GBT 32520-2016 交流1kV以上架空輸電和配電線路用帶外串聯(lián)間隙金屬氧化物避雷器(EGLA)

distributionlines2016-09-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局IGB/T32520—2016 1 1 2 4 4 5 5 5 65.3標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)稱放電電流 65.4運(yùn)行條件 66技術(shù)要求 66.1SVU外套和整只EGLA的絕緣耐受 6 66.3大電流負(fù)載 7 76.5SVU的短路電流特性 76.6機(jī)械性能 76.7SVU的氣候老化 7 7 8 86.11續(xù)流遮斷 86.12電磁兼容 86.13壽命的終結(jié) 86.14SVU的持續(xù)電流 8 86.16SVU復(fù)合外套外觀要求 8 86.18EGLA放電電壓性能要求 96.19EGLA沖擊伏秒特性 96.20無(wú)線電干擾電壓及可見(jiàn)電暈試驗(yàn) 9 9 97.1測(cè)量設(shè)備及準(zhǔn)確度 9ⅡGB/T32520—20167.2試驗(yàn)樣品 98型式試驗(yàn) 8.3殘壓試驗(yàn) 8.4放電電壓試驗(yàn) 8.5大電流沖擊耐受試驗(yàn) 8.6雷電放電能力試驗(yàn) 8.7短路試驗(yàn) 8.8續(xù)流遮斷試驗(yàn) 8.9SVU機(jī)械負(fù)荷試驗(yàn) 8.10氣候老化試驗(yàn) 8.11SVU復(fù)合外套外觀檢查 8.12持續(xù)電流試驗(yàn) 8.15密封試驗(yàn) 8.16內(nèi)部局部放電試驗(yàn)(參照10.3) 8.18無(wú)線電干擾電壓及可見(jiàn)電暈試驗(yàn) 9例行試驗(yàn) 34 10.1總則 35 10.3SVU的內(nèi)部局部放電 10.4無(wú)線電干擾電壓(RIV)試驗(yàn) 37 附錄A(資料性附錄)本標(biāo)準(zhǔn)章條編號(hào)與IEC60099-8:2011章條編號(hào)對(duì)照 附錄B(資料性附錄)本標(biāo)準(zhǔn)與IEC60099-8:2011技術(shù)性差異及其原因 附錄C(資料性附錄)續(xù)流遮斷試驗(yàn)的試驗(yàn)回路例子 附錄D(資料性附錄)機(jī)械性能的研究 附錄E(資料性附錄)典型的SVU電氣參數(shù) Ⅲ本標(biāo)準(zhǔn)使用重新起草法修改采用IEC60099-8:2011《避雷器第8部分：交流1kV以上架空輸電差異已編入正文并在它們所涉及的條款的頁(yè)邊空白處用垂直單線標(biāo)識(shí)。在附錄B中給出了這些技術(shù) ——增加了附錄B,本標(biāo)準(zhǔn)與IEC60099-8:2011的技術(shù)性差異及——增加了附錄E,根據(jù)我國(guó)具體情況增列了表E.1典型SVU特性參數(shù)；1由于EGLA的金屬氧化物電阻片通過(guò)外串聯(lián)間隙連接到線路上，下面的問(wèn)題將不在本標(biāo)準(zhǔn)中——長(zhǎng)持續(xù)電流沖擊耐受GB/T191—2008包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志(ISO780:1GB311.1絕緣配合第1部分：定義、原則和規(guī)則(GB311.1—2012,IEC60071-1:2006,MOD)GB/T2317.2電力金具試驗(yàn)方法第2部分：電暈和無(wú)線電干擾試驗(yàn)(GB/T2317.2—2008,IEC61284:1997,MOD)GB/T2423.17—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka:鹽霧(IEC60068-GB/T2423.22—2012環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14:GB/T2900.12—2008電工術(shù)語(yǔ)避雷器、低壓電涌保護(hù)器及元件GB/T2900.19—1994電工術(shù)語(yǔ)高電壓試驗(yàn)技術(shù)和絕緣配合GB/T4585—2004GB/T16422.1—2006塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法第1部分：總則(ISO4892-1:1999,IDT)GB/T16422.2—2014塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法第2部分：氙弧燈(ISO4892-2:2006,2GB/T16422.3—2014塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法第3部分：熒光紫外燈(ISO4892-3:GB/T16927.1高電壓試驗(yàn)技術(shù)第1部分：一般定義及試驗(yàn)要求(GB/T16927.1—2011,GB/T16927.2高電壓試驗(yàn)技術(shù)第2部分：測(cè)量系統(tǒng)(GB/T16927.2—2013,IEC60060-2:GB/T22079—2008標(biāo)稱電壓高于1000V使用的戶內(nèi)和戶外聚合物絕緣子一般定義、試驗(yàn)方法和接收準(zhǔn)則(IEC62217:2005,MOD)GB/T26218.1—2010污穢條件下使用的高和一般原則(IEC/TS60815-1JB/T7618—2011避雷器密封試驗(yàn)GB/T2900.12—2008和GB/T2900.19—1994界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和設(shè)計(jì)的避雷器。典型結(jié)構(gòu)見(jiàn)圖1。