標準解讀

《GB/T 28892-2024 表面化學分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述》與《GB/T 28892-2012 表面化學分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述》相比，在多個方面進行了更新和改進。主要變更包括：

  1. 術(shù)語定義更新：2024版對部分專業(yè)術(shù)語進行了重新定義或補充說明，以更好地符合當前技術(shù)發(fā)展水平及國際標準的一致性要求。

  2. 性能指標細化：新版標準對于XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy）儀器的關(guān)鍵性能參數(shù)提出了更加詳細且具體的要求，比如能量分辨率、空間分辨率等，旨在提高測試結(jié)果的準確性和可靠性。

  3. 新增內(nèi)容：增加了關(guān)于如何評估特定應用條件下儀器適用性的指南，為用戶提供更全面的信息支持；同時引入了有關(guān)環(huán)境因素影響下設(shè)備穩(wěn)定性的考量，強調(diào)了在不同實驗條件下保持高性能的重要性。

  4. 方法學改進：針對某些關(guān)鍵測量過程提供了更為先進的操作建議和技術(shù)指導，如樣品準備、數(shù)據(jù)處理等方面，有助于提升整體實驗效率與質(zhì)量。

  5. 安全與維護：加強了對使用過程中可能遇到的安全問題的關(guān)注，并給出了預防措施及相關(guān)建議；同時也增加了關(guān)于日常保養(yǎng)及長期維護的具體指導原則，確保設(shè)備能夠長期處于最佳工作狀態(tài)。


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....

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  • 2024-03-15 頒布
  • 2024-07-01 實施
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文檔簡介

ICS7104040

CCSG.04.

中華人民共和國國家標準

GB/T28892—2024/ISO154702017

:

代替GB/T28892—2012

表面化學分析X射線光電子能譜

選擇儀器性能參數(shù)的表述

Surfacechemicalanalysis—X-rayphotoelectronspectroscopy—

Descriptionofselectedinstrumentalperformanceparameters

ISO154702017IDT

(:,)

2024-03-15發(fā)布2024-07-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T28892—2024/ISO154702017

:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

縮略語

4……………………1

選擇儀器性能參數(shù)的表述

5………………1

分析方法

5.1……………1

樣品

5.2…………………1

系統(tǒng)構(gòu)成

5.3……………1

射線源

5.4X……………2

譜儀強度性能和能量分辨

5.5…………2

譜儀能量標

5.6…………………………2

譜儀強度線性

5.7………………………2

譜儀響應函數(shù)

5.8………………………2

成像和選區(qū)分辨

5.9……………………2

荷電中和

5.10……………3

變角

5.11XPS…………………………3

真空環(huán)境

5.12……………4

參考文獻

………………………5

Ⅰ

GB/T28892—2024/ISO154702017

:

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件代替表面化學分析射線光電子能譜選擇儀器性能參數(shù)的表

GB/T28892—2012《X

述與相比除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動外主要技術(shù)變化如下

》,GB/T28892—2012,,:

更改了術(shù)語和定義見第章年版的第章

a)(3,20123);

更改了方法見年版的

b)2(5.9.3,20125.9.3)。

本文件等同采用表面化學分析射線光電子能譜選擇儀器性能參數(shù)的表

ISO15470:2017《X

述

》。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責任

。。

本文件由全國微束分析標準化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC38)。

本文件起草單位廈門荷清教育咨詢有限公司廈門大學

:、。

本文件主要起草人湯丁亮李建輝徐富春岑丹霞劉芬王水菊

:、、、、、。

本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T28892—2012;

本次為第一次修訂

———。

Ⅲ

GB/T28892—2024/ISO154702017

:

引言

全球有多家廠商生產(chǎn)射線光電子能譜儀盡管每臺儀器的分析方法的基本原理是相同

X。XPS

的但儀器的具體設(shè)計和性能說明的方式各不相同因此通常很難比較不同廠商生產(chǎn)的儀器性能本

,。,。

文件提供了一個基本項目單以使所有射線光電子能譜儀能以共同的方式來表述本文件無意取代

,X。

廠商的說明書廠商的說明書可以長達頁或更多本文件目的是使廠商說明書中確定的某些項目具

,30。

有一致和明確的含義

。

Ⅳ

GB/T28892—2024/ISO154702017

:

表面化學分析X射線光電子能譜

選擇儀器性能參數(shù)的表述

1范圍

本文件描述了表述射線光電子能譜儀特定性能參數(shù)的方法

X。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

所有部分表面化學分析詞匯

ISO18115()(Surfacechemicalanalysis-Vocabulary)

注表面化學分析詞匯第部分通用術(shù)語及譜學術(shù)語

:GB/T22461.1—20231:(ISO18115-1:2013,IDT)

表面化學分析詞匯第部分掃描探針顯微術(shù)術(shù)語

GB/T22461.2—20232:(ISO18115-2:2021,MOD)

3術(shù)語和定義

所有部分界定的術(shù)語和定義適用于本文件

ISO18115()。

4縮略語

下列縮略語適用于本文件

。

半高峰寬

FWHM:

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