薄膜材料與技術(shù)08級(jí)第2章薄膜沉積的化學(xué)方法.ppt_第1頁
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薄膜材料與技術(shù) Thin Film Materials & Technologies,武濤 副教授 2011年 秋季學(xué)期,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,概 念:薄膜制備過程中,凡是需要在一定化學(xué)反應(yīng)發(fā)生的前提下完成薄膜制備的 技術(shù)方法,統(tǒng)稱為薄膜沉積的化學(xué)方法。 條 件:化學(xué)反應(yīng)需要能量輸入和誘發(fā) 優(yōu)、缺點(diǎn):設(shè)備簡(jiǎn)單、成本較低、甚至無需真空環(huán)境即可進(jìn)行; 化學(xué)制備、工藝控制復(fù)雜、有可能涉及高溫環(huán)境。 分 類:,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.1 熱生長(zhǎng),概 念:指在充氣環(huán)境下,通過加熱基片的方式 直接獲得氧化物、氮化物或碳化物薄膜 的方法。 特 點(diǎn):非常用技術(shù) 主要用于生長(zhǎng)金屬或半導(dǎo)體的氧化物薄膜 設(shè) 備:通常在傳統(tǒng)的氧化爐中進(jìn)行。 主要應(yīng)用:制備SiO2薄膜(用于Si器件制備) 有用的薄膜性質(zhì): 生長(zhǎng)與沉積的區(qū)別:,熱生長(zhǎng)設(shè)備及原理示意圖,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD,Chemical Vapor Deposition),概 念:氣態(tài)反應(yīng)物在一定條件下,通過化學(xué)反應(yīng),將反應(yīng)形成的固相產(chǎn)物沉積于基片表面, 形成固態(tài)薄膜的方法。 基本特征:由反應(yīng)氣體通過化學(xué)反應(yīng)沉積實(shí)現(xiàn)薄膜制備! 設(shè)備的基本構(gòu)成: 氣體輸運(yùn) 氣相反應(yīng) 去除副產(chǎn)品 (薄膜沉積),2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD,Chemical Vapor Deposition),化學(xué)反應(yīng)的主控參數(shù):,主要應(yīng)用場(chǎng)合:,主要優(yōu)勢(shì):1)能形成多種金屬、非金屬和化合物薄膜; 2)組分易于控制,易獲得理想化學(xué)計(jì)量比,薄膜純度高; 3)成膜速度快、工效高(沉積速率 PVD、單爐處理批量大); 4)沉積溫度高、薄膜致密、結(jié)晶完整、表面平滑、內(nèi)部殘余應(yīng)力低; 5)沉積繞射性好,可在復(fù)雜不規(guī)則表面(深孔、大臺(tái)階)沉積; 主要缺點(diǎn):1)沉積溫度高,熱影響顯著,有時(shí)甚至具有破壞性; 2)存在基片-氣氛、設(shè)備-氣氛間反應(yīng),影響基片及設(shè)備性能及壽命; 3)設(shè)備復(fù)雜,工藝控制難度較大。,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.1 CVD的主要化學(xué)反應(yīng)類型,一、熱解反應(yīng):薄膜由氣體反應(yīng)物的熱分解產(chǎn)物沉積而成。 1)反應(yīng)氣體:氫化物、羰基化合物、有機(jī)金屬化合物等。 2)典型反應(yīng): 硅烷沉積多晶Si和非晶Si薄膜: SiH4 (g) Si (s) + 2H2 (g) 6501100 羰基金屬化合物低溫沉積稀有金屬薄膜: Ni(CO)4 (g) Ni (s) + 4CO (g) 140240 Pt(CO)2Cl2 (g) Pt (s) + 2CO (g) + Cl2 (g) 600 有機(jī)金屬化合物沉積高熔點(diǎn)陶瓷薄膜: 2Al(OC3H7)3 (g) Al2O3(s)+6C3H6(g)+3H2O(g) 420 異丙醇鋁 Tm2050 丙烯 單氨絡(luò)合物制備氮化物薄膜: AlCl3NH3 (g) AlN (s) + 3HCl (g) 800-1000,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.1 CVD的主要化學(xué)反應(yīng)類型,二、還原反應(yīng):薄膜由氣體反應(yīng)物的還原反應(yīng)產(chǎn)物沉積而成。 