推力測(cè)試指引.xls

序 號(hào) 日 期 最小拉力數(shù) 附件三 東 莞 新 進(jìn) 電 子 有 限 公 司 文件名稱文 號(hào)SDE IN Q0062管制印章 幫線拉力測(cè)試指引 版 本1 日 期28 Apr 2004 統(tǒng)計(jì) 者 審核 者 L C L 7 0 U C L 15 0 C L 11 0 15 13 11 9 0 7 0 5 0 3 0 X控制圖 g 12 10 8 6 4 2 R控制圖 g 3231 3029282725 26232221 2419 17182016151413111281097465213 L C L 0U C L 10 0 型號(hào) 班次 幫線拉力測(cè)試控制圖 X R SMT東莞新進(jìn)電子有限公司 機(jī)器編號(hào) 第 6 共 6 頁(yè) 幫線拉力測(cè)試指引 SDE FM Q042 REV 1 管制印章 序 號(hào) 日 期 最小推力數(shù) 附件三 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 文件名稱文 號(hào)SDE IN Q0062管制印章 晶片推力測(cè)試指引 版 本1 日 期28 Apr 2004 統(tǒng)計(jì) 者 審核 者 L C L 5 0 U C L 9 0C L X 7 0 10 9 0 8 0 7 0 6 0 5 0 4 0 X控制圖 kg 6 5 4 3 2 1 R控制圖 kg 323130 29282725 2623222124191718201615 14131112 8 10974652 1 3 L C L 0U C L 4 0 0 型號(hào) 班 次 晶片推力測(cè)試控制圖 X R SMT東莞新進(jìn)電子有限公司 第 6 共 6 頁(yè) 晶片推力測(cè)試指引 SDE FM Q0043 REV 1 管制印章 這是東莞新勁電子有限公司之管制文件 只有得到品質(zhì)規(guī)劃部 經(jīng)理特別授權(quán) 此份文件才可以非管制文件形式復(fù)印使用或交 予第三者或用于其它目的 修 訂 履 歷 修訂號(hào)修訂內(nèi)容摘要發(fā)行日期 0 首次發(fā)行 9 DEC 2002 1內(nèi)容修改 28 Apr 2004 起草者 劉 彬日期 28 Apr 2004 核對(duì)者 肖德興日期 Apr 2004 批準(zhǔn)者 肖德興日期 Apr 2004 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 文件名稱文 號(hào)SDE IN Q0062管制印章 晶片推力測(cè)試指引 版 本1 日 期 28 Apr 2004 第 1 共 6 頁(yè) 晶片推力測(cè)試指引 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 管制印章 SMT 東莞新進(jìn)電子有限公司 晶片推力測(cè)試表 MODEL 日期 NO U1U2檢驗(yàn)結(jié)果 OK NG 批號(hào) 推力標(biāo)準(zhǔn) 5kg 接著面積 75 推力標(biāo)準(zhǔn) 5kg 接著面 積 75 處理方法 1 2 白班 11 12 133 夜班 22 22 23 統(tǒng)計(jì) X 平均數(shù) 統(tǒng)計(jì) X 平均數(shù) 檢驗(yàn)次數(shù) 1 2 R 極差數(shù)R 極差數(shù)檢驗(yàn)者 推力總數(shù)推力總數(shù)核對(duì)者 日期 NO U1U2檢驗(yàn)結(jié)果 OK NG 批號(hào) 推力標(biāo)準(zhǔn) 5kg 接著面積 75 推力標(biāo)準(zhǔn) 5kg 接著面積 75 處理方法 1 2 白班 11 12 133 夜班 22 22 23 統(tǒng)計(jì) X 平均數(shù) 統(tǒng)計(jì) X 平均數(shù) 檢驗(yàn)次數(shù) 1 2 R 極差數(shù)R 極差數(shù)檢驗(yàn)者 推力總數(shù)推力總數(shù)核對(duì)者 日期 NO U1U2檢驗(yàn)結(jié)果 OK NG 批號(hào) 推力標(biāo)準(zhǔn) 5kg 接著面積 75 推力標(biāo)準(zhǔn) 5kg 接觸著積 75 處理方法 1 2 白班 11 12 133 夜班 22 22 23 統(tǒng)計(jì) X 平均數(shù) 統(tǒng)計(jì) X 平均數(shù) 檢驗(yàn)次數(shù) 1 2 R 極差數(shù)R 極差數(shù)檢驗(yàn)者 推力總數(shù)推力總數(shù)核對(duì)者 日期 NO U1U2檢驗(yàn)結(jié)果 OK NG 批號(hào) 推力標(biāo)準(zhǔn) 5kg 接著面積 75 推力標(biāo)準(zhǔn) 5kg 接著面積 75 處理方法 1 2 白班 11 12 133 夜班 22 22 23 統(tǒng)計(jì) X 平均數(shù) 統(tǒng)計(jì) X 平均數(shù) 檢驗(yàn)次數(shù) 1 2 R 極差數(shù)R 極差數(shù)檢驗(yàn)者 