統(tǒng)計(jì)制程管制講義(spc)PPT課件

.,1,統(tǒng)計(jì)制程管制講義(SPC),時(shí)間:2002/10/5,天馬行空官方博客：,.,2,前言,本講義是在美國(guó)質(zhì)量控制協(xié)會(huì)(ASQC)汽車部供方質(zhì)量要求編寫組和汽車工業(yè)行動(dòng)集團(tuán)(AIGA)的共同主持下,由克萊斯勒福特和通用公司共同編寫的.本講義主要介紹以下制程管制方法:XRChart(平均值和全距圖);XsChart(均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖);,SPC,.,3,3)XRChart(中位數(shù)圖);4)XMRChart(單值和移動(dòng)極差圖);5)PChart(不合格品率圖);6)nPChart(不合格品數(shù)圖);7)CChart(不合格數(shù)圖);,SPC,天馬行空官方博客：,.,4,第一章持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述:過程控制之措施檢測(cè)-容認(rèn)浪費(fèi)(質(zhì)量,成本)預(yù)防-避免浪費(fèi)采取局部措施通常用來消除變差的特殊原因,SPC,.,5,通常由與過程直接相關(guān)的人員實(shí)施大約可糾正15%的問題對(duì)系統(tǒng)采取措施通常用來消除變差的普通原因幾乎總是要求管理措施,以便糾正大約可糾正85%的過程問題,SPC,.,6,有反饋過程控制系統(tǒng)模型,SPC,.,7,控制圖的益處合理使用控制圖能:供正在進(jìn)行過程控制的人員了解狀況有助于過程在質(zhì)量上和成本上持續(xù)地,可預(yù)測(cè)地保持下去使過程達(dá)到:-更高的質(zhì)量,SPC,.,8,-更低的單件成本-更高的有效能力為討論過程能力提供共同的語(yǔ)言區(qū)分變差的特殊原因和普通原因,作為采取局部措施或特殊措施的指南,SPC,.,9,使用控制圖的準(zhǔn)備建立適用於實(shí)施的環(huán)境(準(zhǔn)備充分的實(shí)施條件)定義過程確定測(cè)量系統(tǒng)使不必要的變差最小(人員,量具等),SPC,.,10,制作管制圖的步驟1.收集數(shù)據(jù)1.1選擇子組大小頻率和數(shù)據(jù)a.子組大小-計(jì)量型第一個(gè)關(guān)鍵步驟就是“合理子組的確定”-這一點(diǎn)將決,SPC,.,11,b.子組頻率-其目的是檢查經(jīng)過一段時(shí)間后過程中的變化.c.子組數(shù)的大小-子組數(shù)的大小應(yīng)滿,定控制圖的效果及效率.在過程的初期研究中,子組一般由45件連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品組合(子組樣本容量需恆定).,SPC,.,12,足,兩個(gè)原則,從過程的角度來看,收集越多的子組可以確保變差的主要原因有機(jī)會(huì)出現(xiàn).一般情況下,包含100或更多單值讀數(shù)的25或更多個(gè)子組,可以很好地用來檢驗(yàn)穩(wěn)定性,如果過程已穩(wěn)定.則可以得到過程位置,SPC,.,13,和分布寬度的有效的估計(jì)值.1.2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)1.3計(jì)算每個(gè)子組的均值(X)和極差(R)對(duì)每個(gè)子組,計(jì)算:R=X最大值X最小值X=(X1+X2+.+Xn)/n式中:X1,X2.為子組內(nèi)的每個(gè)測(cè)量值.,SPC,.,14,n為子組樣本容量.1.4選擇控制圖的刻度對(duì)于X圖,坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組均值(X)的最大值與最小值差的2倍.對(duì)于R圖,刻度值應(yīng)從最低值為0開始到最大值之間的差,SPC,.,15,值為初始階段遇到的最大極差(R)的2倍.1.5將均值和極差畫在控制圖上2.計(jì)算控制限2.1計(jì)算平均極差(R)及過程平均值(X)在研究階段,計(jì)算:R=(R1+R2+.+Rk)/kX=(X1+X2.