1)反應(yīng)氣體:熱穩(wěn)定性較好的鹵化物、羥基化合物、鹵氧化物等 + 還原性氣體。 2)典型反應(yīng): H2還原SiCl4外延制備單晶Si薄膜: SiCl4 (g) + 2H2 (g) Si (s) + 4HCl (g) 1200 六氟化物低溫制備難熔金屬W、Mo薄膜: WF6 (g) + 3H2 (g) W (s) + 6HF (g) 300 Tm3380,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.1 CVD的主要化學(xué)反應(yīng)類型,三、氧化反應(yīng):薄膜由氣體氧化反應(yīng)產(chǎn)物沉積而成。 1)反應(yīng)氣體:氧化性氣氛(如:O2)+ 其它化合物氣體。 2)典型反應(yīng): 制備SiO2薄膜的兩種方法: SiH4 (g) + O2 (g) SiO2 (s) + 2H2 (g) 450 SiCl4 (g) + 2H2 (g) + O2 (g) SiO2 (s) + 4HCl (g) 1500,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.1 CVD的主要化學(xué)反應(yīng)類型,四、置換反應(yīng):薄膜由置換反應(yīng)生成的碳化物、氮化物、硼化物沉積而成。 1)反應(yīng)氣體:鹵化物 + 碳、氮、硼的氫化物氣體。 2)典型反應(yīng): 硅烷、甲烷置換反應(yīng)制備碳化硅薄膜: SiCl4(g) + CH4(g) SiC(s) + 4HCl(g) 1400 二氯硅烷與氨氣反應(yīng)沉積氮化硅薄膜: 3SiCl2H2(g) + 4NH3(g) Si3N4(s) + 6H2(g) + 6HCl(g) 750 四氯化鈦、甲烷置換反應(yīng)制備碳化鈦薄膜: TiCl4(g) + CH4(g) TiC(s) + 4HCl(g),2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.1 CVD的主要化學(xué)反應(yīng)類型,五、歧化反應(yīng): 對(duì)具有多種氣態(tài)化合物的氣體,可在一定條件下促使一種化合物轉(zhuǎn)變?yōu)?另一種更穩(wěn)定的化合物,同時(shí)形成薄膜。 1)反應(yīng)氣體:可發(fā)生歧化分解反應(yīng)的化合物氣體。 2)典型反應(yīng): 二碘化鍺(GeI2)歧化分解沉積純Ge薄膜: 2GeI2(g) Ge(s) + GeI4(g) 300600,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.1 CVD的主要化學(xué)反應(yīng)類型,六、輸運(yùn)反應(yīng):把需要沉積的物質(zhì)當(dāng)作源物質(zhì)(不具揮發(fā)性), 借助于適當(dāng)?shù)臍怏w介質(zhì)與之反應(yīng)而形成一種氣態(tài)化合物, 這種氣態(tài)化合物再被輸運(yùn)到與源區(qū)溫度不同的沉積區(qū), 并在基片上發(fā)生逆向反應(yīng),從而獲得高純?cè)次镔|(zhì)薄膜的沉積。 1)反應(yīng)氣體:固態(tài)源物質(zhì) + 鹵族氣體。 