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文檔簡介

1、可靠度測試規(guī)范編號 no.wi7308修訂日期amendment date可靠度測試規(guī)范版本v.01reliability test specification頁次pageversion3發(fā)行日期release date90.11.121.5 溫度 derating 率no組件名稱溫度判定標準備注1電阻電阻最局耐溫之8 0 %2電容電容最圖耐溫減5 c3半導(dǎo)體1.schotty diode 取 tj 之 9 0 %2.其它半導(dǎo)體(晶體管 mosfet tj之8 0 %)熱暴走高溫短路測試ta :55 c load :100 %ta :65 c load :70 %input :85v/265v

2、 時 (tj*80 %) +5c為判定基礎(chǔ)4基板1 .fr-4 : 115 c2 .cem-3 : 110 c3 .cem-1 : 100 c4 .xpc-fr : 100 c5 .判定:pcb最大耐溫減1 0 c與基板板厚無關(guān)5變壓器 (含電 感)絕緣區(qū)分:a種e種 b種標準溫度:105c120c130c熱偶式:90 c105c110cabnormal :150 c165c175cwi4201-02a編號no.wi7308修訂日期amendment date可靠度測試規(guī)范版本v.01reliability test specification貞次versionpage4發(fā)行日期release

3、 date90.11.122. component temperature rise組件溫度上升:2.1 目的:確保待測物之可靠度,確認各組件均在溫度規(guī)格內(nèi)使用2.2 適用:所有機種適用。2.3 測試條件:a. 輸入電壓:規(guī)格范圍之最小、額定、最大。b. 負載:規(guī)格范圍之最大。c. 輸出電壓:額定。d. 周圍溫度:常溫。e. 接線圖:2.4 測試方法:a.依測試條件設(shè)定,當溫度達到熱平衡后,以熱電偶測定組件溫度,基板上之元 件焊點需測量溫度。b. 參考溫度derating計算出最大溫升規(guī)格值 t.(i.e. derating curve在 100% load 100% 下最高至 50 c,則以

4、附表aderating率之溫度減去 50 得 100% loaded t. ; 60 c 時,derating 率為 70%則減去60得到70戒at.) 實際負載在100%寸依減50c之為規(guī)格值。c. 組件之選擇以r-1溫度分布測得之發(fā)熱較多組件做測定。d. 組件實際溫升不能超過計算得出之 t.。編號no.wi7308修訂日期amendment date可靠度測試規(guī)范版本v.01reliability test specification貞次versionpage5發(fā)行日期release date90.11.123. parts derating組件余裕度:3.1 目的:確保待測物之可靠度,確

5、認組件實際使用時能在絕對最大額定下之derating率范圍內(nèi)。3.2 適用:所有機種適用。3.3 測試條件:a.測試待測物在下列條件下一次測和二次測主回路波形(電流波形和電壓波形)1 .定額輸入和輸出2 .低壓起動3 .短路開機4 .開機后短路5 .滿載關(guān)機(不做記錄)b. 各回路波形和組件耐壓請參考組件 deratingc. 接線圖:可靠度測試規(guī)范reliability test specification編號no.wi7308修訂日期amendment date版本versionv.01貞次page6發(fā)行日期release date90.11.123.4組件 deratingno組件名稱溫

6、度判定標準備注1電阻80%電阻最圖耐壓之90%surge取耐壓之95%2電容電容最圖耐壓之85%(ac輸入電咨取耐壓之95%)ripple 電流取 100%鑰質(zhì)電咨取耐壓之80%3二極管(diode)vrm v rsm i sfm surgescr80%95%90%90%triac80% 95 % 90 % 90 %bridge-diode 80%95%90%90%diode80%95%90%90%scotty diode 90%95%90%90%zener diode90% 90 %led80% 95 % 90 % 90 %ksurge: 12t4晶體管mosfevds/vce :取規(guī)格之9

7、5%vgs/vbe :取規(guī)格之95%_i d/i c :取規(guī)格之95%ib:取規(guī)格之95%5fuse取額定電流之70%surge : 65 %可靠度測試規(guī)范reliability test specification編號 no.wi7308修訂日期amendment date版本versionv.01頁次page7發(fā)行日期release date90.11.124. thermal runaway熱暴走:4.1 目的:確認過負載、出力短路下,保護之余裕度。4.2 適用:所有機種適用。4.3 測試條件:a. 輸入電壓:規(guī)格之輸入電壓范圍最小、最大值,(例85v/265v)。b. 負載:100%

