實驗指導書-晶體光學與光性礦物學12級

1、晶體光學與光性礦物學實驗指導書晶體光學與光性礦物學實 驗 指 導 書地 質 工 程 學 院2013.9.- 55 -目 錄顯微鏡實驗室學生實驗守則 1顯微鏡實驗室實驗操作規(guī)程 2實驗一 偏光顯微鏡 （2學時）3實驗二 解理、多色性、吸收性的測定 （2學時）8實驗三 突起及閃突起的觀察（2學時）10實驗四 光率體橢圓半徑名稱及干涉色級序的測定（2學時）12實驗五 消光類型、消光角及延性符號的測定（2學時）16實驗六 錐光鏡下干涉圖的觀察與測定（2學時）18實驗七透明礦物（普通角閃石）的系統(tǒng)鑒定 （ 2 學時）20實驗八 常見深色造巖礦物鑒定（2學時）22實驗九 常見淺色造巖礦物鑒定（2學時）24

2、實驗十 斜長石的認識和鑒定 （2學時）26實驗十一 堿性長石的鑒定 （2學時）28實驗十二 未知礦物鑒定（2學時）30顯微鏡實驗室學生實驗守則一、學生在實驗課前應預習實驗內容，明確實驗目的要求及實驗原理步驟。 二、學生進入實驗室，應保持安靜，嚴禁大聲喧嘩、隨地吐痰、亂丟廢物。三、參加實驗的學生固定座位，按學號對號入座，實驗過程中未經教師允許不得隨意調換座位或交換顯微鏡。四、實驗過程中要保持桌面簡潔，與實驗無關的物品應放置在實驗桌下的隔板或抽屜內。五、學生應愛護儀器設備，嚴格遵守操作規(guī)程，凡違章操作或個人不慎損壞設備和薄片者，應按規(guī)定賠償。六、不準在計算機內隨意安裝軟件，使用移動存儲設備時應及時

3、殺毒，使用的臨時文件要及時清除。七、實驗過程中要認真觀察，做好實驗記錄，嚴禁編造和修改實驗數據。八、實驗報告應使用學校統(tǒng)一的報告本，報告內容應準確客觀，重點突出，書寫應工整規(guī)范，并按規(guī)定時間上交實驗報告，嚴禁抄襲他人實驗報告。九、實驗完畢后要收好薄片及附件，關閉電源、蓋好顯微鏡防塵罩，經指導教師檢查后，方可離開。十、因故不能按時上實驗課的學生，應課前請假，并提出補做實驗的申請，經指導教師同意后安排。無故不參加實驗者，實驗成績以零分計，累計缺課達三分之一者，不能參加考試。 地質學院實驗中心顯微鏡實驗室實驗操作規(guī)程偏光顯微鏡屬貴重精密光學儀器，為了保證實驗設備和教學實驗的正常運行特制定本規(guī)程，望廣

4、大師生自覺遵守。1、不要在實驗過程中頻繁開關照明電源。2、轉換物鏡前應先下降物臺，再轉動物鏡轉盤并將物鏡轉動到位。3、調焦時為避免薄片與物鏡相碰，應側視將載物臺上升至薄片與物鏡靠近，然后邊觀察邊緩慢旋轉粗動手輪下降物臺，當物臺下降至出現圖像時，再用微調手輪緩慢調焦至物像清晰。4、更換顯微鏡附件或薄片時，應輕拿輕放，防止附件或薄片跌落損壞。5、實驗過程中，暫時不用的薄片，應放置在薄片盒內，不允許放在其他任何地方，以防損壞薄片。6、顯微鏡所有部件，未經實驗管理人員允許不得隨意拆卸。7、顯微鏡應保持清潔，經常清除灰塵，使用時不得觸摸鏡頭的光學玻璃部分。清潔鏡頭時，應使用專用鏡頭紙。8、實驗結束后要將

5、薄片和附件放回原位，關閉顯微鏡和計算機電源，套上顯微鏡防塵罩。 地質學院實驗中心實驗一 偏光顯微鏡的調節(jié)與校正 （2學時）實驗項目編號 01012001一、實驗目的：1了解偏光顯微鏡的構造、裝置和用途；2學會偏光顯微鏡的調節(jié)和校正方法(調節(jié)焦距，中心校正及視域直徑的測定)。二、實驗內容：1教師利用課件和實物介紹偏光顯微鏡的主要構造、使用和保養(yǎng)方法；2練習調節(jié)照明(對光)、轉換鏡頭、調節(jié)焦距(準焦)；3校正顯微鏡視域中心：4檢查、校正目鏡十字絲和上、下偏光顯微鏡振動方向；5測定視域直徑大小和目鏡微尺格值。三、實驗指導：（一）轉換物鏡：物鏡位于鏡筒下端的物鏡旋轉盤上，使用時將需用的物鏡轉到鏡筒正下

6、方即可。當物鏡鏡頭旋轉到位時，會被彈簧卡卡住，并有輕微響聲。轉過頭或未到位都會使物鏡偏離目鏡中軸而不能校正中心或視域不完整。注意：轉動物鏡前應先下降物臺，轉動時應手持物鏡轉盤，不得直接扳動物鏡鏡頭。（二）調節(jié)照明(對光)打開電源開關，調節(jié)旋扭，使視域至適合的亮度，注意不要頻繁開關。（三）調節(jié)目鏡 轉動目鏡 ，使目鏡十字絲位于東西、南北方向上；調節(jié)兩個目鏡間的距離，使其與眼睛的瞳孔間距一致，左右目鏡中的圖像合并為一。（四）調節(jié)焦距(準焦)調節(jié)焦距是為了使薄片中的物像清晰，觀察舒適，調節(jié)步驟如下：1下降物臺，把要觀察的礦片置于載物臺中心，并用彈簧夾把礦片夾緊。注意：務必將薄片的蓋玻璃朝上，否則不能