2)典型反應(yīng): 鍺(Ge)與碘(I2)的輸運(yùn)反應(yīng)沉積高純Ge薄膜: (類似于Ti的碘化精煉過程):,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.2 CVD化學(xué)反應(yīng)和沉積原理,一、反應(yīng)過程【以TiCl4(g)+CH4(g)TiC(s)+4HCl(g)為例說明】 各種氣體反應(yīng)物流動(dòng)進(jìn)入擴(kuò)散層; 第步(甲烷分解):CH4 C + H2 第步(Ti的還原):H2+TiCl4 Ti + HCl 第步(游離Ti、C原子化合形成TiC):Ti + C TiC,二、CVD形成薄膜的一般過程: 1)反應(yīng)氣體向基片表面擴(kuò)散;2)反應(yīng)物氣體吸附到基片;3)反應(yīng)物發(fā)生反應(yīng);4)反應(yīng)產(chǎn)物表面析出、擴(kuò)散、分離;5)反應(yīng)產(chǎn)物向固相中擴(kuò)散,形成固溶體、化合物。,注意: 1)反應(yīng)應(yīng)在擴(kuò)散層內(nèi)進(jìn)行,否則會(huì)生成氣相均質(zhì)核,固相產(chǎn)物會(huì)以粉末形態(tài)析出;,2)提高溫度梯度和濃度梯度,可以提高新相的形核能力; 3)隨析出溫度提高,析出固相的形態(tài)一般按照下圖所示序列變化:,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,一、概述: 1)基本系統(tǒng)構(gòu)成: 2)最關(guān)鍵的物理量: Why? 二者決定:薄膜沉積過程中的 進(jìn)而決定獲得的是 薄膜!,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,一、概述: 3)分類:,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,二、高溫和低溫CVD裝置: 1)選用原則: 2)高溫CVD的加熱裝置:一般可分為電阻加熱、感應(yīng)加熱和紅外輻射加熱三類。 a 電阻加熱 b 感應(yīng)加熱 c 紅外加熱 典型的CVD加熱裝置示意圖(課本 P147 圖4.24),2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,二、高溫和低溫CVD裝置: 3)高溫CVD裝置:又可根據(jù)加熱方式不同分為 兩類。,a 熱壁式(課本 P108 圖4.1) b 冷壁式(課本 P146 圖4.23) 反應(yīng)室被整體加熱 只加熱樣品臺(tái)和基片(電加熱 或 感應(yīng)加熱 常用) 典型的高溫CVD裝置示意圖,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,二、高溫和低溫CVD裝置: 4)中、低溫CVD裝置:利用 激活反應(yīng) 具體沉積裝置將結(jié)合PECVD、激光輔助CVD等后續(xù)內(nèi)容詳細(xì)介紹。 ?為什么需要引入低溫CVD:器件引線用的Al材料與Si襯底在 T 450后會(huì)發(fā)生化學(xué)反應(yīng)! 為避免破壞半導(dǎo)體器件的結(jié)構(gòu)和功能,要求 T 500! !低溫CVD的主要應(yīng)用場(chǎng)合:用于制備各類絕緣介質(zhì)薄膜,如SiO2、Si3N4等。,三、低壓CVD(Low Pressure CVD,LPCVD)裝置: 1)與常壓CVD的區(qū)別:工作在真空下 需真空系統(tǒng)! 2)優(yōu)點(diǎn):沉積速率高、厚度均勻性好、薄膜致密、 污染幾率小(一般樣品垂直于氣流方向擺放) 3)低壓的作用: Dg(103)、vg(10102)、 界面層厚度(不利) 總體效果: 沉積速率(10)!,低壓CVD裝置示意圖(課本P148 圖4.25) (P 1 atm,可低至 102 Pa左右),2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,四、激光輔助CVD裝置:用激光作為輔助激發(fā)手段,促進(jìn)或控制CVD過程的進(jìn)行。 1)激光的特點(diǎn):能量集中、單色性好、方向性好 2)激光的作用: 3)主要優(yōu)勢(shì): 反應(yīng)迅速集中、無污染; 能量高度集中、濃度梯度和溫度梯度大、成核生長(zhǎng)好; 對(duì)參與反應(yīng)物和沉積方向性具有選擇能力; 沉積速率很高,基片整體溫升很?。?0的襯底溫度下既可實(shí)現(xiàn)SiO2薄膜的沉積!),激光輔助CVD裝置示意圖,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,五、光化學(xué)氣相沉積裝置:用高能光子有選擇地激發(fā)表面吸附分子或氣體分子而導(dǎo)致鍵斷裂, 從而產(chǎn)生自由化學(xué)粒子直接成膜或在基片上形成化合物沉積。 