電子元器件檢驗規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)書

1、.部分電子元器件檢驗規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)書(一)IC類檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗IC類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有IC之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。b. 包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量

2、是否相同,若不同不可接受；b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢點數(shù)外觀檢驗MAa. Marking錯或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b. 來料品名錯，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d. 元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超 過0.5mm2,且未露出基質(zhì), 可接受；否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；f. 元件腳彎曲，偏位, 缺損或少腳，均不可接受；目檢或10倍以上 的放大鏡檢驗時，必須佩帶靜電帶。 備注：凡用于真空完全密閉方式包裝的IC，由于管理與防護(hù)的特殊要求不能現(xiàn)場打開封裝的，I

3、QC僅進(jìn)行包裝檢驗，并加蓋免檢印章；該IC在SMT上拉前IQC須進(jìn)行拆封檢驗。拆封后首先確認(rèn)包裝袋內(nèi)的濕度顯示卡20%RH對應(yīng)的位置有沒有變成粉紅色，若已變?yōu)榉奂t色則使用前必須按供應(yīng)商的要求進(jìn)行烘烤。（二） 貼片元件檢驗規(guī)范(電容,電阻,電感)1. 目的便于IQC人員檢驗貼片元件類物料。2. 適用范圍適用于本公司所有貼片元件（電容,電阻,電感）之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件LCR數(shù)字電橋操作指引數(shù)字

4、萬用表操作指引檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是 否都正確,任何有誤,均不可接受。 b. 包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢 點數(shù)外觀檢驗MAa. Marking錯或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b. 來料品名錯，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d. 元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超過0.5mm2,且未露出基質(zhì), 可接受；

5、否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受； 目檢10倍以上的放大鏡檢驗時，必須佩帶靜電帶。電性檢驗MA元件實際測量值超出偏差范圍內(nèi).LCR測試儀數(shù)字萬用表檢驗時，必須佩帶靜電帶。二極管類型檢 測 方 法LED 選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向測量，LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光，而反向測量不發(fā)光；否則該二極 管不合格。 注：有標(biāo)記的一端為負(fù)極。其它二極管 選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向測量，讀數(shù)需小于1，而反向測量讀數(shù)需無窮大；否則該二極管不合格。 注：有顏色標(biāo)記的一端為負(fù)極。備注 抽樣計劃說明：對于CHIP二極管，執(zhí)行抽樣計劃時來料數(shù)量以盤為單位，樣本數(shù)也以盤為單位；從抽檢

6、的每 盤中取35pcs元件進(jìn)行檢測；AQL不變。檢驗方法見LCR數(shù)字電橋測試儀操作指引 和 數(shù)字萬用表操作指引。（三） 插件用電解電容.1. 目的作為IQC人員檢驗插件用電解電容類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件LCR數(shù)字電橋操作指引、數(shù)字電容表操作指引。檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL

7、上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢 點數(shù)外觀檢驗MAa. 極性等標(biāo)記符號印刷不清，難以辨認(rèn)不可接受；b. 電解電容之熱縮套管破損、脫落，不可接受；c. 本體變形，破損等不可接受；d.Pin生銹氧化，均不可接受。目檢可焊性檢驗MAa.Pin上錫不良，或完全不上錫不可接受。(將PIN沾上現(xiàn)使 用之合格的松香水，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收)實際操作每LOT取510PCS在 小錫爐上驗 證上

8、錫性尺寸規(guī)格檢驗MA a. 外形尺寸不符合規(guī)格要求不可接受。卡尺若用于新的Model，需在PCB上對應(yīng)的位置進(jìn)行試插電性檢驗MAa. 電容值超出規(guī)格要求則不可接受。用數(shù)字電容表或LCR數(shù)字電橋測試儀量測（四） 晶體類檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗晶體類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件數(shù)字頻率計操作指引檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MA