7、準焦且容易損壞薄片。2側視物臺，緩慢轉動粗動調焦螺旋，使載物臺上升至物鏡與薄片靠近為止。使用高倍物鏡時，要使物鏡幾乎與薄片接觸。3在目鏡中觀察，轉動粗動調焦螺旋，使載物臺緩緩下降，至視域內物像基本清楚，然后轉動微動調焦螺旋，直至視城內物像完全清晰為止。注意：放置薄片必須蓋玻璃朝上；調節(jié)焦距時，必須眼睛看著物鏡上升載物臺，以免壓碎薄片、損壞物鏡；練習調焦時應按照先低倍物鏡、再中倍物鏡、最后高倍物鏡的順序進行。（五）校正中心在偏光顯微鏡的光學系統(tǒng)中，載物臺的旋轉軸，物鏡中軸及目鏡中軸應當嚴格在一條直線上。此時，轉動載物臺，位于視域中心(即目鏡十字絲交點)的物像不動，其余物像繞視域中心作圓周運動。如

8、果它們不在一條直線上，當轉動載物臺時，視域中心的物像將離開原來的位置，連同其它部分的物像繞另一中心旋轉，這個中心(O點)代表載物臺的旋轉軸位置。在這種情況下，不僅可能把視城內的某些物像轉出視域之外，妨礙觀察，而且影響某些光學數據的測定精度。使用高倍物鏡時，則根本無法觀察。因此，必須進行校正，使目鏡中軸、物鏡中軸與載物臺旋轉軸一致這就是校正中心。在尼康YS-2偏光顯微鏡的光學系統(tǒng)中，目鏡中軸和物鏡中軸是固定的，要通過校正顯微鏡載物臺旋轉軸校正中心。校正載物臺旋轉軸是用安裝在載物臺上的兩個定心螺絲進行。在校正中心之前，必須首先檢查物鏡旋轉到位，否則不僅無法校正好中心。校正中心的具體步驟如下：1將物

9、鏡安裝在正確位置上并準焦后，在薄片中選一質點a，移動薄片，使質點a位于視域中心的十字絲交點處。2旋轉載物臺，如果視域內的物像以質點a作圓周運動，則中心正確；如果質點a圍繞另一中心（O點）作圓周運動，轉動一周質點a仍在視域內，則中心偏離不大（圖1-1A）；若轉動一周質點a轉出視域，圓心O點仍在視域內，則中心偏離較大；若轉動一周O點也不在視域內，則中心偏離很大大（圖1-1B）。 圖1-1 中心不正的兩種情況3旋轉載物臺180，使質點a由十字絲交點移至a處(圖1-2C)。4扭動載物臺上的定心校正螺絲，使質點a移至偏心圓的圓心O點(圖1-2D)；5移動薄片，使質點a由O點移至十字絲交點(圖1-2E)，

10、旋轉載物臺，如果該質點不動(圖1-2F)，則中心已經校正好。如果該質點仍離開十字絲交點繞較小偏心圓轉動，則需按上述方法重復校正，直至完全校正好為止。6如果中心偏離大時，轉動載物臺，質點a（和偏心圓圓心O點）由十字絲交點移至視域之外。應先根據質點移動情況，估計偏心圓圓心O點在視域外的位置及偏心圓半徑長短。然后將質點a轉回十字絲交點，扭動物鏡上的定心校正螺絲，使質點a由十字交點，向偏心圓圓心O點相反方向移動大約相當于偏心圓半徑的距離。再移動薄片，使質點回到十字絲交點處，轉動載物臺，觀察視域中心偏離情況，上述方法重復校正，直至完全校正好為止。7.如經過多次校正之后，中心仍然偏離較大，或者發(fā)現定心校正

11、螺絲扭動困難或扭不動時（切勿強行扭動），應當分析原因或報告指導老師。 圖1-2 校正中心步驟示意圖（六）偏光鏡的校正在偏光顯微鏡的光學系統(tǒng)中，上、下偏光鏡振動方向應當垂直，分別位于上下、左右方向（或稱十字絲縱、橫絲方向；南北、東西方向），并與目鏡十字平行。1.確定及校正下偏光鏡的振動方向轉動目鏡 ，使目鏡十字絲位于東西、南北方向上。在巖石薄片中找一個具極完全解理縫的黑云母置視域中心。轉動載物臺，使黑云母的顏色變得最深。此時，黑云母解理縫方向就代表下偏光鏡振動方向(因為光波沿黑云母解理縫方向振動時，吸收最強，顏色最深)。如果黑云母顏色最深時，解理縫方向與目鏡十字絲的橫絲方向平行，則下偏光鏡振動方

12、向與十字絲橫絲平行，不需要校正。如果不平行，應轉動載物臺，使黑云母解理縫方向與目鏡十字絲的橫絲平行，然后旋轉下偏光鏡，至黑云母的顏色變得最深為止。此時下偏光鏡振動方向與目鏡十字絲的橫絲平行，位于東西（左右）方向。2.檢查上、下偏光鏡振動方向是否正交取下薄片，調節(jié)照明使視域明亮，推入上偏光鏡，如果視域黑暗，證明上、下偏光鏡振動方向正交。若視域不黑暗，說明上、下偏光鏡振動方向不正交。如果下偏光鏡振動方向已經校正至東西方向，則需要校正上偏光鏡振動方向。轉動上偏光鏡至視域黑暗為止(相對黑暗)。經過上述校正之后，上，下偏光鏡振動方向應當嚴格與目鏡十字絲一致。但有些顯微鏡的目鏡沒有定位螺絲，使用過程中可能

