超聲檢測通用工藝規(guī)范

1、范圍本部份規(guī)定了承壓設(shè)備采用A型超聲儀檢測工件的方法和質(zhì)量分級。適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料，零部件和焊接接頭的超聲檢測及在用承壓設(shè)備的超聲檢測。2、引用標(biāo)準(zhǔn)、法規(guī)JB/T4730-2005承壓設(shè)備無損檢測JB/T7913—1995超聲檢測用鋼制對比試塊的制作與校驗(yàn)方法JB/T9214—1999A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測試方法JB/T10061—1999A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件JB/T10062—1999超聲探傷用探頭性能測試方法3、檢測人員3.1、超聲檢測人員，應(yīng)按照《特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》的要求取得超聲檢測資格。且只能從事與該方法和該資格級別相應(yīng)的超聲檢測工作，并負(fù)相應(yīng)的技術(shù)責(zé)任。4、檢測設(shè)備、器材和材料4.1、探傷儀a)水平線性誤差≯1%，垂直線性誤差≯5%b)具有80dB以上連續(xù)可調(diào)的衰減器，其精度為12dB±1dB以內(nèi)；c)其他應(yīng)符合JB/T10001的規(guī)定。4.2、探頭1）晶長邊長（或直徑）≯25mm2)單斜探頭聲束軸線水平偏離角≯2°，聲束軸線垂直方向無明顯的雙峰。4.3、儀器和探頭的系統(tǒng)性能a)達(dá)到工件最大聲程處，有效靈敏度余量≮10dB；b)始脈沖寬度τ：5MHz的探頭τ≯10mm;2.5MHz的探頭τ≯15mmc)直探頭的遠(yuǎn)場分辨力≮30dB,斜探頭≮6dB。4.4、試塊a)對比試塊的外形尺寸，厚度應(yīng)與被檢工件相對應(yīng)。b)對比試塊反射體形狀，尺寸和數(shù)量應(yīng)符合JB/T7913—1995的規(guī)定。4.5、耦合劑應(yīng)透聲性好，且不損傷工件表面，水、機(jī)油、化學(xué)漿糊等。5、檢測表面制備5.1、焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測合格，無銹蝕、飛濺、污物等。應(yīng)予清除，表面粗糙度符合檢測要求。5.2、所確定的檢測面應(yīng)保證工件被檢部份得到充分檢查。6、檢測時(shí)機(jī)6.1、焊接接頭在焊完后即可檢測，延遲裂紋傾向的材料在焊完24h后檢測，球罐在焊完36h后檢測。6.2、熱處理的工件，需在熱處理后檢測。檢測工藝、技術(shù)和質(zhì)量分級（見本規(guī)程之7—12）承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測和質(zhì)量分級。7.1、范圍適用于板厚6~250mm的碳素鋼，低合金鋼板奧化體鋼板材，鎳及鎳合金板材及雙相不銹鋼板材的超聲檢測也可參照執(zhí)行。7.2、探頭選用按表1規(guī)定表1探頭選用板厚（mm）采用探頭頻率MHz探頭晶片尺寸6~20雙晶直探頭5晶片面積150mm20~40單晶直探頭5Φ14—Φ20mm40~250單晶直探頭2.5Φ20—Φ25mm7.3、標(biāo)準(zhǔn)試塊7.3.1、7.3.2、表2CBII試塊試塊編號被檢鋼板厚度檢測面到平底孔距離試塊厚度CBII—1＞20—4015≥20CBII—2＞40—6030≥40CBII—3＞60—10050≥65CBII—4＞100—16090≥1107.3.3、基準(zhǔn)靈敏度7.3.1、板厚≤20mm時(shí)，將CBI試塊的工件等厚部位第一次底波高度調(diào)至50%，再提高10dB，7.3.2、板厚＞20mm時(shí)，將CBII試塊Φ5平底孔的第一次底波高度調(diào)至50%。