1)主要活化機(jī)制:直接光致分解、汞敏化誘發(fā)分解等。 2)主要控制因素: 光的波長(zhǎng)(光子能量) 控制氣相的分解和形核 ( ) 基片溫度 只影響擴(kuò)散傳輸、不影響化學(xué)反應(yīng) 3)主要優(yōu)點(diǎn): 沉積溫度低、無需高能粒子轟擊,可獲得 結(jié)合好、高質(zhì)量、無損傷的薄膜; 沉積速率快; 可生長(zhǎng)亞穩(wěn)相和形成突變結(jié)(abrupt junction)。 4)主要應(yīng)用場(chǎng)合: 低溫沉積各種高質(zhì)量金屬、介電、半導(dǎo)體薄膜。,汞敏化硅烷沉積 a-Si:H的裝置 (Hg* + SiH4 Hg + 2H2 + Si) Hg*:紫外輻射激發(fā)的汞原子,六、有機(jī)金屬化合物CVD(MOCVD,Metal Organic CVD): 概念:利用低氣化溫度的有機(jī)金屬化合物加熱分解而進(jìn)行氣相外延生長(zhǎng)薄膜的CVD方法, 主要用于各種化合物、半導(dǎo)體薄膜的氣相生長(zhǎng)。,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,垂直式MOCVD裝置示意圖(GaAs基片沉積Ga1-xAlxAs半導(dǎo)體膜) 制備過程:高純H2作為載氣將原料氣體稀釋并充入反應(yīng)室, TMGa、TMPb和DEZn的發(fā)泡器分別用恒溫槽冷卻, 基片由石墨托架支撐并由反應(yīng)室外的射頻線圈加熱。,1)與一般CVD的區(qū)別: 反應(yīng)物主要是低氣化溫度 的有機(jī)金屬化合物,如: 三甲基鎵 TMGa (TriMethyl Gallium) 三甲基鋁 TMAl (TriMethyl Aluminum) 三甲基鉛TMPb (TriMethyl Plumbum) 二乙基鋅DEZn (DiEthyl Zinc) 整個(gè)薄膜的沉積過程必然 伴隨著有機(jī)金屬化合物的 裂解、化合反應(yīng),如:,Ga(CH3)3 (g) + AsH3 (g) GaAs (s) + 3CH4 (g) (利用TMGa和AsH3外延沉積GaAs薄膜),六、有機(jī)金屬化合物CVD(MOCVD,Metal Organic CVD):,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,2)MOCVD的反應(yīng)物氣體: 對(duì)反應(yīng)物的要求: 1)常溫穩(wěn)定性好,較易處理; 2)反應(yīng)副產(chǎn)物不應(yīng)阻礙外延生長(zhǎng),不污染生長(zhǎng)層; 3)室溫下具有較高的蒸氣壓 1 Torr (133 Pa),易于實(shí)現(xiàn)低溫?fù)]發(fā)。 滿足上述要求的主要有兩類氣體: 3)MOCVD的優(yōu)點(diǎn): 反應(yīng)裝置簡(jiǎn)單,生長(zhǎng)溫度范圍寬、易控制,適于大批量生產(chǎn); 沉積溫度低:如沉積ZnSe膜普通CVD 850、MOCVD僅需350; 適用范圍廣:可沉積幾乎所有的化合物和半導(dǎo)體合金; 化合物成分及梯度可精確控制,薄膜均勻性,性能重復(fù)性好; 沉積速率高度可控,可制備超晶格材料和外延生長(zhǎng)高精度異質(zhì)結(jié)構(gòu)。 4)MOCVD的缺點(diǎn):原料易燃、部分有劇毒 制、儲(chǔ)、運(yùn)、用困難,防護(hù)要求嚴(yán)格!,七、等離子體增強(qiáng)CVD(PECVD,Plasma Enhanced CVD): 1)概述: 概念:在低壓化學(xué)氣相沉積過程進(jìn)行的同時(shí),利用輝光、電弧、射頻、微波等手段促使 反應(yīng)氣體放電產(chǎn)生等離子體,從而對(duì)反應(yīng)沉積過程施加影響的CVD技術(shù)。 基本特征: 應(yīng)用等離子體的CVD方法; 采用低溫等離子體(當(dāng)?shù)販囟?、電子溫度)?沉積時(shí),基片溫度很低; 薄膜性能比其它CVD方法更佳。