液晶面板不良現(xiàn)象Defect Code的命名及現(xiàn)象簡介PPT演示課件

AUOProprietary2.Cell段導(dǎo)電性Particle造成電荷的Leakage,檢測畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.50公分明顯可見的紅色、綠色、藍色小光點。2.如下圖所示。3.完整一顆Subpixel發(fā)亮則稱為亮點。,DA11亮點(BrightPoint),成因：1.Array金屬殘留;Cell段導(dǎo)電性突起物2.Cell段導(dǎo)電性突起物,檢測畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.50公分可見的紅色、綠色或藍色忽亮忽暗的小光點。2.其閃爍的速度不定有的快有的慢。3.通常為完整一顆的Subpixel。,DA111閃爍亮點(FlashPoint),成因：1.Array金屬殘留2.Cell段導(dǎo)電性突起物3.Cell段導(dǎo)電性突起物RepairFail,檢測畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.因為觸碰產(chǎn)品表面而出現(xiàn)的50公分可見的紅色、綠色或藍色小光點。2.出現(xiàn)後有可能變成亮點也可能變成閃爍亮點。3.通常為完整的一顆Subpixel。,DA112壓力點(PressPoint),成因：1.PI刮傷2.ITO破洞3.Cell製程中的污染,檢測畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.50公分輕微可見的紅色、綠色或藍色微小光點。2.沒有固定形狀且常數(shù)顆或成群出現(xiàn)。3.通常為1/3顆的Subpixel。,DA113碎亮點(SmallBP),成因：1.ITO殘留2.AS殘留,檢測畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.50公分可見的混色小光點。2.任何兩相鄰亮點的四角或四邊有連接情形者皆稱之.,DA12二連亮點(BP-Pair),成因：1.Array元件特性不良2.O/LShift3.Cell製程中導(dǎo)電性Particle,檢測畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.50公分可見的混色或偏白色的光點。2.任何三顆相鄰亮點者皆稱之。,DA13聚集亮點(Point-Cluster),成因：1.Array元件特性不良;2.Cell段導(dǎo)電性Particle造成電荷的Leakage,檢測畫面L0階(黑畫面)?，F(xiàn)象敘述裸視可見,50公分正視不可見,放大鏡看占滿整個subpixel,DA114微亮點(smallbrightdot),成因：1.Array元件特性不良;2.Cell段導(dǎo)電性Particle造成電荷的Leakage,檢測畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.50公分可見的綠色的光點。,DA16綠點(GreenBrightPoint),成因：1.ITO殘留2.AS殘留,檢測畫面1.L0階2.L116階3.RGB4.1/5gomi現(xiàn)象敘述1.50公分可見的垂直長條型綠色的光點。,DA161垂直二連綠亮點(V-PairGreenBrightDot),成因：1.Array元件特性不良;2.刮傷3.Cell段導(dǎo)電性Particle,檢測畫面L0階畫面、L116階畫面?，F(xiàn)象敘述50公分可見的兩顆靠近的亮點。,DA17靠近亮點(BP-Near),成因：1.Array元件特性不良2.AS殘留3.ITO殘留4.Cell製程中導(dǎo)電性Particle5.刮傷,檢測畫面1.L0,L48,L92,L116,L255,RGB現(xiàn)象敘述1.50公分明顯可見的紅色、綠色或藍色小光點和暗點，總數(shù)合計超過規(guī)格。