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1、多層瓷介電容器內(nèi)電極和端電極材料選用可靠性問題季海潮 2009.12.14內(nèi)外電極是多層瓷介電容器的重要組成部分。內(nèi)電極主要是用來貯存電荷,其有效 面積的大小和電極層的連續(xù)性與材料特性是影響電容的質(zhì)量。外電極主要是將相互平行 的各層內(nèi)電極并聯(lián),并使之與外圍線路相連接的作用。片式電容器的外電極就是芯片端 頭。用來制造內(nèi)外電極的材料一般都是金屬材料。1 內(nèi)電極材料1.1 內(nèi)電極種類 片式電容的內(nèi)電極是通過印刷而成。因此,內(nèi)電極材料在燒結(jié)前是以具有流動(dòng)性的 金屬或金屬合金的漿料的形式存在,故叫內(nèi)電極漿料。由于片式多層瓷介電容器采用 BaTiO3(鈦酸鋇)系列陶瓷作介質(zhì), 此系列陶瓷材料一般都在 95

2、0 1300左右燒成;故 內(nèi)電極也一般選用高熔點(diǎn)的貴金屬 Pt( 鉑) 、Pd(鈀)、Au(金)等材料 ( 金屬的熔點(diǎn)詳見表 1) ,要求能夠在 1400左右高溫下燒結(jié)而不致發(fā)生氧化、熔化、揮發(fā)、流失等現(xiàn)象。表 1 幾種金屬的熔點(diǎn)金屬Al( 鋁 )Ag(銀)Au(金)Cu(銅)Ag/PdNi( 鎳 )Pd(鈀)Pt( 鉑 )熔點(diǎn)()658960106310831220144515491773目前,常用的漿料有 Ni( 鎳) 、Ag/Pd(鈀銀合金) 、純 Pd(鈀)的漿料, Ag/Pd、純 Pd 均為貴重金屬材料,價(jià)格昂貴。純 Ag(銀) 的內(nèi)電極因燒結(jié)溫度偏低,制造的產(chǎn)品可靠性相對(duì)較差,因此

3、現(xiàn)在一般很少使用。針對(duì)銀的低熔點(diǎn)和高溫不穩(wěn)定性,一般用金屬 Pd 和 Ag的合金來提高內(nèi)電極的熔點(diǎn)和用 Pd?來抑制 Ag 的流動(dòng)性。目前常用的內(nèi)漿中 Pd與 Ag的比例有 3/7 ,6/4 , 7/3 (注:式中分子為金屬 Pd,分母為金屬 Ag),純 Pd的內(nèi)電 極因價(jià)格昂貴也很少使用。 其中含 Pd愈高,多層瓷介電容器質(zhì)量愈穩(wěn)定, 長(zhǎng)期以來各國(guó) 航天型號(hào)使用的多層瓷介電容器的內(nèi)漿 Pd與 Ag的比例一般為 3/7 。對(duì)于片式多層瓷介電容器而言, 其內(nèi)電極成本占到電容器的 30%80%,從而采用廉 價(jià)的賤金屬作為內(nèi)電極,是降低獨(dú)石電容器成本的有效措施,同時(shí)滿足了當(dāng)今日益苛刻 的環(huán)保要求。因

4、此,在日本和其他一些國(guó)家,早在 60年代開始研制開發(fā)以賤金屬 ( 鎳、 銅) 為內(nèi)外電極的電子漿料。 目前用 Ni 作內(nèi)電極,Cu作外電極的工藝已趨于成熟。 這樣, 高燒且用賤金屬可降低成本, 使得鎳內(nèi)電極片式電容器目前在世界上具有很強(qiáng)的競(jìng)爭(zhēng)力, 并在工業(yè)和民用產(chǎn)品上逐步得到應(yīng)用。 日本已將 Ni 電極產(chǎn)品投入到大生產(chǎn)中, 并已投放 市場(chǎng),并有溫度補(bǔ)償獨(dú)石電容器是用 Cu作內(nèi)電極的批量生產(chǎn)。1.2 鎳內(nèi)電極特點(diǎn)1.2.1 鎳內(nèi)電極優(yōu)點(diǎn) 金屬鎳作為內(nèi)電極是一種非常理想的賤金屬,而具有較好的高溫性能,其作為電極 的特點(diǎn):a) Ni 原子或原子團(tuán)的電子遷移速度較 Ag?和 Pd/Ag 都小。b) 機(jī)

