2024環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗：溫度濕度靜負載綜合

2溫度//II目 次前 言 II引 言 III范圍 1規(guī)性用件 1術和義 1試的般明 1試設備 2試樣品 3預理 3初檢測 3試樣的裝 3驗件 4間測 4終測 4效據(jù) 5關范提的息 5驗告 5附錄 A（料）GB/T2423的成分 6附錄 B（料）靜負加裝示圖 9參考文獻 11——IIIIII引 言GB/T2423GB/T2423系列標準旨在為產品規(guī)范制定者和產品試驗者提供一系列統(tǒng)一且可重復的氣候、機械和綜合等環(huán)1981242350GB/T24234840項采用IEC60068-2GB/T2423A。本環(huán)境試驗通過溫度、濕度和靜負載條件的組合還可以考察電工電子設備的材料和零部件在綜合環(huán)境下的適應性。PAGEPAGE112溫度/濕度/靜負載綜合范圍濕度本文件適用于評價電工電子設備的非金屬材料及零部件在溫度、濕度和靜負載綜合作用下的環(huán)境適應性，包括機械或其他物理性能的變化等。（GB/T2422-2012 GB/T2423.1電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A：低溫GB/T2423.2電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B：高溫GB/T2423.3環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗GB/T2423.4電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）GB/T2423.222N：GB/T2422-2012界定的以及下列術語和定義適用于本文件。staticloads不隨時間變化的載荷或隨時間變化緩慢的載荷，常見載荷形式有拉伸、壓縮和彎曲等。[來源：GB/T32455-2015，5.2]本試驗是由溫度和濕度氣候環(huán)境條件與靜負載機械環(huán)境條件組合而成的綜合環(huán)境試驗方法。溫度GB/T2423系1表1溫度、濕度與靜負載組合方式氣候試驗靜負載方式拉伸壓縮彎曲低溫GB/T2423.1高溫GB/T2423.2溫度變化GB/T2423.22恒定濕熱GB/T2423.3交變濕熱GB/T2423.4試驗設備通常為常用溫濕度試驗箱與靜負載裝置的結合，靜負載裝置可以非固定式放置在溫濕度試驗箱內部，也可以是固定式放置。除非有關規(guī)范另有規(guī)定，應符合GB/T2423.1、GB/T2423.2、GB/T2423.3、GB/T2423.4和GB/T2423.22對相應溫濕度試驗箱的要求。5.3.1B。±1±0.5Ra0.4μm——足夠的剛度,以確保壓縮板受壓時，壓縮板的彎曲不超過0.01mm；——足夠的尺寸,以確保試驗樣品在兩壓縮板之間壓縮時,整個試驗樣品保持在壓縮板區(qū)域內。當壓縮裝置組裝后，沒有安裝試驗樣品時，兩壓縮板之間的間隙應保持在±0.01mm之內。2mm2R=(5±0.1)≤3mmR=(2±0.2)mm，3mmR=(5±0.2)mm。0.012試驗樣品的類型、數(shù)量、形狀和尺寸,應根據(jù)被測材料或零部件的有關性能測試要求進行選擇，或由相關方協(xié)商規(guī)定。預處理試驗樣品應按有關規(guī)范規(guī)定進行預處理。有關規(guī)范應規(guī)定試驗前對試驗樣品所采用的清潔程序，使用的清潔方法不應影響試驗樣品的表面狀態(tài)以及帶來額外的老化影響因素。試驗前應盡量避免手直接接觸試驗樣品表面。應對試驗樣品進行外觀、尺寸和功能檢查，如有必要，應按相關規(guī)范的要求進行機械性能檢測等。試驗樣品應預先按照有關規(guī)范安裝在靜負載加載裝置上，試驗樣品之間保持足夠間距以避免相互影響。試驗樣品連同靜負載加載裝置一起放入溫濕度試驗箱內準備試驗。靜負載（5±1）%或（10±1）或（20±2）%0.1溫濕度GB/T2423.1-2008GB/T2423.2-2008、GB/T2423.3-2016GB/T2423.4-2008和GB/T2423.22-2012溫度、濕度試驗條件也可以由相關方商議確定。當試驗樣品的溫度達到穩(wěn)定后，試驗開始計時。試驗持續(xù)時間宜由相關方共同商定，循環(huán)試驗周期應在試驗持續(xù)時間內重復進行。溫度、濕度和靜負載綜合環(huán)境會加速試驗樣品老化，試驗時間不應長于相應的溫濕度試驗。根據(jù)有關規(guī)范規(guī)定，對試驗樣品進行非破壞性檢測與破壞性檢測。非破壞性檢測包括：外觀（涂層失光、粉化、龜裂等）、功能、外形變化等。破壞性檢測包括：機械性能、熱性能、局部微觀表面形貌等。失效判據(jù)按相關規(guī)范規(guī)定。只要適用，有關規(guī)范應包含以下內容：試驗報告應給出以下詳細信息，適用時：GB/T2423.66-20XX；（）（））；（）；）；附錄A（資料性）GB/T2423的組成部分除本文件外，GB/T2423系列標準的組成部分如下：GB/T2423.1—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫（IEC60068-2-1:2007，IDT）GB/T423—008第2B（IEC6068--2:0，IDT）GB/T2423.3—2016環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗（IEC60068-2-78：2012，IDT）GB/T2423.4—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）（IEC60068-2-30:2005，IDT）GB/T2423.5—2019環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ea和導則:沖擊（IEC60068-2-27:2008，IDT）GB/T2423.7—2018環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ec:粗率操作造成的沖擊（主要用于設備型樣品）（IEC60068-2-31:2008，IDT）GB/T2423.10—2019環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fc:振動(正弦)（IEC60068-2-6:2007，IDT）GB/T2423.15—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ga和導則:穩(wěn)態(tài)加速度（IEC60068-2-7:1986，IDT）GB/T2423.16—20222（IEC60068-2-10:2018,IDT）GB/T2423.17—-20XX環(huán)境試驗第（IECGB/T2423.18—2021環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）（IEC60068-2-52:2017，IDT）GB/T2423.19—2013環(huán)境試驗第2(IEC60068-2-42:2003