,DA181亮暗點總數(shù)(Point-Count),成因：1.Array元件與GateLine之間有Leakage2.ITO殘留3.AS殘留,檢測畫面L0,L48,L92,L116,L255,RGB現(xiàn)象敘述1.同一畫面中同時存在亮點與暗點並有兩點間距離不合規(guī)格時。,DA182亮暗點間距(DP-BPnear),成因：Array元件與GateLine之間有Leakage,檢測畫面RGB,L255階畫面?，F(xiàn)象敘述1.50公分明顯可見的黑色小點。2.Subpixel未正常發(fā)亮。,DA21暗點(DarkPoint),成因：Array元件與GateLine之間有Leakage,檢測畫面W/R/G/B,L255階畫面?，F(xiàn)象敘述1.50公分明顯可見的黑色小點。2.Subpixel未正常發(fā)亮。,DA22二連暗點(DP-Pair),成因：Array元件與GateLine之間有Leakage,檢測畫面W/R/G/B,L255階畫面?，F(xiàn)象敘述1.50公分明顯可見三顆或以上相連接的黑色小點。2.Subpixel未正常發(fā)亮。,DA23聚集暗點(ClusterPoint),成因：1.刮傷2.Array元件與GateLine之間有Leakage,檢測畫面R/G/B,L255階畫面?，F(xiàn)象敘述50公分明顯可見兩顆靠近的小暗點。,DA231靠近暗點(DP-Near),成因：光罩曝光部分重疊,檢測畫面G92階畫面。現(xiàn)象敘述1.50公分明顯可見塊狀、條狀或十字形顏色較深的區(qū)塊。2.常發(fā)生位置如下:,DA31面繼Mura(ShotMura),成因：1.背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片尺吋過大2.背光板Frame設(shè)計不良尺吋過小或製程出問題造成Frame尺吋過小3.背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片經(jīng)Agine後熱漲冷縮造成,檢測畫面L255畫面?，F(xiàn)象敘述40度側(cè)視明顯可見波浪狀痕跡。,DB33PMura(PMura),成因：1背光板膜片設(shè)計不良2.背光板內(nèi)的膜片在燈管兩側(cè)週邊補償印刷太過,檢測畫面L0畫面?，F(xiàn)象敘述畫面四角出現(xiàn)偏亮白色的色塊但輪廓不明顯，,DB34角Mura(HornMura),成因：1.背光板膜片設(shè)計不良2.背光板內(nèi)的膜片在燈管側(cè)週邊補償印刷太過,檢測畫面L255畫面?，F(xiàn)象敘述在產(chǎn)品燈管側(cè)可見一條或一段顏色較暗的色帶。,DB4暗線(DarkLine),成因：1.背光板原材不良本身即有背光板髒污2.背光板經(jīng)組裝或重工時組裝不慎造成,檢測畫面L255畫面?，F(xiàn)象敘述1.50公分側(cè)視(或由上往下看)即可見明顯的一條亮度比全白的背景更亮更白的白色線或點，直徑約為1-3mm不等。2.以正視會變淡或看不見。,DB51背光板刮傷/Prism損傷(B/Lscratch/Prismsheetdamage),成因：1背光板原材不良本身即有背光板髒污2.背光板經(jīng)組裝或重工時組裝不慎造成,檢測畫面L255畫面?，F(xiàn)象敘述1.50公分可見大小大於背光板異物且形狀與色差均較背光板異物模糊小霧狀物體。2.以15倍放大鏡(15XLupe)無法看出明顯異物者。,DB52背光板髒污(B/Ldirty),成因：1人員操作失誤。2.原材不良,檢測畫面L255(63)畫面。現(xiàn)象敘述產(chǎn)品因燈管損壞而造成該區(qū)域顏色偏暗。,DB6Lamp暗/BLU暗(lampdark),成因：1.泛指一般末定義的背光板原材不良,DB7背光源材料不良(BackLightMaterialDamage),成因：1.背光板原材不良本身燈源線材有斷裂情況2.