8、及 70%(例 55c為 100% , 65 c為 70%)。c. 周圍溫度:最高動作溫度+ 5c,輸出derating curve 100%下溫度上限+ 5cd. 輸出電壓:額定。e. 接線圖:恒溫槽4.1.4.4 測試方法:a.參照部品溫度上升結(jié)果確定待測部品,以熱電偶量測。b.電源輸入后,連續(xù)觀測繪出溫度上升值,確認飽和點。c.若有fang置于待測物,需實際仿真安裝于系統(tǒng)之情形進行測試。編號no.wi7308修訂日期amendment date可靠度測試規(guī)范版本v.01reliability test specification貞次versionpage8發(fā)行日期release date

9、90.11.125. high temperature shoty circuit高溫短路:5.1 目的:確認輸出短路放置后,待測物之可靠度。5.2 適用:除未加短路保護機種外所有機種適用。5.3 測試條件:a. 輸入電壓:規(guī)格范圍之最大輸入電壓。(實測取最大,例265v)b. 輸出電壓:額定值。c.周圍溫度:動彳溫度上限+ 5c (例65c) od.接線圖:4.1.5.4測試方法:a. 待測物在設(shè)定測試條件下,輸出短路 2小時以上。b. 記錄溫度上升之情形,參照溫度 derating ,不能超過規(guī)定溫度c. 解除短路狀態(tài)后確認輸出仍正常,部品不能有損壞??煽慷葴y試規(guī)范reliability

10、test specification編號 no.wi7308修訂日期amendment date版本versionv.01頁次page9發(fā)行日期release date90.11.126. life of electrolytic capacitor電解電容算出壽命:6.1 目的:推定待測物之壽命,并確認其可靠度。6.2 適用:所有機種適用。6.3 測試條件:a. 輸入電壓:額定值。b. 輸出電壓:額定值。c. 負載:額定。d. 周圍溫度:40 coe. 接線圖:6.4 測試方法:a. 額定之輸出、輸入時,在規(guī)定之周圍溫度下,依下式計算:t1 - t210li=ls. 2l1:實際之有效壽命l

11、s:部品使用溫度范圍上限下之有效壽命t1:部品之使用溫度范圍上限t2:實際使用溫度。b. 算出之壽命時間應(yīng)呈規(guī)格所示可靠度測試規(guī)范reliability test specification編號 no.wi7308修訂日期amendment date版本versionv.01頁次page10發(fā)行日期release date90.11.127. noise immuuity噪聲免疫力:7.1 目的:確保待測產(chǎn)品之可靠度,確認輸入對加入脈沖之耐受程度。7.2 適用:所有機種。7.3 測試條件:a. 規(guī)格上有規(guī)定者,依規(guī)格實施。b. 周圍溫度:常溫、常濕。c. 輸入電壓:115vd. 輸出電壓:額定

12、。e.負載電流:100%f.脈沖規(guī)格:規(guī)格書所列值*110%(50q termination) 如規(guī)格為 2.2kv則脈沖以土2.2kv*110%土 2.2kv施加脈波寬為。100ns,500ns,1000ns ,時間五分鐘。g.接線圖:7.4 測試方法:a.依條件施加脈沖于輸入一輸入間,輸入一 ground問,應(yīng)無動作異常(含突入電流限 制回路、異常振蕩等)保護回路誤動作及組件損壞發(fā)生,測試時,輸出電壓之安定 度應(yīng)在總和變動規(guī)格范圍內(nèi)。編號no.wi7308修訂日期amendment date可靠度測試規(guī)范版本v.01reliability test specification貞次versi

13、onpage11發(fā)行日期release date90.11.128. electro static discharge靜電破壞:8.1 目的:確保待測產(chǎn)品之可靠度,確認產(chǎn)品對靜電氣之耐受程度。8.2 適用:規(guī)格書上規(guī)定之機種。8.3 測試條件:a. 周圍環(huán)境:常溫、常濕。b. 輸入電壓:額定(實測ac115v)c. 輸出電壓:額定d. 負載:額定100%e. 施加電壓:規(guī)格書之數(shù)值 x 110% charge capacitor 500pf-series resistor100 q,時間二 10 sec .f. 接線圖:4.1.8.4 測試方法:a.待測物ground部位,依條件施加脈沖電壓分

14、接觸外殼及隔離放電實施;不能有保 護回路誤動作,組件破損之異常發(fā)生。編號no.wi7308修訂日期amendment date可靠度測試規(guī)范版本v.01reliability test specification貞次versionpage12發(fā)行日期release date90.11.129. lightning surge 雷擊:9.1 目的:確認輸入端加入lightning surge 之耐受能力。9.2 適用:規(guī)格有規(guī)定之機種。9.3 測試條件:a. 規(guī)格書有規(guī)定依規(guī)格條件。b. 輸入電壓:額定(實測ac115v)c. 輸出電壓:額定d. 負載:額定e. 周圍環(huán)境:常溫、常濕f. 施加波