絕緣子串(帶/不帶保護(hù)間隙或均壓元件的絕緣子串)串聯(lián)非線性電阻單元U包含在一個(gè)外套內(nèi)的非線性金屬氧化物電阻片部分，必須和一個(gè)外串聯(lián)間隙連接構(gòu)成完整的避3SVU元件unitofSVUSVU的參考電壓referencevoltageofaSVU的參考電流referencecurrentofanSVUIrfSVU的額定短路電流ratedshort-circuitcurrentofanSVUIs4流過(guò)放電電流時(shí)出現(xiàn)在包括串聯(lián)間隙和連接金具的EGLA全長(zhǎng)兩端之間的電壓峰值。SVU的殘壓residualvoltageofanSVUSVU的規(guī)定短期負(fù)荷specifiedshort-termloadof鹽密saltdepositdensity;SDD振動(dòng)耐受試驗(yàn)vibrationwithstandtest5——額定頻率Hz,僅當(dāng)頻率小于48Hz或大于62Hz時(shí)； ——制造商名或商標(biāo)EGLA是按表1的標(biāo)稱放電電流和大電流沖擊耐受能力來(lái)分類，并將符合表4的試驗(yàn)要求和參數(shù)55注1:“系列X”對(duì)應(yīng)GB11032—2010所用的分類。采用IEC、IEEE、GB11032—2010標(biāo)準(zhǔn)所用放電電流和4/10波形大電流沖擊。注2:根據(jù)運(yùn)行條件，也可采用本表規(guī)定之外的其他大電流沖擊136注：其他額定電壓值也可接受，但需是6的倍數(shù)。6a)環(huán)境溫度在一40℃~+40℃范圍內(nèi)；b)海拔不超過(guò)1000m;7在標(biāo)稱放電電流下EGLA的殘壓值分別乘以6.1.1中的系數(shù)，應(yīng)低于被保護(hù)線路絕緣的最小SVU應(yīng)能耐受2次大電流沖擊的放電動(dòng)作。對(duì)于標(biāo)稱放電電流30kA的SVU,應(yīng)能耐受3次大電流沖擊的放電動(dòng)作。外露金屬連接件不被環(huán)境條件所損害。對(duì)于聚合物外套(復(fù)合和樹脂澆鑄)的SVU,承受UV輻射應(yīng)另在參考電流下測(cè)量SVU比例單元或元件的參考電壓(Ur)。測(cè)量應(yīng)在環(huán)境溫度20℃±15K下進(jìn)每只SVU(或SVU元件)的工頻參考電壓應(yīng)在制造商選定的工頻參考電流下測(cè)量。在例行試驗(yàn)對(duì)整只SVU(或SVU元件)測(cè)量直流參考電流下的直流參8超過(guò)2500μV。9對(duì)EGLA應(yīng)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)雷電沖擊50%放電電壓試驗(yàn)和工頻耐受電壓試驗(yàn)，其試系統(tǒng)標(biāo)稱電壓(有效值)(有效值)不小于(峰值)不大于路絕緣[包括絕緣子(串)和空氣間隙]的沖擊伏秒特性曲線至少低10%。a)整只EGLA的額定電壓與比例單元b)試品中所用電阻片的體積應(yīng)不大于整只EGLA所用的全部電阻片中的最小體積除以n。被試比例單元的SVU的參考電壓等于EGLA的SVU的最小參考電壓除以n。如果被試比例單元SVU的參考電壓大于整只EGLA的SVU的最小參考電壓除以n,系數(shù)n應(yīng)相應(yīng)減小。如果被試比例單元的SVU的參考c)EGLA比例單元的負(fù)極性50%雷電沖擊放電電壓不大于制造商宣稱的EGLA最小間隙距離時(shí)的負(fù)極性50%雷電沖擊放電電壓除以n,且U.應(yīng)不小于90kV。試品的系數(shù)n應(yīng)記錄在試驗(yàn)報(bào)告中。表4確認(rèn)的型式試驗(yàn)應(yīng)在完整的EGLA或SVU元件上進(jìn)行。試驗(yàn)項(xiàng)目11只SVU元件外套231只EGLA4564只SVU或SVU元件71只EGLA或比例單元8彎曲試驗(yàn)額定電壓69kV及以上EGLA1只，其余3只91只SVU或SVU元件復(fù)合外套外觀檢查額定電壓69kV及以上SVU1只，其余3只額定電壓69kV及以上SVU1只，其余3只額定電壓69kV及以上SVU1只，其余3只額定電壓69kV及以上SVU1只，其余3只額定電壓69kV及以上SVU1只，其余3只局部放電額定電壓69kV及以上SVU1只，其余3只1只SVU或SVU元件額定電壓69kV及以上EGLA1只，其余3只額定電壓69kV及以上EGLA1只由于應(yīng)用條件的多樣性、復(fù)雜性，由供需雙這些試驗(yàn)考核干燥條件下SVU外套的雷電沖擊耐受能路時(shí)EGLA承受系統(tǒng)最大預(yù)期操作沖擊和工頻過(guò)電壓的耐受電壓試品：試驗(yàn)應(yīng)在單位長(zhǎng)度上比電壓最大的SVU外套上進(jìn)行。應(yīng)拆除非線性金屬氧化物電阻片或試驗(yàn)電壓按照表1和8.3.2,為1.4倍標(biāo)稱放電電流下的殘壓。如果干弧距離或局部干弧距離之和大于試驗(yàn)認(rèn)為SVU通過(guò)了試驗(yàn)。8.2.3故障時(shí)SVU的EGLA絕緣耐受試驗(yàn)?zāi)MSVU故障時(shí)進(jìn)行操作沖擊濕耐受電壓試驗(yàn)和工頻濕耐受電壓試驗(yàn)。試驗(yàn)?zāi)康氖强己薙VUb)在短路SVU的EGLA上，按照GB/T16927.1用升降法對(duì)每個(gè)極性測(cè)量50%閃絡(luò)電壓c)淋雨特性按照GB/T16927.1的要求。U10,EGLA=U?0,EGLA(1-1.350%閃絡(luò)電壓為測(cè)量值，標(biāo)準(zhǔn)偏差為o并假定操作沖擊電壓的σ為6%(g=0.06)。如果耐受值等b)試驗(yàn)電壓是1.2倍EGLA額定電壓。c)淋雨特性符合GB/T16927.1的要試驗(yàn)是為考核SVU在雷電沖擊下的殘壓是否符合宣稱值。所有的殘壓試驗(yàn)都在同樣3個(gè)SVU比例單元上進(jìn)行。