統計過程控制入門課件

11三月2024統計過程控制入門課件課程大綱什么是SPC為什么要進行過程控制正態(tài)分布簡介過程能力指數控制圖介紹Xbar-R控制圖的制作控制圖的判讀使用控制圖的注意事項常見的直方圖形態(tài)什么是SPC？SPC(StatisticalProcessControl)統計過程控制，就是利用統計技術對生產過程進行監(jiān)控，通過檢測數據的收集和分析，從而對生產過程的異常及時告警，以便采取措施及時消除異常，恢復過程的穩(wěn)定，達到，達到保證和提高質量的目的。收集檢測數據了解正常變異范圍確定監(jiān)控要素設定控制界限繪點判定是否出界糾正異常持續(xù)改進，縮小變異為了達到結果，我們應該把注意力放在Y上還是在X上呢？f(X)Y=如果在X上做得很好，那么產品的過程能力提高，成本下降，投訴減少。Y非獨立的輸出結果癥狀監(jiān)測X1...XN獨立的過程輸入原因問題控制為什么要過程控制？正態(tài)分布簡介波動總是存在的，波動是對稱的鐘形結構。對稱的鐘形結構，統計語言稱之為正態(tài)分布。生產過程中產品質量特性服從正態(tài)分布。正態(tài)分布的形狀不變，則合格品率穩(wěn)定，過程受控。舉例：Nikon1.5AS厚度(1.4mm,+0.3-0.2)1.201.401.70規(guī)格之上下限相對于目標規(guī)范發(fā)生變差的頻率sSIGMA(s)是對離目標值偏離程度的度量超差的缺陷正態(tài)分布簡介過程位于目標規(guī)范的中心標準偏差樣本1與樣本2，哪組數據穩(wěn)定，為什么？正態(tài)分布簡介標準偏差小，意味著過程穩(wěn)定，數據集中，波峰窄而高，缺陷少。

Good(上限規(guī)格)—(下限規(guī)格)6×(標準偏差)標準差X平均數UCLLSL過程能力-Cp過程能力指數Cp:過程的加工質量滿足技術標準的能力。雙側規(guī)格標準差X平均數過程能力指數-Cp單側規(guī)格UCL(上限規(guī)格)—(平均值)3×(標準偏差)上限規(guī)格LSL(平均值)—(下限規(guī)格)3×(標準偏差)下限規(guī)格=-=SXSCUPu3(上限規(guī)格)—(平均數)3×(標準偏差)X平均數Cpl=X-Sl3S=(平均數)-(下限規(guī)格)3×(標準偏差)Cpk=min(Cpu,Cpl)過程能力指數-CpkCpk:過程中心與允差中心M的偏移情況。過程能力指數Cpk值的評價案例分析案例分析常見的直方圖形態(tài)正常型現象：中間高，兩旁低，有集中趨勢。結論：左右對稱分配（正態(tài)分配），顯示過程運轉正常。案例分析常見的直方圖形態(tài)離島型現象：在右端或左端形成小島。結論：測量有錯誤，工序調節(jié)錯誤或使用不同原料所引起。一定有異常原因存在，只要去除，就可滿足過程要求，生產出符合規(guī)格的產品。案例分析常見的直方圖形態(tài)雙峰型現象：有兩個高峰出現。結論：兩個總體的數據混在一起，例如把兩個工人加工的產品或兩臺設備加工的產品混為一批等。因測量值不同的原因影響，應先分層后再作直方圖。案例分析常見的直方圖形態(tài)缺齒型（凸凹不平型）說明：高低不一，有缺齒情形。整體看，還是中間高，兩邊低，左右基本對稱。結論：檢驗員對測定值有偏好現象，如對5，10之數字偏好；分組過多或測量儀器精度不夠密或組數的寬度不是倍數時，也有此情況。常見的直方圖形態(tài)偏態(tài)型（偏態(tài)分配）說明：直方形的頂峰偏向一側，拖長尾巴。結論：計量值只控制一側界限時，常出現此現狀。有時也因加工習慣造成這樣的分布，如尾巴拖長時，應檢查是否在技術上能夠接受。案例分析人機器材料方法測量環(huán)境過程的組成以及其波動的原因波動原因5M+1E波動的種類正常波動：由普通(偶然)原因造成。如操作方法的微小變動，爐溫的微小變化，割邊機的正常磨損，夾子的微小松動，鍍膜溶液的微量差異等。正常波動引起產品質量的微小變化，難以查明或難以消除。它不能被操作工人控制，只能由技術、管理人員控制在公差范圍內。異常波動：由特殊(異常)原因造成。如原材料不合格，設備出現故障，分析儀器不穩(wěn)定，操作者不熟練等。異常波動造成的波動較大，容易發(fā)現，應該由操作人員發(fā)現并糾正。波動的處理典型分配偏離典型分配控制圖檢出偶因(對品質影響小，難以去除)異因(對品質影響大，易以去除)聽之任之執(zhí)行(20字)：疑難雜癥，對癥下藥，藥到病除，不再復發(fā)，注意保養(yǎng)產品波動控制圖上的控制界限是區(qū)分偶因與異因的科學界限。什么是控制圖控制圖是用于分析和控制過程質量的一種方法?？刂茍D是一種帶有控制界限的反映過程質量的記錄圖形，圖的縱軸代表產品質量特性值；橫軸代表按時間順序(從左至右)抽取的各個樣本號；圖內有中心線(記為CL)、上控制界限(記為UCL)和下控制界限(記為LCL)三條線(見下圖)。用來判定過程是否穩(wěn)定或異常。上控制界限(UCL)中心線(CL)下控制界限(LCL)控制圖的種類按數據性質分類：計量型控制圖平均數與極差控制圖(Chart)(n:2~5)平均數與標準差控制圖(Chart)(n:10~25)中位數與極差控制圖(Chart)單值與移動極差控制圖(chart)計數型控制圖不良率控制圖(Pchart)不良數控制圖(Pnchart,又稱npchart或dchart)缺點數控制圖(Cchart)單位缺點數控制圖(Uchart)作圖步驟1.計算平均值及平均極差2.計算控制限3.在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線如何做均值-極差圖控制圖：對于計量值數據而言，這是最常用最基本的控制圖。它用于控制對象為鏡片直徑、厚度、鏡度、鍍膜特性等?？刂茍D主要用于觀察分布的均值變化，R控制圖用于觀察分布的分散情況或變異情況，二者聯合運用，用于觀察分布的變化。計算每個子組的平均值和極差平均值的計算：R值的計算：操練：計算平均極差、均值和控制限Xbar-R圖練習Xbar-R圖練習樣圖超出控制界限的點：出現一個或多個點超出任何一個控制界限是該點處于失控狀態(tài)的主要證據UCLCLLCL異常異?？刂茍D的判讀鏈：有下列現象之一即表明過程已改變：連續(xù)7點位于平均值的一側連續(xù)7點上升(后點等于或大于前點)或下降。UCLCLLCL控制圖的判讀偶因和異因并存找出異因只剩偶因運用控制圖過程穩(wěn)定計算過程能力過程能力解釋在同樣能夠滿足產品質量控制的情況下,應選擇對生產過程容易采取措施的控制項目.為了使控制最終取得最佳效果,應盡量采取影響產品質量特性的根本原因有關的特性或接近根本原因的特性作為控制項目.產品的質量特性有時不止一個,則應同時采取幾個特性作為控制項目.質量特性與