晶體中缺陷的平衡_第1頁
晶體中缺陷的平衡_第2頁
晶體中缺陷的平衡_第3頁
晶體中缺陷的平衡_第4頁
晶體中缺陷的平衡_第5頁
已閱讀5頁,還剩31頁未讀 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

晶體中缺陷的平衡主要內(nèi)容2-2-1滿足化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺

陷平衡2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的

缺陷平衡一、金屬過剩型或氧缺位型氧化物二、金屬缺位型或氧過剩型氧化物2-2-3接近化學(xué)計量組成的氧化物晶體中的缺陷

平衡處理化合物晶體中點缺陷平衡問題步驟及方法:1.根據(jù)制備或熱處理晶體時的工藝條件(如溫度、氧分壓等)判斷可能產(chǎn)生的缺陷,并書寫出所產(chǎn)生缺陷的缺陷化學(xué)反應(yīng)式。2依缺陷反應(yīng)式寫出相應(yīng)的質(zhì)量作用定律表達(dá)式。3寫出相應(yīng)條件下的電中性方程并進(jìn)行簡化。4利用電中性方程和質(zhì)量作用方程,推出缺陷濃度表達(dá)式及氧分壓的關(guān)系。5討論缺陷濃度與T,PO2以及雜質(zhì)濃度的關(guān)系。注:化學(xué)質(zhì)量作用定律:反應(yīng)的平衡常數(shù):2-2-1滿足化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡在滿足化學(xué)計量比組成的MO晶體中的固有缺陷類型分別為弗倫克爾缺陷、反弗倫克爾缺陷、肖特基缺陷和反肖特基缺陷等,上述四種缺陷在全電離的前提下對應(yīng)的準(zhǔn)化學(xué)反應(yīng)式依次表達(dá)如下:弗倫克爾缺陷:(2-1)反弗倫克爾缺陷:(2-2)肖特基缺陷:(2-3)反肖特基缺陷:(2-4)根據(jù)質(zhì)量作用定律:(2-5)對于(2-1)式有:(2-6)對于(2-2)式有:(2-7)對于(2-3)式有:(2-8)對于(2-1)式有:2-2-1滿足化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-1滿足化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-1滿足化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡總結(jié):在無外來雜質(zhì)且滿足化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中,缺陷的形成及其濃度與氧分壓Po2和金屬分壓PM無關(guān),而且由于施主濃度與受主濃度相等,缺陷對電導(dǎo)無貢獻(xiàn)。因此可以說晶體中雖有缺陷也不一定會發(fā)生化學(xué)計量比的偏離。2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡金屬過剩:氧缺位:金屬缺位:氧過剩:金屬過剩型氧化物晶體,其主導(dǎo)原子缺陷通常是間隙金屬離子。典型的金屬間隙型氧化物有ZnO等。在氧缺位型氧化物晶體中,氧空位通常是由于晶體表面失氧造成的。少數(shù)蒸汽壓高的氧化物(例如PbO),氣相中的金屬原子也可能進(jìn)入晶體表面形成新的原子層,從而產(chǎn)生氧空位。金屬缺位型氧化物晶體中的金屬空位,一般是伴隨氣相中的氧原子進(jìn)入晶體表面形成新的原子層而配位產(chǎn)生的。氧過剩型可以看做是金屬原子揮發(fā)或外來氧原子進(jìn)入間隙而形成的。一、金屬過剩型或氧缺位型氧化物2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡結(jié)論(1):電子濃度與氧分壓的(-1/4)次方成正比。2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡(2)單電離間隙金屬離子缺陷占優(yōu)時:(2-24)則可解得:(3)雙電離間隙金屬離子缺陷占優(yōu)時:(2-25)2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡可以看出,在選用適當(dāng)?shù)娜毕萆蓽?zhǔn)化學(xué)反應(yīng)式時,在氧缺位型氧化物中缺陷(包括原子缺陷和電子缺陷)濃度與氧分壓的關(guān)系,和金屬間隙型氧化物中缺陷濃度與氧分壓的關(guān)系是相一致的,如果事先并不了解被研究的對象屬于哪種缺陷類型,可以通過下述方法加以區(qū)別:1.用X射線衍射確定晶體的結(jié)構(gòu)類型。2.利用測量擴散系數(shù)的方法加以區(qū)別。3.測量缺陷生成的熱力學(xué)參數(shù)或反應(yīng)的平衡常數(shù),與已知

的參數(shù)進(jìn)行比較的方法。缺陷濃度與氧分壓的關(guān)系與缺陷的生成機理(或者說與準(zhǔn)化學(xué)反應(yīng)式的寫法)緊密相關(guān)。準(zhǔn)化學(xué)反應(yīng)式具體寫成何種形式,主要從材料本身的物理、化學(xué)性質(zhì)出發(fā),考察實際情況,寫成合乎實際的準(zhǔn)化學(xué)反應(yīng)式。2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡原子缺陷電離度的有關(guān)問題:

原子缺陷的電離度指中性原子缺陷被電離的程度。一般是以其失去(或獲得)電子的多少來衡量。中性原子缺陷最大的電離度是由與之相關(guān)的原子的價電子數(shù)所決定的。影響原子缺陷電離度的三個原因:1.溫度2.缺陷濃度3.氧分壓-1/4-1/61/41/6缺陷濃度lg[]氧分壓lgPO2

缺陷濃度lg[]氧分壓lgPO2

非化學(xué)計量比氧化物半導(dǎo)體陶瓷電子缺陷濃度與氧分壓的關(guān)系(a)N型;(b)P型(a)(b)2-2-2具有非化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡26課堂作業(yè):

SnO2(Sni占優(yōu)),缺陷全電離,討論SnO2材料電導(dǎo)率和氧分壓的關(guān)系。2-2-3接近化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-3接近化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-3接近化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-3接近化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-3接近化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-3接近化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-3接近化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-3接近化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡2-2-3接近化學(xué)計量比組成的氧化物晶體中的缺陷平衡知識點1.寫出處理金屬氧化物(MO)晶體中缺陷

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論