí)間;c.脈沖上升時(shí)間;d.以上都不對(duì)48、一臺(tái)放大線(xiàn)性好的儀器,在熒光屏上波幅從80%處降至5%時(shí),應(yīng)衰減(d)a.12DB;b.18DB;c.32DB;d.24DB49、一臺(tái)經(jīng)校準(zhǔn)好

14、的超聲波探傷儀,其放大線(xiàn)性誤差應(yīng)為(b)a.5%;b5%;c. 20分貝;d. 6分貝50、A型脈沖反射式超聲波探傷儀上的“揚(yáng)制”旋鈕打開(kāi)對(duì)下述那個(gè)性能有影響?(a)a.垂直線(xiàn)性;b水平線(xiàn)性;c.脈沖重復(fù)頻率;d.延遲51、在A型脈沖反射式超聲波探傷儀上,“抑制”旋鈕的功能是(b)a.只仰制雜波而對(duì)缺陷波無(wú)影響;b.限制檢波后的信號(hào)輸出幅度,同時(shí)仰制雜波和缺陷波;c.可以改善儀器的垂直線(xiàn)性;d.可以提高儀器的動(dòng)態(tài)范圍52、調(diào)節(jié)A型脈沖反射式超聲波探傷儀上的“抑制”旋鈕會(huì)影響儀器的(d)a.水平線(xiàn)性;b.垂直線(xiàn)性;c.動(dòng)態(tài)范圍;d.b和c53、采用A顯示的儀器進(jìn)行超聲波檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)是(a)a.檢測(cè)

15、效率高;b.幾乎適用于所有材料;c.缺陷顯示直觀;d.容易判斷缺陷的性質(zhì)54、在超聲波檢測(cè)儀器中,利用水平刻度顯示缺陷位置,垂直刻度顯示缺陷回波幅度的顯示方法稱(chēng)為(a)a.A顯示;b. B顯示;c.C顯示;d.三維顯示55、一種超聲波探傷儀可直觀顯示被檢工件在入射截面上的缺陷分布和缺陷深度,這種儀器顯示是(b)a.A掃描顯示;b. B掃描顯示;c.C掃描顯示;d.以上都不是56、一種超聲波探傷儀可直觀顯示出被檢工件在探測(cè)面上投影的缺陷位置和缺陷面積,這種儀器顯示是(c)a.A掃描顯示;b. B掃描顯示;c.C掃描顯示;d.以上都不是57、在下述測(cè)試項(xiàng)目中,與評(píng)價(jià)超聲波檢測(cè)儀主要性能有關(guān)的是(a

16、)a.分辨率;b.指向性和近場(chǎng)長(zhǎng)度;c.折射角和入射角;d.指示長(zhǎng)度58、下面那一組性能是超聲波探傷儀最重要的性能?(c)a.垂直線(xiàn)性、分辨率、示波管屏幕尺寸;b. 垂直線(xiàn)性、分辨率、盲區(qū)c.垂直線(xiàn)性、時(shí)間軸線(xiàn)性、分辨率;d.發(fā)射功率、耗電率、重量59、可用來(lái)表示超聲波檢測(cè)儀與探頭組合性能的指標(biāo)是(c)a.水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性、動(dòng)態(tài)范圍;b.頻帶寬度、探測(cè)寬度、重復(fù)頻率;c.靈敏度余量、盲區(qū)、分辨率;d.入射點(diǎn)、進(jìn)場(chǎng)長(zhǎng)度、擴(kuò)散角60、超聲波檢測(cè)儀的分辨率主要與(b)有關(guān)。a.掃描電路;b.頻帶寬度;c.動(dòng)態(tài)范圍;d.放大倍數(shù)61、評(píng)價(jià)超聲波探傷儀在規(guī)定靈敏度下發(fā)現(xiàn)并顯示最小缺陷能力的指標(biāo)是(d)