測試人員操作不良燈源線材有斷裂情況,DB8燈管shutdown(Lampshutdown),成因：1.人員在組裝時造成的particle,2.B/L來料時就有的particle,3.cell表面的particle,檢測畫面1.L255L1/5gomi現(xiàn)象敘述1.用放大鏡看,particle在RGB的下面,并且會隨視線的動而動.,DB11下gomi(B/LParticle),成因:背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片上有殘膠或透明異物,檢測畫面L255(63)畫面。現(xiàn)象敘述1.50公分正視即可見明顯的一顆亮度比全白的背景更亮更白的白色點，直徑約為1-10mm不等。2.以上視或其他角度會變淡或看不見,DB12背光板白點(B/Lwhitespot),成因：1.Bezel變形或間隙過大2.遮光膠帶貼付對位不準3.玻璃漏光,檢測畫面L0畫面或漢字框畫面?，F(xiàn)象敘述漏光係指鐵框與玻璃間所出現(xiàn)的條狀白色、黃色、褐色或藍色亮線，長度不一定，有時呈數(shù)段出現(xiàn)。,DB21漏光(Lightleakage),B/L漏光,鐵框漏光,成因：1.Bezel變形或間隙過大2.遮光膠帶貼付對位不準3.玻璃漏光,檢測畫面漢字字框畫面?，F(xiàn)象敘述畫面週圍的有色細線斷掉或?qū)挾雀淖儭?DB22漢字字框缺陷(waku),成因：背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片組裝不良或尺寸不合,檢測畫面L255畫面?，F(xiàn)象敘述畫面任一邊出現(xiàn)顯示區(qū)與BM區(qū)間的亮白色細線，仔細看通常呈一邊較細一邊較粗的現(xiàn)象,DB23背光板內(nèi)層偏移(Black-LightSheetShift),成因：背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片定位片尺吋不對或組裝偏移,檢測畫面GB128畫面。現(xiàn)象敘述通常出現(xiàn)在畫面兩側(cè)(或單側(cè))的2/3高度左右(依產(chǎn)品別位置可能有所差異)，有的呈亮白色有的呈暗黑色，形狀為小長方形但輪廓呈暈開現(xiàn)象。,DB31耳朵Mura(EarMura),成因：1.背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片燈管側(cè)補償印刷過度2.背光板設(shè)計不良，燈管過亮,檢測畫面L0畫面,L255階.現(xiàn)象敘述在產(chǎn)品燈管側(cè)可見一條或一段顏色較亮的色帶。,DB32亮度Mura(KidoMura),成因：液晶氣泡可分為真空泡和空氣泡，一般來說真空泡形成原因為laserrepair所造成，可經(jīng)由autoclave後消除。而空氣泡比較無法經(jīng)由autoclave消除，其成因為：1.液晶脫泡不完全，2.進VPA預(yù)抽QTime過長，3.Panel液晶封口不良。,檢測畫面任何畫面現(xiàn)象敘述50公分可見黑色或彩色水草狀或線狀痕跡，輕觸其週邊有陷入的現(xiàn)像。,DC10液晶氣泡（LCBubble),成因：,檢測畫面L0畫面?，F(xiàn)象敘述側(cè)視可見類似星雲(yún)狀的亮帶，顏色與形狀皆不一定。,DC11小星星(sandy),成因：,檢測畫面L48,L92,L116畫面?，F(xiàn)象敘述本畫面出現(xiàn)直徑約2mm的白色小圓點，正視即可見，其亮度、形狀與背光板白點有明顯的差異。,DC12白點(whitespot),成因：,檢測畫面L48、L92、L116。現(xiàn)象敘述本畫面出現(xiàn)直徑約2mm的白色小圓點，正視即可見。,DC13點黑(blackspot),成因：,檢測畫面L0畫面?，F(xiàn)象敘述通常成團出現(xiàn)，50公分看起來像很多碎亮點集中在一起，以15倍放大鏡檢驗可看別Subpixel的某些部份顏色變淡，刮傷，無顏色，破洞皆稱之。