放電之間的時(shí)間應(yīng)允許樣品冷卻到接近環(huán)境溫度。SVU的殘壓值是由所測(cè)量的應(yīng)對(duì)3只試品的每1只試品施加3次雷電電流沖擊，其幅值分別約為EGLA標(biāo)稱放電電流的0.5倍、1倍和2倍。按照表1避雷器電流波形為8/20。對(duì)8/20電流沖擊：如果沒(méi)有按照10.5進(jìn)行每只絕緣子串的驗(yàn)收試驗(yàn)，該試驗(yàn)為強(qiáng)制性試驗(yàn)的目的是確定雷電沖擊電壓下EGLA的50%放電電壓。試驗(yàn)將在SVU的3只比例單元上進(jìn)行。比例單元應(yīng)為制造商宣稱的標(biāo)稱放電電流下殘壓最高于所有整只SVU電阻片的最小體積除以n。b)SVU比例單元的參考電壓Ua應(yīng)等于EGLA的SVU的最小參考電壓除以n。如果SVU比例單元的參考電壓大于整只EGLA的SVU的最小參考電壓，因數(shù)n將相應(yīng)地減少，如果SVU比例單元的參考電壓小于整只EGLA的SVU的最小參考電壓除以n,這種比例單元將應(yīng)對(duì)3個(gè)比例單元施加按照表1規(guī)定的峰值偏和波形的2次或3次同樣極性的大電對(duì)4/10電流沖擊：a)試驗(yàn)前后測(cè)量的標(biāo)稱放電電流下殘壓變化在(-2%～+5%)內(nèi)。b)試驗(yàn)后試品外觀檢查試品上應(yīng)無(wú)擊穿、閃絡(luò)、開裂或其電阻片不能從試品中取出進(jìn)行外觀檢查，應(yīng)進(jìn)行下面附加的試驗(yàn)以確保試驗(yàn)中沒(méi)有損害發(fā)冷卻到環(huán)境溫度后施加。第二次沖擊在第一次沖擊后50s～60s施加。2次沖擊期間，電壓和電流的示波圖都不顯示任何擊穿，試驗(yàn)前最初測(cè)量與試驗(yàn)后2次沖擊最后之間的殘壓差異應(yīng)不超過(guò)(-2%～+5%)的范圍。試驗(yàn)在3只試品上進(jìn)行。這些試品可以是整只SVU、SVU比例單元或金屬氧化物電阻片，除了為a)整只SVU在標(biāo)稱放電電流下殘壓與比例單元在標(biāo)稱放電電流下殘壓之比定義為n。用于試品電阻片的體積應(yīng)不大于所有整只SVU電阻片的最小體積除以n。例單元的參考電壓大于整只EGLA的SVU的最小參考電壓，因數(shù)n將相應(yīng)地減少，如果SVU比例單元的參考電壓小于整只EGLA的SVU的最小參考電壓雷電沖擊放電能力試驗(yàn)由18次放電沖擊組成，分成6組，每組3次。2次沖擊間隔時(shí)間為50s~驗(yàn)前獲得的值比較，其值變化不超過(guò)(-2%～+5%)。果試品耐受了第19次放電沖擊而不損壞(通過(guò)示波圖記錄檢查),則試品通過(guò)了試驗(yàn)。大于峰值5%的時(shí)間周期應(yīng)為200μs~230μs。任何反極性電流波的峰值應(yīng)小于電流峰值的5%。每個(gè)試品上每次沖擊電流峰值應(yīng)在所選峰值的100%～110%之間。每次沖擊電荷和峰值電流以及沖擊電流的瞬時(shí)值大于峰值5%的時(shí)間周期都應(yīng)在報(bào)告中。典型的b)從8.6.6系列中選擇額定電荷值，該0.4;0.6;0.8;1;1.2;1.4;1.6;1.8;2;2.4;2.8;3.2;3.6;4;4.4;4.8;5.2;5.6;6;6.4;6.8;74個(gè)短路電流值的短路試驗(yàn)。如果SVU裝配了其他裝置以代替常規(guī)壓力釋放裝置，試驗(yàn)時(shí)應(yīng)包括該大于或等于除內(nèi)部功能元件外剩余內(nèi)部容積的50%;余內(nèi)部容積的50%。外套SVU進(jìn)行試驗(yàn)。套SVU進(jìn)行試驗(yàn)。施加在完整的SVU裝配單元上。在預(yù)故障擊穿和實(shí)際短路制造商提供的過(guò)電壓應(yīng)超過(guò)參考電壓。該電壓應(yīng)使SVU在(5±3)min內(nèi)發(fā)生故障。當(dāng)電阻片兩端的電壓降到初始施加電壓的10%之下時(shí)，可視為電阻片故障。預(yù)故障試驗(yàn)回路的短路電流不應(yīng)超過(guò)預(yù)故障試驗(yàn)和額定短路電流試驗(yàn)之間的時(shí)間應(yīng)不超過(guò)15min。 試品應(yīng)以使用熔絲來(lái)導(dǎo)通短路電流的方式準(zhǔn)備。熔絲應(yīng)沿著并緊貼電阻片表面，并且盡可能遠(yuǎn)離氣體通道設(shè)置。應(yīng)將所有的內(nèi)部功能元件進(jìn)行短路。試驗(yàn)中熔絲的實(shí)際位置在報(bào)告中應(yīng)該注明。被試SVU單元按照?qǐng)D3a)和圖3b)的安裝布置可直接安裝在底座上或按照制造廠的安裝推薦懸掛安裝。試驗(yàn)安裝的選擇由制造廠決定。對(duì)于懸式安裝的SVU的底部應(yīng)與圓形圍欄的上沿等高。對(duì)于座式安裝的SVU,安裝的布置見(jiàn)圖3a)和圖3b)。從絕緣平臺(tái)和導(dǎo)線到地的距離應(yīng)按圖3a)和對(duì)于非座式安裝的SVU(例如，桿塔安裝的SVU),試品應(yīng)按典型的真實(shí)運(yùn)行安裝方式，使用安裝支架及金屬構(gòu)件安裝在非金屬的桿塔上。以試驗(yàn)為目的，安裝支架應(yīng)認(rèn)為是SVU基座的一部分。如果上述情況與制造商的使用說(shuō)明書不同時(shí)，SVU應(yīng)當(dāng)按照制造商推薦的安裝方法。基座和電流傳感器之間的全部導(dǎo)線應(yīng)當(dāng)有至少1000V的絕緣強(qiáng)度。試品的頂端應(yīng)裝配同SVU設(shè)計(jì)一樣的基座裝置或?qū)τ谧桨惭bSVU,試品的底部部件應(yīng)安裝在同環(huán)形或方形圍欄等高的試驗(yàn)臺(tái)上。試驗(yàn)臺(tái)應(yīng)為絕緣材料或者當(dāng)試驗(yàn)臺(tái)的表面尺寸小于避雷器底部部件時(shí)可采用導(dǎo)電材料。