17、a.分辨率;b.時(shí)基線(xiàn)性;c. c.垂直線(xiàn)性;d. 動(dòng)態(tài)范圍62、目前工業(yè)常用的超聲波測(cè)厚儀利用的是(b)a.連續(xù)波穿透法;b.脈沖波反射法;c.連續(xù)波共振法;d剪切波諧振法63、超聲波探頭的頻率與壓電晶片厚度有關(guān),晶片越薄則(b)a.頻率越低;b.頻率越高;c.頻率不變;d.以上都不對(duì)64、軟保護(hù)膜探頭使用于(c)的工件表面。a.光結(jié)表面;b. 粗糙表面;c.a和b;d.視具體情況,有時(shí)a有時(shí)b65、對(duì)于單晶斜探頭,在使用中經(jīng)常要校驗(yàn)的參數(shù)是(d)a.入射點(diǎn)或探頭前沿;b.折射角;c.聲軸線(xiàn)偏移或偏斜;d.以上都是66、組合雙晶直探頭的壓電晶片前裝有(c)a.阻尼塊;b.匹配線(xiàn)圈;c.延遲塊

18、;d.保護(hù)膜67、下面有關(guān)探頭尺寸選擇的敘述,正確的是(e)a.壓電晶片的尺寸大,則輻射功率大,可檢測(cè)距離大,指向性好,檢測(cè)效率較高;b. 壓電晶片的尺寸大,則近場(chǎng)長(zhǎng)度大,始波占寬較大,近表面分辨率降低,雜波多,信噪比低,遠(yuǎn)場(chǎng)分辨率降低;c. 壓電晶片尺寸小,則近場(chǎng)長(zhǎng)度短,始波占寬小,近表面分辨率高,雜波少,信噪比高,遠(yuǎn)場(chǎng)分辨率好;d. 壓電晶片尺寸小,則輻射功率小,可檢測(cè)距離小,指向性差,檢測(cè)效率低;e.以上都對(duì)67、超聲波聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)是(d)a.提高信噪比;b.改善超聲波束的橫向分辨率;c.提高檢測(cè)靈敏度;d.以上都是68、超聲波探傷試塊的作用是(e)a.檢驗(yàn)儀器和探頭的組合性能;b.確

19、定靈敏度;c.缺陷定位評(píng)定;d.缺陷定量評(píng)定;e.以上都是69、在工業(yè)超聲波檢測(cè)中,與聲束射角度無(wú)關(guān)的參考反射體是(c)a.平底孔;b.V形缺口;c.橫通孔;d.大平底70、在超聲波檢測(cè)中,最適宜以刻槽作為參考反射體探測(cè)(b)a.軋制板材中的分層;b.管材縱向裂紋;c.焊縫中的氣孔;d.鍛件的內(nèi)部夾雜物71、柱孔最常用作(d)檢測(cè)的參考反射體a.蘭姆波;b.縱波;c.橫波;d.除b以外72、長(zhǎng)橫孔最常用作探測(cè)(a)的參考反射體a.焊縫;b.薄板;c.管材;d.鍛件73、平底孔最常用作探測(cè)(d)的參考反射體a.焊縫;b.薄板;c.管材;d.鍛鑄件74、用一臺(tái)時(shí)基線(xiàn)已準(zhǔn)確校正的超聲波儀器和斜探頭探

20、測(cè)無(wú)切槽的IIW2試塊,斜探頭聲束朝向R25方向,若令第一次回波位于滿(mǎn)刻度為100的水平刻度25處,則圓弧面的第二次回波應(yīng)出現(xiàn)在水平刻度的(c)a.50;b.75;c.100;d.以上都不對(duì)75、CSK-IB試塊將IIW試塊的50孔改為40、44、50臺(tái)階孔,其目的是方便用于(c)a.測(cè)定斜探頭折射角的正切(K值);b.測(cè)定直探頭盲區(qū)范圍;c.測(cè)定橫波斜探頭的分辨力;d.以上全是76、用一臺(tái)時(shí)基線(xiàn)已準(zhǔn)確校正的超聲波儀器和斜探頭探測(cè)圓心無(wú)切的半圓試塊,第一次回波位于滿(mǎn)刻度為10的水平刻度3處,則圓弧面的第二次回波應(yīng)出現(xiàn)在水平刻度的(d)處。a.5;b.7.5;c.c8;d.977、由一個(gè)探頭發(fā)射