5、械強(qiáng)度高。c) 電極的浸潤(rùn)性和耐焊接熱性能好。d) 介質(zhì)層厚薄。e) 價(jià)格低廉,俗稱賤金屬。多層瓷介電容器采用內(nèi)鎳電極,與相同規(guī)格 ( 容量、直流工作電壓 )的鈀銀內(nèi)電極相 比較,其外形尺寸可以大為縮小,故有了薄介質(zhì)、高層數(shù)、小體積、大容量多層瓷介電 容器產(chǎn)品及被廣泛應(yīng)用。1.2.2 鎳內(nèi)電極弱點(diǎn)a) 鎳在高溫下易氧化成氧化亞鎳, 從而不能保證內(nèi)電極層的質(zhì)量。 因此,它必須在 還原氣氛中燒成。但與之相反,含鈦陶瓷如果在還原氣氛中燒結(jié),則Ti 4+將被還原成低價(jià)的離子而使陶瓷的絕緣下降。因此,要使 Ni 電極的質(zhì)量和 BaTiO3含鈦陶瓷的介電性 能同時(shí)得到保證的話, 對(duì)共燒技術(shù) (采用 N2氣

6、氛保護(hù)燒結(jié) ) 、設(shè)備技術(shù)提出了很高的要求, 當(dāng)設(shè)備和操作發(fā)生不被撐控的或覺察的偏差,導(dǎo)致產(chǎn)品質(zhì)量或可靠性發(fā)生下降,在后續(xù) 生產(chǎn)和質(zhì)量控制中很難百分百的被剔除。b) 從生產(chǎn)工藝上看,制作超薄陶瓷層目前主要面臨兩方面的困難:其一是可靠性, 其二是加直流電壓后的偏置情況。陶瓷電容器的核心技術(shù)是介電層的厚度,薄介質(zhì)層是 實(shí)現(xiàn)高容量的主要因素。這就造成了介電層厚度與電容量之間的矛盾、介電層厚度與可 靠性的矛盾 ( 介質(zhì)層厚度直接決定了電容器的擊穿電壓 ) ,給提高產(chǎn)品的可靠性帶來了不確定因素和困難。c)鎳電極非常容易氧化。 從對(duì)鎳內(nèi)電極的多層瓷介電容器的 DPA試驗(yàn)也可發(fā)現(xiàn), 經(jīng) 研磨剖折的 DPA樣

7、品表面中鎳層因接觸了大氣中氧氣,其剖析面很快就會(huì)氧化變暗色, 與鈀銀內(nèi)電極不易氧化變色有十分明顯的區(qū)別。這表明了,對(duì)鎳電極電容器使用過程中 將受到的抗機(jī)械強(qiáng)度 ( 如:抗彎曲等 ) 、抗溫度驟變應(yīng)力 ( 特別無鉛端頭 ) 等應(yīng)用環(huán)境提出 更高的要求,否則容易出現(xiàn)失效或發(fā)生災(zāi)難性質(zhì)量問題。d)鎳內(nèi)電極多層瓷介電容器的壽命比鈀銀內(nèi)電極多層瓷介電容器短。 表現(xiàn)在工作狀 態(tài)下,鎳內(nèi)電極多層瓷介電容器工作時(shí)間愈長(zhǎng),其電容量衰減愈大。e)大容量多層瓷介電容器對(duì)檢測(cè)、 篩選試驗(yàn)有特殊的注意事項(xiàng)和要求, 與一般小容 量有很大的差別,如果技術(shù)管理不到位,操作上不嚴(yán)格,就會(huì)產(chǎn)生可靠性隱患。f)大容量多層瓷介電容器

8、替代鉭電容器已在民用產(chǎn)品上實(shí)施, 鎳電極多層瓷介電容 器有著強(qiáng)大的優(yōu)勢(shì),但這類產(chǎn)品的溫度特性大多屬 3 類瓷的 Y5U或 Y5V產(chǎn)品, 3 類瓷電 容量不穩(wěn)定、工作溫度窄 (Y5U:溫度范圍 -30 +85、電容量變化 +22%/-56%;Y5V:溫度 范圍-30 +85、電容量變化 +22%/-82%),其質(zhì)量和可靠性差。g)鎳電極電容器目前還處于發(fā)展、考核、認(rèn)識(shí)階段,鎳電極多層瓷介電容器的質(zhì)量 和可靠性還處在增長(zhǎng)與認(rèn)識(shí)階段。1.3 鈀銀內(nèi)電極特點(diǎn)1.3.1 鈀銀內(nèi)電極優(yōu)點(diǎn)a)鈀銀內(nèi)電極多層瓷介電容器是經(jīng)過長(zhǎng)期考核、 實(shí)踐證明是優(yōu)良的材料, 且鈀的含 量愈高,電性能愈好,鈀銀 ( 比值: 3