7.3.3、板厚7.4、檢測方法7.4可選用任一軋制表面為檢測面。7.4可選用接觸法或水浸法。7.4a)探頭沿垂直鋼板的壓延方向，間距不大于100mm的平行線掃查，在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm(T＞100時(shí)取T/2)內(nèi)100%掃查。b)根據(jù)合同，也可采用其他掃查方式。7.5、缺陷的測定與記錄7.5a)F1≥50%b)B1＜100%而F1/B1≥50%c)B1＜50%式中B1、F1分別為第一次底波、傷波高度。7.5.a)當(dāng)出現(xiàn)7.5.1ab)當(dāng)出現(xiàn)7.5.1b)情況時(shí)，移動(dòng)探頭至F1/B1=50%則探頭中心對準(zhǔn)缺陷邊界。c)當(dāng)出現(xiàn)7.5.1d)用雙晶探頭時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)垂直于探頭隔聲層方向。e)當(dāng)板厚較薄用F2或B2來評定缺陷時(shí)，靈敏度應(yīng)以F2或B2來校準(zhǔn)。7.6、缺陷的評定7.6單個(gè)缺陷的指示長度小于40mm7.6多個(gè)缺陷其相鄰間距小于100mm或間距小于較小缺陷的指示長度時(shí)，以各缺陷7.6在任一1m×1m檢測面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來確定。如鋼板面積小于1m×7.7、鋼板質(zhì)量分級，見表3表3等級單個(gè)缺陷指示長度mm單個(gè)缺陷指示面積cm2在任一1m×1m%以下單個(gè)缺陷指示面積不計(jì)cm2Ⅰ＜80＜25≤3＜9Ⅱ＜100＜50≤5＜15Ⅲ＜120＜100≤10＜25Ⅳ＜150＜100≤10＜25Ⅴ超過Ⅳ級者7.7.1、在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（板厚大于100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長度大于或等于7.7.2、8、鋼制承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級8.1、范圍適用于母材厚度8mm～400mm全熔化焊對接焊焊接頭的超聲檢測。母材厚度6mm～8mm按JB/T4730.3—2005的附錄G的規(guī)定進(jìn)行檢測。奧氏體不銹鋼壓力容器對接焊接接頭超聲波檢測參照附錄8.2、超聲檢測技術(shù)等級的選擇技術(shù)等級分為A、B、C三個(gè)檢測級別。各級別要求如下：8.2.1、A級僅適用于母材厚度8mm～46mm的對接焊接接頭?？捎靡环NK值探頭采用直射波法和一次反射波法在對接8.2.母材厚度8mm～46mm時(shí)，一般用一種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在對接焊接接頭的單面雙側(cè)母材厚度＞46mm～120mm時(shí)，一般用一種K值探頭采用直射波法在對接焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測。如受幾何條件限制，也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種K值母材厚度＞120mm～400mm時(shí)，一般用兩種K值探頭采用直射波法在對接焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)≮108.2.3、C級：母材厚度8mm～46mm時(shí)，兩種K值用一、二次波單面雙側(cè)進(jìn)行檢測，其中應(yīng)有K1探頭，且應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測。