13、使目鏡十字絲位置改變，因此，要注意隨時校正目鏡十字絲的位置。（七）視域直徑的測定1測量低倍或中倍物鏡的視域直徑，可以直接使用有刻度的透明尺測定。測定時，將透明尺置載物臺中心部位，對準焦點后，直接觀察視域直徑的長度值，記錄該數值備以后查用；2測量高倍物鏡的視域直徑，應使用物臺微尺測定。物臺微尺是嵌在玻璃片中心的、總長度1mm的微型尺，其中刻有100個小格，每小格等于0.01mm。測量時將物臺微尺置載物臺中心，準焦后，觀察視域直徑相當于物臺微尺的多少小格。若為20格，則視域直徑等于200.01=0.2mm。圖1-3物臺微尺（八）目鏡微尺格值的測定目鏡微尺是固定在目鏡中的小微尺，目鏡微尺中每一小格的

14、絕對長度在不同放大倍數的顯微鏡系統(tǒng)中是不同的。因此，在使用前應事先標定不同放大倍數的目鏡微尺格值，即使用某一放大倍數的系統(tǒng)時，目鏡微尺中每一小格的絕對長度。測定方法如下：1.將物臺微尺置于顯微鏡載物臺中心并準焦，在視域內同時看到兩個微尺。2.使物臺微尺與目鏡微尺平行，并使二者的零點對齊。仔細觀察兩個微尺的分格線再次重合的部位。例如目鏡微尺的50小格與物臺微尺48格相當，則目鏡微尺每一小格所代表的實際長度48/500.01毫米0.0096毫米。其通式為: 目鏡微尺格值=物臺微尺格數/目鏡微尺格數0.01毫米3.將不同放大倍數的目鏡微尺格值記錄下來，以備后用。知道了目鏡微尺每小格代表的絕對長度之后

15、，就可以直接測量薄片中礦物顆粒的直徑：礦物顆粒直徑目鏡微尺格數目鏡微尺格值四、實驗報告要求：1詳細說明確定下偏光振動方向的方法步驟。2在表格中記錄不同放大倍數視域直徑和目鏡微尺格值的測定結果。實 驗 報 告 格 式組別座號姓 名同組實驗者獨立實驗實驗項目名稱偏光顯微鏡的調節(jié)與校正實驗日期教師評語實驗成績：指導教師（簽名）：2013年 月 日一、實驗目的與要求：1了解偏光顯微鏡的構造、裝置和用途；2學會偏光顯微鏡的調節(jié)和校正方法(調節(jié)焦距，中心校正及視域直徑的測定)。二、實驗內容：1教師利用課件和實物介紹偏光顯微鏡的主要構造、使用和保養(yǎng)方法；2練習調節(jié)照明(對光)、轉換鏡頭、調節(jié)焦距(準焦)；3

16、校正顯微鏡視域中心：4檢查、校正目鏡十字絲和上、下偏光顯微鏡振動方向；5測定視域直徑大小和目鏡微尺格值。三、實驗報告要求：1詳細說明確定下偏光振動方向的方法步驟。2在表格中記錄不同放大倍數視域直徑和目鏡微尺格值的測定結果。實 驗 報 告一、根據實際操作步驟，描述確定下偏光振動方向的操作步驟。薄片號： -I-7二、測量偏光顯微鏡視域直徑與目鏡微尺格值序號目鏡倍數物鏡倍數總放大倍數視域直徑(mm)目鏡微尺格值(mm)110X4X210X10X310X40X實驗二 解理、多色性、吸收性的測定 （2學時）實驗項目編號 01012002一、目的要求：1認識解理等級，了解同一礦物不同方向切面上解理縫的表現

17、情況不同。學會解理夾角的測定方法；2認識多色性現象及其明顯程度,了解同一礦物，不同方向切面上多色性表現情況不同。二、實驗內容：1觀察普通角閃石的完全解理和不同方向切面上解理縫的表現情況，測定其解理夾角;2觀察普通角閃石明顯的多色性現象和不同方向切面的多色性表現情況。三、實驗指導：1在巖石薄片中找一個同時垂直兩組解理面的切面，觀察解理等級，并測定兩組解理的夾角。觀察多色性的明顯程度及顏色變化情況；2找一個具有一組清晰解理縫的切面，觀察解理等級，多色性明顯程度及其顏色變化情況。3找一個不具解理縫的切面，觀察多色性的明顯程度。注意：1、實驗前應熟悉普通角閃石的光性方位和角閃石不同切面上的光率體橢圓切

18、面特點；2、觀察普通角閃石顏色和多色性時應注意顏色的細微變化和多色性的反復比較；3、要仔細確定每個切面的顏色在最深和最淺時，礦片的解理或晶面跡線（即晶面與薄片平面的交線）與目鏡十字絲之間的位置關系；4、測量解理夾角時選擇的切面盡可能同時垂直兩組解理面,同時顯微鏡中心應偏差不大。四、實驗報告要求：1用表格方式描述普通角閃石不同方向切面的形態(tài)特征、解理縫的表現情況、兩組解理的夾角大小、顏色及多色性明顯程度；2繪圖說明各切面顏色最深時，解理縫與下偏光振動方向的關系；3. 詳細說明測定普通角閃石解理夾角的方法步驟。實 驗 報 告 格 式組別姓 名同組實驗者獨立實驗實驗項目名稱解理、多色性、吸收性的測定

