JBT 9344-2024《光學傾斜儀》規(guī)范

ICS17.180.30CCSN34JB代替JB/T9344-1999JB/T9344—XXXX前言 2規(guī)范性引用文件 3術語和定義 4分級和基本參數(shù) 5技術要求 5.1主要技術指標 25.2儀器外觀及各部分相互作用 25.3運輸貯存基本環(huán)境試驗 26試驗方法 錯誤！未定義書簽。6.1試驗條件 錯誤！未定義書簽。6.2示值誤差 36.3讀數(shù)裝置的放大率誤差 46.4以底板平工作面為基準時,儀器的零位誤差 56.5以底板平工作面為基準和以V形槽為基準,儀器零位的一致性 56.6底板平工作面的平面度 66.7底板V形槽工作面的直線度 66.8底板V形槽方向與底板后邊緣定位面的平行度 66.9底板平工作面和V形槽相對于儀器重心位置的正確性 66.10橫向水準器零位的正確性 66.11底板平工作面和V形槽工作面的表面粗糙度 66.12底板平工作面的硬度 66.13粗讀數(shù)度盤零位誤差 66.14轉盤邊緣受5N軸向外力作用后，儀器的示值變化 76.15儀器外觀及各部分相互作用 76.16運輸環(huán)境試驗 77檢驗規(guī)則 77.1檢驗分類 77.2出廠檢驗（即交貨檢驗） 77.3型式檢驗 78標志、包裝、運輸及貯存 88.1標志 88.2包裝 88.3運輸 88.4貯存 8附錄A（資料性）帶莫氏4號錐柄的專用夾具 9JB/T9344—XXXX本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結構和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本標準代替JB/T9344-1999《光學傾斜儀》。本標準與JB/T9344-1999相比，除結構調(diào)整和編輯性改動外，主要技術變化如下：——更改了標準的適用范圍（見第1章）；——增加了“術語和定義”一章（見第3章——將基本參數(shù)“分格值”（見1999年版的表1序2、3）更改為“分度值”（見表1序2、3——更改了級別的命名，并刪除了“JJQ05”級別（見4.1，1999年版的表1的表頭）；——刪除了基本參數(shù)中的“微動機構調(diào)節(jié)范圍”的規(guī)定（見1999年版的表1序4——刪除了儀器附件的規(guī)定（見1999年版的4.13）；——將技術指標名稱“儀器的準確度”（見1999年版的表2序1）更改為“示值最大允許誤差”）；——將技術指標名稱“儀器的零位準確度”（見1999年版的表2序3）更改為“儀器的零位誤差”）；——更改了底板平工作面的平面度要求的表述（見表2序5，1999年版的表2序6——更改了V形槽工作面的直線度要求的表述（見表2序6，1999年版的表2序6——增加了底板V形槽相對于儀器重心位置正確性的要求見表2序8——增加了橫向水準器零位正確性的要求（見表2序9——更改了檢驗底板表面粗糙度的測量器具（見6.11，1999年版的5.9——更改了檢驗金屬度盤受力后示值變化的測量器具（見6.14.1，1999年版的5.13.1——增加了附錄A，給出了儀器示值誤差的測量器具簡圖。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構不承擔識別專利的責任。本標準由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標準由全國光學和光子學標準化技術委員會（SAC/TC103）歸口。本標準起草單位：貴陽新天光電科技有限公司、上海理工大學、貴州省光學測量工程技術研究中心、河南省計量科學研究院、南京江南永新光學有限公司、蘇州慧利儀器有限責任公司、南京東利來光電實業(yè)有限責任公司、寧波永新光學股份有限公司、寧波湛京光學儀器有限公司、廣州粵顯光學儀器有限責任公司、寧波舜宇儀器有限公司、寧波市教學儀器有限公司、梧州奧卡光學儀器有限公司、麥克奧迪實業(yè)集團公司、寧波華光精密儀器有限公司、重慶奧特光學儀器有限責任公司。