9、a. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都 正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢點數(shù)外觀檢驗MAa. 字體模糊不清，難以辨認(rèn)不可接受；b. 有不同規(guī)格的晶體混裝在一起，不可接受；c. 元件變形，或受損露出本體等不可接受；d. Pin生銹氧化、上錫不良，或斷Pin，均不可接受。目檢每LOT取510PCS在小錫爐上驗證上錫性電性檢驗MAa. 晶體不能起振不可接受；b. 測量值超出晶體的頻率范圍則不可接受。測試工位 和數(shù)字頻率計電性檢測方法

10、晶體檢 測 方 法32.768KHz 16.934MHz25.000MHz 在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測晶體, 再接通電源開機(jī); 在正常開機(jī)后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計測量晶體，看 測量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開機(jī)或測量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。24.576MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測晶體、CPU、內(nèi)存條等，再接通電源開機(jī)，看能否正常開機(jī)顯示；在正常開機(jī)顯示后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計測量晶體，看測量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開機(jī)顯示或測量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。（五） 三極管檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗三極管類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有三極管

11、之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。b. 包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢 點數(shù)外觀檢驗MAa. Marki

12、ng錯或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b. 來料品名錯，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d. 元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超 過0.5mm2,且未露出基質(zhì), 可接受；否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受。目檢10倍以上的放大鏡檢驗時，必須佩帶靜電帶。電性檢驗無(六)排針&插槽(座)類檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗排針&插槽(座)類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有排針&插槽(座)之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4. 允收

13、水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MA根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗MA a. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢 點數(shù)外觀檢驗MAa. Marking錯或模糊不能辯認(rèn)；b. 塑料與針腳不能緊固連接；c. 塑料體破損，體臟，變形，明顯色差，劃傷，縮水；d. 過錫爐后塑料體外觀變色，變形，脫皮;e. 針腳擰結(jié)，彎曲，偏位, 缺

14、損，斷針或缺少；f. 針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹;g. 針腳端部成蘑菇狀影響安裝.目檢焊錫性檢驗MAa. PIN上錫不良，或完全不上錫,均不可接受；(將零件腳插入 現(xiàn)使用之合格松香水內(nèi)，全部浸潤，再插入小錫爐5秒鐘 左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收)實際操作每LOT取510PCS在小錫爐上驗證上錫性安裝檢驗MAa. 針腳不能與標(biāo)準(zhǔn)PCB順利安裝;b. 針腳露出機(jī)板長度小于0.5mm或大于2.0mm;卡尺針腳露出機(jī)板長度的標(biāo)準(zhǔn)為0.5mm2.0mm范圍內(nèi)。（七）CABLE類檢驗規(guī)范1. 目的作為C人員檢驗CABLE類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有CABL

15、E類之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5 參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa. 數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢點數(shù)外觀檢驗MAa. 五金件變形、劃傷、生銹、起泡、發(fā)黃或其它電鍍不良；b.塑料體變形、劃傷

16、、毛邊、破（斷）裂、異色等不良；c.排線破損、斷裂、變形、異色、露銅絲、切口不齊等均不 可接受；d.排線與支架等組裝不牢，易松脫；e.標(biāo)識CABLE接插方向的顏色不能明確分辯；c. 排線接頭的顏色不符合規(guī)格要求;g.排線表面的絲印錯.1.目檢2.按前后左右上下各輕搖3次排線接頭處，看有無松脫現(xiàn)象參考Mechanical Drawing of Cable尺寸檢驗MAa.長度不符合規(guī)格要求不可接受.卷尺尺寸參考Mechanical Drawing of Cable電性測試檢驗MAa. 排線的接線方式錯不可接受;b. 排線接觸不良或不能運行不可接受;c. IDE排線的傳輸速率不符合要求不可接受.每批取10pcs送QA,請QA的同事幫助測試?yán)y試檢驗MAa. 與公端對插,插拔力不符合規(guī)格要求的不可接受.( 拉力測試: 用標(biāo)準(zhǔn)Box Header與排線對插好，用拉力計測出其CABLE完全被拉出后的最大拔出力。)實際操作備注 1. 要求如