可靠性試驗培訓PPT

可靠性試驗培訓,可靠性發(fā)展及重要性,2,可靠性和質量不可分離，其前身是伴隨著兵器的發(fā)展而誕生和發(fā)展的。,從公元前26世紀冷兵器時代開始經過4000年發(fā)展，成熟期在二戰(zhàn)時期。,德國使用火箭和美國使用原子彈為標志。美國當時的航空無線電設備有60%不能正常工作，電子設備在規(guī)定的使用期限內共有30%的時間能有效工作。,二戰(zhàn)期間，因可靠性引起的飛機損失慘重，損失飛機2100架，是被擊落的1.5倍。,可靠性的發(fā)展背景,28-Apr-20,可靠性發(fā)展及重要性,可靠性的發(fā)展,可靠性開始興起：1940s1950s二戰(zhàn)的需求，推出了許多新的產品，包括電子開關，真空管便攜式收音機，雷達和電子雷管，也帶來了產品可靠性的問題?？煽啃愿拍顏碜缘聡?1945年德國科學家把它帶到美國?？煽啃匝杆侔l(fā)展：1960s1980s隨著美國航空及航天工業(yè)，汽車工業(yè)和計算機產業(yè)的迅速發(fā)展，推動可靠性的迅速發(fā)展?？煽啃赃M入成熟期并國際化：1990s2000s推廣和應用高加速壽命試驗（HALT）、高加速應力試驗（HAST）10minutesoak;3cycles/hror-4085,airtoair;10minutesoak;3cycles/hr，2000cycleTHT：30/60RH，4000HHT&H：55/85RH，4000H判定標準：Whisker45um(TCT）Whisker40um(THT/HT&H）,41,28-Apr-20,可靠性試驗項目,跌落試驗（板級）Droptest（boardlevel）,42,28-Apr-20,可靠性試驗項目,跌落試驗（板級）Droptest（boardlevel）,RepresentativeTestBoard,DropTestBoardDescription,Bulksoldercracknearcomponentside,IMCcrackatPCBbumppad,CrackatcoppertraceatPCBside,43,28-Apr-20,可靠性試驗認證資質,CNAS認可中國合格評定國家認可委員會認可的實驗室/檢查機構,公正科學服務改進,44,28-Apr-20,可靠性失效案例,某產品TCT200后，RDSON偏大分析：導電膠分層,某產品TCT500后分析：點斷,45,28-Apr-20,可靠性失效案例,樣品PCT96后一顆PIN2開路失效分析：球脫,樣品UHAST96后1顆OS失效分析：球脫,46,28-Apr-20,可靠性失效案例,樣品HTST后失效分析：點斷,47,28-Apr-20,可靠性失效案例,樣品MSL后基島有紅區(qū)異常分析：分層,取一顆樣品切割，3K顯微鏡下觀