本標準主要起草人：胡清、馮瓊輝、盛梅、張衛(wèi)東、李晞、韓森、洪宜萍、毛磊、鮑金權、徐濤、胡森虎、張琪、張景華、章光偉、徐利明、吳國民。本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為：——1965年首次發(fā)布為ZBN35002-65；——1978年第一次修訂，發(fā)布為ZBN35002-78；——1988年第二次修訂；發(fā)布為ZBN35002-88；——1999年第三次修訂，發(fā)布為JB/T9344—1999；——本次為第四次修訂。JB/T9344—XXXX引言光學傾斜儀用于測量空間幾何形體之間的夾角，或幾何形體相對于水平面傾斜角，是機械加工、裝配校正和計量檢測保證產(chǎn)品質量不可缺少的測量儀器。本文件規(guī)定了光學傾斜儀的分級、基本參數(shù)和技術要求，描述了相應的試驗方法，規(guī)定了檢驗規(guī)則、標志、包裝、運輸及貯存，為光學傾斜儀的設計、制造、檢驗提供了依據(jù)，其目的是促使光學測角比較儀產(chǎn)品實現(xiàn)標準化、規(guī)范化，同時為儀器量值準確和產(chǎn)品質量提供可靠保證。JB/T9344-1999《光學傾斜儀》發(fā)布實施已二十余年，由于技術的發(fā)展、產(chǎn)品市場的變化和相關標準的更新，已不能適應產(chǎn)業(yè)現(xiàn)狀，有必要修訂完善，以不斷適應產(chǎn)業(yè)發(fā)展新需求。本次對JB/T9344的修訂，整頓了產(chǎn)品類型，修改了部分技術參數(shù)名稱和專業(yè)用語；完善了試驗方法。修訂后，對規(guī)范市場、指導產(chǎn)品生產(chǎn)、提高產(chǎn)品技術性能和質量水平，促進行業(yè)高質量發(fā)展提供可靠的技術支撐。1JB/T9344—XXXX光學傾斜儀本標準規(guī)定了光學傾斜儀的分級、基本參數(shù)和技術要求，描述了相應的試驗方法，規(guī)定了檢驗規(guī)則、標志、包裝、運輸及貯存。本標準適用于以光學度盤作為測量元件，以自然光照明，用于測量空間幾何形體之間夾角，或幾何形體相對于水平面傾斜角的光學傾斜儀的制造。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T191包裝儲運圖示標志GB/T1146-2009水準泡GB/T2828.1計數(shù)抽樣試驗程序第1部分：按接收質量限(AQL)檢索的逐批檢驗抽樣計劃GB/T6388運輸包裝收發(fā)標志GB/T9969工業(yè)產(chǎn)品使用說明書總則GB/T11162光學分劃零件通用技術條件GB/T14436工業(yè)產(chǎn)品保證文件總則GB/T15464儀器儀表包裝通用技術條件GB/T25480-2010儀器儀表運輸、貯存基本環(huán)境條件及試驗方法3術語和定義本文件沒有需要界定的術語和定義。4分級和基本參數(shù)4.1光學傾斜儀（以下簡稱：儀器）按其示值最大允許誤差分為：20"級和40"級。4.2儀器的基本參數(shù)如表1所示。1234565技術要求2JB/T9344—XXXX5.1主要技術指標儀器的主要技術指標應符合表2中的規(guī)定。123455 工作面與標準平面的接6—V形槽與標準圓柱的接78—將儀器置于軸線水平的圓柱上,當橫向水準器水平9—當儀器置于水平平面上—5.2儀器外觀及各部分相互作用5.2.1儀器外表需保證下列質量：電鍍表面不應有脫皮和斑點存在；漆面不應有磕碰傷和顯著的顏色不均勻；零件表面不應有毛刺；外部零件銳邊應倒棱；零件接合處應齊整。5.2.2裸露金屬面不應有銹蝕、碰傷和顯著的劃痕，以及影響測量的其它缺陷。5.2.3光學零件的表面不應有明顯的擦痕、麻點、水珠、霉點等疵??；光學零件的膠合面不應有氣泡和脫膠現(xiàn)象。光學分劃元件的技術要求應符合GB/T11162的規(guī)定。5.2.4儀器的光學系統(tǒng)成像應清晰，視場內(nèi)不應有影響觀察的陰影、亮斑和異物。20"級被檢儀器視場中的度、分、秒刻線相對于指標線或雙套線不應有明顯的偏斜和視差；40"級被檢儀器視場中的度刻線相對于分刻線不應有明顯的偏斜和視差。