,DC14CF缺陷(CFdefect),成因：BM不夠黑，原材問題。,檢測畫面漢字字框?，F(xiàn)象敘述BM區(qū)原本黑色變成咖啡色或褐色.,DC141BM區(qū)CF缺陷（BMCFDefect),成因：1人員操作失誤。2.原材不良,檢測畫面L0畫面。現(xiàn)象敘述現(xiàn)象類似Sandy，但其顏色為亮白色圓型，以15X放大鏡檢視可看出極細微的亮點聚集在一起,DC16Spacer破裂(Spacerbroken),成因：1人員操作失誤。2.原材不良,檢測畫面:L48,L92,L116?，F(xiàn)象敘述50公分正視可見約呈45度向左或向右斜的條紋狀Mura，通常為白色條紋間有規(guī)律的間隔。,DC21配向(Rubbingmura),成因：CF膜厚不均。,檢測畫面L0畫面?，F(xiàn)象敘述40度由上往下看可見位在產(chǎn)品中間以下部份一大片看似雲(yún)狀的Mura，其成因類似GapMura，但觸碰其週周圍沒有波動。,DC215雲(yún)狀Mura(CloudyMura),成因：1.PI塗佈膜厚不均。2.PI膜內(nèi)有水痕、異物或汙染。,檢測畫面L48、L92、L116?，F(xiàn)象敘述無特定形狀、位置、大小，通常為灰白或灰黑色，整個Mura色差很平均不會在輪廓處擴散霧開，故其形狀較明顯。,DC216PIMura(PIMura),成因：1.Cell製作過程中所點的銀膠過大或過高，造成CellGap(間隙)改變。2.Cell製作過程中所塗佈的框膠過大或過高，造成CellGap(間隙)改變。上述兩個原因皆會造成週邊Mura。,檢測畫面L0階畫面?，F(xiàn)象敘述1.會在Panel四周邊形成，按升降階可見其亮度。2.特徵:在全白畫面會泛黃。,DC23週邊Mura(AroundMura),成因：1.CF(彩色濾光片)製作過程中某一個顏色曝光或成型時有間題，造成該顏色畫面出現(xiàn)黑點或深色色塊。2.CF(彩色濾光片)製作過程中成型時膜厚不均。上述兩個原因皆會造成色Mura。,檢測畫面R、G、B、L92階畫面。現(xiàn)象敘述1.在R、G、B其中一色出現(xiàn)的小白圓點。2.該Mura只出現(xiàn)在R、G、B、L92階畫面其中一個或兩個畫面者稱之。,DC24色Mura(ColorMura),成因：1.Cell製作過程中PI膜塗佈不均，造成GB128畫面出現(xiàn)垂直狀色塊2.Rubbing製程中成型時膜厚不均。上述兩個原因皆會造成垂直狀Mura。,檢測畫面L48、L92、L116階。現(xiàn)象敘述升降階確認成立一直線白色的Mura。,DC26垂直狀Mura(V-LineMura),成因：1Polarizort材料製作過程中因補償膜本身有條紋狀細紋,有時出現(xiàn)白色有時出現(xiàn)黑色的斜紋狀色塊。,檢測畫面1.L0階2.L92階3.L48階現(xiàn)象敘述一般都為斜形狀，比一般其他Mura更立體。,DC261筋狀mura(TFTPFlinearmura),成因：尚未有明確成因。,檢測畫面L0,L48,L92,L116,L255,RGB階畫面?，F(xiàn)象敘述像有顏色細細麵線形狀，在水藍GB128畫面確認，會逐漸消失淡掉。,DC27縱筋mura(MultipleV-LineMura),成因：1.Cell製作過程中PI膜塗佈不均，造成GB128畫面出現(xiàn)水平狀色塊。2.Rubbing製程中成型時膜厚不均。上述兩個原因皆會造成水平狀Mura。,檢測畫面L48,L92,L116階畫面?，F(xiàn)象敘述像暈開的Mura橫條狀。,DC28水平狀mura(H-LineMura),成因：1.上(CF)玻璃與下(TFT)玻璃因外力施壓，造成上下兩片玻璃間的對位有偏移的現(xiàn)象。2.CF在Sub-pixel間的BM寬度預(yù)留寬度不足，外力施壓後無法遮住玻璃偏移造成的TFT金屬線路外露，以50公分40度側(cè)視時會有一整片或藍或綠亮亮的現(xiàn)象。,檢測畫面L0階畫面。現(xiàn)象敘述在L0階畫面用滾輪拉出的色差。