+Xk)/k,SPC,.,16,式中:k為子組的數(shù)量.2.2計(jì)算控制限計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時(shí)子組的均值和極差的變化範(fàn)圍.按以下公式計(jì)算控制限:UCLR=D4RLCLR=D3RUCLX=X+A2RLCLX=X-A2R,SPC,.,17,表一,式中:D4D3A2為常數(shù),它們隨樣本的容量不同而不同,見附表1如下:,SPC,.,18,對(duì)於樣本容量小於7的情況,LCLR技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值.這種情況下沒有控制下限.2.3在控制圖上作平均值和極差控制限的控制線將極差(R)和過程均值(X)畫成水平實(shí)線,各控制限(CUCLR,LCLR,UCLx,LCLx)畫成水平虛線.3.過程控制解釋,SPC,.,19,3.1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)由于不論解釋子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差.因此我們先分析R圖.a.超出控制限的點(diǎn)-出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任一個(gè)控制限是該點(diǎn)處?kù)妒Э貭顟B(tài)下的主要證據(jù).通常說明存在下列,SPC,.,20,情況中的一種或幾種:控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò);零件間的變化已增大;測(cè)量系統(tǒng)變化(例如,不同的檢驗(yàn)員或量具);測(cè)量系統(tǒng)沒有適當(dāng)?shù)姆直媪?,SPC,.,21,b.鏈-有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變或出現(xiàn)這種超勢(shì):連續(xù)七點(diǎn)位于平均值的一側(cè);連續(xù)七點(diǎn)上升或下降.3.2分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)當(dāng)極差受統(tǒng)計(jì)控制時(shí),則認(rèn)為過程的分,SPC,.,22,布寬度-子組內(nèi)的變差-是穩(wěn)定的.然后對(duì)均值圖進(jìn)行分析看在此過程的位置是否改變.a.超出控制限的點(diǎn)-出現(xiàn)一點(diǎn)或多點(diǎn)超出任一控制限就證明這點(diǎn)出現(xiàn)特殊原因.這是立即對(duì)操作進(jìn)行分析的信號(hào),SPC,.,23,一點(diǎn)超出控制限通常表明存在下列情況之一或更多:控制限或描點(diǎn)錯(cuò)誤;過程已改變,或是在當(dāng)時(shí)的那一點(diǎn)或是一種趨勢(shì)的一部分;測(cè)量系統(tǒng)發(fā)生變化(如不同檢驗(yàn)員或量具).,SPC,.,24,b.鏈-下列每一種情況都表明過程已開始變化或有變化的趨勢(shì):連續(xù)七點(diǎn)在平均值的一側(cè);七點(diǎn)連續(xù)上升或下降.4.明顯的非隨機(jī)圖形盡管我們不強(qiáng)調(diào)過分的解釋數(shù)據(jù).但其它一些特別的圖形中也能表明存在變差的,SPC,.,25,特殊原因.下面給出檢驗(yàn)異常分布寬度的準(zhǔn)則:各點(diǎn)與過程均值的距離:一般情況下,大約2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限三分之一的中間區(qū)域內(nèi),大約1/3的點(diǎn)應(yīng)落在其它三分之二的區(qū)域;1/20的點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之處(位于外三分之一的區(qū)域).另外,存在大約,SPC,.,26,1/150的點(diǎn)落在控制限之外,但可以認(rèn)為是受控的穩(wěn)定系統(tǒng)合理的一部份-就是說,大約99.73%的點(diǎn)位于控制限之內(nèi).5.