5.2.5所有緊固零件應保證緊固可靠。5.2.6儀器上所有刻度、刻字以及銘牌標記應清晰、明顯。5.2.7各活動部分轉動應平穩(wěn)舒適，不應有卡住和急跳現(xiàn)象。5.2.8水準器的縱向和橫向水準泡，應符合GB/T1146-2009的規(guī)定。5.3運輸貯存基本環(huán)境試驗儀器在運輸包裝條件下的環(huán)境模擬試驗應按GB/T25480的規(guī)定。其中選用：高溫+55℃,低溫-40℃,3JB/T9344—XXXX交變濕熱試驗相對濕度95%，自由跌落4次，跌落高度按包裝件質量選定。6試驗方法6.1試驗條件儀器檢驗溫度條件應符合表3的規(guī)定。1℃23h6.2示值誤差6.2.1測量器具檢驗所用測量器具如下：a)對于20"級的光學傾斜儀，應使用不低于4"級的光學分度頭；對于40"級的光學傾斜儀，應使用不低于10"級的光學分度頭（以下簡稱分度頭）。b)帶有莫氏4號錐柄的專用夾具（參見附錄A）。6.2.2試驗程序如圖1所示，將分度頭主軸調(diào)整至水平，將帶有莫氏4號錐柄的專用夾具安裝在分度頭主軸錐孔內(nèi)，再將被檢儀器安裝在夾具上，并使其底板后邊緣定位面靠緊夾具定位面B（參見圖A1），然后用壓板將被檢儀器固定。轉動被檢儀器轉盤，使儀器示值為0°;再轉動分度頭主軸，使被檢儀器縱向水準器水平（此時橫向水準器也應水平，若否，則應調(diào)整分度頭底座，使其水平，再重新開始。讀取分度頭示值α0。然后轉動被檢儀器轉盤，使其示值為30°;再次轉動分度頭主軸，使被檢儀器縱向水準器重新水平，讀取分度頭示值α30：按公式（1）計算被檢儀器30°的示值誤差Δα30。Δα30=30°?α30?α30···············································(1)式中：Δα30——被檢儀器示值為30°時的示值誤差；α30——被檢儀器示值為30°時，分度頭的示值；α0——被檢儀器示值為0°時，分度頭的示值。4JB/T9344—XXXX對于20"級被檢儀器，按照以上程序，繼續(xù)以30°為間隔，轉動被檢儀器轉盤，使其示值依次為60°、90°、……、330°;再轉動分度頭主軸，使被檢儀器縱向水準器水平，依次讀取分度頭示值α60、α90、……、α330：按公式（2）計算被檢儀器各被檢點的示值誤差Δα60、Δα90、……、Δα330。所有示值誤差中最大與最小值代數(shù)差，即為被檢儀器的示值最大誤差。Δαi=i-αi-α0...........................................................................(2)式中：i——被檢儀器的示值；Δαi——被檢儀器示值為i時的示值誤差；αi——被檢儀器示值為i時，分度頭的示值；α0——被檢儀器示值為0°時，分度頭的示值。對于40"級被檢儀器，按以上程序檢驗，得到正半周示值誤差：Δα30、Δα60、……、Δα120后；再回到被檢儀器示值0°,依同樣程序，使被檢儀器轉盤反方向轉動，對負半周示值進行檢驗，得到負半周示值誤差Δα-30、Δα-60、……、Δα-120。正、負半周所有示值誤差中的最大與最小值代數(shù)差，即為被檢儀器的示值最大誤差。6.3讀數(shù)裝置的放大率誤差對于20"級被檢儀器，轉動被檢儀器的讀數(shù)鼓輪，使視場中“分、秒”顯示窗的示值為0ˊ0"；調(diào)節(jié)轉盤微動旋鈕，使度盤顯示窗的雙套線瞄準度盤上某一刻線（如圖2a所示再轉動被檢儀器的讀數(shù)鼓輪，使度盤顯示窗的雙套線瞄準度盤上另一相鄰刻線；“分、秒”顯示窗的最末一條有效刻線與指標線的偏離，即為讀數(shù)裝置的放大率誤差（如圖2b所示）。對于40"級被檢儀器，調(diào)節(jié)被檢儀器的轉盤微動旋鈕，將讀數(shù)視場中的0ˊ刻線與度盤上某條刻線對齊，視場中的60ˊ刻線與度盤上另一條刻線的偏離，即為讀數(shù)裝置的放大率誤差（如圖3所示）。