母材厚度＞46mm～400mm8.3、試塊8.3.1、CSK-IA、CSK-IIA和CSK-IIIA適用于母材厚度6—120mm的焊接接頭CSK-IA和CSK-ⅣA適用于母材厚度＞120—400mm焊接接頭。8.3.2、測檢曲面工件時(shí)，如檢測面曲率半徑R≤W2/4（W—環(huán)縫檢測為探頭寬度，縱縫檢測為探頭長度），采用與檢測面相同曲率的對比試塊。8.3.3、上述試塊見JB/T4730.—2005圖14—圖17及表17。8.4、檢測面制備8.4.1、8.4.2、探頭移動(dòng)區(qū)內(nèi)應(yīng)清除飛濺，鐵屑、污垢等。表面粗糙度Ra≯6.3μa)一、二次波檢測時(shí)，移動(dòng)區(qū)≥2.5TK;b)一次波檢測時(shí)，移動(dòng)區(qū)≥1.5TK8.5、檢測工藝和檢測技術(shù)8.5a)頻率f=2~5MHzb)K值見表4。表4推薦采用的斜探頭K值板厚T，mmK值6~253.0~2.0＞25~462.5~1.5＞46~1202.0~1.0＞120~4002.0~1.08.5.2、距離—a)由評定線、定量線和判廢線組成。評定線與定量線之間（包括評定線）為I區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為Ⅱ區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域?yàn)棰髤^(qū)，如圖1所示。圖1DAC曲線：b)DAC曲線的靈敏度，見表5。c）檢測橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB。d)補(bǔ)償量應(yīng)實(shí)測，并計(jì)入距離一波幅曲線。8.5a)縱向缺陷檢測：W形掃查為主；b)為確定缺陷位置、方向、形狀，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞四種掃查方式。c)曲面工件（直徑≤500mm）檢測：縱縫檢測時(shí)，對比試塊曲率半徑與檢測面曲率半徑之差應(yīng)小于10%，環(huán)縫檢測時(shí)，對比試塊曲率半徑應(yīng)為檢測面曲率半徑的0.9~1.5倍。表5距離-波幅曲線的靈敏度試塊型式板厚，mm評定線定量線判廢線CSK-ⅡA6～46＞46～120φ2×40-18dBφ2×40-14dBφ2×40-12dBφ2×40-8dBφ2×40-4dBφ2×40+2dBCSK-ⅢA8～15＞15～46＞46～120φ1×6-12dBφ1×6-9dBφ1×6-6dBφ1×6-6dBφ1×6-3dBφ1×6φ1×6+2dBφ1×6+5dBφ×6+10dB8.6、檢測結(jié)果的評定和質(zhì)量分級8.6a)缺陷指示長度小于10mm時(shí)，按5mm計(jì)。b)相鄰兩缺陷在一直線上，其間距小于較小缺陷長度時(shí)，應(yīng)作為一條缺陷處理，以兩缺陷長度之和作其指示長度（不含間距）8.6.c)缺陷指示長度△L的測定：II區(qū)以上缺陷，用6dB法測定，缺陷波為多高點(diǎn)，用端點(diǎn)6dB法測定；I區(qū)缺陷，使波幅降至評定線上來測定。表6對接焊接接頭質(zhì)量評定mm等級板厚T反射波幅(所在區(qū)域)單個(gè)缺陷指示長度L多個(gè)缺陷累計(jì)長度L′Ⅰ6～400Ⅰ非裂紋類缺陷6～120ⅡL＝T/3，最小為10，最大不超過30在任意9T焊縫長度范圍內(nèi)L′不超過T＞120～400L＝T/3，最大不超過50Ⅱ6～120ⅡL＝2T/3，最小為12，最大不超過40在任意4.5T焊縫長度范圍內(nèi)L′不超過T＞120～400最大不超過75Ⅲ6～400Ⅱ超過Ⅱ級者超過Ⅱ級者Ⅲ所有缺陷Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ裂紋等危害性缺陷注：1母材板厚不同時(shí)，取薄板側(cè)厚度值。2當(dāng)焊縫長度不足9T（Ⅰ級）或4.5T（Ⅱ級）時(shí)，可按比例折算。