19、實驗日期教師評語實驗成績：指導教師（簽名）：2011年 月 日一、實驗目的要求：1認識解理等級，了解同一礦物不同方向切面上解理縫的表現情況不同。學會解理夾角的測定方法；2認識多色性現象及其明顯程度,了解同一礦物，不同方向切面上多色性表現情況不同。二、實驗內容：1觀察普通角閃石的完全解理和不同方向切面上解理縫的表現情況，測定其解理夾角;2觀察普通角閃石明顯的多色性現象和不同方向切面的多色性表現情況。三、實驗報告要求：1用表格方式描述普通角閃石不同方向切面的形態(tài)特征、解理縫的表現情況、兩組解理的夾角大小、顏色及多色性明顯程度；2繪圖說明各切面顏色最深時，解理縫與下偏光振動方向的關系；3. 詳細說明

20、測定普通角閃石解理夾角的方法步驟。普通角閃石的解理與多色性薄片編號： -52觀察切面特征切面1切面2切面3垂直兩組解理的切面只有一組解理的切面不具解理的切面(可見晶面跡線)礦片切面形態(tài)解理特征解理等級解理夾角最深時顏色最淺時顏色指出顏色最深時，解理縫、兩組解理的銳（鈍）角等分線或晶面跡線方向與下偏光振動方向的位置關系(平行還是斜交，若斜交測夾角)并附圖PPAAPPAAPPAA三切面多色性明顯程度比較多色性公式吸收性公式實驗三 突起及閃突起的觀察（2學時）實驗項目編號 01012003一、目的要求：1認識貝克線，學會利用貝克線移動規(guī)律確定兩相鄰物質折射率的相對大小和突起的相對高低；2觀察突起等級

21、，認識不同突起等級的特征；3認識閃突起的特征二、實驗內容：1比較石榴子石、輝石、角閃石、石英、長石的邊緣、糙面特征及突起高低，確定它們的突起等級及突起正負；2觀察方解石及白云母的閃突起現象。三、實驗指導：1觀察礦物的突起、糙面時，一定要用中低倍鏡，把要觀察的礦片置于視域中心，比較礦片與相鄰物質突起相對高低時應將其接觸線置于視域中心。2觀察貝克線時可適當縮小光圈。3確定突起的高低，主要依據礦片的邊緣、解理的粗細、糙面的顯著程度等特征；判斷礦片的突起等級，最好與樹膠比較（尤其是確定低突起礦片的突起正負）；如欲測定的礦片周圍無明顯的樹膠，也可與相鄰的已知突起等級的礦物比較。4觀察閃突起時，應轉動載物

22、臺一周，仔細觀察礦片邊緣黑線粗細和糙面變化的明顯程度。找一個具清晰解理縫的白云母，觀察并描述白云母的解理縫與下偏光振動方向PP平行時和垂直時，邊緣和解理縫的粗細、糙面的明顯程度以及突起等級的變化，確定白云母的突起類型。四、實驗報告要求：1記錄所觀察礦物的邊緣、糙面特征及突起高低；2根據貝克線移動方向，判斷礦物突起正負和等級；2描述白云母的閃突起現象。實 驗 報 告 格 式組別座號姓 名同組實驗者獨立實驗實驗項目名稱突起及閃突起的觀察實驗日期2011.9.30教師評語實驗成績：指導教師（簽名）：2011年 月 日一、實驗目的要求：1認識貝克線，學會利用貝克線移動規(guī)律確定兩相鄰物質折射率的相對大小

23、和突起的相對高低；2觀察突起等級，認識不同突起等級的特征；3認識閃突起的特征二、實驗內容：1比較石榴子石、輝石、角閃石、石英、長石的邊緣、糙面特征及突起高低，確定它們的突起等級及突起正負；2觀察方解石及白云母的閃突起現象。三、實驗報告要求：1記錄所觀察礦物的邊緣、糙面特征及突起高低；2根據貝克線移動方向，判斷礦物突起正負和等級；2描述白云母的閃突起現象。一、突起等級的觀察薄片號礦物名稱邊緣特征糙面特征突起高低與相鄰物質比較折射率突起等級相鄰物質下降物臺時貝克線移動方向44石榴石3普通輝石52普 通角 閃 石44石英19正長石注：相鄰物質可以是樹膠，也可以是已知礦物。二、白云母閃突起的觀察描述在

24、 -M-44號薄片中，選擇一個具清晰解理縫的白云母礦片，置于視域中心，轉動物臺，當白云母的解理縫與下偏光振動方向平行時礦片的邊緣和解理縫 ，糙面 ，突起 ，突起等級為 ；當白云母的解理縫與下偏光振動方向垂直時，礦片的邊緣和解理縫變 ,糙面變 ，突起變 ,突起等級為 。 結論： 。 實驗四 光率體橢圓半徑名稱及干涉色級序的測定（2學時）實驗項目編號 01012004一、目的要求：1認識13級干涉色及高級白干涉色的特征，學會區(qū)分一級灰白與高級白干涉色；2學會使用用石膏試板、云母試板測定礦片上光率體橢圓半徑方向和名稱的方法；3學會使用石英楔測定礦片干涉色級序的方法；4學會利用所測干涉色級序，測定礦片

25、雙折率的方法；5學會應用楔形邊法判斷礦片干涉色級序的方法。二、實驗內容： 1利用石英楔，觀察l3級干涉色級序及各級的特征； 2使用云母試板，測定具清晰解理縫的白云母礦片上光率體橢圓半徑的方向和名稱； 3在具一級灰干涉色的石英或鉀長石礦片 (45和135位置) 上，加入石膏試板，觀察礦片干涉色的升降變化；4薄片中找一個干涉色最高的石英顆粒，根據石英的干涉色及雙折率為0.009，在干涉色色譜表上求出礦片厚度；并在同一薄片中找一個干涉色最高的白云母顆粒，應用石英楔測定白云母礦片的干涉色級序，利用所測定的白云母干涉色(最高干涉色)及求得的礦片厚度，在干涉色色譜表上查出（也可用公式計算）白云母的雙折率。