15、形:jec 212規(guī)定,波頭長1.2g 波尾長50肉之電壓,波形3kv*110%(限流電阻100q)。g. 接線圖:4.1.9.4測試方法:a.依規(guī)定測試條件,施加surge電壓于輸入一輸入,輸入一ground 土極各3回確認組件無破損,無絕緣破壞,flashover arc及保護回路誤動作情形發(fā)生可靠度測試規(guī)范reliability test specification編號no.wi7308修訂日期amendment date版本versionv.01貞次page13發(fā)行日期release date90.11.1210. input on/off at high temperature 高溫

16、輸入 on/off :10.1 目的:高溫時輸入電壓on/offs復(fù)施加,確認產(chǎn)品之信賴性。10.2 適用:所有機種適用。10.3 測試條件:a. 輸入電壓:規(guī)格之輸入電壓范圍最大值(例:265v)。b. 負載:額定100% loadc. 輸出電壓:額定d. 周圍溫度:動作可能溫度范圍+ 5c (例:65c)oe. 接線圖:4.1.10.4測試方法:a.待測物置于恒溫槽內(nèi),依條件之溫度設(shè)定,到達設(shè)定溫度后放置12小時,同時電源on/off1少500 cycle于輸入端,結(jié)束后確認組件無破損,輸出電壓與機 能正常(on 5 off 30s)??煽慷葴y試規(guī)范reliability test spe

17、cification編號 no.wi7308修訂日期amendment date版本versionv.01頁次page14發(fā)行日期release date90.11.1211. low temperature operation低溫動作確認:11.1 目的:為確保待測產(chǎn)品可靠度,確認周圍溫度下限之動作余裕度。11.2 適用:所有機種適用。11.3 測試條件:a. 輸入電壓:規(guī)格范圍之最小、最大值(實測最小值)。b. 輸出電壓:額定。c. 負載:最小、最大值(實測最大值)。d. 周圍溫度:動作可能溫度下限10coe. 接線圖:11.4 測試方法:a.待測物在測試溫度條件下設(shè)定為關(guān)機狀態(tài)充份放置(

18、至少1小時)關(guān)機狀態(tài),重新加入電源,確定可激活??煽慷葴y試規(guī)范reliability test specification編號 no.wi7308修訂日期amendment date版本versionv.01頁次page15發(fā)行日期release date90.11.1212. dynamic source effect 動的輸入變動:12.1 目的:確認待測產(chǎn)品在動的輸入變動下能正常動作12.2 適用:交流輸入之所有機種。12.3 測試條件:a. 規(guī)格書有規(guī)定者,依規(guī)格條件。b. 負荷:額定100%c. 周圍溫度:常溫。d. 輸出電壓:額定。e. 輸入變動條件:額定最小,額定最大。最大電壓額

19、定冏壁t=0.5secinputsource12.4 測試方法:a. 在基準動作狀態(tài)下(額定輸入電壓100%load)測定輸出電壓值vb. 計算電壓變動率:v h -vs x 100% v l -vs x 100%vsvsc. 計算之變動率,應(yīng)在總和變動之規(guī)格范圍內(nèi)。編號no.wi7308修訂日期amendment date版本versionv.01頁次page16發(fā)行日期release date90.11.1213. fan abnormal operation fan異常動作:13.1 目的:待測產(chǎn)品在自然冷卻使用情形下,確認fan停止運轉(zhuǎn),轉(zhuǎn)數(shù)變慢時,保護機能正常運作。13.2 適用:產(chǎn)

20、品因需風(fēng)扇冷卻而裝設(shè)之機種。13.3 測試條件:a. 輸入電壓:規(guī)格范圍內(nèi)之最小、最大值。b. 負載:最大100%。c. 周圍溫度:感熱組件部份,依動作可能溫度范圍上限+5c, 25c及下限5c共3點實施測試。其它部份則以動作可能溫度范圍上限+5c ,下限-5 c實施量測。d. 輸出電壓:額定。13.4 測試方法:a.主要晶體管、變壓器、chok等重要組件,以熱電藕量測記錄其結(jié)果。fan異常動作發(fā)生時觀測組件溫度上升應(yīng)記錄其結(jié)果。b.open frame之產(chǎn)品與系統(tǒng)產(chǎn)品搭配測試。c. 確定在測試條件下,無保護回路之誤動作發(fā)生,組件上升溫度不能超過規(guī)格值??煽慷葴y試規(guī)范reliability t