計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)差標(biāo)準(zhǔn)差通常有下列公式:(1)=R/d2式中,R為子組極差的均值,d2隨樣本容量變,SPC,.,27,化的常數(shù),見下表:,SPC,.,28,6.計(jì)算過程能力過程能力是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值與規(guī)范界限的距離.Cp-(CapabilityofPrecision)規(guī)格界限與實(shí)際制程界限之比值.,SPC,.,29,Cp=,=T/6,Cp的規(guī)格等級(jí)Cp值說明A1.33=Cp續(xù)續(xù)改善B1.00=Cp1.33盡快改為A級(jí),(規(guī)格上限規(guī)格下限)實(shí)際過程能力,SPC,.,30,C0.83=Cp1.00立即檢討改善DCp0.83全面檢討,停產(chǎn)Ca-(CapabilityofAccuracy)制程中心值與期望中心值間的差異.,Ca=,制程中心值規(guī)格中心值,(規(guī)格上限規(guī)格下限)*0.5,X-,T/2,SPC,=,.,31,Ca的規(guī)格等級(jí)Ca值說明ACa=12.5%續(xù)續(xù)維持現(xiàn)狀B12.5%Ca=25%盡可能改善為A級(jí)C25%Ca=50%立即檢討改善D50%Ca全面檢討,停產(chǎn)Cpk-同時(shí)考慮精密度與準(zhǔn)確度(通常稱為制程能力指數(shù)),SPC,.,32,Cpk的規(guī)格Cpk=Cp(1-Ca)或Cpk=CpCpk=(USLX)/3(單邊值計(jì)算)等級(jí)Cp值說明A1.33=Cpk制程能力合格B1.00=Cpk1.33能力尚可CCpk1.00努力改善為A,SPC,.,33,X-R圖樣本,SPC,.,34,均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖(Xs)象X-R圖一樣,X-s圖也是從測(cè)得的過程輸出數(shù)據(jù)中發(fā)展來的.由於極差圖容易計(jì)算且對(duì)樣本容量較小的子組(尤其是小于9的)較為有效.所以研究出了極差圖作為過程變差的度量.樣本的標(biāo)準(zhǔn)差s是過程變異性更有效的指標(biāo),尤其是對(duì)于樣本容量較大的情況.一般來說,SPC,.,35,當(dāng)出現(xiàn)下列一種或多種情況時(shí)用s代替R圖:數(shù)據(jù)是由計(jì)算按實(shí)時(shí)時(shí)序記錄/或描圖的.則s的計(jì)算程序易於集成化;有方便用的袖珍計(jì)算機(jī)使s的計(jì)算能簡(jiǎn)單按程序算出;使用的子組樣本容量較大,更有效的變差量度是有效的.,SPC,.,36,除以下幾步驟計(jì)算有差異外,其它計(jì)算都與X-R圖相同:a.收集數(shù)據(jù)利用下列公式之一計(jì)算每個(gè)子組的標(biāo)準(zhǔn)差:,SPC,.,37,b.計(jì)算控制限計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)差和均值的上下控制限:UCLs=B4sUCLx=X+A3s,SPC,.,38,LCLs=B3sLCLx=X-A3s式中s為各子組樣本標(biāo)準(zhǔn)差擴(kuò)均值.B4B3和A3隨樣本容量變化的常數(shù).如下表:,X-s控制限計(jì)算常數(shù)表,SPC,.,39,=s/c4=s/c4式中:s為各子組樣本標(biāo)準(zhǔn)差均值,C4為隨樣本容量變化擴(kuò)常數(shù),如下表:,過程標(biāo)準(zhǔn)差常數(shù)表,c.過程能力解釋估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)差:,SPC,.,40,中位數(shù)圖(XR)中位數(shù)圖可代替X-R圖用於於測(cè)量的數(shù)據(jù)過程控制.盡管中位數(shù)在統(tǒng)計(jì)意義上不如均值那樣理想,但中位數(shù)可產(chǎn)生相同的結(jié)論並具如下優(yōu)點(diǎn):中位數(shù)易于使用,並不要求很多計(jì)算.