26、5觀察方解石的高級白干涉色，并利用石膏試板、云母試板，區(qū)分一級灰白與高級白干涉色；6應用楔形邊法判斷橄欖石礦片的干涉色級序。三、實驗指導：在觀察測定正交偏光鏡間礦片的光學性質之前，必須檢查上，下偏光鏡振動方向是否正交，目鏡十字絲是否與上、下偏光鏡振動方向一致。(一）l3級干涉色的色序和級序的觀察在正交偏光鏡間，從試板孔緩緩插入石英楔，仔細觀察l3級干涉色的色序和級序變化特點。(二）非均質體礦片上光率體橢圓半徑方向及名稱的測定偏光顯微鏡下研究礦物的光學性質，大多要在正交偏光鏡間測定礦片上光率體橢球半徑的方向和名稱。其測定方法如下：1將欲測礦片置于視域中心，轉動載物臺使礦片消光(消光位)，此時礦片

27、的光率體橢圓長短半徑方向必定平行上，下偏光鏡振動方向AA、PP(即目鏡十字絲方向)；2轉動載物臺45，礦片干涉色最亮，此時礦片上光率體橢圓半徑與目鏡十字絲成45夾角；3從試板孔(45位置)插入試板，觀察干涉色級序的升降變化。如果干涉色級序降低，說明試板與礦片光率體橢圓切面異名半徑平行；如果干涉色級序升高，表明試板與礦片光率體橢圓切面同名半徑平行。試板上光率體橢圓半徑的名稱是已知的，據此，即可確定礦片上光率體橢圓半徑名稱。測定光率體橢圓半徑方向及名稱時應注意以下幾點：1.要根據礦片的干涉色高低選擇適當的試板；2.如果難以對干涉色的升降做出準確判斷時，可以用兩種方法加以驗證，一是旋轉物臺90，觀察

28、另一個45位的干涉色變化情況，兩者應升降相反；一是換用其它試板，不同的試板在同一位置應升降一致。3.當一個礦片上干涉色分布不均勻時，應注意插入試板前后觀察的部位一致。4.要注意干涉色色調的細微變化和兩種色調間的過渡色調。 5.該方法測出的是該切面光率體橢圓兩個半徑的相對長短，是不是光率體主軸，取決于切面方向。如果礦片平行主軸面則測出的光率體橢圓長短半徑為Ne和No(一軸晶)或Ng、Nm、Np中任意二主軸(二軸晶)。如果礦片不平行主軸面，則光率體橢圓半徑為Ne和No(一軸晶)，或Ng和Np(二軸晶)。(三）干涉色級序的觀察與測定根據光程差R=d(N1N2)，在正常厚度(0.03mm)的巖石薄片中

29、，同一礦物，不同方向切面的雙折率值大小不同，共干涉色級序的高低亦不同。觀察測定礦物的干涉色級序時，必須選擇干涉色最高的切面(平行光軸成平行光軸面的切面)。一般鑒定時，采用統(tǒng)計方法，多測定幾個顆粒，取其中的最高干涉色。精確測定時，必須選擇平行光軸或平行光軸面的切面，這種切面需在錐光鏡下檢查確定。1、干涉色級序的測定方法有1）利用石英楔測定干涉色級序 將選定的礦片置視域中心，轉動載物臺，使礦片消光(消光位)； 再轉載物臺45，使礦片至45位置，此時礦片干涉色最亮；從試板孔由薄至厚端插入石英楔，觀察礦、片干涉色級序的變化：當隨著石英楔的慢慢插入，礦片上干涉色級序逐漸升高時，表明石英楔與礦片上光牢體橢

30、圓切面的同名半徑平行，不可能出現消色位，達不到測定干涉色級序的目的，必須轉動載物臺90，使二者異名半徑平行，再進行測定。當隨著石英楔的慢慢插入，礦片干涉色逐漸降低時，說明石英楔與礦片上光率體橢圓切面異名半徑平行。當石英楔插入到與礦片光程差相等時，礦片消色而變黑暗(注意：不是全黑，而是灰黑或混有礦物本身顏色)。此時慢慢抽出石英楔，礦片的干涉色又逐漸升高，至石英楔全部抽出時，礦片顯示原來的干涉色。仔細觀察在抽出石英楔的過程中，礦片干涉色的變化，如果其間經過一次紅色，礦片干涉色為二級，經過n次紅色，礦片干涉色為(n十1)級。如果一次觀察不清楚，可以反復操作。2、楔形邊法判斷干涉色級序利用礦片楔形邊緣

31、的干涉色圈，判斷礦物的干涉色級序，是比較簡單的方法。在巖石薄片中，礦物切面往往具有楔形邊緣，其邊緣薄，向中部逐漸加厚，因而礦片的干涉色級序邊緣較低，中部干涉色逐漸升高而構成細小干涉色圈或干涉色細條帶。其中經過一條紅帶，則礦片干涉色為二級，經過n條紅帶，礦片干涉色為(n+1)級。如果礦片邊緣最外圈不是從一級灰白開始，則不能應用這種方法判斷干涉色級序。3、高級白干涉色的鑒別方法放入方解石礦片，在礦片45位觀察方解石的高級白干涉色的色調特點，并分別插入云母試板和石膏試板，觀察干涉色的變化情況；根據插入試板后，干涉色是否有明顯變化區(qū)分一級灰白和高級白干涉色。 (四) 雙折率的測定 同一礦物切面方向不同

