材料研究方法知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋西安工業(yè)大學(xué)

材料研究方法知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋西安工業(yè)大學(xué)第一章單元測試

由于透鏡的中心區(qū)域和邊緣區(qū)域?qū)獾恼凵淠芰Σ环项A(yù)定規(guī)律而造成的圖像模糊現(xiàn)象稱為（

）

A:球差

B:色差C:像散

D:像差

答案:球差

光學(xué)透鏡的像差主要有（

）

A:像散B:球差

C:像場彎曲D:色差

答案:球差

；像場彎曲；色差光學(xué)顯微鏡具有（

）放大功能。

A:

三級

B:

二級C:

一級

答案:

二級

光學(xué)透鏡要能區(qū)分開兩個成像物點，則此兩物點形成的埃利斑之間的最小距離應(yīng)

A:

等于埃利斑半徑

B:

大于埃利斑半徑

C:

小于埃利斑半徑

答案:

大于埃利斑半徑

光學(xué)顯微鏡的極限分辨能力為（

）

A:200μmB:200nmC:400nmD:400μm

答案:200nm光學(xué)透鏡成像的基礎(chǔ)是光可以（）

A:反射

B:衍射

C:折射

D:散射

答案:折射

光學(xué)透鏡的像差主要有（）

A:色差

B:像散

C:像場彎曲

D:球差

答案:色差

；像場彎曲

；球差

由于照明光源波長不統(tǒng)一形成的圖像模糊稱為（）

A:色差

B:像差

C:球差

D:像散

答案:色差

成像物體上能分辨出來的兩物點間的最小距離稱為（）

A:景深

B:有效放大倍數(shù)

C:分辨率

答案:分辨率

要提高顯微鏡的分辨率，關(guān)鍵是要（）

A:穩(wěn)定光源波長

B:減小光源波長

C:增大光源波長

答案:減小光源波長

干鏡的有效放大倍數(shù)一般為（

）倍

A:500~1000

B:1000~1800

C:200~400

答案:500~1000

為獲得大景深，可以考慮（）

A:鏡頭靠近樣品

B:減小數(shù)值孔徑

C:降低放大倍數(shù)

答案:減小數(shù)值孔徑

；降低放大倍數(shù)

金相砂紙后標(biāo)號越大，說明砂紙上的磨削顆粒越（）

A:小

B:大

C:無關(guān)

答案:小

拋光平面樣品時，可以選擇（）

A:化學(xué)拋光

B:機械拋光

C:電解拋光

D:復(fù)合拋光

答案:化學(xué)拋光

；機械拋光

；電解拋光

；復(fù)合拋光

砂紙背面的防水標(biāo)志是（）

A:ELECTROCOATED

B:SILICONCARBIDE

C:ABRASIVEPAPER

D:WATERPROOF

答案:WATERPROOF

透鏡的像差是由于本身幾何光學(xué)條件的限制造成的，和光源波長無關(guān)（）

A:對B:錯

答案:錯逆光拍照時，明暗對比強烈的地方出現(xiàn)的彩色邊緣就是色差（

）

A:錯B:對

答案:對最小散焦斑是點光源成像質(zhì)量最好的情況（）

A:對B:錯

答案:對襯度是指圖像上相鄰部分間的黑白對比度或顏色差（）

A:錯B:對

答案:對油鏡的最大數(shù)值孔徑小于干鏡的最大數(shù)值孔徑（）

A:錯B:對

答案:錯明場照明時光線損失很少（）

A:對B:錯

答案:錯只要聚焦準(zhǔn)確，點光源的像可以是一個清晰的亮點（）

A:對B:錯

答案:錯從衍射效應(yīng)來看，透鏡分辨的最小距離和數(shù)值孔徑成反比（）

A:對B:錯

答案:對有效放大倍數(shù)和人眼的分辨能力無關(guān)（）

A:對B:錯

答案:錯只要是導(dǎo)電材料，都可以用電火花線切割切取樣品（）

A:錯B:對

答案:錯

第二章單元測試

發(fā)現(xiàn)X射線的是

A:

布拉格B:

勞厄

C:

倫琴D:

愛瓦爾德

答案:

倫琴

進行第一次晶體衍射實驗的是

A:

布拉格B:

勞厄C:

愛瓦爾德D:

倫琴

答案:

勞厄X射線衍射時，首先出現(xiàn)的衍射峰必定是（

）的晶面。

A:

低指數(shù)B:

間距小C:

高指數(shù)

答案:

低指數(shù)

對衍射強度影響最大的是

A:

多重性因素B:

結(jié)構(gòu)因數(shù)C:洛倫磁因素

答案:

結(jié)構(gòu)因數(shù)

能影響短波限位置的因素是

A:

管電壓

B:

陽極靶材原子序數(shù)C:

管電流

答案:

管電壓

X射線是物理學(xué)家倫琴發(fā)現(xiàn)的（）

A:對B:錯

答案:對X射線管的效率極低，一般僅有百分之幾（）

A:對B:錯

答案:對物質(zhì)的線吸收系數(shù)是一個常量，反映物質(zhì)本身對X射線吸收特性（）

A:錯B:對

答案:錯試樣的原子序數(shù)越大，對X射線的吸收越少（）

A:錯B:對

答案:錯采用短波X射線照射時，能參與反射的晶面將會減少（）

A:錯B:對

答案:錯波長越大，愛瓦爾德球的半徑越?。ǎ?/p>

A:對B:錯

答案:對倒易球?qū)嶋H上就是很多和球心等距離的倒易點構(gòu)成的假象球面（）

A:對B:錯

答案:對面心立方晶體能衍射的晶面依次是（110）、（200）、（211）（）

A:對B:錯

答案:錯特征譜的波長取決于X射線管的管電壓（）

A:錯B:對

答案:錯X射線和可見光一樣都是電磁波（）

A:錯B:對

答案:對X射線衍射應(yīng)用的是相干散射（）

A:對B:錯

答案:對X射線在晶面上的反射和可見光在鏡子上的反射從本質(zhì)上來講是一樣的（）

A:對B:錯

答案:錯德拜相測算時，選用越高角度的線條誤差越大（）

A:對B:錯

答案:錯簡單立方點陣不消光的面指數(shù)平方和之比是1：2：3：4：5：6：7：8：9…（）

A:錯B:對

答案:錯采用步進掃描可較快的獲得一幅完整而連續(xù)的衍射圖（）

A:對B:錯

答案:錯X射線物相分析可以用來分析同素異構(gòu)體（）

A:錯B:對

答案:對進行第一次晶體衍射實驗的是（）

A:布拉格

B:倫琴

C:勞厄

D:愛瓦爾德

答案:勞厄

X射線光量子的能量（

）

A:比無線電波低

B:比可見光高

C:比可見光低

答案:比可見光高

X射線與物質(zhì)相遇時，可以（）

A:穿透物質(zhì)

B:使熒光物質(zhì)發(fā)光

C:使氣體電離

答案:穿透物質(zhì)

；使熒光物質(zhì)發(fā)光

；使氣體電離

人們常使用鉛來隔離X射線，是應(yīng)為鉛（）

A:比重大

B:價格便宜

C:不透明

D:原子序數(shù)大

答案:價格便宜

；原子序數(shù)大

X射線衍射時，首先出現(xiàn)的衍射峰必定是（

）的晶面

A:低指數(shù)

B:間距小

C:高指數(shù)

答案:低指數(shù)

倒易基矢和同名正基矢點乘結(jié)果為（）

A:-1

B:1

C:0

答案:1

有一倒易矢量g*=2a*+b*，與它對應(yīng)的正空間晶面是（）

A:221B:220C:210D:211

答案:210在XRD上檢測無擇優(yōu)取向的體心立方多晶粉末樣品，前三個衍射峰是（）

A:110/200/211

B:100/110/111

C:111/200/220

答案:110/200/211

在XRD上檢測無擇優(yōu)取向的面心立方多晶粉末樣品，第二個出現(xiàn)的衍射峰是（）

A:200B:110C:111D:220

答案:200對純Ag進行多晶體衍射實驗時，不可能發(fā)生衍射的晶面是（）

A:111B:200C:110D:331

答案:110110面的多重性因素是（）

A:4B:8C:6D:12

答案:12X射線衍射儀與照相法的不同在于（）

A:發(fā)散光束

B:采用線焦斑

C:電離計數(shù)器記錄

D:平板試樣

答案:發(fā)散光束

；采用線焦斑

；電離計數(shù)器記錄

；平板試樣

最常用的X射線衍射方法是（）

A:德拜法

B:周轉(zhuǎn)晶體法

C:勞厄法

D:粉末多晶法

答案:粉末多晶法

1912年的首次晶體衍射實驗證明（）

A:原子是真實存在的

B:空間點陣的假說是正確的

C:X射線是電磁波

D:原子的排列是周期性重復(fù)的

答案:原子是真實存在的

；空間點陣的假說是正確的

；X射線是電磁波

；原子的排列是周期性重復(fù)的

X射線衍射儀用的是一束（

）的X射線

A:平行

B:收斂

C:發(fā)散

答案:發(fā)散

第三章單元測試

電子束是物質(zhì)波，不是電磁波（

）

A:錯B:對

答案:對電磁透鏡的焦距和放大倍數(shù)是可變的（

）

A:對B:錯

答案:對透鏡物平面允許的軸向偏差稱為焦長（）

A:錯B:對

答案:錯普通透射電鏡的電子槍主要是熱陰極和場發(fā)射兩類（）

A:錯B:對

答案:對電鏡中物鏡的分辨率取決于極靴的形狀和加工精度（）

A:錯B:對

答案:對在透射電鏡的操作過程中，把中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合，就是成像操作（）