9、/7) 已達(dá)到宇航級(jí)產(chǎn)品的使用要求。b)從目前使用情況知道, 銀內(nèi)電極多層瓷介電容器比鎳內(nèi)電極多層瓷介電容器的工 作壽命長(zhǎng)。 表現(xiàn)在工作狀態(tài)下, 鈀銀內(nèi)電極多層瓷介電容器加電愈長(zhǎng), 其電容量愈穩(wěn)定。c)貴金屬內(nèi)電極是貫國(guó)軍標(biāo)的先決條件, 鈀銀內(nèi)電極產(chǎn)品按規(guī)范通過了相關(guān)失效率 考核試驗(yàn)。d). 大封裝 ( 如:1812、2220)片式多層瓷介電容器因采用鈀銀端子結(jié)構(gòu), 這種鍍金屬 法改善了電容器的熱阻特性,是鎳電極的無法達(dá)到的特性。1.3.2 鈀銀內(nèi)電極缺點(diǎn)a) 鈀銀金屬是貴金材料,價(jià)格昂貴,且逐年長(zhǎng)勢(shì)b) 生產(chǎn)成本無法下降。1.4 軍標(biāo)規(guī)定我國(guó)各類版本的多層瓷介電容器國(guó)軍標(biāo)總規(guī)范,均為參照美軍

10、標(biāo) MIL 標(biāo)準(zhǔn)編制,其 中只有 MIL-PRF-123被美國(guó) NASA列為宇航用標(biāo)準(zhǔn) ( 對(duì)應(yīng)國(guó)軍標(biāo)標(biāo)準(zhǔn): GJB4157-2001高 可靠瓷介電容器總規(guī)范,該標(biāo)準(zhǔn)適用于空間、導(dǎo)彈和其他高可靠電容器 ) 。由于鎳內(nèi)電 極電容器是九十年代開始在民用產(chǎn)品中得到廣泛應(yīng)用,還未入涉軍工或航天應(yīng)用領(lǐng)域, 因此,在 2001年的 MIL(或 GJB)標(biāo)準(zhǔn)中無需對(duì)鎳內(nèi)電極的使用與否做出規(guī)定。2001年以后,隨著鎳內(nèi)電極發(fā)展,其應(yīng)用領(lǐng)域的不斷擴(kuò)大以及對(duì)其可靠性和電特 性的了解,認(rèn)為目前鎳電極還不具備高可靠應(yīng)用的條件,為防止鎳內(nèi)電極產(chǎn)品應(yīng)用至 航天高可靠領(lǐng)域,在 MIL-PRF-123D(2005版) 中對(duì)鎳

11、內(nèi)電極能否應(yīng)用做出了明確的規(guī)定: “按本規(guī)范供貨的電容器不得使用鎳電極材料作為內(nèi)電極。”航天八院在 2005年的院標(biāo)準(zhǔn)航天用獨(dú)石瓷介電容器使用指南 (QRJZ3-2005) 中 也作相應(yīng)的指導(dǎo)性規(guī)定:純銀或鎳作為電極材料的多層瓷介電容器,為可靠性可疑的 電容器 (應(yīng)選用鈀銀合金電極的瓷介電容器 )。2 端電極材料端電極起到連接瓷體多層內(nèi)電極與外圍線路的作用,其對(duì)片式電容器最大的影響主 要表現(xiàn)在芯片的可焊、耐焊和錫晶須等性能方面。2.1 端電極結(jié)構(gòu)有多種形式目前有兩種基本形式:a) 純銀端電極。 因?yàn)殂y與錫的熔點(diǎn)相差比較大, 困此,此端電極一般只適于手工烙 鐵焊。此焊接方式的優(yōu)點(diǎn)在于焊接時(shí),只有

12、芯片的兩端承受烙鐵的高溫?zé)釠_擊,而瓷體 受熱沖擊相對(duì)較小,因此,電容器受熱沖擊的影響較小, 但效率較低,端電極附著力差。 國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠沒有采用。b) 三層電極,常用的有 Ag-Ni-Sn( 或 Ag-Ni-Sn/Pb)( 適用鈀銀內(nèi)電極 ) 、 Ag-Ni-Au 、 Cu-Ni-Sn (適用鎳電內(nèi)極)。第一層銀層是通過封端工序備上去的;第二層鎳層和第三 層錫層(或金)是通過電鍍工藝鍍上去的。因?yàn)榇硕穗姌O最外層為錫層,因此,適合所有的焊接。2.2 端電極外層含鉛問題在 JEITA 和歐盟的限制有毒物質(zhì)指令 (RoHS)與報(bào)廢電子電氣設(shè)備指令 (WEEE) 公布的限制的相關(guān)內(nèi)容規(guī)定 (歐盟成員國(guó)將保