32、，雙折率大小不同，只有測定最大雙折率才有鑒定童義。因此，必須選擇平行光軸(一軸晶)或平行光軸面(二軸面)的切面測定礦物的最大雙折率。這種切面的特征是：正交偏光鏡間干涉色最高，如果有顏色，單偏光鏡下多色性最明顯，錐光鏡下顯示平行光軸或平行光軸面的干涉圖(其圖像特征在第五章中介紹)。 根據光程差公式及R=d(NlN2)，測出光程差及礦片厚度后，即能確定雙折率值。 1. 光程差的測定方法 利用石英楔測定干涉色級序(方法同上)后，在干涉色色譜表上求出相應的光程差。因色譜表上每一種干涉色都占有一定的寬度，所以求出的光程差誤差在2040nm之間。 2.礦片厚度的測定方法 一般巖石薄片的厚度約為0.03mm

33、，如果測定雙折率值精度要求不高，礦片厚度可以直接利用0.03mm。如果精度要求較高，礦片厚度可利用已知礦物測定，最常用的已知礦物有長石和石英。 石英最大雙折率為0.009，在巖石薄片中選一個石英平行光軸切面(標準厚度薄片干涉色為一級灰白至黃白)，根據其干涉色級序在色譜表上求光程差。 利用所測的光程差及最大雙折率，可求出礦片厚度。 3.根據所測光程差及礦片厚度求雙折率 1）根據所測光程差和礦片厚度，在干涉色色譜表上查雙折率；2）根據R=(Nl一N2)計算雙折率。四、實驗報告要求：1觀察并描述具一級灰白干涉色的石英（或正長石）礦片，加試板后干涉色的變化情況；2觀察并描述測定白云母（具一組清晰解理）

34、光率體橢圓長短半徑情況和結果。3觀察并描述測定薄片厚度和白云母雙折率的方法步驟。實 驗 報 告 格 式組別姓 名同組實驗者獨立實驗實驗項目名稱光率體橢圓半徑名稱及干涉色級序的測定實驗日期教師評語實驗成績：指導教師（簽名）：2011年 月 日一、實驗目的要求：1認識13級干涉色及高級白干涉色的特征，學會區(qū)分一級灰白與高級白干涉色；2學會使用用石膏試板、云母試板測定礦片上光率體橢圓半徑方向和名稱的方法；3學會使用石英楔測定礦片干涉色級序的方法；4學會利用所測干涉色級序，測定礦片雙折率的方法；5學會應用楔形邊法判斷礦片干涉色級序的方法。二、實驗內容：1用石英楔，觀察l3級干涉色級序的特征；2用云母試

35、板，測定具白云母礦片光率體橢圓半徑的方向和名稱；3用石膏試板，觀察正長石礦片(45和135位置)，干涉色的升降變化；4石英楔測定白云母礦片的最高干涉色級序及最大雙折率。5觀察方解石的高級白干涉色，并利用試板區(qū)分一級灰白與高級白干涉色；6應用楔形邊法判斷橄欖石礦片的干涉色級序。三、實驗報告要求：1觀察并描述具一級灰干涉色正長石礦片，加試板后干涉色的變化情況；2觀察并描述測定白云母（具一組清晰解理）光率體橢圓半徑情況和結果。3觀察并描述測定薄片厚度和白云母雙折率的方法步驟。一、光率體橢圓半徑方向及名稱的測定薄片編號-M-44-I-19礦物名稱白 云 母正長石礦片特征消光時解理縫或雙晶縫與目鏡十字絲

36、關系解理縫平行 雙晶縫與AA夾角 物臺轉動方向順時針逆時針順時針逆時針干涉色45位時插石膏試板后插云母試板后升降情況延性符號附圖PPAAPPAA（正長石要選擇雙晶縫平直清晰，兩單體消光時與AA夾角不太大、且與AA對稱的礦片，只測雙晶的一個單體）二、白云母雙折率與薄片厚度的測定實驗用44號薄片，石英的最高干涉色為 ，已知石英的最大雙折率為0.009，查干涉色色譜表該薄片厚度約為 ；經觀察測定該薄片中白云母的最高干涉色為 ，白云母的最大雙折率約為 。注：白云母雙折率與薄片厚度的測定，僅為實驗描述的參考樣式。實驗五 消光類型、消光角及延性符號的測定（2學時）實驗項目編號 01012005一、目的要求

37、：1認識和鑒別各種消光類型； 2學會測定消光角及延性符號的方法。二、實驗內容：1觀察白云母或紅柱石的平行消光，并測定其延性符號；2觀察普通角閃石垂直Z晶軸切面的對稱消光；3觀察普通角閃石平行Z晶軸切面（平行(010)切面）的斜消光，并測定平行(010)切面上的消光角。三、實驗指導：(一）白云母消光類型和延性符號測定： 1.在單偏光鏡下選擇解理縫較清晰而密集平直的白云母切面；2.推入上偏光、轉動載物臺達到消光位，然后抽出上偏光觀察解理縫與十字絲的關系(是平行還是斜交)，從而確定消光類型；3.在正交鏡間，將白云母從消光位轉45(即光率體主軸與十字絲相交45)，此時白云母干涉色最明亮，插入云母試板，