21、超聲波,通過(guò)試件后再由另一個(gè)探頭接收,這種檢驗(yàn)方法稱(chēng)為(c)a.表面波法;b.斜射法;c.穿透法;d.垂直法78、由一個(gè)探頭發(fā)射超聲波,通過(guò)試件后再由另一個(gè)探頭接收,這里檢驗(yàn)?zāi)J椒Q(chēng)為(c)a.瑞利波法;b.斜射法;c.雙探頭法;d.垂直法79、超聲波檢測(cè)中主要考慮的工藝因素是(f)a.工作頻率;b.探頭和儀器參數(shù);c;耦合條件與狀態(tài);d.探測(cè)面;e.材質(zhì)衰減;f.以上都是80、為減少超聲波通過(guò)介質(zhì)時(shí)的衰減和避免林狀回波,宜采用(d)進(jìn)行探傷a.高頻率、橫波;b.較低頻率、橫波;c.高頻率、縱波;d.較低頻率、縱波81、探傷時(shí)采用較高的探測(cè)頻率,可有利于(d)a.發(fā)現(xiàn)較小的缺陷;b.區(qū)分開(kāi)相鄰的

22、缺陷;c.改善聲束指向性;d.以上全部82、選擇超聲波檢測(cè)的工作頻率時(shí),主要考慮什么因素?(f)a.缺陷檢出能力;b.材料衰減;c.指向性;d.分辨率;e.近場(chǎng)長(zhǎng)度;f. 以上都是83、為了在工件中得到純橫波,對(duì)于斜探頭的選擇除了入射角以外應(yīng)考慮(a)a.斜楔材料的縱波聲速小于工件中的橫波聲速84、在下列方法中,適合于粗晶材料檢測(cè)的是(a)a.采用大直徑、低頻率、縱波、窄脈沖探頭檢測(cè)85、在小工件中,聲波到達(dá)底面之前,由于聲束擴(kuò)散,在試件側(cè)面可能產(chǎn)生(c)c.波型轉(zhuǎn)換86、在一定的檢測(cè)靈敏度下,缺陷回波幅度高低取決于(d)a.缺陷尺寸;d.缺陷方位;c.缺陷類(lèi)型;d.以上都是87、凸面缺陷(例

23、如氣孔)會(huì)(a) a.使反射的聲波發(fā)散88、超聲波檢測(cè)分散的氣孔缺陷時(shí),反射波較低,這是因?yàn)椋饪淄ǔJ腔蚪茍A球形,其反射波是反散的)89、在接觸法超聲波縱波垂直入射探傷中,出現(xiàn)底波幅度降低甚至消失的原因可能是(d)a.耦合不良;b.存在與聲束不垂直的缺陷;c.存在被始波遮蔽的近表面缺陷;d以上都是90、在檢驗(yàn)工件時(shí)若無(wú)缺陷顯示,則操作者應(yīng)注意底面回波,若底面回波的高度劇烈下降,引起這種情況的原因可能是(d)a.大而平的缺陷與入射聲束取向不良;b.疏松;c.晶粒粗大;d以上都是91、鍛件中粗大晶粒通常會(huì)引起(d)a.底反射降低或消失;b.較高的“雜波”或噪聲顯示;c.穿透力降低;d. 以上都