13、證在 2006年 12月 31日前實(shí)施) ,其中禁止 使用有鉛材料,因此國(guó)外多層瓷介電容器端電極第三層如無特殊需求,均采用無鉛 (Pd) 的純錫 (Sn) 結(jié)構(gòu)。無鉛焊料與有鉛焊料有下列兩個(gè)危害因素:a) 無鉛焊料采用純錫層, 純錫是非?;顫姷慕饘伲?經(jīng)過一段時(shí)間在其上會(huì)生長(zhǎng)出許 多柱狀錫晶須 (見圖 A 和圖 B),錫晶須會(huì)造成絕緣電阻下降、電氣短路、尖端放電,或 短路擊穿等質(zhì)量問題。影響晶須生長(zhǎng)的因素可以分為內(nèi)部和外部因素。內(nèi)部因素包括鍍 層和基底的材料本性 (熱膨脹系數(shù)等 ) 、鍍層合金、厚度、結(jié)構(gòu)、表面狀況等。外部因素 包括外部機(jī)械應(yīng)力、溫濕度、環(huán)境氣氛、電遷移、外部氣壓、輻射等。圖

14、A Sn 基鍍層的引腳上長(zhǎng)出的錫須造成引腳間的短路圖 B 錫須的各種形態(tài)舉例b) 由于通用的無鉛焊料的焊接溫度比含鉛焊料的焊接溫度高3050以上,且要求焊接時(shí)間更長(zhǎng),否則會(huì)產(chǎn)生虛假焊。此外,所有的元器件都怕高溫,元器件采用高焊 接溫度對(duì)被焊元器件產(chǎn)生熱過應(yīng)力,或?qū)ζ渌噜彽脑骷a(chǎn)生過熱損傷,這會(huì)產(chǎn)生焊 接過熱而帶來可靠性問題。Pb(鉛)可以有效減緩 Sn(錫)晶須的生長(zhǎng),原因在 Pb和 Sn不會(huì)形成金屬間化合物, 而且 Sn晶界上的 Pb 阻礙了 Sn原晶須生長(zhǎng)。國(guó)外多層瓷介電容器電極引出端表面錫層多數(shù)為無鉛,國(guó)內(nèi)瓷介電容器生產(chǎn)廠早先 均為有鉛電鍍生產(chǎn)線,目前也有增加了無鉛電鍍生產(chǎn)線,可按用

15、戶需求進(jìn)行生產(chǎn),如果 用戶訂貨合同中不作說明,就可能拿到的是符合歐盟 RoHS指令的端電極無鉛的產(chǎn)品。 3 建議3.1 鎳內(nèi)電極禁用問題a) 希望相關(guān)職能部門重視此問題, 對(duì)已選用的多層瓷介電容器進(jìn)行清查。 檢查方法 有多種,最可信的判別辦法是:采用破壞性物理分析 (DPA)方法檢查電容器端電極截面, 如果端電極內(nèi)層電極鍍層是銅質(zhì)材料 (顏色為銅黃色 ) ,必定是鎳內(nèi)電極;如果端電極內(nèi) 層電極鍍層是銀質(zhì)材料 (顏色為銀白色 ) ,必定是鈀銀內(nèi)電極。最簡(jiǎn)捷的判別辦法是:用永久磁鐵吸取,凡用永久磁鐵吸起力大的,必定是鎳內(nèi)電 極多層瓷介電容器;如果沒有磁吸力,則為鈀銀內(nèi)電極;如果有微量磁吸力,則只能通 過同容量?jī)煞N內(nèi)電極對(duì)磁吸力的對(duì)比、 或經(jīng)驗(yàn)積累來判斷, 當(dāng)然最可信的辦法是采用 DPA 方法內(nèi)部目檢來檢別。b) 制訂相關(guān)的管理規(guī)定, 從源頭上開始控制。 如在元器件采購(gòu)合同 ( 或清單 )中加以 明確,根據(jù)對(duì)供貨實(shí)物檢驗(yàn),在檢驗(yàn)報(bào)告或裝機(jī)合格證上標(biāo)注,從源頭上開始控制,以 免將來使用中發(fā)生問題。3.2 端電極無鉛問題a) 為了確保航天產(chǎn)品的高可靠性, 歐洲空間標(biāo)準(zhǔn)化合作組織 (ECSS)標(biāo)準(zhǔn)空間產(chǎn)品保 證 ECSS-Q-60B電氣、電子和機(jī)電 (EEE) 元器件中規(guī)定:用純錫(對(duì) PbSn

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