21、est specification編號no.wi7308修訂日期amendment date版本versionv.01貞次page17發(fā)行日期release date90.11.1214. vibration 振動:14.1 目的:為確保產(chǎn)品之信賴性,產(chǎn)品在制造時及運送時對振動之耐受程度需加以確認14.2 適用:所有機種適用。14.3 測試條件:a. 周圍溫度:常溫。b. 動作狀態(tài):non-operatingc. 振動頻率:5 10 hz 全振幅10 mm10 200hz力口速度 21.6m/sec 2 (2.2g)sweep time:10 min依對數(shù)變化。振動方向:x,y,z軸各1小時。

22、沖擊試驗程序:1. 試驗系統(tǒng)圖供源超胺方向 xkwi4201-02a4.1.14.4 測試方法:a.依測試條件或產(chǎn)品規(guī)格所列條件進行測試。b.測試完成后,以目視檢查(必要時用顯微鏡)待測物之外殼、基板、零件、配線有無異常;確認后,通電并確認輸出電壓及電氣特性有無異常。修訂日期amendment date一版本versionv.01發(fā)行日期release date90.11.12編號no.wi7308可靠度測試規(guī)范-reliability test specification 頁次page1815. shock 沖擊:15.1 目的:為確保待測物之可靠度,在制造時及運送時對沖擊之耐受程度需予以確

23、認15.2 適用:所有機種適用。15.3 測試條件:a. 沖擊加速度:588m/sec2(60g)b. 沖擊時間:11 + 5m sec 半波正弦波。c. 振動方向:x(x),y(y ),z,5方向,各3回。d. 周圍溫度:常溫。e.non operating15.4 a. b.1.測試方法:依測試條件進行測試。測試完成后,以目視檢查(必要時用顯微鏡)待測物之外殼、基板、零件、配線有 無異常;確認后通電并確認輸出電壓及電氣特性有無異常。沖擊測試程序:測試系統(tǒng)圖:供源a. 待測物需設(shè)計治具以固定之。(電木板及鋁板)b. 依測試條件施加予待測物。c. 加速度588m/sec2(60g)各方向3回。

24、d. 記錄試驗條件及結(jié)果??煽慷葴y試規(guī)范reliability test specification編號no.wi7308修訂日期amendment date版本versionv.01貞次page19發(fā)行日期release date90.11.1216. abnormal ripple 異常 ripple 確認:16.1 目的:確保待測產(chǎn)品之可靠度;由周圍溫度、輸入電壓、輸出電流之各條件組合下,確認其動作之安定性。16.2 適用:所有機種適用。16.3 測試條件:a. 負載:0% 100% (連續(xù))。b. 周圍溫度:動作溫度范圍(i.e.t20c60c - -20c/25 c/60 c)oc.

25、 輸入電壓:規(guī)格范圍最小最大(連續(xù))。d. 輸出電壓:額定。e. 接線圖:4.1.16.4測試方法:f. 待測物在不通電之狀態(tài)下,依測試之組合條件,在設(shè)定之溫度下放置1小時。g. 連續(xù)調(diào)整輸入電壓及負載電流,并觀察有無異常ripple之發(fā)生,如振蕩、間歇振蕩、ac ripple導(dǎo)致之微小異常振蕩。編號no.wi7308修訂日期amendment date版本versionv.01貞次page20發(fā)行日期release date90.11.1217. high temperature test高溫測試:17.1 目的:確認產(chǎn)品在高溫置放后,維持正常功能之特性。17.2 適用:所有機種適用。17.

26、3 測試條件:a.溫度:temp(deg c)7025functional inspection0 1 274 75 76t產(chǎn)品規(guī)格所列之儲存溫度上限time (hour)可靠度測試規(guī)范reliability test specificationwi4201-02ab. 輸入電壓:額定。c. 輸入頻率:50hz。d. 負 載:100% loade. 接線圖:17.4 測試方法:a.產(chǎn)品置于恒溫槽內(nèi),依上述之條件進行測試。b.溫度在達到預(yù)定之高溫th前后一小時之前于常溫下,須先進行功能測試,確認產(chǎn) 品之功能;測試后產(chǎn)品須無任何損傷。編號no.wi7308修訂日期amendment date版本v