試驗(yàn)臺(tái)和圍欄應(yīng)安裝在絕緣平臺(tái)的頂部，如圖3a)和圖3b)所示。對(duì)于非座式安裝SVU,SVU的底部采用同樣的要求。頂部蓋板和除SVU基座以外的任何其他金屬物體之間的電弧距離應(yīng)該至少為SVU試品高度的1.6倍，但不低于0.9m。圍欄應(yīng)由非金屬材料制成，并且相對(duì)于試品軸對(duì)稱分布。圍欄高度應(yīng)為(40±10)cm,直徑(如果是正方形圍欄，為邊長(zhǎng))應(yīng)按下式的D選取，但最小直徑為1.8m。在試驗(yàn)期間，圍欄不允許打開D=1.2×(2×H+Dsvu)H——試驗(yàn)SVU的高度，單位為米(m);瓷外套SVU應(yīng)根據(jù)圖3a)安裝。復(fù)合外套SVU應(yīng)根據(jù)圖3b)安裝。除非供需雙方達(dá)成其他的協(xié)議，試品應(yīng)垂直安裝。三只試品的試驗(yàn)電流值應(yīng)基于表5所列的額定短路電流值進(jìn)行選擇。所有的三只試品應(yīng)根據(jù)第試驗(yàn)應(yīng)在單相試驗(yàn)回路進(jìn)行，根據(jù)8.7.4.1該試驗(yàn)電路應(yīng)具有77%～107%SVU額定電壓的開路電8.7.4.1空載電壓大于或等于77%額定電壓的大電流短路試驗(yàn)(77%～107%的額定值)量有效值的2.5倍。隨后的對(duì)稱分量有效值應(yīng)當(dāng)?shù)扔诨虼笥陬~定短路電流。試驗(yàn)電流為預(yù)期電流峰值當(dāng)試驗(yàn)回路電壓小于試品額定電壓的77%時(shí)，試驗(yàn)回路參數(shù)應(yīng)按下面的方法進(jìn)行調(diào)整，要求實(shí)際SVU試驗(yàn)電流對(duì)稱分量有效值的2.5倍。隨后的對(duì)稱分量有效值應(yīng)當(dāng)?shù)扔诨虼笥陬~定短路電流。試驗(yàn)電流定義為預(yù)期實(shí)際避雷器試驗(yàn)電流峰值除以2.5,但實(shí)際SVU試驗(yàn)電流對(duì)稱分量的有效值可能和瓷外套SVU的定義)是有效的：如果試品的額定電壓高于150kV并且第一個(gè)波峰值不能達(dá)到額定額定電壓值≥150kV并且不能短于實(shí)際SVU設(shè)計(jì)的最短SVU單元。額定短路電流值應(yīng)是最長(zhǎng)單元對(duì)于所有降低的短路電流的有效值應(yīng)按照表5規(guī)定，實(shí)際SVU試驗(yàn)電流的第一個(gè)半波峰值應(yīng)至因此，對(duì)于預(yù)故障SVU,推薦在施加短路電流前通過(guò)重復(fù)進(jìn)行預(yù)故障以確保SVU表現(xiàn)為完全地低電阻特性，或者相類似的，在最大電流持續(xù)2s時(shí)間內(nèi)，回路立即施加短路電流(見(jiàn)圖4)。增加預(yù)施加回路的短路電流至300A(有效值)是可以接受的。如果這樣，在該電流幅值下的最大持續(xù)時(shí)間應(yīng)不超過(guò)tm——重復(fù)預(yù)故障時(shí)間，單位為秒(s);Qf重復(fù)預(yù)故障電荷，單位為庫(kù)侖(C),等于60C;In——重復(fù)預(yù)故障電流(有效值),單位為安培(A)。8.7.5小電流短路試驗(yàn)試驗(yàn)可以在任何能夠產(chǎn)生通過(guò)SVU試品電流等于600A±200A(有效值)的試驗(yàn)回路上進(jìn)行，該電流值是在電流開始流過(guò)SVU后約0.1s時(shí)測(cè)得的。電流應(yīng)持續(xù)流過(guò)1s或?qū)τ凇霸O(shè)計(jì)A”瓷外套SVU直到壓力釋放發(fā)生。8.7.6的注2提出了關(guān)于SVU壓力釋放后的處置。如果滿足下列3種判據(jù)可視為試驗(yàn)通過(guò)：a)無(wú)強(qiáng)烈的粉碎性爆炸。b)試品的部件應(yīng)不允許在圍欄外找到，除非：●瓷材料碎片每片小于60g,如金屬氧化物電阻片或瓷套碎片；●壓力釋放蓋板和防爆膜；●復(fù)合材料的柔軟部件。c)SVU應(yīng)在試驗(yàn)后2min內(nèi)自動(dòng)熄滅明火。任何噴出的部件(圍欄內(nèi)或外)必須在2min內(nèi)自動(dòng)熄滅明火。試品試品短路電流開始試驗(yàn)電壓：<U?的77%電流降低的短電流降低的短4內(nèi)或者盡可能預(yù)期電流：實(shí)際電流：實(shí)際電流：4或5內(nèi)或者盡可能預(yù)期電流：實(shí)際電流：≥2.5或?qū)嶋H電流：4氣體通道預(yù)期電流：實(shí)際電流：實(shí)際電流：4預(yù)期電流：實(shí)際電流：實(shí)際電流：降低的短路電流小短路電流表6(續(xù))單位為安培降低的短路電流10000或500010000、5000、2500或150010000、5000、2500或1500注1:對(duì)于同種類型SVU,如果按表6已經(jīng)證明一種額定電流是合格，要證明較高的額定電新的額定值進(jìn)行試驗(yàn)。任何外推只能將額定短路電流上升兩級(jí)。注2:如果一種新型的SVU要求證明高于本表所列的額定電流值是合格的，應(yīng)該在其建議的注3:對(duì)于同種類型SVU,如果按表6已經(jīng)證明一種額定電流是合格，則可認(rèn)為它已通過(guò)了對(duì)于安裝在諧振接地或中性點(diǎn)不接地系統(tǒng)的SVU,允許由供需雙方協(xié)商，增加試驗(yàn)持續(xù)的時(shí)間30min。在這種情況下，小短路電流應(yīng)減至(50±20)A,并且應(yīng)由供需雙方協(xié)商試品和接收準(zhǔn)則b)說(shuō)明：a)一只機(jī)械和電氣元件。b)由外套提供最終的機(jī)械強(qiáng)度，其內(nèi)部裝有兩個(gè)機(jī)械組件。