24、是92、超聲波檢驗(yàn)中,當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí),宜選用(d)a.較低頻率探頭;b.較粘的耦合劑;c.軟保護(hù)膜探頭;d. 以上都是93、能把兩個(gè)相鄰缺陷回波在屏幕上分辨出來(lái)的能力稱(chēng)為(分辨力)94、在超聲波檢測(cè)中能力分辨出距探測(cè)面最近的缺陷回波的能力稱(chēng)為(近表面分辨率)95、在接觸法超聲波縱波波垂直入射探傷中,之所以存在上盲區(qū)的原因主要是(d)a.近場(chǎng)效應(yīng)影響;b.儀器的阻塞時(shí)間影響;c.探頭的始波占寬度影響;d. 以上都是95、與近表面分辨率的好壞相關(guān)的因素是(e)a.始波占寬;b. 阻塞時(shí)間;c.檢測(cè)靈敏度;d.探測(cè)面的表面粗糙度;e. 以上都是96、與橫向分辨率的好壞相關(guān)的最主要因素是(脈沖寬度

25、)97、在一定頻率下,超聲波檢測(cè)時(shí)的靈敏度越高、發(fā)射功率越強(qiáng),則分辨率(越低)。98、在頻率相同的情況下,下列哪種波型的超聲波在粗晶材料中有較高的穿透力(縱波)99、下列那種方法可增大超聲波在粗晶材料中的穿透力,可以(在細(xì)化晶粒熱處理后進(jìn)行檢驗(yàn))。100、超聲波探傷中,為消除晶片表面和被探傷工件表面之間的空氣間隙而涂敷的物質(zhì)稱(chēng)為(耦合劑)。101、利用甘油做耦合劑的最大優(yōu)點(diǎn)是(透聲效果好)102、由于超聲波檢測(cè)中應(yīng)用的耦合劑其聲阻抗通常遠(yuǎn)低于被檢的聲阻抗,因此在接觸法檢測(cè)中一般都要求耦合劑層的厚度(越薄越好)。103、工業(yè)超聲波檢測(cè)中最主要應(yīng)用的耦合方式是(接觸法、水侵法)104、采用當(dāng)量法確

26、定的缺陷尺寸一般(小于)缺陷的實(shí)際尺寸。105、超聲波檢測(cè)中評(píng)定缺陷大小的“當(dāng)量法”適用于(小于聲束截面的缺陷)。106、在圓周面上弦向入射橫波檢測(cè)時(shí),一旦發(fā)現(xiàn)缺陷,則缺陷距探頭的弧長(zhǎng)距離要比在平面探測(cè)面情況下的水平距離(長(zhǎng))107、在圓周面上弦向入射橫波檢測(cè)時(shí),一旦發(fā)現(xiàn)缺陷,則缺陷距外圓面的埋藏深度要比在平面探測(cè)面情況下的埋藏深度(?。?08、超聲波檢測(cè)作業(yè)中都要求校正時(shí)基掃描線(xiàn)(俗稱(chēng)“定標(biāo)”)這是為了(確定缺陷位置)。109、超聲波檢測(cè)中所謂缺陷的指示長(zhǎng)度,指的是(根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動(dòng)的距離而測(cè)得的結(jié)果)。110、把缺陷最大反射波高低一半用以測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度的方法叫做(半波高度法)1

27、11、把缺陷最大反射波高度降低6DB用以測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度的方法叫做(降6DB法)112、水侵探傷法的優(yōu)點(diǎn)是(d)a.不會(huì)磨損探頭;b.容易調(diào)整聲束入射方向;c.容易實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化探傷;d.以上都是113、下面那種波型可用于浸液法檢測(cè)(縱波)114、鋼件或鋁件水浸探傷時(shí),始脈沖和工件表面反射波之間顯示的水層反射間隔很寬,這是由于(水中聲速比工件聲速低)所致。115、液浸探傷時(shí),采用(適合的水層距離)方法可消除探頭近場(chǎng)在被檢工件中的影響。116、用水浸法縱波垂直入射探測(cè)鋼材,為防止在第一次底波前面出現(xiàn)第二次界面波,當(dāng)水層厚度為25毫米時(shí),能探測(cè)鋼材的最大厚度約為(100mm)。117、適合進(jìn)行蘭姆波檢