38、根據補色法則，確定白云母的延長符號(解理縫平行Ng為正廷性，平行Np為負延性)。(二）觀察普通角閃石Z軸切面上的對稱消光在單偏光鏡下，普通角閃石Z軸的切面具有(110)和(110)兩組清晰解理縫，提升鏡筒解理縫不左右移動，然后推進上偏光，轉動載物臺，使礦物牌消光位，然后推出上偏光，明顯可見十字絲正好與兩組解理夾角平分線致，此即為對稱消光。(三）測普通角閃石(010)面上的傾斜消光及最大消光角1.在單偏光鏡下選擇普通角閃石(010)面的顆粒。此切面的特點是呈長條狀、一組完全解理、多色性明顯、干涉色最高（可達二級藍綠）。2.使解理縫目鏡平行縱絲記下載物臺刻度讀數；3.轉動物臺至消光位，推出上偏光，

39、明顯可見十字絲正好與解理縫有一交角。此即為傾斜消光(圖1-15)，記下載物臺刻度讀數，a與b讀數之差即為消光角 ；4.自消光位轉動物臺45，加入試板，根據補色法則判斷與解理縫夾角為的光率體的橢圓半徑名稱。5.根據結晶學知識，判斷解理所代表的結晶軸名稱。6.寫出消光角公式，書寫格式為：光率體半徑名稱結晶軸名稱（或雙晶結合面名稱）。如：消光角為NgC= （注意正交鏡下測出的光率體長半徑不一定就是Ng，也可能是Ng，甚至是Nm，本次實驗Ng方向為已知）。四、實驗報告要求：1詳細描述測定白云母延性符號方法步驟； 2詳細描述測定普通角閃石最大消光角(NgC)的方法步驟。實 驗 報 告 格 式組別姓 名同

40、組實驗者獨立實驗實驗項目名稱消光類型、消光角及延性符號的測實驗日期教師評語實驗成績：指導教師（簽名）：2011年 月 日一、實驗目的要求：1認識和鑒別各種消光類型；2學會測定消光角及延性符號的方法。二、實驗內容：1觀察白云母或紅柱石的平行消光，并測定其延性符號；2觀察普通角閃石垂直Z晶軸切面的對稱消光；3觀察普通角閃石平行Z晶軸切面（平行(010)切面）的斜消光，并測定平行(010)切面上的消光角。三、實驗報告要求：1詳細描述測定白云母延性符號方法步驟；2詳細描述測定普通角閃石最大消光角(NgC)的方法步驟。普通角閃石消光角的測定薄片編號： -52文 字 描 述附 圖切片特點：PPAA 解理縫

41、與 平行PPAA消光位時PPAA45位消光角公式：延性符號：實驗六 錐光鏡下干涉圖的觀察與測定（2學時）實驗項目編號 01012006一、目的要求：1掌握錐光鏡的裝置和使用，并了解其光學特點；2認識一軸晶主要切面類型干涉圖的圖像特點；3學會應用垂直光軸切面或斜交光軸切面干涉圖，測定一軸晶礦物的光性符號；4認識二軸晶主要切面類型干涉圖的圖像特點；5學會應用垂直Bxa切面或垂直光軸切面干涉圖測定光性符號的方法。二、實驗內容： 1觀察一軸晶垂直光軸(或斜交光軸)切面的干涉圖特點，并使用石膏試板（或云母試板、石英楔）測定光性符號；2觀察二軸晶垂直Bxa切面干涉圖的圖像特點，并應用云母試板(或石膏試板、

42、石英楔)測定其光性符號。三、實驗指導：（一）錐光鏡下觀察的操作程序：1用中倍或低信物鏡。在巖石薄片中選擇一個適于測定的礦物顆粒(盡可能找較大的顆粒)，移至視域中心。如果用單礦物定向礦片可省略這個步驟。直接把定向礦片置視域中心。2加入聚光鏡，并把聚光鏡升到最高位置。注意千萬不要頂住礦片。3換用高倍物鏡(46或63)，仔細調好焦距。4將欲觀察的礦片置于視域中心，轉動物臺一周確保礦片不移出中心。5加入上偏光鏡及勃氏鏡即能看到干涉圖(如果顯微鏡中沒有裝置勃氏鏡，去掉目鏡亦能看到干涉圖)。注意：由于高倍物鏡工作距離近，不要把蓋玻璃朝下，否則無法準焦；要側視物鏡，在下降物臺中準焦，否則容易壓碎礦片，損壞鏡

43、頭。在以后的實驗中應注意，欲測礦片在高倍鏡下要占據整個視域。 （二）測定礦片切面類型、軸性和光性符號的方法：1根據干涉圖的特點判斷切面類型和軸性，2根據加入試板前后干涉圖的干涉色變化情況判斷光性正負。 3一軸晶垂直光軸(或斜交光軸)切面干涉圖的關鍵是光軸出露點和黑十字的四個象限，以此判斷Ne和No的方向；4二軸晶垂直Bxa切面干涉圖的關鍵是兩個光軸出露點的連線，垂直該連線的方向（也是彎曲黑帶的平分線的方向）是Nm的方向；該連線上兩個光軸出露點之間是Bxo投影線的方向，兩個光軸出露點之外是Bxa投影線方向。四、實驗報告要求：1描述一軸晶垂直光軸（或斜交光軸）切面干涉圖圖象特點，詳細說明并繪圖表示

44、光性符號的測定方法和判斷依據；2描述二軸晶Bxa切面干涉圖描述一軸晶特點，詳細說明并繪圖表示光性符號的測定方法和判斷依據。實 驗 報 告 格 式組別姓 名同組實驗者獨立實驗實驗項目名稱錐光鏡下干涉圖的觀察與測定實驗日期教師評語實驗成績：指導教師（簽名）：2011年 月 日一、目的要求：1掌握錐光鏡的裝置和使用，并了解其光學特點；2認識一軸晶主要切面類型干涉圖的圖像特點；3學會應用垂直光軸切面或斜交光軸切面干涉圖，測定一軸晶礦物的光性符號；4認識二軸晶主要切面類型干涉圖的圖像特點；5學會應用垂直Bxa切面或垂直光軸切面干涉圖測定光性符號的方法。二、實驗內容： 1觀察一軸晶垂直光軸(或斜交光軸)切