c)一只機(jī)械元件，其外套的中間罩有均壓元件。d)由兩只獨(dú)立外套各自安裝的兩只機(jī)械元件。e)提供最終機(jī)械強(qiáng)度的兩只機(jī)械元件，中間的法蘭包裹著柔軟絕緣材料。f)提供最終機(jī)械強(qiáng)度的兩只機(jī)械元件，外部是一個(gè)完整的外套。0a)瓷外套SVU試驗(yàn)回路布置0(所有引線和壓力釋放系統(tǒng)在同一平面上)b)復(fù)合外套SVU試驗(yàn)回路布置(所有引線和壓力釋放系統(tǒng)在同一平面上)Z短路發(fā)電機(jī)試驗(yàn)是證實(shí)雷電沖擊下串聯(lián)間隙放電后EGLA的續(xù)流遮斷動(dòng)作。試品是一個(gè)完整的EGLA或試驗(yàn)由制造商選擇以SDD水平和EGLA結(jié)構(gòu)作為型式試驗(yàn)。8.8.2“試驗(yàn)方法A”且在續(xù)流遮斷后峰值電壓不超過(guò)額定電壓峰值的10%。試驗(yàn)回路的例子見(jiàn)附錄C。件；比例系數(shù)n(整只EGLA與EGLA試品的額定電壓之比)應(yīng)不高于5。EGLA比例單元的50%雷電沖擊放電電壓等于制造商宣稱的EGLA最小間隙距離時(shí)的50%雷電沖擊放電電壓比例單元SVU的參考電壓大于整只EGLA的SVU的最小參考電壓除以n,因數(shù)n將相應(yīng)地d)線性電阻應(yīng)與SVU并聯(lián)以獲得足夠高的續(xù)流。a)通過(guò)并聯(lián)于SVU的線性電阻來(lái)模擬SVU污穢表面的漏電流；需要模擬SVU污層上漏電流的線性電阻阻抗計(jì)算為R=F/K,F是SVU外套的形狀系數(shù)(按然后，間隙長(zhǎng)度應(yīng)調(diào)整到最小規(guī)定值。與實(shí)際交流電壓半波同極性的放電各施加5次。如果續(xù)流從沖擊施加前的第一個(gè)完整循環(huán)到續(xù)流最終遮斷后的10個(gè)完整循環(huán)。最后續(xù)流遮斷應(yīng)發(fā)生在施加沖8.8.3“試驗(yàn)方法B”工頻電壓源阻抗在續(xù)流流過(guò)期間，在EGLA端測(cè)量的工頻電壓峰值應(yīng)不低于試品額定電壓的峰值，且在續(xù)流遮斷后峰值電壓不超過(guò)額定電壓峰值的10%。試驗(yàn)回路的例子見(jiàn)附錄C。a)試品為EGLA的比例單元或整只EGLA。b)非線性金屬氧化物電阻部分應(yīng)是一個(gè)完整的SVU,或SVU比例單元；比例系數(shù)n(整只EGLA與EGLA試品的額定電壓之比)應(yīng)不高于5。EGLA比例單元的50%雷電沖擊放電電壓等于制造商宣稱的EGLA最小間隙距離時(shí)的50%雷電沖擊放電電壓除以n,且U?應(yīng)不小c)用作試品的電阻片體積應(yīng)不大于整只SVU所有電阻片最小體積除以n。d)試品比例單元SVU的參考電壓U應(yīng)等于EGLA的SVU的最小參考電壓除以n。如果試驗(yàn)比例單元SVU的參考電壓大于整只EGLA的SVU的最小參考電壓除以n,因數(shù)n將相應(yīng)地減少，如果試驗(yàn)比例單元SVU的參考電壓小于整只EGLA的SVU的最小參考電壓除以n,e)外串聯(lián)間隙應(yīng)與EGLA用同樣的金具連接。間隙距離不大于制造商規(guī)定的最小間隙距離，間然后，間隙長(zhǎng)度應(yīng)調(diào)整到最小規(guī)定值。交流電壓半波正負(fù)極性的放電各施加5次。如果續(xù)流沒(méi)有伴隨著每次放電記錄工頻電壓和續(xù)流的永久示波圖。示波圖應(yīng)顯示試品從沖擊施加前的第一個(gè)完整循環(huán)到續(xù)流最終遮斷后的10個(gè)完整循環(huán)。最后續(xù)流遮斷應(yīng)發(fā)生在施加沖本試驗(yàn)驗(yàn)證SVU耐受制造商宣稱的機(jī)械負(fù)荷值(SLL和SSL)的能力。試驗(yàn)在3個(gè)或6個(gè)SVU或SVU單元上進(jìn)行。完整的試驗(yàn)程序見(jiàn)附錄D.5。試驗(yàn)針對(duì)Um>52kV的EGLA的瓷和環(huán)氧澆注SVU。如于Um≤52kV的EGLA的瓷和環(huán)氧澆注SVU。試驗(yàn)驗(yàn)證SVU耐受制造商宣稱彎曲負(fù)荷值的能力。試驗(yàn)應(yīng)該在沒(méi)有內(nèi)部過(guò)壓力的整只SVU上進(jìn)行。對(duì)行。當(dāng)SVU含有多于一個(gè)元件，或當(dāng)SVU的兩端具有不同的規(guī)定的彎矩值時(shí)，應(yīng)該用按照B.1確定 產(chǎn)生所要求的彎矩。負(fù)載應(yīng)該通過(guò)SVU的縱軸并且垂直于它。如果SVU對(duì)于彎曲強(qiáng)度不是軸對(duì)稱3個(gè)試品試驗(yàn)。如果首先進(jìn)行驗(yàn)證SSL(見(jiàn)8.9.1.1.3.2),這些試品仍可用于確定MBL。試品不需8.9.1.1.3.2驗(yàn)證規(guī)定短時(shí)負(fù)荷(SSL)3個(gè)試品試驗(yàn)。試品需要包含內(nèi)部元件。試驗(yàn)前，每只試品都要進(jìn)行密封泄漏檢測(cè)和內(nèi)部局部放在30s～90s之內(nèi)，對(duì)每個(gè)試品的彎曲負(fù)荷平滑增加到SSL,偏差負(fù)荷達(dá)到后保持60s~90s,期間測(cè)量偏移量，然后負(fù)荷應(yīng)慢慢去除并記錄殘余偏移量，殘余偏移量應(yīng)在去除負(fù)荷后 ——永久偏移量≤3mm或≤試驗(yàn)期間最大偏移量的10%(兩者取其大); ——試品內(nèi)部局部放電水平不超過(guò)8.16的規(guī)定值。試驗(yàn)適用于Um>52kV的EGLA的復(fù)合(樹脂澆鑄除外)外套SVU(有或無(wú)封閉氣腔)。如果制試驗(yàn)驗(yàn)證制造商宣稱的彎曲負(fù)荷的SVU耐受能力。試驗(yàn)在具有單元最高額定電壓的SVU單元上進(jìn)行。