這樣可以使車間工人易于接受控制圖的方法;,SPC,.,41,由于描的是單值的點(diǎn),中位數(shù)圖可顯示過程輸出的分布寬度並且給出過程變差的趨勢(shì);由于一張圖上可顯示中位數(shù)及分布寬度,所以它可用來對(duì)幾個(gè)過程的輸出或同一過程的不同階段的輸出進(jìn)行比較;中位數(shù)圖的詳細(xì)說明與X-R圖類似,不同之,SPC,.,42,處如下:a.收集數(shù)據(jù)一般情況下,中位數(shù)圖在子組樣本容量小於或等於10的情況,樣本容量為奇數(shù)時(shí)更方便.如果子組樣本容量為偶數(shù),中位數(shù)是中間兩個(gè)數(shù)的均值;只要描一張圖,刻度的設(shè)置為下列的較,SPC,.,43,大者(a)產(chǎn)品規(guī)範(fàn)容差加上允許的超出規(guī)範(fàn)的讀數(shù)或(b)測(cè)量值的最大值與最小值之差的1.5倍到2倍.圖的刻度應(yīng)與量具一致.將每個(gè)子組的單值描在圖中一條垂直線上,圈出每個(gè)子組的中位數(shù)(中間值:如果樣本容量為偶數(shù),中位數(shù)為中間兩個(gè)數(shù)值平均值).為幫助解釋其趨勢(shì),將各子組的中位數(shù)用直線,SPC,.,44,連接起來;將每個(gè)子組的中位數(shù)(X)和(R)填入數(shù)據(jù)表.建議同時(shí)畫出極差圖來觀察趨勢(shì)或鏈.b.計(jì)算控制限計(jì)算中位數(shù)的均值,並在圖上畫上這條線作為中心線,將此值記為X;計(jì)算極差的平均值,記為R;,SPC,.,45,計(jì)算極差和中位數(shù)的上下控制限:UCLR=D4RLCLR=D3RUCLx=X+A2RLCLx=X+A2R式中:D4D3和A2是隨樣本容量變化的趨勢(shì),在控制圖上表明中位數(shù)控制線下表是樣本容量從2到10的常數(shù)值:,SPC,.,46,.,c.過程控制解釋估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差:,SPC,.,47,=R/d2式中:R為樣本極差的均值,d2為隨樣本容量變化的常數(shù),下表是樣本容量從2到10的d2值.,D2的常數(shù)表,SPC,.,48,單值和移動(dòng)極差圖(X-MR)在某些況情況下,有必要用單值而不是子組來進(jìn)行過程控制,這樣的情況下,子組內(nèi)的變差實(shí)際上為0,這種情況通常發(fā)生在測(cè)量費(fèi)用很大時(shí)(如破壞性試驗(yàn)),或是當(dāng)在任何時(shí)刻點(diǎn)輸出性質(zhì)比較一致時(shí)(如化學(xué)液的ph值).在這種情況下,可按下面介紹的方法繪制單值控制,SPC,.,49,圖.但應(yīng)注意下面四點(diǎn):單值控制在檢查過程變化時(shí)不如X-R敏感;如果過程的分佈不是對(duì)稱的,則在解釋單值控制圖時(shí)要非常小心;單值控制圖不能區(qū)分過程的零件間重復(fù)性;,SPC,.,50,由於每一個(gè)子組僅有一個(gè)單值,X和值會(huì)有較大的變異性.單值控制圖的詳細(xì)介紹與X-R圖有些相同,不同之處如下:a.收集數(shù)據(jù)在數(shù)據(jù)圖上從左至右記錄單值讀數(shù)(X).計(jì)算單值間的移動(dòng)極差(MR).,SPC,.,51,單值極差圖的刻度按下列最大者選取產(chǎn)品的規(guī)范容差加上超過規(guī)范讀數(shù)的允許值.或最大單值讀數(shù)與最小單值讀數(shù)之差的1.5到2倍.移動(dòng)極差圖的刻度間隔應(yīng)與X圖一致.b.計(jì)算控制限計(jì)算並描繪過程平均值,並計(jì)算平均極差(R),計(jì)算控制限:,SPC,.,52,式中:R為移動(dòng)平均極差,X是過值,D4D3和E2是用來對(duì)計(jì)算移動(dòng)極差進(jìn)行分組,並隨樣本容量變化的常數(shù),其常數(shù)見下表:,UCLMR=D4RLCLMR=D3RUCLx=X+E2RLCLx=X+E2R,SPC,.,53,c.過程控制解釋,計(jì)算控制限用常數(shù)表,SPC,.,54,審檢移動(dòng)極差圖中超出控制限的點(diǎn),這是存在特殊原因的信號(hào).可用單值圖分析控制限的,點(diǎn)在控制限內(nèi)點(diǎn)的分布,以及趨勢(shì)的圖形.d.