,DC29可動式mura(Moveablemura),成因：1.畫面檢驗完畢關(guān)掉電源後畫面出現(xiàn)水平線狀或其他形狀的殘留影像，通常為IC與Cell搭配有問題。,DC32關(guān)機殘像(AfterImage),成因：1.上下玻璃因外力擠壓造成玻璃間隙變小,檢測畫面1.L0/L48/L92/L116/L255/RGB階調(diào)中以最明顯的pattern判定現(xiàn)象敘述1.在defect的附近用手輕壓,此defect會動.,DC33黑GAPMura(Cell)BlackGapMura(Cell),成因：1.Cell原材不良所造成，玻璃間隙變大。,檢測畫面GB128畫面?，F(xiàn)象敘述白色的GapMura。,DC331白GapMura(Cell)WhiteGapMura(Cell),成因：1.上下玻璃因外力擠壓造成玻璃間隙變大，此外力通常是JI段自動化機臺的治具不平或不清潔造成2.偏光板重工時因為撕偏光板機臺調(diào)校不良或製程參數(shù)失準，導(dǎo)致偏光板撕離時用力過度造成。,檢測畫面L0、L48、L92、L116階畫面?，F(xiàn)象敘述手壓Panel形成漩渦狀，現(xiàn)象特別明顯。,DC34GAPMura(Module),成因：原因不明。,檢測畫面L48、L92、L116階畫面?，F(xiàn)象敘述PI變厚或變薄所形成不規(guī)則形狀，無特定之名稱。,DC35Mura(Mura),成因：Cell漏光可能形成之原因為：1.Pixel線路刮傷。2.ITO破洞。3.微小之particle，掉落在線路上，造成short。,檢測畫面L0、L48、L92、L116階?，F(xiàn)象敘述在升降階時於面板四周有亮亮之情形。,DC356Cell漏光（Celllightleakage）,成因：1.Cell原材不良。2.玻璃清洗機臺的刮刀卡到玻璃屑。3.裂片機臺上有玻璃屑。,檢測畫面1.點亮檯燈現(xiàn)象敘述1.Cell刮傷處目視可見,DC359Cell刮傷(CellScratch),成因：1.注入口封膠污染。2.注入口封膠厚度不均造成玻璃間隙改變。,檢測畫面GB128階畫面。現(xiàn)象敘述在面板右側(cè)注入口位置，升降階可見其色差，或由上往下看，用Lupe確認Subpixel一點一點的像CFDefect。,DC36注入口不良(Injwhitemura),成因：,檢測畫面L92階。現(xiàn)象敘述針對B152EW01和B141XN04-2/25這兩種Model,Panel每秒搖三下,會看見不規(guī)則形狀的水波紋。,DC37Cell波紋狀(CellRipple),成因：,檢測畫面L48,L92,L116畫面。現(xiàn)象敘述不規(guī)則狀大小、不定區(qū)域，類似MURA，看似霧狀物。,DC5黑霧(BlackFog),成因：1.CF玻璃與TFT玻璃組裝時對位不良造成。,檢測畫面L0畫面、升降階畫面?，F(xiàn)象敘述50公分正視Cell組裝不良處可見一亮帶，以15X放大鏡檢驗可看到SubPixel側(cè)邊有漏光現(xiàn)象。,DC91Cell組裝偏移(Cellassyshift),成因：遮光黑色膠布貼付不良。,檢測畫面漢字框畫面?，F(xiàn)象敘述黑色膠布已露出偏光板BM面上,DM1黑色膠布露出(ExcessBlacktape),成因：1Polarizort材料製作過程中因補償膜本身有條紋狀細紋,有時出現(xiàn)白色有時出現(xiàn)黑色的斜紋狀色塊。,檢測畫面L0畫面、升降階畫面?，F(xiàn)象敘述不規(guī)則狀，不固定區(qū)域，俗稱IPMura。,DM2燒付(Imprint),成因：1.玻璃經(jīng)COG製程高溫高壓處理造成應(yīng)力集中與變形,檢測畫面GB128畫面、L92畫面、升降階畫面。現(xiàn)象敘述COG製程的產(chǎn)品容易在COG相關(guān)位置出現(xiàn)。,DM11COGMuraCOGMura),成因：Cell原材不良上偏光板有異物，通常指未經(jīng)過模組段偏光板重工者。