對(duì)單節(jié)SVU設(shè)計(jì)，試驗(yàn)在設(shè)計(jì)壓的最長(zhǎng)元件上進(jìn)行。當(dāng)SVU含有多于一個(gè)元件，或當(dāng)SVU的兩端具有不同的規(guī)定的彎矩值時(shí)，應(yīng)該用按照B.1節(jié)確定的負(fù)荷值來(lái)進(jìn)行試驗(yàn)以評(píng)價(jià)每一個(gè)不同的彎矩值。然而，若最長(zhǎng)元件長(zhǎng)度大于●與端部附件交界處外套(不包含傘裙)外徑的3倍；試驗(yàn)分3步(2步為Um≤52kV的EGLA的SVU)應(yīng)按以下在3個(gè)試品上依次進(jìn)行：——在所有3個(gè)試品上進(jìn)行一個(gè)循環(huán)試驗(yàn)，由試驗(yàn)負(fù)荷等于規(guī)定長(zhǎng)期負(fù)荷(SLL)的1000次循環(huán)——2個(gè)樣品上進(jìn)行試驗(yàn)負(fù)荷等于規(guī)定短時(shí)負(fù)荷(SSL)的靜態(tài)彎矩試驗(yàn)，如B.2的100%值，以及●按8.16進(jìn)行內(nèi)部局部放電試驗(yàn)； 試驗(yàn)在3個(gè)試品上進(jìn)行。對(duì)Um>52kV的EGLA的SVU,試驗(yàn)分3步進(jìn)行。對(duì)U第1步：試驗(yàn)期間最大偏移量和任何殘余偏移量應(yīng)記錄。殘余偏移量應(yīng)在負(fù)荷去除后的1min~試驗(yàn)期間最大偏移量和任何殘余偏移量應(yīng)記錄。殘余偏移量應(yīng)在負(fù)荷去除后的1min~第3步：試驗(yàn)期間最大偏移量和任何殘余偏移量應(yīng)記錄。殘余偏移量應(yīng)在負(fù)荷去除后的1min~第2步：a)端部扭轉(zhuǎn)預(yù)處理制造商規(guī)定的SVU端部扭矩施加到試品上并保持30s。這個(gè)試驗(yàn)僅對(duì)宣稱彎曲強(qiáng)度的SVU進(jìn)行。所示試品應(yīng)承受4個(gè)方向的規(guī)定的長(zhǎng)期負(fù)荷(SLL)并進(jìn)行如圖5和圖6所示的熱循環(huán)。如圖5所示，溫度變化循環(huán)包括兩個(gè)48h的冷熱循環(huán)。冷熱階段的溫度分別至少保持16h,施加的靜態(tài)機(jī)械負(fù)荷等于制造商規(guī)定的SLL,其方向在溫度從熱變冷或從冷變熱時(shí)每隔24h測(cè)量到的相對(duì)于初始無(wú)負(fù)載情況下的任何殘余偏移量都應(yīng)記錄下來(lái)。殘余偏移量應(yīng)在負(fù)荷試品沒(méi)有任何負(fù)荷的情況下按圖5進(jìn)行熱變化循環(huán)處理。熱變化循環(huán)處理包括兩個(gè)48h的按圖5冷熱循環(huán)。冷熱階段的溫度分別至少保持16h,試驗(yàn)將SVU浸沒(méi)到盛滿沸騰的去離子水的容器中沸騰結(jié)束后，SVU應(yīng)保持在容器中直到水冷卻到約50℃,并保持這個(gè)行驗(yàn)證試驗(yàn)。SVU從水中取出并冷卻到環(huán)境溫度不超過(guò)3個(gè)試品的熱時(shí)間常數(shù)的時(shí)間。僅當(dāng)需要延遲驗(yàn)證試驗(yàn)時(shí)，才有必要讓水溫保持在50℃直到如圖7所示的浸水試驗(yàn)結(jié)束。評(píng)估試驗(yàn)在8.9.1.2.4溫度溫度第2步后：第1步和第2步期間最大偏移量和任何永久偏移量應(yīng)予報(bào)告。第3步后：按圖7定義的冷卻后8h內(nèi)：(0.7倍Urat)或20%;——在0.7倍U下測(cè)量?jī)?nèi)部局部放電不超過(guò)10pC?！?次殘壓試驗(yàn)前后參考電壓變化驗(yàn)不超過(guò)2%。第1步后： 第1步最大偏移量和任何永久偏移量應(yīng)予報(bào)告。第2步后：按圖7確定的冷卻后8h: 在0.7倍U.下和環(huán)境溫度偏離不超過(guò)3K,功耗增加不大于20mW/kV(0.7倍Uraf)或20%; 在0.7倍U下測(cè)量?jī)?nèi)部局部放電不超過(guò)10pC。 對(duì)具有封閉氣腔和獨(dú)立密封系統(tǒng)的SVU,樣品按8.15通過(guò)了密封泄漏檢測(cè)。 初始測(cè)量同樣的電流幅值和波形測(cè)得的殘壓變化不超過(guò)5%。 2次連續(xù)標(biāo)稱放電電流下的沖擊電壓變化不超過(guò)2%,且電壓和電流示波圖未顯示試品任何部分或全部的擊穿。電流波形范圍在T?/T?=(4～10)/(10～25)μs;且沖擊間隔 2次殘壓試驗(yàn)前后參考電壓變化不超過(guò)2%試驗(yàn)驗(yàn)證SVU耐受制造商規(guī)定的振動(dòng)特性。試驗(yàn)在1只整只SVU上進(jìn)行。試驗(yàn)驗(yàn)證整只SVU●擺動(dòng)數(shù)：1×10?(1百萬(wàn));a)試驗(yàn)前后參考電壓變化不超過(guò)5%。b)按照8.16,成功通過(guò)了局部放電試驗(yàn)。c)試驗(yàn)前后在0.01倍～1倍標(biāo)稱放電電流和電流波形范圍在T?/T?=(4～10)/(10～25)μs測(cè)量的殘壓變化在一2%～+5%。d)試驗(yàn)后試品外觀檢查試品上應(yīng)無(wú)擊穿、閃絡(luò)、開裂或其在殘壓試驗(yàn)c)后，對(duì)試品施加2次標(biāo)稱放電電流沖擊。第一次沖擊應(yīng)在試品有足夠時(shí)間冷卻到環(huán)境溫度后施加。第二次沖擊在第一次沖擊后50s～60s施加。2次沖擊期間，電壓和電流的示波圖都不顯示任何擊穿，試驗(yàn)前最初測(cè)量與試驗(yàn)后2次沖擊最后一次的殘壓差異應(yīng)不超過(guò)一2%～+5%的范圍。環(huán)境試驗(yàn)用加速試驗(yàn)程序驗(yàn)證SVU密封系統(tǒng)和外露金屬件在環(huán)境條件下不會(huì)損壞。