推力總數(shù)推力總數(shù)核對(duì)者 備注 1 每班次抽3PCS出來(lái)作推力測(cè)試 若有1PCS不合格 必須再作測(cè)試 若兩次 不合格 則整批交予品質(zhì)經(jīng)理處理 2 總數(shù)由測(cè)量的3臺(tái)推力數(shù)相加後得出 3 X 平均數(shù)由總數(shù)除以3得出 4 R 極差數(shù)由最大拉力數(shù)減去最小拉力數(shù)得出 SDE FM Q002 REV 0 晶片推力測(cè)試表 附件二 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 文件名稱文 號(hào)SDE IN Q0062管制印章 晶片推力測(cè)試指引 版 本1 日 期28 Apr 2004 第 5 共 6 頁(yè) 晶片推力測(cè)試表 附件二 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 管制印章 晶片推力測(cè)試指引 一一 目目的的 檢查晶片粘力是否附合要求 以便對(duì)生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行控制 二二 適適用用范范圍圍 適用于所有幫定的型號(hào) 三三 職職責(zé)責(zé) 3 1 品質(zhì)部 3 1 1 IPQC對(duì)粘膠且烘干后之產(chǎn)品進(jìn)行抽檢 當(dāng)出現(xiàn)不良時(shí) 必須通知PE進(jìn) 行改善 並重新抽檢改善后之推力 直至合格為止 3 1 2 IPQC需將抽檢結(jié)果記錄于 晶片推力測(cè)試表 及將晶片推力平均值X和極差R繪 于 晶片推力控制圖 中 並需對(duì)X R數(shù)據(jù)進(jìn)行監(jiān)察 3 1 3 品質(zhì)主管需對(duì)抽檢結(jié)果進(jìn)行確認(rèn)並對(duì)X R的大小及走向進(jìn)行監(jiān)控 3 1 4 品質(zhì)經(jīng)理視不良情形對(duì)不良批進(jìn)行處理 3 2 PE 3 2 1 當(dāng)IPQC測(cè)得晶片推力不符合標(biāo)準(zhǔn)時(shí) PE必須即時(shí)分析原因並采取相應(yīng)措施 3 2 2 PE須根據(jù)晶片推力測(cè)試結(jié)果對(duì)點(diǎn)膠機(jī)進(jìn)行日常維護(hù)和調(diào)整 3 3 生產(chǎn)部 生產(chǎn)部必須配合品質(zhì)部及PE進(jìn)行工作 四四 測(cè)測(cè)試試工工具具 4 1 推力計(jì) 量程為0 10kg 4 2 晶片推力測(cè)試工裝 五五 測(cè)測(cè)試試頻頻率率 5 1 測(cè)試時(shí)間 粘膠且烘干首批產(chǎn)品后 5 2 測(cè)試頻率 每班次各抽3PCS進(jìn)行晶片推力測(cè)試 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 文件名稱文 號(hào)SDE IN Q0062管制印章 晶片推力測(cè)試指引 版 本1 日 期 28 Apr 2004 第 2 共 6 頁(yè) 六六 測(cè)測(cè)試試步步驟驟及及要要求求 6 1 將粘膠烘干后之PCB放于晶片推力測(cè)試工裝上 如圖一所示 6 2 確認(rèn)推力計(jì)的校正日期是否在有效期內(nèi) 如超過(guò)有效期限需 送校合格後方可使用 6 3 將推力計(jì)放于晶片測(cè)試工裝上 並讓測(cè)試頭垂直對(duì)準(zhǔn)晶片 如圖一所示 6 4 確認(rèn)推力計(jì)的指針指到0位置 如沒(méi)指到0位置必須調(diào)至0位置 6 5 如圖一所示的方向推動(dòng)推力計(jì) 當(dāng)指針指到大于或等于5KG時(shí) 如晶 片沒(méi)從PCB上脫落 即時(shí)停止推動(dòng)推力計(jì)並將此時(shí)的測(cè)試數(shù)據(jù)記錄于 晶片推力測(cè)試記錄 上 當(dāng)推動(dòng)過(guò)程中晶片從PCB上脫落 需即時(shí) 將此時(shí)的測(cè)試數(shù)據(jù)記錄下來(lái) 如測(cè)試數(shù)據(jù)小于5KG 需即時(shí)通知PE跟進(jìn) 同時(shí)IPQC再抽3PCS作測(cè)試 若兩次不合格 則整批交給品質(zhì)經(jīng)理處理 七七 附附表表 7 1 附件一 7 2 附件二 7 3 附件三 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 文件名稱文 號(hào)SDE IN Q0062管制印章 晶片推力測(cè)試指引 版 本1 晶片推力測(cè)試指引 日 期 28 Apr 2004 第 3 共 6 頁(yè) 晶片推力測(cè)試示意圖 附件一 東 莞 新 勁 電 子 有 限 公 司 文件名稱文 號(hào)SDE IN Q0062管制印章 向此方向推動(dòng)推力計(jì) 測(cè)試頭垂直對(duì)準(zhǔn)晶片 晶片推力測(cè)試指引 晶片推力測(cè)試指引 版 本1 日 期 28 Apr 2004 第 4 共 6 頁(yè) 晶片推力測(cè)試指引 3 1 2