,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,閃電:地球表面自然存在的等離子體, 什么是等離子體(Plasma)? 以高濃度電荷(電子、離子)為主要成分的物質(zhì)第四態(tài); 高能離化氣體團(tuán),整體電中性,但含有高濃度離子和電子; 電子不再被束縛于原子核,而成為高能自由電子; 由電磁場(chǎng)賦能激發(fā)、并與電磁場(chǎng)強(qiáng)耦合,電導(dǎo)率極高; 低溫等離子體處于非熱平衡態(tài) (T整、Te ); W. Crookes 發(fā)現(xiàn) (1879),I. Langmuir 命名 (1928)。,七、等離子體增強(qiáng)CVD(PECVD,Plasma Enhanced CVD): 等離子體的組成: 等離子體的作用:高能自由電子的平均能量達(dá) 120 eV,足以使大多數(shù)氣體電離/分解 電子動(dòng)能 代替 熱能 成為主要的氣體分解、活化驅(qū)動(dòng)力 粒子相互作用可很快獲得高能態(tài)、高化學(xué)活性和高反應(yīng)能力, 而基片不會(huì)因額外加熱而受損! PECVD與其它CVD方法的根本區(qū)別: 1) 等離子體中的高能自由電子為化學(xué)反應(yīng)提供了激活能 Ea; 2) 氣體分子的分解、化合、激發(fā)和電離主要來自電子與氣體分子的碰撞作用; 3) 低溫下即可形成高活性化學(xué)基團(tuán); 4) 低溫薄膜沉積得以實(shí)現(xiàn)。 低溫實(shí)現(xiàn)CVD沉積的好處:可避免,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,七、等離子體增強(qiáng)CVD(PECVD,Plasma Enhanced CVD): PECVD沉積薄膜的主要微觀過程: PECVD的分類:,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,(a) 氣體分子與高濃度高能電子碰撞生成離子及活性基團(tuán); (b) 活性基團(tuán)直接擴(kuò)散到基片; (c) 活性基團(tuán)與其它氣體分子作用,形成所需前驅(qū)分子; (d) 所需前驅(qū)分子擴(kuò)散到基片; (e) 未經(jīng)活化氣體分子直接擴(kuò)散到基片; (f) 部分氣體被直接排出; (g) 到達(dá)基片表面的各種基團(tuán)反應(yīng)沉積,并釋放反應(yīng)副產(chǎn)物。,PECVD 沉積薄膜的基本微觀過程示意圖,七、等離子體增強(qiáng)CVD(PECVD,Plasma Enhanced CVD):,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,電容耦合型平行極板式射頻PECVD裝置 (課本 P156 圖4.29),2)電容耦合型射頻 PECVD裝置: 直流輝光放電 PECVD裝置與右圖所示的電容耦合型射頻 PECVD裝置結(jié)構(gòu)類似,區(qū)別在于使用的電源不同: 前者使用直流電源,因而要求電極具有導(dǎo)電性,只能用于電極 和薄膜都具有良好導(dǎo)電性的場(chǎng)合; 后者使用射頻電源,對(duì)電極及薄膜材料無要求。 PECVD 主要用于沉積介電材料薄膜,等離子體的產(chǎn)生多 借助于射頻耦合放電,故直流輝光放電型并不常用。 電容耦合型射頻 PECVD裝置的主要缺點(diǎn): 存在濺射污染薄膜的問題: 輸入功率有限: 改進(jìn)途徑:無電極耦合 電感式耦合!,七、等離子體增強(qiáng)CVD(PECVD,Plasma Enhanced CVD):,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,電感耦合型射頻PECVD裝置 (課本 P157 圖4.30),3)電感耦合型射頻 PECVD裝置: 工作原理: 置于反應(yīng)器之外的線圈由射頻電源驅(qū)動(dòng)產(chǎn)生高頻交變電場(chǎng) 高頻電場(chǎng)誘發(fā)室內(nèi)氣體擊穿放電、電離形成等離子體 在反應(yīng)氣體下游放置基片,即可得到薄膜的沉積 也可以在上游只通入惰性氣體,而在下游輸入反應(yīng)氣體, 使之在惰性氣體電離的等離子體作用下活化反應(yīng),完成沉積 主要優(yōu)點(diǎn): 無電極放電,不存在離子轟擊電極/基片而造成的濺射污染; 不存在電極表面轉(zhuǎn)為弧光放電的風(fēng)險(xiǎn),不會(huì)損壞電極; 可提高等離子體密度兩個(gè)數(shù)量級(jí)(1012 e/cm3)。 