試驗(yàn)在1只任一長(zhǎng)度的整只SVU上進(jìn)行。對(duì)有封閉氣腔和獨(dú)立密封系統(tǒng)的SVU,內(nèi)部元件可以省去。對(duì)那些僅如下規(guī)定的試驗(yàn)應(yīng)依次在1只SVU上進(jìn)行。按照GB/T2423.22—2012進(jìn)行試驗(yàn)。高溫至少為+40℃,但不超過(guò)+70℃。低溫至少為高溫周期內(nèi)實(shí)際施加的溫度以下85K,但是低溫的最低溫度不能低于一50℃。●循環(huán)次數(shù)：10次。該試驗(yàn)按照GB/T2423.17--2008進(jìn)行： 鹽溶液濃度：5%±1%(重量)8.10.5對(duì)聚合物(特別是復(fù)合與樹脂澆鑄)外套SVU的附加試驗(yàn)程序?qū)酆衔?特別是復(fù)合與樹脂澆鑄)外套SVU,抗UV輻射應(yīng)通過(guò)按照8.10.5.1和8.10.5.2(GB/T22079—2008中9.3.2)的UV試驗(yàn)來(lái)驗(yàn)證。如果按照GB11032—2010中10.8.4的5000h-試本試驗(yàn)選擇3個(gè)傘和外套材料(包括標(biāo)記)的樣片，絕緣外套材料用下列方法之一進(jìn)行1000hUV光照試驗(yàn)。外套上的標(biāo)記(如果有)應(yīng)直接暴露在UV1或2。樣片的每個(gè)上進(jìn)行2次表面粗糙度測(cè)量。ISO4287定義的粗糙度Rz應(yīng)沿采樣長(zhǎng)度至少2.5mm測(cè)試品的全電流和阻性電流試驗(yàn)環(huán)境溫度為20℃±15K溫度為20℃±15K。直流電壓脈動(dòng)部分應(yīng)不超過(guò)±1.5%。試驗(yàn)環(huán)境溫度為20℃±15K。8.140.75倍直流參考電壓下漏電流試驗(yàn)該試驗(yàn)要在一個(gè)完整的SVU元件上進(jìn)行。內(nèi)部元件可以省略。如果SVU包含有在密封系統(tǒng)方生產(chǎn)商可以采用任何靈敏方法測(cè)量SVU整個(gè)密封系統(tǒng)的密封泄漏率。試驗(yàn)時(shí)建議采用氦質(zhì)譜檢最大密封泄漏率(見(jiàn)附錄D)應(yīng)低于6.65×10-?Pa·L/s。該型式試驗(yàn)提供了有關(guān)密封系統(tǒng)有效性的信息，因此非常靈敏。對(duì)于驗(yàn)證SVU是否正確組裝的行電壓，在該電壓下，按照GB/T7354—2003規(guī)定測(cè)量局部放電，測(cè)得的內(nèi)部局部放電值不應(yīng)超過(guò)10pC,試品可不帶外串聯(lián)間隙。9例行試驗(yàn)出廠的每只EGLA(或電阻片)應(yīng)按表7的規(guī)定進(jìn)行檢查，若EGLA(或電阻片)有不滿足表8的任何1項(xiàng)要求時(shí)，則此EGLA被認(rèn)為不合格。試驗(yàn)項(xiàng)目試品1復(fù)合外套外觀檢查所有SVU或SVU元件2所有SVU或SVU元件3所有SVU或SVU元件4所有SVU或SVU元件5所有SVU或電阻片6所有SVU或SVU元件采購(gòu)商在采購(gòu)協(xié)議中規(guī)定驗(yàn)收試驗(yàn)時(shí)，試驗(yàn)應(yīng)在下面的試驗(yàn)中選擇。表8給出了試品準(zhǔn)備的數(shù)量試驗(yàn)項(xiàng)目(wo)絕緣子(串)無(wú)(wo)絕緣子(串)章條號(hào)“A”“A”1要求(w)1要求(w)如果未按照8.4的要求進(jìn)行型式試驗(yàn)，則本試驗(yàn)是強(qiáng)制性的。SVU單元的參考電壓測(cè)量按照3.7和6.8進(jìn)行。測(cè)量值應(yīng)在制造商規(guī)定的范圍內(nèi)。行電壓，在該電壓下，按照GB/T7354—2003規(guī)定測(cè)量局部放電，測(cè)得的內(nèi)部局部放電值不應(yīng)超過(guò)帶被保護(hù)絕緣子串的EGLA應(yīng)按GB11032—2010以及GB/T2317.2進(jìn)行試驗(yàn)。試驗(yàn)電壓是運(yùn)行帶絕緣子串的EGLA應(yīng)假定模擬實(shí)際系統(tǒng)安裝來(lái)裝配。試驗(yàn)在具有最高額定電壓最長(zhǎng)的EGLA10.5絕緣子耐受和EGLA保護(hù)水平之間的配合試驗(yàn)如果沒(méi)按8.4在型式試驗(yàn)中進(jìn)行，絕緣子耐受和EGLA保護(hù)水平之間的配合試驗(yàn)必須強(qiáng)制作為一項(xiàng)驗(yàn)收試驗(yàn)。對(duì)實(shí)際系統(tǒng)被保護(hù)最短絕緣距離典型絕緣子串的EGLA,試驗(yàn)驗(yàn)證波前和標(biāo)準(zhǔn)雷電沖擊按照表9視在波前陡度足夠引起波前放電的波前雷電沖擊電壓應(yīng)施加到試品上，干燥條件下每個(gè)極性5次。波前視在陡度/(kV/μs)按下列試驗(yàn)程序a)與b)進(jìn)行：a)EGLA的50%放電電壓應(yīng)按照GB/T16927.1的升降法對(duì)每個(gè)極性進(jìn)行。b)在下面試驗(yàn)順序中EGLA的(1+X×o)倍50%放電電壓的雷電沖擊施加到試品，參數(shù)X,規(guī)定了EGLA和絕緣子的保護(hù)擊是3%試驗(yàn)項(xiàng)目試品半年抽取1次2半年抽取1次3額定電壓84kV及以上1只SVU或SVU元件，其余3只41只EGLA試品1234彎曲試驗(yàn)3只或6只SVU或SVU元件1只SVU或SVU元件附錄A～附錄B附錄E～附錄F注：表中的章條以外的本標(biāo)準(zhǔn)其他章條編號(hào)與IEC60099-8:2011其他章條編號(hào)均相同且本標(biāo)準(zhǔn)與IEC60099-8:2011技術(shù)性差異及其原因表B.1給出了本標(biāo)準(zhǔn)與IEC60099-8:2011的技術(shù)性差異及其原因的一覽表。