,IDT)GB/T2423.20—2014環(huán)境試驗第2Kd：(IEC60068-2-43:2003,IDT)GB/T2423.21—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗M:低氣壓（IEC60068-2-13:1983，IDT）GB/T2423.22—2012環(huán)境試驗第2N（IECGB/T2423.23—20132Q:（IEC60068-2-17：1994，IDT）GB/T2423.24—2022環(huán)境試驗第2S驗和氣候老化試驗導則（IEC60068-2-5:2018，IDT）GB/T2423.27—2020環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗方法和導則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗（IEC60068-2-39:2015，IDT）GB/T2423.28—2005電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗T：錫焊（IEC60068-2-20:1979，IDT）GB/T2423.30—2013環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗XA和導則:在清洗劑中浸漬（IEC60068-2-45:1980/Amd1：1993，MOD）GB/T2423.32—20082Ta:（IEC60068-2-54:2006，IDT）GB/T2423.33—2021環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Kca：高濃度二氧化硫試驗GB/T2423.34—202X環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(IEC60068-2-38:2021,IDT)GB/T2423.35—2019環(huán)境試驗第2（IEC60068-2-53:2010，IDT）GB/T2423.37—2006電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗L：沙塵試驗（IEC60068-2-68:1994，IDT）GB/T2423.38—2021環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗R：水試驗方法和導則（IEC60068-2-18:2017，IDT）GB/T2423.39—2018環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ee和導則:散裝貨物試驗包含彈跳（IEC60068-2-55:2013，IDT）GB/T2423.40—20132Cx（IEC60068-2-66:1994，IDT）GB/T2423.41—2013環(huán)境試驗第2部分：試驗方法風壓GB/T2423.43—20082（IEC60068-2-47:2005，IDT）GB/T2423.45—2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABDM:氣候順序（IEC60068-2-61:1991,MOD）GB/T2423.47—20182Fg（IEC60068-2-65:2013，IDT）GB/T2423.48—2018環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ff:振動時間歷程和正弦拍頻法（IEC60068-2-57:2013，IDT）GB/T2423.50—2012環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗（IEC60068-2-67:1995，IDT）GB/T2423.51—2020環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ke：流動混合氣體腐蝕試驗(IEC60068-2-60:2015，IDT)GB/T2423.52—2003電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗77:結構強度與撞擊（IEC60068-2-77:1999，IDT）GB/T2423.53—2005電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Xb：由手的摩擦擦造成標記和印刷文字的磨損（IEC60068-2-70:1995，IDT）GB/T2423.54—2022環(huán)境試驗第Xc（IEC60068-2-74:2018，IDT）GB/T2423.55—20232Eh（IEC60068-2-75:2014，IDT）GB/T2423.56—2023環(huán)境試驗第2（IEC60068-2-64:2019，IDT）GB/T2423.57—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ei:沖擊沖擊響應譜合成（IEC60068-2-81:2003，IDT）GB/T2423.58—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fi:振動混合模式（IEC60068-2-80:2005，IDT）GB/T2423.59—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/ABMFh:溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合GB/T2423.60—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗U：引出端及整體安裝件強度（IEC60068-2-21:2006，IDT）GB/T2423.61—2018環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗和導則：大型試件砂塵試驗GB/T2423.62—2018環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fx和導則：多輸入多輸出振動GB/T2423.63—2019環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(混合模式)綜合GB/T2423.64—2023環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fj:振動長時間歷程再現(xiàn)（IEC60068-2-85:2019，IDT）GB/T2423.65—XXXX環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：鹽霧/溫度/濕度/太陽輻射綜合GB/T2423.101—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：傾斜和搖擺GB/T2423.102—2008（低氣壓（綜合附錄B（資料性）靜負載