主要缺點(diǎn): 等離子體的均勻性較差; 不易在大面積基片上實(shí)現(xiàn)薄膜的均勻沉積。,4)直接激發(fā)式微波諧振型 PECVD裝置: 工作原理: 諧振腔套在石英管之外,微波天線 (同軸線的內(nèi)導(dǎo)體) 將微波能量耦合至諧振腔內(nèi)后,在腔內(nèi)形成微波電場(chǎng) 的駐波并引起諧振。 (工業(yè)用微波頻率一般為2.45 GHz,波長(zhǎng)12 cm) 通有反應(yīng)氣體的石英管穿過微波電場(chǎng)幅值最大的諧振 腔中心部位,當(dāng)微波電場(chǎng)強(qiáng)度超過氣體擊穿場(chǎng)強(qiáng)時(shí), 氣體電離形成等離子體。 在等離子體下游放置基片并調(diào)節(jié)至合適的溫度, 就可獲得CVD薄膜的沉積。 主要優(yōu)點(diǎn): 無電極放電,不存在污染問題; 微波能量更高,可在低壓下實(shí)現(xiàn)氣體電離,等離子體的電荷密度更高,薄膜成分更純凈。,七、等離子體增強(qiáng)CVD(PECVD,Plasma Enhanced CVD):,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,直接激發(fā)式微波諧振 PECVD裝置 (課本 P158 圖4.31),5)電子回旋共振(ECR,Electron Cyclotron Resonance)PECVD: 工作原理: 微波能量由長(zhǎng)方形波導(dǎo)窗耦合進(jìn)入反應(yīng)器,使其中的反應(yīng)氣體擊穿電離形成等離子體。 為進(jìn)一步提高等離子體的電荷密度,還外加一個(gè)與微波電場(chǎng)相垂直的磁場(chǎng)。 電子受力:,七、等離子體增強(qiáng)CVD(PECVD,Plasma Enhanced CVD):,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,電子運(yùn)動(dòng)軌跡: 轉(zhuǎn)向反復(fù)改變的螺旋線! 達(dá)到電子諧振頻率m時(shí),諧振達(dá)到最大,實(shí)現(xiàn)最高能量輸入! 式中:q 電子電量; 交變電場(chǎng)強(qiáng)度; 磁場(chǎng)強(qiáng)度; 電子速度; 電子擺動(dòng)角頻率;m 電子質(zhì)量,電子回旋共振 (ECR) PECVD裝置 (課本 P159 圖4.32),5)電子回旋共振(ECR,Electron Cyclotron Resonance)PECVD: 工作原理: 電子在流場(chǎng)壓力及電磁場(chǎng)的共同作用下,一方面向下游移動(dòng),一方面還以諧振頻率發(fā)生高速回旋運(yùn)動(dòng), 電子運(yùn)動(dòng)路徑 電子與氣體分子發(fā)生碰撞促使其電離的幾率 等離子體密度顯著(1012 e/cm3) ECR裝置實(shí)際上就是一個(gè)超高電荷密度的離子源, 其產(chǎn)生的等離子體具有極高的電荷密度和活性! ECR PECVD的基本特點(diǎn): 需要高真空環(huán)境:P = 10-110-3 Pa; 氣體電離程度接近100%,比一般 PECVD 高 3個(gè)數(shù)量級(jí)以上; ECR離子束既是沉積物活性基團(tuán),又帶有很高的能量。 ECR PECVD的優(yōu)勢(shì): ECR是方向、能量可控的離子源 對(duì)復(fù)雜形狀樣品覆蓋性好! 沉積離子都帶有幾個(gè)eV能量 改善表面擴(kuò)散 薄膜致密、性能好! 低氣壓低溫沉積、沉積速率高、無電極污染。 應(yīng)用:廣泛用于沉積硅酸鹽、半導(dǎo)體、光學(xué)/光伏材料薄膜。