表B.1本標(biāo)準(zhǔn)與IEC60099-8:2011技術(shù)性差異及其原因章條編號(hào)原因范圍1)增加了“交流1kV以上”的描述2)增加了“不帶絕緣支撐的”的描述：緣子(串)和空氣間隙]”4)刪除了“本標(biāo)準(zhǔn)不包括EGLA的外串聯(lián)間隙安裝的設(shè)計(jì)”規(guī)范性引1)刪除了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中的引用標(biāo)準(zhǔn)“ISO3274”“ISO4287”2)增加了以下4個(gè)引用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T191—2008包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志(ISO780:1997,MOD)GB/T2900.12—2008電工術(shù)語(yǔ)避雷器、低壓電涌GB/T2900.19—1994電工術(shù)語(yǔ)高電壓試驗(yàn)技增加了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)引言中的圖1將國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的“3.7SVU的參考電壓”修改為“3.7.1參考電壓”和“3.7.2SVU的直流參考將國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的“3.8SVU的參考電流”修改為“3.8.1參考電流”和“3.8.2SVU的直流參考1)增加了“避雷器型號(hào)”“間隙距離”1)適應(yīng)國(guó)內(nèi)應(yīng)用現(xiàn)狀及產(chǎn)品制造將國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)表2中的“>396”修改為“>396～768”增加了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)稱放電電流“30kA”1)刪除了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中的“e)機(jī)械條件”及“注”;2)將國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中的“f)風(fēng)速”修改為“風(fēng)速：不大于35m/s”;3)增加了“地震”“覆冰”增加了“對(duì)于標(biāo)稱放電電流30kA的SVU,應(yīng)擊的放電動(dòng)作”將國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的“6.8SVU的參考電壓”的內(nèi)容修改為“6.8.1總則”“6.8.2SVU的工頻參考電壓”和“6.8.3SVU的直流參考電壓”, 并增加了定義表B.1(續(xù))章條編號(hào)原因刪除了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中“按照9.1和10.3將國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中“抗干擾試驗(yàn)不是必需的”修改為“試驗(yàn)”增加了“SVU的持續(xù)電流”增加了“SVU的0.75倍直流參考電壓下漏電流”增加了“SVU復(fù)合外套外觀要求”增加了“SVU的密封性能”增加了“EGLA放電電壓性能要求”增加了“EGLA沖擊伏秒特性”增加了“無(wú)線電干擾電壓及可見(jiàn)電暈試驗(yàn)”增加了“EGLA的包裝、運(yùn)輸和保管”16927.2”1)將國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中的“b)、c)”內(nèi)容合并為b);1)刪除了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中“b)對(duì)Y系列…”等相關(guān)內(nèi)容；2)增加了“按照GB311.1的規(guī)定”1)不適合我國(guó)電網(wǎng)運(yùn)行實(shí)際情況；將國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中的“IEC60060-1”修改為對(duì)應(yīng)的“GB/T16927.1”將國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)“EGLA的殘壓值”修改為“SV刪除了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)“a)試驗(yàn)前后測(cè)量的參考電壓變化不超過(guò)10%”增加了“標(biāo)稱放電電流”一列及其“30kA”檔增加了“注2、注3”品制造1)將國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中“電阻片柱”修改為“電阻片元件”;2)將國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中“如果整只EGLA的額定電壓大于12kV,試品的額定電壓應(yīng)不低于12kV”修改為“EGLA比例單元的50%雷電沖擊放電電壓等于制造商宣稱的EGLA最小間隙距離時(shí)的50%雷電沖擊放電電壓除以n,且應(yīng)不小于90kV”1)與3.2的定義保持一致；表B.1(續(xù))章條編號(hào)原因?qū)?guó)際標(biāo)準(zhǔn)中“如果整只EGLA的額定電壓大于12定電壓應(yīng)不低于12kV”修改為“EGLA比例單元的50%雷電放電電壓等于制造商宜稱的EGLA最小間隙距離擊放電電壓除以n,且應(yīng)不小于