28、測(cè)的鋼板要求(厚度與波長(zhǎng)相當(dāng))。118、蘭姆波的群速度隨(頻率與板厚的乘積)而變化。119、在一定材料、板厚、頻率條件下,激發(fā)不同模式的蘭姆波是通過(guò)調(diào)整(縱波入射角)實(shí)現(xiàn)的。120、在蘭姆波法檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng),可采用(液滴阻尼法、指摸法)確定缺陷的所在位置。121、薄板蘭姆波法檢測(cè)時(shí),掃查靈敏度調(diào)整通常利用(柱孔)。122、薄板蘭姆波法檢測(cè)時(shí),波束投射方向應(yīng)(垂直于板材的壓延方向)。123、薄板蘭姆波法檢測(cè)時(shí),掃查面為(單面)。124、表面波探傷時(shí),儀器熒光屏上出現(xiàn)缺陷回波的水平刻度值通常代表(缺陷至探頭水平距離)。125、適合進(jìn)行瑞利波檢測(cè)的工件要求(厚度比波長(zhǎng)大得多)。126、一般來(lái)說(shuō),要檢出焊接

29、板中沿熔化區(qū)取向的缺陷,最佳的超聲波檢測(cè)方法是(用剪切波、斜聲束法)127、焊縫超聲波檢測(cè)最常采用的是(橫波法)128、斜探頭檢測(cè)焊縫時(shí),準(zhǔn)確調(diào)整儀器掃描線(xiàn)線(xiàn)性及比例是為了(識(shí)別焊道回波、缺陷波,判定缺陷位置)。129、用串列探頭對(duì)焊縫進(jìn)行掃查的目的是檢測(cè)(垂直于探測(cè)面的缺陷)130、鋼板對(duì)接焊縫采用一次反射法(一個(gè)跨距)的橫波檢測(cè)時(shí),焊縫一側(cè)的探測(cè)面寬度通常從焊道邊緣起取為(0.75倍跨距)。131、厚鋼板對(duì)接焊縫采用一次波法(半個(gè)跨距)的橫波檢測(cè)時(shí),焊縫一側(cè)的探測(cè)面寬度通常從焊道邊緣起取為(0.75倍跨距)132、用橫波檢測(cè)焊縫時(shí),掃查增益應(yīng)高于初始基靈敏度,而在評(píng)定時(shí)應(yīng)參加什么靈敏度進(jìn)行

30、?(初始基準(zhǔn)靈敏度)133、用橫波檢測(cè)焊縫時(shí),最常用的靈敏度調(diào)節(jié)方式是(距離波幅曲線(xiàn)方式)134、在對(duì)接焊縫的超聲波橫波檢測(cè)中,若探頭的折射角過(guò)度于偏小,可能出現(xiàn)的問(wèn)題是(焊縫中心部位出現(xiàn)掃盲區(qū))。135、熔化焊接時(shí)使用電流過(guò)大而導(dǎo)致熔池溫度過(guò)高,熔化金屬凝固太慢,結(jié)果因其自重影響而下墜,現(xiàn)成正常焊縫截面外多余的附者金屬,稱(chēng)作(焊瘤)。136、兩塊金屬板或管對(duì)接時(shí),由于錯(cuò)位或錯(cuò)邊而導(dǎo)致焊縫截面偏離正常位置,稱(chēng)作(焊偏)。137、一般在焊縫兩側(cè)熔合線(xiàn)上沿焊縫長(zhǎng)度方向形成長(zhǎng)條形的凹陷稱(chēng)作(咬邊)。138、焊縫未被金屬填滿(mǎn),以致焊縫界面高度低于母材金屬截面高度的情況稱(chēng)作(凹陷)。139、鑄件中粗大晶粒通常會(huì)引起(d)a.底波降低或消失;b.較高的雜波水平;c.超聲波的穿透力降

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