當(dāng)折算后的缺陷累計(jì)長度小于單個(gè)缺陷指示長度時(shí)，以單個(gè)缺陷指示長度為準(zhǔn)。9、承壓設(shè)備管子，壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^超聲檢測和質(zhì)量分級9.1、本條適用于壁厚母材厚度≥4mm,外徑Do=32-149mm或母材厚度4～6mmDo≥159承壓設(shè)備管子和壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^的超聲檢測和質(zhì)量分級。9.2、試塊GS—1、GS—2、GS—3、GS—4的形狀和尺寸見JB/T4730.3—2005圖32，其適用范圍見表79.3、探頭9.3.1、9.3.9.4、檢測表面制備見本規(guī)程9.4表7試塊適用的管子曲率半徑范圍，mm試塊型號適用于管子、管道的曲率半徑范圍(mm)GS-116~24GS-2＞24~35GS-3＞35~54GS-4＞54~80表8斜探頭K值的選擇管壁厚度，mm探頭K值探頭前沿L，mm4.0～82.5～3.0≤6＞8～152.0～2.5≤8＞151.5～2.0≤129.5、距離一波幅曲線見圖1，其靈敏度見表9。表9距離一波波幅曲線的靈敏度壁厚，mm評定線定量線判廢線≤8φ2×20-16dBφ2×20-16dBφ2×20-10dB＞8～15φ2×20-13dBφ2×20-7dB＞15φ2×20-10dBφ2×20-4dBa)補(bǔ)償量實(shí)測并計(jì)入距離一波幅曲線。b)掃查靈敏度不低于評定線。9.6、掃查9.6.19.69.7、檢測結(jié)果的評定和質(zhì)量分級9.79.7.2、缺陷指示長度.a）缺陷為單高點(diǎn)且位于Ⅱ區(qū)或Ⅱ區(qū)以上時(shí)，用定量線的絕對靈敏度法測其指示長度；b）缺陷波為多高點(diǎn)，且位于Ⅱ區(qū)或Ⅱ區(qū)以上時(shí)，應(yīng)以定量線的絕對靈敏度法測其指示長度；c）缺陷波位于I區(qū)，應(yīng)以評定線絕對靈敏度來測定ΔL。9.7.a)相鄰兩缺陷在一直線上，其間距小于其中較小的缺陷長度時(shí)，應(yīng)作為一條缺陷處理，其長度為二條缺陷之和。（間距不計(jì)）。b)單個(gè)點(diǎn)狀缺陷指示長度按5mm計(jì)。9.7.4、質(zhì)量等級評定按表10表10焊接接頭質(zhì)量等級評定焊接接頭等級焊接接頭內(nèi)部缺陷焊接接頭根部未焊透缺陷反射波幅所在區(qū)域單個(gè)缺陷指示長度L，mm缺陷指示長度，mm缺陷累計(jì)長度，mm1)ⅠⅠ非裂紋類缺陷L＝T/3，最小為5長度小于或等于焊縫周長的10%,且小于30Ⅱ≤10≤T/42)ⅡⅡ≤15≤T/3L＝2T/3，最小為6長度小于或等于焊縫周長的15%，且小于40ⅢⅡ超過Ⅱ級者超過Ⅱ級者超過Ⅱ級者Ⅲ所有缺陷Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ裂紋等危害性缺陷注：在10mm焊縫范圍內(nèi)，同時(shí)存在條狀缺陷和未焊透時(shí)，應(yīng)評為Ⅲ1)板厚不等的焊接接頭，取薄板側(cè)厚度值。2)當(dāng)缺陷累計(jì)長度小于單個(gè)缺陷指示長度時(shí)，以單個(gè)缺陷指示長度為準(zhǔn)。10、在用承壓設(shè)備超聲檢測10.1、范圍適用于在用承壓設(shè)備的超聲檢測。10.2、在用承壓設(shè)備用原材料，零部件的超聲檢測見JB/T4730。3-2005的7.2.10.3應(yīng)符合本規(guī)程10的規(guī)定。10.應(yīng)從衰減器讀出缺陷波幅比定量線高的dB數(shù)。11、檢測記錄、報(bào)告和資料存檔11.1、檢測記錄檢測記錄內(nèi)容如下：a)委托單位；b)工件名稱、編號、材質(zhì)、熱處理狀態(tài)和表面狀況；c)探傷儀、探頭、試塊；d)技術(shù)等級、探頭K值、頻率、檢測面、靈敏度；