過程能力解釋與X-R圖一樣,可用下式估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)差:,SPC,.,55,=R/d2=R/d2式中:R為移動(dòng)極差的均值,d2是用於對(duì)移動(dòng)極差分組的樣本容量n而變化的常數(shù),下面是d2的常數(shù)表:,D2常數(shù)表,SPC,.,56,用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖,盡管控制圖大多數(shù)情況下都與計(jì)量型數(shù)據(jù)聯(lián)系在一起,但也開發(fā)了用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖.計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)只有兩個(gè)值(合格/不合格,成功/不成功,通過/不通過,出席/缺席).但它們可被計(jì)數(shù)從而用來分析.計(jì)數(shù)型控制圖是很重要的,原因如下:計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的情況存在于何技朮或行政,SPC,.,57,管理過程中,所以可以在很多場(chǎng)合下應(yīng)用計(jì)數(shù)型分析技朮,最大的問題是對(duì)什麼是不合格下一個(gè)精確的可操作的定義;很多情況下已的計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)-檢驗(yàn)要求修理的書面記錄拒收材料的篩選等.在這些情況下可將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化成控制圖.在必須收集新數(shù)據(jù)的地方,獲得計(jì)數(shù)型數(shù),SPC,.,58,據(jù)通常很快且不需很多費(fèi)用.並且由于使用簡(jiǎn)單的量具,所以通常不需要專業(yè)化的技朮.許多用于管理總結(jié)報(bào)告的數(shù)據(jù)是計(jì)數(shù)型的並且可以從控制圖分析中獲得益處.當(dāng)一個(gè)組織機(jī)構(gòu)內(nèi)引進(jìn)控制圖時(shí),優(yōu)先解決某些問題及在最需要的地方應(yīng)用控制,SPC,.,59,圖是很重要的.應(yīng)用控制圖的準(zhǔn)備工作建立一個(gè)適用于行動(dòng)的環(huán)境;定義過程;確定要管理的特性.應(yīng)考慮:-顧客的需求;,SPC,.,60,-當(dāng)前及潛在的問題領(lǐng)域;-特性之間的關(guān)系.定義測(cè)量系統(tǒng),使之具有可操作性;使不必要的變差最小.不合格品率的p圖p圖用來測(cè)量在一批件檢驗(yàn)項(xiàng)目中不合格品(不符合或所謂的缺陷)項(xiàng)目的百分?jǐn)?shù).例如,SPC,.,61,一個(gè)由75個(gè)零件組成的樣本,每天抽樣二次,是以每小時(shí)或每天為基礎(chǔ)分組的產(chǎn)品的某一百分率,或是及時(shí)交貨的比率等.這可以評(píng)價(jià)一個(gè)特性值或是許多特性值.重要的是:把被檢查的每一元件/零件或項(xiàng)目記錄成合格或不合格(即一個(gè)項(xiàng)目有幾處不合格,也僅記錄為一個(gè)不合格項(xiàng));,SPC,.,62,把這些檢驗(yàn)的結(jié)果按一個(gè)有意義的基礎(chǔ)條件分組,並且把不合格的項(xiàng)目用占子組大小的十分之幾來表示.1.收集數(shù)據(jù)1.1選擇子組的容量頻率及數(shù)量a)子組容量-用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量(例如,SPC,.,63,50200或更多)以便檢驗(yàn)出性能的一般變化.對(duì)于顯示可分析的圖形的控制圖,子組容量應(yīng)足夠大,大到每個(gè)子組內(nèi)包括幾個(gè)不合格品.b)分組頻率-應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題.