27、ersionv.01貞次page21發(fā)行日期release date90.11.1218. low temperature test 低溫測試:18.1 目的:確認產(chǎn)品在低溫置放后,維持正常功能之特性。18.2 適用:所有機種適用。18.3 測試條件:a.溫度:temp(deg c)tb. 負載:100% loa dc. 輸入電壓:額定。d. 頻率:50h。e.tl:規(guī)格所列之儲存溫度下限f. 接線圖:18.4 測試方法:a. 產(chǎn)品置于恒溫槽內(nèi),依上述之溫度設(shè)定及接線圖進行測試。b. 溫度到達預(yù)訂之低溫,前后一小時前須進行功能測試,確認產(chǎn)品能正常動作;且無任何損傷。編號no.wi7308修訂日

28、期amendment date版本versionv.01頁次page22發(fā)行日期release date90.11.1219. temperature/humidity test 溫、濕度循環(huán)測試:19.1 目的:確認產(chǎn)品對周圍溫、濕度之適應(yīng)能力。19.2 適用:所有機種適用。19.3 測試條件:b.負載:100% loadtime (hour)c.輸入電壓:額定。d.頻率:e. 接線圖:4.1.19.4測試方法:a. 依上所列之測試條件及接線方式,執(zhí)行測試。b. 測試結(jié)束后,待測物需功能正常,零件無損壞情形編號no.wi7308修訂日期amendment date版本versionv.01貞

29、次page23發(fā)行日期release date20. strife test極限測試:20.1 目的:確認待測產(chǎn)品的耐受高溫之極限。20.2 適用:依需求規(guī)格列出之機種。20.3 測試條件:a.輸入電壓:額定。(110v/220v)e.負載:額定100% loadf.溫度:70 c (1hr) 一80 c (1hr) 一90 c (1hr) 一 100 c (1hr) 一至產(chǎn)品失效d.接線圖:20.4 測試方法:a. 產(chǎn)品置于恒溫槽內(nèi),依接線圖及條件設(shè)定。b. 當溫度到達默認值后,停留一小時,開始執(zhí)行功能測試。c. 產(chǎn)品若功能正常,將溫度每次升高10c,進行測試,至產(chǎn)品失效為止,記錄失效 之溫

30、度。d. 產(chǎn)品失效時,不能發(fā)生冒煙、起火等狀況??煽慷葴y試規(guī)范reliability test specification編號no.wi7308修訂日期amendment date版本versionv.01貞次page24發(fā)行日期release date21. pld test(輸入瞬斷測試):a.an undervoltage of 25% below the minimum input voltage, applied for two seconds,repeated 10 times : error free with a 10% duty cycle.b.an undervoltage

31、 of 35% below the minimum nominal input voltage, but not less than 68v,applied for 30 : error free cycles of the input frequency,repeated 10 times with a 10% duty cycle.c.an undervoltage of 100% below the minimum nominal input voltage,applied for 20 milli-seconds repeated 10 times : error free with

32、a 10% duty cycle.d.an overvoltage of 20% above the maximum nominal input voltage applied for two seconds,repeated 10 times with : error free a 10% duty cycle.e.when either of the following waveforms are applied to either polarity peak of the input voltage waveform.the waveforms shall consist of 400h

33、z 50hz or800hz 100h exponentially decaying sinusoid with apeak voltage equal to the peak nominal line volage : error free and decay time constant such that the fifth half-cycle of the disturbance is between 15 and 25% of the first half-cycle. the total duration of the disturbance shall not exceed on

34、e cycle of the line voltage.this test shall be repeated 320 times (80 positive rings and 80 negative rings at 400hz;80 positive rings and80 negative rings at 800hz) a three(3) second intervals.f.differential mode(line-to-line) and common mode (line-to-ground) voltage surges with open circuit voltage

35、s of 2.5kv peak 10% and 2kv peak 10% respectively. the source impedance of the surge generator shall be : error free 2 ohm 20%.the surge wave shall be defined in ansi/ieeec62.41(1980) and iec 60-2(1973).three positive and three negative surges shall be applied at 0,90,180, and 270 degrees(24 total).

36、 the time interval between surges shall be 18 seconds.修訂日期amendment date_版本versionv.01發(fā)行日期release date90.11.12編號no.wi7308可靠度測試規(guī)范,reliability test specification 頁次page25wi4201-02ag.a 100 nanosecond pulse with an amplitude of 400volts shall be superimposed on the peak of the : error free nominal input

37、 voltage and repeated at the linefrequency for ten(10) minutes.h.the power supply shall suffer no physical damage under the following disurbances in ac line voltage.repeat each test five times,returning the power supply : damage freeto its normal running conditions between tests.a complete line outage for any duration.i.the power supply shall suffer no physical damage under the following disturbances in ac line voltage. repeat each test five times,ret

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