45、面的干涉圖特點，測定其光性符號；2觀察二軸晶垂直Bxa切面干涉圖的圖像特點，并測定其光性符號。三、實驗報告要求：1描述一軸晶垂直光軸（或斜交光軸）切面干涉圖圖象特點，詳細說明并繪圖表示光性符號的測定方法和判斷依據；2描述二軸晶Bxa切面干涉圖描述一軸晶特點，詳細說明并繪圖表示光性符號的測定方法和判斷依據。實 驗 報 告一、一軸晶干涉圖的觀察與測定（薄片編號： ）二、二軸晶干涉圖的觀察（薄片編號： ）實驗七 透明礦物（普通角閃石）的系統(tǒng)鑒定 （ 2 學時）實驗項目編號 01012007一、目的要求：1全面總結、復習、觀察、測定晶體光學性質的基本操作方法；2學會系統(tǒng)鑒定透明礦物的程序；二、實驗內容

46、：系統(tǒng)測定普通角閃石的光學性質。三、實驗指導：（一） 單偏光鏡下的觀察1.晶形 觀察晶體的完整程度、結晶習性。根據各方向切面形態(tài)，初步判定晶體形狀及可能屬于那個晶系。2.解理 觀察解理的完全程度，根據不同方向切面上的解理，判斷解理的組數。如為兩組解理，需要測定解理夾角。并盡可能確定解理與結晶軸之間的關系。3.突起 觀察礦片的邊緣、糙面及突起的明顯程度，結合貝克線移動規(guī)律確定其突起等級，估計礦物折射率的大致范圍。4.顏色、多色性 觀察礦片有無顏色，如有顏色，則觀察有無多色性及多色性變化情況。并在定向切片上測定多色性公式及吸收性公式。此外，還應觀察有無包裹體，包裹體的排列與分布情況。有無次生變化，

47、變化情況及變化產物。（二） 正交偏光鏡下的觀測1.干涉色 觀察礦片的最高干涉色級序，在平行光軸或平行光軸面的切片上詳細測定干涉色級序。2.測定雙折率 根據礦片的最高干涉色級序（光程差）、薄片厚度，確定雙折射率值。3.消光類型 根據不同方向切片上的消光情況，確定礦物的消光類型。4.測定消光角 對斜消光的礦物，在定向切片上測定消光角。測定延性符號 對一向延長的礦物，測定其延長方向的光率體橢圓半徑名稱，確定延性符號。5.雙晶 觀察礦物有無雙晶，確定雙晶類型。（三） 錐光鏡下的觀察根據有無干涉圖區(qū)分均質體與非均質體。根據干涉圖特征確定軸性（一軸晶或二軸晶 ）、切片方向。測定光性符號、光軸角大小。四、實

48、驗報告要求：全面系統(tǒng)地描述普通角閃石的光性特征并寫出該礦物的詳細鑒定報告。實 驗 報 告 格 式組別姓 名同組實驗者獨立實驗實驗項目名稱透明礦物（普通角閃石）的系統(tǒng)鑒定實驗日期教師評語實驗成績：指導教師（簽名）：2011年 月 日一、目的要求：1全面總結、復習、觀察、測定晶體光學性質的基本操作方法；2學會系統(tǒng)鑒定透明礦物的程序；二、實驗內容：系統(tǒng)測定角閃石的光學性質。三、實驗報告要求：全面系統(tǒng)地描述普通角閃石的光性特征并寫出該礦物的詳細鑒定報告。普通角閃石的系統(tǒng)鑒定薄 片 編 號-I-2形態(tài)礦物形態(tài)橫切面縱切面顏色顏 色多色性公式吸 收 性解 理橫 切 面縱 切 面突 起 等 級最高干涉色消

49、光類 型橫 切 面縱 切 面消 光 角 公 式延 性 符 號雙 晶 類 型軸 性光 性 符 號其 它 現 象實驗八 常見深色造巖礦物鑒定（2學時）實驗項目編號 01012008一、目的要求：1.認識常見深色造巖礦物的形態(tài)特征和光學性質；2.學會并掌握常見深色色造巖礦物的的鑒定特征和描述方法；3.掌握常見深色造巖礦物之間的區(qū)別。二、實驗內容：系統(tǒng)觀察測定貴橄欖石、普通輝石和黑云母的光學性質。三、實驗指導：常見深色造巖礦物的光性特征和鑒定方法見教材。四、實驗報告測定并描述橄欖石、普通輝石和黑云母的光學性質。實 驗 報 告 格 式組別姓 名同組實驗者獨立實驗實驗項目名稱常見深色造巖礦物鑒定實驗日期教師評語實驗成績：指導教師（簽名）：2011年 月 日一、目的要求：1.認識常見深色造巖礦物的形態(tài)特征和光學性質；2.學會并掌握常見深色色造巖礦物的的鑒定特征和描述方法；3.掌握常見深色造巖礦物之間的區(qū)別。二、實驗內容：系統(tǒng)觀察測定貴橄欖石、普通輝石和黑云母的光學性質。三、實驗報告要求測定并描述橄欖石、普通輝石和黑云母的光學性質。橄欖石、普通輝石和黑云母的系統(tǒng)鑒定薄片編號-I-3-I-3-I-7礦物名稱（貴）橄欖石普通輝石黑云母形 態(tài)顏色顏 色多色性吸收性解理橫切面縱切面突 起 等 級最高干涉色消光類型橫切面縱切面消光角公式延性符號雙 晶 類 型