,七、等離子體增強(qiáng)CVD(PECVD,Plasma Enhanced CVD):,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,電子回旋共振 (ECR) PECVD裝置 (課本 P159 圖4.32),6)關(guān)于 PECVD的小結(jié): PECVD不能替代其它CVD方法; PECVD 沉積的薄膜質(zhì)量?jī)?yōu)于傳統(tǒng)CVD; PECVD 應(yīng)用廣泛,但成本可能很高; PECVD的主要優(yōu)點(diǎn)在于: 低溫沉積; 薄膜的內(nèi)應(yīng)力小、不易破損; 薄膜的介電性能好; 化學(xué)反應(yīng)沒有溫度依賴性。 課后作業(yè): 1、化學(xué)方法制備薄膜的主要特征是什么?基本分類如何? 2、畫出CVD的基本工作原理框圖。 3、舉例說明CVD的六種主要化學(xué)反應(yīng)類型。 4、分析對(duì)比激光輔助CVD、光化學(xué)氣相沉積和 PECVD的異同點(diǎn)。,七、等離子體增強(qiáng)CVD(PECVD,Plasma Enhanced CVD):,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.2 化學(xué)氣相沉積(CVD) 2.2.3 CVD沉積裝置,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.3 電化學(xué)鍍膜方法,概念:電流通過在電解液中的流動(dòng)而產(chǎn)生化學(xué)反應(yīng),在陽極或陰極上沉積薄膜的方法。 具體地,即利用電解反應(yīng),在 電解反應(yīng):指電流通過 電解液 或 熔鹽 所引發(fā)的電化學(xué)反應(yīng)。 基礎(chǔ)知識(shí): 法拉第電解定律:電流通過電解質(zhì)溶液時(shí),流經(jīng)電極的電量 與 發(fā)生電極反應(yīng)的物質(zhì)的量 成正比。 (Faraday,1833) 即電極上析出或溶解物質(zhì)的總量 法拉第常數(shù)(F):1 mol電子的電量被定義為法拉第常數(shù)(F): F = NAqe = 6.021023 個(gè)/mol 1.602210-19 C/個(gè) = 96,500 C/mol 例如:要從含 Mn+ 離子的溶液里電化學(xué)沉積 1 mol 金屬M(fèi),需要通過 n mol個(gè)電子:Mn+ + ne M 所以:由含Ag+ 的電解液中析出 1 mol Ag,需要 96,500 庫侖的電量,即26.8 Ahrs, 而將 1 mol 的二價(jià)Cu2+離子在陰極上還原成Cu,則需要193,000 C的電量(nF) 因此:法拉第定律反映電解過程中的電荷遷移總量與物質(zhì)反應(yīng)總量間的定量對(duì)應(yīng)關(guān)系。 電化學(xué)沉積薄膜的規(guī)律:沉積物質(zhì)通量滿足:,j 電流密度; m 沉積物質(zhì)量; t 沉積時(shí)間; A 薄膜面積; M 沉積物的分子量; t 沉積時(shí)間; 效率因子 ( 1),2 薄膜沉積的化學(xué)方法,一、概念:在含有被鍍金屬離子的溶液或熔鹽中通直流電,使陽離子在陰極表面放電, 從而在作為陰極的基片表面還原出金屬,獲得金屬或合金薄膜的沉積。 二、沉積裝置: 1)整個(gè)系統(tǒng)由電源、電解液、陽極和陰極構(gòu)成; 2)電流通過時(shí),待沉積物沉積在陰極形成薄膜; 3)待沉積物在電解液中以陽離子形式存在; 4)電解液主要是離子化合物的水溶液。 三、鍍膜原理: 陰極表面存在電場(chǎng)很強(qiáng)的雙電層區(qū) (厚約30 nm), 陽離子在該電場(chǎng)作用下相繼發(fā)生下列過程: 脫H 放電 (中和) 表面擴(kuò)散 成核 結(jié)晶 最終在陰極表面形成金屬或合金薄膜的沉積。 四、特點(diǎn): 1、薄膜生長(zhǎng)速度快;2、基片無形狀限制; 3、過程難控制;4、殘液環(huán)境危害大;5、只能在導(dǎo)電基板上沉積金屬 (合金)薄膜。 五、主要應(yīng)用:電鍍硬Cr、電鍍半導(dǎo)體薄膜(MoSe2等)。