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文檔簡介

集成與非門電路參數的測試一、 實驗目的（1） TTL和CMOS與非門的電壓傳輸特性的測試（2） TTL和CMOS與非門的主要參數及測試方法二、 實驗器件(1) HBE硬件基礎電路實驗箱、雙蹤示波器、數字萬用表(2) 元器件：74LS00、CD4011三、 實驗內容1. 測試與非門74LS00的電壓傳輸特性測量電路原理如圖所示，調節(jié)電位器RW，使Vi從0V向5V變化，逐點測試Vi和Vo，列表記錄Vi和Vo值。根據測試數據畫出門電路的傳輸特性曲線。+5V+5V電路連線：1413&2+Vi-V+Vo-V7實驗數據：Vi0.450.730.831.111.281.391.471.581.69Vo4.444.434.424.243.292.331.520.130.13 傳輸特性曲線：Vo/V4.543.532.521.510.50 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4 1.6 1.8 Vi/V 原理： 根據調節(jié)上拉電阻接入電路中的電阻值來調節(jié)Vo和Vi的大小從而得出關系曲線。VDD +5V2. 與非門電壓傳輸特性曲線與TTL與非門電壓傳輸特性曲線測試方法基本一樣。這是將不用的輸入端接到電源+VDD(+5V)上即可，不得懸空。下圖為用示波器X-Y方式的測試電路，輸入信號電壓Vi應為+5V正弦直流電壓。&141CH1Vi +5.00V32CH27電路連線：如上圖。示波器顯示：原理：利用信號發(fā)生器產生一個連續(xù)信號在電路圖中的Vi端輸入到電路中，再用示波器的X-Y方式顯示電路中的CH1和CH2信號的關系圖像，動態(tài)測試與非門電壓傳輸特性曲線。四、 實驗心得此次實驗內容很少，但任然花了好長時間才做出來，而且還是在老師幫助下。示波器調節(jié)比較難弄，連線也有些糾結，通過此次實驗我更加深

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