標引序號說明:JB/T9344—XXXX6.4以底板平工作面為基準時,儀器的零位誤差6.4.1測量器具檢驗所用測量器具如下：a)長度大于被檢儀器底板長度的0級鑄鐵平板或精度等同的專用平板（以下簡稱：平板）；b)固定在平板上的兩只Φ8mm定位銷（見圖4）；c)分度值為0.02mm/m的條式或框式水平儀；d)調(diào)平裝置。6.4.2試驗程序將測量器具按圖4配置。借助條式或框式水平儀和調(diào)平裝置將平板工作面調(diào)整至水平；將被檢儀器放在平板上4的位置（見圖4），并使其底板后邊緣定位面靠緊兩只定位銷；調(diào)節(jié)儀器轉盤微動旋鈕，使儀器縱向水準器水平，讀取儀器示值。將被檢儀器調(diào)頭180°放在平板上5的位置，并使其底板后邊緣定位面靠緊兩只定位銷的另一側；調(diào)節(jié)轉盤微動旋鈕，再次使儀器縱向水準器水平，讀取儀器第二個示值。兩次讀取示值之差的1/2，即為以底板平工作面為基準時，儀器的零位誤差。6.5以底板平工作面為基準和以V形槽為基準,儀器零位的一致性6.5.1測量器具檢驗所用測量器具如下：b)Φ25mm，長度大于被檢儀器底板長度，圓柱度不超過0.001mm的量棒；c)Φ16mm，長度大于被檢儀器底板長度，圓柱度不超過0.0015mm的量棒。6.5.2試驗程序如圖5所示，借助條式或框式水平儀和調(diào)平裝置將平板工作面調(diào)整至水平；把量棒用膠或橡皮泥固定在平板上，將被檢儀器底板V形槽騎跨在量棒上，將儀器略微在量棒上前后擺動，使橫向水準器水平；按第6.4.2條的程序進行檢驗，得到以底板V形槽工作面為基準時,儀器的零位誤差。該誤差與第6.4.2條獲得的零位誤差之差，即為以底板平工作面為基準和以V形槽為基準，儀器零位的一致性。本項檢驗應在Φ25mm和Φ16mm上分別進行，以一致性較差者作為檢驗結果。56JB/T9344—XXXX6.6底板平工作面的平面度以6.4.1的平板工作面為標準平面，用涂色法進行檢驗。6.7底板V形槽工作面的直線度以6.5.1的Φ25mm和Φ16mm量棒為標準圓柱，用涂色法進行檢驗。6.8底板V形槽方向與底板后邊緣定位面的平行度6.8.1測量器具檢驗所用測量器如下：b)帶表架的杠桿百分表。6.8.2試驗程序如圖6所示，將被檢儀器背面朝下，平放在平板上。將量棒緊貼底板V形槽；用杠桿百分表測量量棒外圓兩端最高點的高度差，該差值即為底板V形槽方向與底板后邊緣定位面的平行度。6.9底板平工作面和V形槽相對于儀器重心位置的正確性在執(zhí)行6.5.2試驗程序中觀察。6.10橫向水準器零位的正確性在執(zhí)行6.4.2試驗程序中觀察。6.11底板平工作面和V形槽工作面的表面粗糙度用表面粗糙度標準樣塊進行比較。6.12底板平工作面的硬度在制造過程中，用洛氏硬度計進行檢驗。6.13粗讀數(shù)度盤零位誤差7JB/T9344—XXXX將儀器示值調(diào)整至0°,觀察粗讀數(shù)度盤0°刻線與指標線的對齊程度。6.14轉盤邊緣受5N軸向外力作用后，儀器的示值變化6.14.1測量器具測量范圍(0~5)N的指針式測力計；6.14.2試驗程序將儀器固定，鎖緊儀器轉盤，記下儀器示值。如圖7所示，手執(zhí)測力計使測力桿輕輕靠在儀器轉盤上，沿轉盤表面垂直方向施加壓力，使測力計示值達到5N，此時觀察儀器的示值變化量。6.15儀器外觀及各部分相互作用以目測及手感進行檢驗。6.16運輸環(huán)境試驗按GB/T25480的規(guī)定進行試驗。7檢驗規(guī)則7.1檢驗分類產(chǎn)品的檢驗分為出廠檢驗和型式檢驗。7.2出廠檢驗（即交貨檢驗）7.2.1出廠檢驗的樣品數(shù)根據(jù)GB/T2828.1中的一般檢查水平Ⅰ、正常檢驗一次抽樣方案，或根據(jù)供需雙方協(xié)商確定。通常從正常檢驗開始，根據(jù)檢驗結果，隨時執(zhí)行GB/T2828.1規(guī)定的轉移規(guī)則。7.2.2出廠檢驗不包括表2的9。7.3型式檢驗7.3.1產(chǎn)品的型式檢驗為可選項目，但產(chǎn)品符合下列情況之一時，必須進行型式檢驗：a)新產(chǎn)品或老產(chǎn)品轉廠生產(chǎn)的試制定型鑒定；b)正式生產(chǎn)后，如結構、材料、工藝有較大改進，可能影響產(chǎn)品性能時；c)正常生產(chǎn)時，定