,2.3 電化學(xué)鍍膜方法 2.3.1 電鍍,電鍍(銀)裝置的示意圖,電子,陽離子,電解液,陽極(溶解)Anode,陰極(沉積)Cathode,直流電源,二、鍍膜原理: 1)陽極為目標(biāo)金屬,陰極一般采用石墨電極; 2)薄膜生長(zhǎng)為動(dòng)態(tài)平衡過程,既有金屬氧化物 的形成,也有陽極金屬及其氧化物的溶解; 3)總反應(yīng)式為:2Al + 3H2O Al2O3 + 3H2 實(shí)際上由 4 個(gè)子反應(yīng)構(gòu)成: 陽極金屬溶解:2Al 2Al3+ + 6e- 地點(diǎn):陽極-電解液界面(后期為孔道底部) Al3+ 在強(qiáng)電場(chǎng)作用下遷移并形成氧化物: 2Al3+ + 3H2O Al2O3 + 6H+ 地點(diǎn):氧化物-電解液界面 氧化物中的O2- 在強(qiáng)電場(chǎng)作用下遷移至金屬-氧化物界面, 并使金屬氧化: 2Al + 3O2- Al2O3 + 6e- 反應(yīng)生成的H+ 在電解液中遷移至電解液-陰極界面,與電子發(fā)生析氫反應(yīng): 6H+ + 6e- 3H2,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,一、概念:在適當(dāng)?shù)碾娊庖褐校捎肁l、Mg、Si、Ta、Ti、Nb等金屬或合金基片作為陽極, 并賦予一定的直流電壓,由于電化學(xué)反應(yīng)在陽極表面形成金屬氧化物薄膜的方法。,2.3 電化學(xué)鍍膜方法 2.3.2 陽極氧化,陽極氧化生長(zhǎng)薄膜的電化學(xué)原理示意圖 (強(qiáng)電場(chǎng)是荷電粒子遷移的驅(qū)動(dòng)力),三、主要特點(diǎn): 1)電鍍的逆過程,主要電極反應(yīng)為氧化反應(yīng); 電鍍:陰極還原反應(yīng),不消耗陰極,沉積出金屬/合金薄膜; 陽極氧化:陽極氧化反應(yīng),消耗陽極,生長(zhǎng)出陽極金屬氧化產(chǎn)物薄膜。 2)可沉積Al、Mg、Ta、Ti、Si、Nb等多種金屬、半金屬的氧化物、 硫化物、磷化物薄膜。 3)生長(zhǎng)初期主要為氧化物膜的生成 + 金屬的溶解; 生長(zhǎng)后期(氧化物膜完全覆蓋表面后)氧化反應(yīng)靠金屬離子在 電場(chǎng)作用下在氧化物薄膜內(nèi)的遷移維持,物質(zhì)擴(kuò)散驅(qū)動(dòng)力來自 外加電場(chǎng)勢(shì)能。 4)可生長(zhǎng)的薄膜厚度存在極限,并取決于極間電壓Vj: Dmax = kVj (k 材料常數(shù)) 5)工藝設(shè)備簡(jiǎn)單、易于實(shí)現(xiàn),易著色獲得色澤非常美觀的硬化抗蝕薄膜,在輕合金表面處理領(lǐng)域 應(yīng)用極為廣泛! 四、主要應(yīng)用: 各類鋁合金、鈦合金的表面鈍化、美化、硬化處理!,2 薄膜沉積的化學(xué)方法,2.3 電化學(xué)鍍膜方法 2.3.2 陽極氧化,鋁陽極氧化樣品示例,一、概念:在無電流通過(無外界動(dòng)力)時(shí)借助還原劑在金屬鹽溶液中使目標(biāo)金屬離子還原, 并沉積在基片表面上形成金屬/合金薄膜的方法。 二、與電化學(xué)方法的本質(zhì)區(qū)別:電 鍍:反應(yīng)驅(qū)動(dòng)力來自外加電場(chǎng)賦予的能量; 化學(xué)鍍:反應(yīng)驅(qū)動(dòng)力來自溶液體系自身的化學(xué)勢(shì)! 三、廣義分類: 注意:1)工程上化學(xué)鍍一般指第一類狹義化學(xué)鍍(自催化化學(xué)鍍); 2)在其鍍膜過程中,Ni、Co、Fe、Cu、Cr等沉積金屬本身對(duì)還原反應(yīng)有催化作用,可使鍍覆反應(yīng)得以 持續(xù)進(jìn)行,直至鍍件脫離溶液后還原反應(yīng)才自行停止。 四、化學(xué)鍍的實(shí)例: 1)最簡(jiǎn)單的化學(xué)鍍: 鋁板助焊層的形成:鋁板表面易氧化形成氧化膜而難以掛上焊錫(焊接性能差),怎么解決? 鋁板酸洗后浸入CuSO4溶液,化學(xué)鍍Cu形成助焊層:AlCuSO4 CuAl2(

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