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文檔簡介

1、實驗一 基本門電路的邏輯功能測試一、實驗?zāi)康?、測試與門、或門、非門、與非門、或非門與異或門的邏輯功能。2、了解測試的方法與測試的原理。二、實驗原理實驗中用到的基本門電路的符號為： 在要測試芯片的輸入端用邏輯電平輸出單元輸入高低電平，然后使用邏輯電平顯示單元顯示其邏輯功能。三、實驗設(shè)備與器件1、數(shù)字邏輯電路用PROTEUS 2、顯示可用發(fā)光二極管。3、相應(yīng)74LS系列、CC4000系列或74HC系列芯片若干。 四、實驗內(nèi)容1. 測試TTL門電路的邏輯功能：a） 測試74LS08的邏輯功能。(與門)000 010 100 111b） 測試74LS32的邏輯功能。（或門）000 011 101 1

2、11c） 測試74LS04的邏輯功能。（非門）01 10d） 測試74LS00的邏輯功能。（兩個都弄得時候不亮，其他都亮）（與非門）（如果只接一個的話，就是非門）001 011 101 110e） 測試74LS02（或非門）的邏輯功能。（兩個都不弄得時候亮，其他不亮）001 010 100 110f） 測試74LS86（異或門）的邏輯功能。2. 測試CMOS門電路的邏輯功能：在CMOS 4000分類中查詢a） 測試CC4081(74HC08)的邏輯功能。（與門）b） 測試CC4071(74HC32)的邏輯功能。（或門）c） 測試CC4069(74HC04)的邏輯功能。（非門）測試CC4011(

3、74HC00)的邏輯功能。（與非門）（如果只接一個的話，就是非門）d） 測試CC4001(74HC02)（或非門）的邏輯功能。f) 測試CC4030(74HC86)（異或門）的邏輯功能。五、實驗報告要求1. 畫好各門電路的真值表表格，將實驗結(jié)果填寫到表中。2. 根據(jù)實驗結(jié)果，寫出各邏輯門的邏輯表達式，并分析如何判斷邏輯門的好壞。3. 比較一下兩類門電路輸入端接入電阻或空置時的情況。4查詢各種集成門的管腳分配，并注明各個管腳的作用與功能。例：74LS00與門Y=AB輸入輸出ABY00001010011174LS32或門Y=A B輸入輸出ABY00011111111174LS04輸出AY0000101174LS0274LS86任意一個連都亮，兩個都連不亮（2）CC4081兩個都連得時候亮，其他都不亮CC4071兩個都不連的時候

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