時(shí)間間隔短則反饋快,但也與大,SPC,.,64,的子組容量要求相矛盾.c)子組的數(shù)量-收集數(shù)據(jù)的時(shí)間應(yīng)足夠,長(zhǎng)使得能找到所有可能影,響過程的變?cè)?一般情況下,也應(yīng)包括25或更多的子組,以便能更好地檢驗(yàn)過程的穩(wěn)定性,並且如果過程穩(wěn)定,對(duì)過程性能也可產(chǎn)生可靠的估計(jì).,SPC,.,65,1.2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率(p)記錄每個(gè)子組內(nèi)的下列值:被檢項(xiàng)目的數(shù)量-n以現(xiàn)不合項(xiàng)目的數(shù)量-np通過這些數(shù)據(jù)計(jì)算不合格品率:p=np/n這些數(shù)據(jù)記錄在數(shù)據(jù)表中作為初步開究的,SPC,.,66,基礎(chǔ).當(dāng)最近的過程數(shù)據(jù)適用時(shí),它們可以用來加速這一階段的研究.1.3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo).子組識(shí)別(小時(shí),天數(shù))作為橫坐標(biāo).縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的1.52倍的值.,SPC,.,67,1.4將不合格品率描繪在控制圖上描繪每個(gè)子組的p值,將這些點(diǎn)連成通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢(shì).當(dāng)描點(diǎn)完成后,粗覽一遍看看它們是否合理.如果任意一點(diǎn)比別的高出或低出許多,檢查計(jì)算是否正確.當(dāng)發(fā)現(xiàn)影響過程的特殊情況時(shí)應(yīng)記錄在備注欄內(nèi).,SPC,.,68,2.計(jì)算控制限2.1計(jì)算過程平均不合格品率(p)對(duì)于k個(gè)子組的研究時(shí)期,計(jì)算否合格品率的均值如下:n1p1+n2p2+.+nkpk,n1+n2+.+nk,P=,式中:n1p1,n2p2.及n1,n2.為每個(gè)子組,SPC,.,69,內(nèi)的不合格項(xiàng)目數(shù)及檢查的項(xiàng)目數(shù).注意不要混淆不合格品百分?jǐn)?shù)和否合格品率.2.2計(jì)算上下控制限(UCLLCL)如果過程受統(tǒng)計(jì)控制,子組樣本容量一定,則控制限為過程平均值加或減期望變差允許值.,SPC,.,70,式中:n為恒定的樣本容量.注:當(dāng)p很小或n很小時(shí),LCL的計(jì)算值有時(shí)會(huì)為負(fù)值,在這種情況下則沒有下控制限,因?yàn)榧磿r(shí)極精確的時(shí)期內(nèi)P=0,也在隨極差變差極限內(nèi).,SPC,.,71,2.3畫線並標(biāo)注過程均值(p)-水平實(shí)線.控制限(UCLLCL)-水平虛線.上述給出的控制限計(jì)算公式適用于子組容量相同的情況下,理論上,只要樣本容量改變(即使是一個(gè)子組容量),控制限隨之變化,在對(duì)每個(gè)具有不同樣本容量的子組應(yīng)分別計(jì)算各,SPC,.,72,控制限.但實(shí)際應(yīng)用時(shí),當(dāng)各子組容量與其平均值相差不超過正負(fù)25%時(shí),可用平均樣本容量(n)來計(jì)算控制限.合理的程序?yàn)?確定可能超過其平均值25%的樣本容量范圍,找出樣本容量超出該范圍的所有子組;按下式重新計(jì)算這些點(diǎn)準(zhǔn)確的控制限:,SPC,.,73,式中:n為特殊子組樣本容量,點(diǎn)與點(diǎn)之間只有n的值變化.3.過程控制用控制圖解釋目的:找出過程不再以同一水平運(yùn)行的証據(jù)-即過程失控-並采取相應(yīng)的措施.其它的控制圖解釋同X-R圖解釋.,SPC,.,74,SPC,a.收集數(shù)據(jù)(除前面p圖所講的相同外,不同之處如下)受檢驗(yàn)樣本的容量必須相等.分組的周期應(yīng)按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定.樣本容量應(yīng)足夠大使每個(gè)子內(nèi)組內(nèi)都出