A:對B:錯

答案:對在透射電鏡的操作過程中，把中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合，就是成像操作（）

A:錯B:對

答案:對薄膜樣品在最終減薄時，最好使用減薄速度較快的離子減薄（）

A:錯B:對

答案:錯要獲得單晶衍射花樣，首先要有單晶樣品（）

A:對B:錯

答案:錯晶帶軸垂直于零層倒易面上的任何一個矢量（）

A:錯B:對

答案:對電子衍射花樣的標(biāo)定結(jié)果不是唯一的（）

A:錯B:對

答案:對電子波的波長取決于（）

A:電子運動速度

B:電子的質(zhì)量

C:加速電壓

答案:電子運動速度

；電子的質(zhì)量

；加速電壓

透射電子顯微鏡中用磁場來使電子波聚焦成像的裝置是（）

A:極靴

B:電磁線圈

C:聚光鏡

D:電磁透鏡

答案:電磁透鏡

像散是指（

）引起的圖像模糊不清的現(xiàn)象

A:由透鏡磁場的非旋轉(zhuǎn)對稱

B:由入射電子能量不同

C:透鏡磁場對遠軸光線和近軸光線的折射能力不符合預(yù)期

答案:由透鏡磁場的非旋轉(zhuǎn)對稱

透射電鏡對照明光源的要求是（）

A:亮度高

B:束流穩(wěn)定

C:孔徑角小

D:可傾斜

E:平行度好

答案:亮度高

；束流穩(wěn)定

；孔徑角小

；可傾斜

；平行度好

透射電鏡的成像系統(tǒng)主要包括（）

A:物鏡

B:聚光鏡

C:中間鏡

D:投影鏡

答案:物鏡

；中間鏡

；投影鏡

在透射電鏡衍射操作時，要求中間鏡的物平面和（

）重合

A:物鏡像平面

B:物鏡物平面

C:物鏡平面

D:物鏡背焦面

答案:物鏡背焦面

單晶體電子衍射花樣是（）

A:暈環(huán)

B:不規(guī)則的點陣

C:同心圓環(huán)

D:規(guī)則排列的點陣

答案:規(guī)則排列的點陣

薄膜樣品一般預(yù)先減薄至（）

A:幾百納米

B:幾十微米

C:10-1毫米

D:幾百微米

答案:幾十微米

屬于[101]晶帶的晶面是（）

A:B:C:D:

答案:；；；桿狀晶體反映到倒易空間是（）

A:一定尺寸的倒易圓盤

B:尺寸很大的倒易球

C:一定長度的倒易桿

D:尺寸很小的倒易點

答案:一定尺寸的倒易圓盤

第四章單元測試

可用于表層成分的信號是

A:

吸收電子B:

透射電子C:

背散射電子D:

二次電子

答案:

背散射電子

二次電子像襯度最亮的區(qū)域是

A:

法線和電子束成30o的表面B:

法線和電子束成45o的表面C:

和電子束垂直的表面D:法線和電子束成60o的表面

答案:法線和電子束成60o的表面

僅反映固體樣品表面形貌信息的物理信號是

A:

二次電子B:

特征X射線C:

背散射電子D:

俄歇電子

答案:

二次電子

掃描電子顯微鏡配備的成分分析附件中最常見的儀器是

A:

波譜儀B:

特征電子能量損失譜C:

能譜儀D:

電子探針

答案:

能譜儀目前顯微斷口的分析工作大都是用（

）來完成的。

A:

表面形貌襯度B:

原子序數(shù)襯度C:

原子質(zhì)量襯度D:

衍射襯度

答案:

表面形貌襯度掃描電鏡中的透鏡有些是聚光鏡，有些是成像物鏡（）

A:錯B:對

答案:錯掃描電鏡不用電磁透鏡放大成像，也不用電子束成像，而是利用電子束在樣品表面掃描時激發(fā)出來的各種物理信號來調(diào)制成像（）

A:對B:錯

答案:對二次電子能量較低，背散射電子能量很高（）

A:對B:錯

答案:對掃描電鏡與透射電鏡的電子槍相似，只是加速電壓一般會更高（）

A:錯B:對

答案:錯掃描電鏡具有大的景深，所以它可以用來進行斷口形貌的觀察（）

A:對B:錯

答案:對被樣品原子核反彈回來的入射電子叫非彈性背散射電子（）

A:錯B:對

答案:錯入射電子束的能量很高，甚至可以激發(fā)出樣品的特征X射線（）

A:錯B:對

答案:對背散射電子像的分辨率沒有二次電子像的分辨率高（）

A:錯B:對

答案:對波普儀和能譜儀進行成分分析時，全都是以樣品的特征X射線為基礎(chǔ)（）

A:錯B:對

答案:對掃描電鏡的加速電壓越高，電子束在材料中的作用體積越小（）

A:錯B:對

答案:錯在掃描電鏡中能被電子束激發(fā)出來用于成像的信號有（）