,檢測畫面L0階(黑畫面)。現(xiàn)象敘述Panel內(nèi)上偏光板與Cell玻璃之間，有異物，L0檢查亮的異物，L63階檢查黑色異物。,DP111上偏光板異物(cell)TopPFParticle(cell),成因：Cell原材不良下偏光板有異物，通常指未經(jīng)過模組段偏光板重工者。,檢測畫面L0L63階(黑畫面)?，F(xiàn)象敘述Panel內(nèi)下偏光板與Cell玻璃之間，有異物，L0檢查亮的異物，L63階檢查黑色異物。,DP112下偏光板異物(cell)TopPFParticle(cell),成因：1上偏光板有異物，通常指經(jīng)過模組段偏光板重工者。,檢測畫面L0L63階(黑畫面)?，F(xiàn)象敘述Panel內(nèi)上偏光板與Cell玻璃之間，有異物，L0檢查亮的異物，L63階檢查黑色異物。,DP121上偏光板異物(module)TopPFParticle(module),成因：1.下偏光板有異物，通常指經(jīng)過模組段偏光板重工者。,檢測畫面L0L48階(黑畫面)?，F(xiàn)象敘述Panel內(nèi)下偏光板與Cell玻璃之間，有異物，L0檢查亮的異物，L48階檢查黑色異物。,DP122下偏光板異物(module)BottomPFParticle(module),成因：1.下偏光板有異物，通常指經(jīng)過模組段偏光板重工者。,檢測畫面L0L48階(黑畫面)?，F(xiàn)象敘述Panel內(nèi)下偏光板與Cell玻璃之間，有異物，L0檢查亮的異物，L48階檢查黑色異物。,DP122下偏光板異物(module)BottomPFParticle(module),成因：1.上偏光板原材刮傷。2.人員取放動作不當。3.硬式保護膜硬度太高。,檢測畫面L0階。現(xiàn)象敘述偏光板上有熔解的痕跡，而顏色為黑色，而燒傷區(qū)域大部份在Panel的四周BM區(qū)域。,DP21上偏光板刮傷(TopPFScratch),成因：1.偏光板原材不良(負翹太嚴重)2.Pol貼付機臺rollergap未調(diào)整好。,DP31偏光板氣泡(PFBubble),成因：1.偏光板原材不良(沾附particle)2.機臺內(nèi)部particle污染。,檢測畫面L255階、L92階?，F(xiàn)象敘述偏光板內(nèi)有污點或髒污，類似Mura或Gomi。,DP4偏光板髒污（TopPFDirt）,成因：1.Cell原材不良。2.軟式保護膜上有投影筆筆跡轉(zhuǎn)印到偏光板。,檢測畫面L255階?，F(xiàn)象敘述在白畫面容易看出有投影筆痕跡，位置在偏光板內(nèi)部。,DP41偏光板投影筆筆跡(PolarizerHandwritingDirty),成因：1.偏光板原材不良。2.Robot上有particle。3.settable上有particle。4.cleanroller上有particle。,檢測畫面1.點亮檯燈現(xiàn)象敘述1.傷痕目視可見,DP6上偏光板壓傷(TopPFDent),成因：1.Cell原材不良。2.JI機臺治具不清潔有硬異物殘留導(dǎo)軟壓傷偏光板。,檢測畫面L0階、L92階現(xiàn)象敘述大的類似BlackGapMura有黑色和白色，小的有時很像異物,DP61下偏光板壓傷(BottomPFDent),成因：1.偏光板原材不良。2.化學(xué)藥品污染。,檢測畫面L92畫面、升降階畫面?，F(xiàn)象敘述偏光板層內(nèi)類似Mura，在L0階會比較明顯看出偏光板腐蝕。,DP7偏光板腐蝕(Chemicalpollution),成因：,檢測畫面1.B/L點亮2.所有檢測畫面現(xiàn)象敘述1.垂直區(qū)塊性缺陷(亮區(qū)塊、暗區(qū)塊、區(qū)塊顏色與周圍不同)皆屬之。2.多重垂直性區(qū)塊皆屬之。,TM3垂直區(qū)塊缺陷(V-BlockDefect),成因：,檢測畫面1.B/L點亮2.所有檢測畫面現(xiàn)象敘述1.水平區(qū)塊性缺陷(亮區(qū)