系列ICT培訓(xùn)教材

各位好，今天我們的課程是：518系列ICT訓(xùn)練課程大家知道嗎518系列ICT是德律科技的一大系列產(chǎn)品，在業(yè)界素以技術(shù)領(lǐng)先、服務(wù)上佳而深得客戶認可。公司簡介公司簡介19891989年成立于臺灣于1997年在中國大陸成立分公司員工規(guī)模臺灣-230中國大陸深圳-90自1995年起獲ISO9001品質(zhì)認證中國廠家中第一家具SMT開路檢測技術(shù)的ICT廠家亞洲第一家獲德國TUVISO9001認證的ICT自動測試廠家經(jīng)營理念:團隊,誠信,務(wù)實產(chǎn)產(chǎn)品范圍高精密在線測試儀(高精密在線測試儀(ICT)全自動生產(chǎn)線測試機(全自動生產(chǎn)線測試機(INLINE)數(shù)字回路自動測試機(數(shù)字回路自動測試機(ATE)自動光學(xué)檢測機(自動光學(xué)檢測機(AOI)集成塊測試機(集成塊測試機(ICTESTER)測試治具(測試治具(TESTFIXTURE)518系列ICT又分以下4款：TR-518(1989年推出，CMOS切換開關(guān)，性能穩(wěn)定，德律首創(chuàng)之ICT)TR-518F（1992年推出，CMOS+ArmatureRelay創(chuàng)新技術(shù)，功能大輻提升，速度較518快一倍，臺灣精品獎）TR-518FR(1996年推出，ReedRelay開關(guān)，方便整合功能量測，功能強大，速度更較518F快一倍，臺灣精品獎）TR-518FE（1996年推出，CMOS+ArmatureRelay的完美應(yīng)用，超強功能，速度較518F快一倍以上，臺灣精品獎）ICT的概念何謂ICTICT即在線測試儀（InCircuitTester）,是一大堆高級電表的組合。電表能測到，ICT就能測到，電表測不到，ICT可能也測不到。例如：R號源Is取恒流（—5mA）,量回Vx即可算出Rx值.信號源Is與Rx關(guān)系表Rx(標準值)Is(常電流源)Is/10(低檔電流源)0<Rx<300ΩmA5300≤Rx<3KΩuA503KΩ≤Rx<30KΩuA50uA530KΩ≤Rx<300KΩuA5300KΩ≤Rx<3MΩRx≥3MΩ注：系統(tǒng)測量電壓Vx=IsRx=大電流應(yīng)用：R 信號源取恒壓，是因為：1電壓越小，則電容充電到飽和的時間就越短，電容充電飽和后，其相當于開路，測Rx就會準確。2ICT量測放大器偵測電壓線性區(qū)間為—，不宜取低于此范圍的電壓。R|Y’|Cosθ=YRx=1/Rx,并Y’=I’x/Vs故：Rx=1/|Y’|Cosθ根據(jù)Zl=2лfL，若R=20Zl，則R無法測試量測C/L：單個C/L（Mode0,1,2,3）：信號源取恒定交流壓源Vs Vs/Ix=Zc=1/2лfCx,求得：Cx=Ix/2лfVsVs/Ix=Zl=2лfLx,求得：Lx=Vs/2лfIx電容：范圍信號源說明1pF～2:100K-ACAC100KHz3:1M-ACAC1MHz3pF～0:1K-ACAC1KHz1:10K-ACAC10KHz2:100K-ACAC100KHz3:1M-ACAC1MHz5:1K-相位AC1KHz相位分離量測6:10K-相位AC10KHz相位分離量測，用以測量與電感并聯(lián)的電容7:100K-相位AC100KHz相位分離量測3nF～0:1K-ACAC1KHz1:10K-ACAC10KHz2:100K-ACAC100KHz5:1K-相位AC1KHz相位分離量測6:10K-相位AC10KHz相位分離量測7:100K-相位9:100-ACAC100KHz相位分離量測AC100Hz300nF～2.999SYMBOL109\f"Symbol"F0:1K-ACAC1KHz1:10K-ACAC10KHz5:1K-相位AC1KHz相位分離量測6:10K-相位9:100-ACAC10KHz相位分離量測AC100Hz3SYMBOL109\f"Symbol"F～29.99SYMBOL109\f"Symbol"F0:1K-ACAC1KHz4:C-DC固定電流源量測5:1K-相位9:100-ACAC1KHz相位分離量測AC100Hz30SYMBOL109\f"Symbol"F～149.99SYMBOL109\f"Symbol"F4:C-DC8:C-DC(10mA)9:100-AC固定電流源量測固定電流源量測AC100Hz150SYMBOL109\f"Symbol"F～40mF5:1K-相位固定電流源量測8:C-DC(10mA)固定電流源量測電感：范圍信號源說明1SYMBOL109\f"Symbol"H～109\f"Symbol"H2:100K-ACAC100KHz3:1M-ACAC1MHz80SYMBOL109\f"Symbol"H～109\f"Symbol"H0:1K-ACAC1KHz1:10K-ACAC10KHz2:100K-ACAC100KHz3:1M-ACAC1MHz6:10K-相位AC10KHz相位分離量測7:100K-相位AC100KHz相位分離量測800SYMBOL109\f"Symbol"H～0:1K-ACAC1KHz1:10K-ACAC10KHz2:100K-ACAC100KHz5:1K-相位AC1KHz相位分離量測6:10K-相位AC10KHz相位分離量測7:100K-相位9:100-ACAC100KHz相位分離量測AC100Hz8mH～0:1K-ACAC1KHz1:10K-ACAC10KHz2:100K-ACAC100KHz5:1K-相位AC1KHz相位分離量測6:10K-相位AC10KHz相位分離量測7:100K-相位AC100KHz相位分離量測80mH～0:1K-ACAC1KHz1:10K-ACAC10KHz5:1K-相位AC1KHz相位分離量測6:10K-相位AC10KHz相位分離量測800mH～0:1K-AC1:10K-ACAC1KhzAC10KHz5:1K-相位6:10K-相位9:100-ACAC1KHz相位分離量測AC10KHz相位分離量測AC100Hz8H～0:1K-ACAC1KHz5:1K-相位9:100-ACAC1KHz相位分離量測AC100Hz測試C或L時，取信號頻率(f)的原則：因為，Zc=1/2лfC，在實際測試時，我們希望Zc最好是在一定范圍內(nèi)，太大或太小，測試精度都會降低。我們假設(shè)Zc=常數(shù)，則得到：fC=常數(shù)，也即：f∝1/C，可見f與C互為反比，這樣我們得到一個重要的結(jié)論：大電容以低頻、小電容以高頻進行測試，效果最好。同理，我們也可推出：f∝1/L，f與L互為反比。CGuarding(隔離)的實現(xiàn)：當Rx有旁路（R1）時，Ix=Is-I1≠Is, 故：Vx/Is≠Rx 此時取A點電位Va,送至C點，令Vc=Va, 則：I1=(Va-Vc)/R1=0,Is=Ix 從而：Vx/Is=Rx程序的編寫在T[測試]下，設(shè)定P“測試參數(shù)”測試參數(shù)電路板名稱：DEBUGBOX測試數(shù)據(jù)文件名稱：治具上第一支測試針號碼：1治具上最后一支測試針號碼：64測試順序：開路/短路/零件測試每幾次測試即自動儲存數(shù)據(jù)：50開路/短路不良時中斷測試：不要開路/零件不良時重測次數(shù)：2雙色打印機的廠牌：VFIVFI打印機是接到PC的：COM1測試不良時自動或手動打?。菏謩哟蛴y試不良時最多打印行數(shù)：10開/短路不良測試點位置打?。翰灰涣剂慵恢脠D的橫行數(shù)：2不良零件位置圖的縱列數(shù)：2刪略的針：在E[編輯]下，編寫程序：步驟零件名稱實際值位置高點低點隔點12345刪略量測值標準值上限%下限%延遲信號類別重測中停補償值偏差%。1 R3 47K A1 21 1010 0 0 0 0 0 47K 10 10 0 0RD 0 0 02 C22 100n D2 7 52 0 0 0 0 0 100n 30 30 0 0 C 0 0 03 L1 22u B2 187 0 0 00 0 22u 30 30 0 4 L 0 004 D5 C1 16 190 0 0 0 0 0 20 20 0 0 D 0 0 0 05Q1CEA21175420000020-104Q0000...進入L[學(xué)習(xí)],做ShortGroup學(xué)習(xí).若有IC，還需做ICClampingDiode學(xué)習(xí)。在主畫面在下測試，檢驗程序及開始Debug。程序的Debug編寫好的程序在實測時，因測試信號的選擇，或被測組件線路影響，有些Step會Fail（即量測值超出±%限），必須經(jīng)過Debug。R：在E[編輯]下，ALT-X查串聯(lián)組件，ALT-P查并聯(lián)組件。據(jù)此選好“信號”（Mode）和串聯(lián)最少組件的Hi-P/Lo-P，并ALT-F7選擇GuardingPin。R5L3M21L⑴．內(nèi)存IC（EPROM、SRAM、DRAM…）⑵．并聯(lián)大10倍以上大電容的小電容⑶．并聯(lián)小20倍以上小電阻的大電阻⑷．單端點之線路斷線⑸．DPCB之測點或過孔綠油未打開，或PCB吃錫不好3.壓床壓入量不足。探針壓入量應(yīng)以1/2-2/3為佳4．經(jīng)過免洗制程的PCB板上松香致探針接觸不良5．PCB板定位柱松動，造成探針觸位偏離焊盤6．治具探針不良損壞7．零件廠牌變化（可放寬+-%，IC可重新Learning）8.治具未Debug好（再進行Debug）9.ICT本身故障硬件檢測開關(guān)板：診斷（D）----切換電路板（B）----系統(tǒng)自我診斷（S）----切換電路板診斷（S）若有B*C*表示SWB有Fail，請記錄并通知TRI。C*有可能為治具針點有Short造成。進入切換電路板診斷功能時，屏幕上顯示如下的畫面：切換電路板自我檢測(治具上不要放置組裝電路板，維修盒不要接到待測的切換電路板)第幾片插槽1110987654321測試點數(shù)0000000128646464測試結(jié)果N/AN/AN/AN/AN/AN/AN/AN/AOKOKOKOKOKOK第幾片插槽2221201918171615141312測試點數(shù)DCACOT700000000測試結(jié)果N/AN/AN/AN/AN/AN/AN/AN/AN/A系統(tǒng)自我檢測：診斷（D）----硬件診斷（S）----系統(tǒng)自我檢測（S）有R、D項Fail可能為DC板故障，有C、L項Fail可能AC板Fail，有Power項Fail可能Power板Fail。也請記錄并通知TRI。電阻電容系統(tǒng)電源ValueMeas-VDev%ValueMeas-VDev%ValueMeas-VDev%5050OK100p100pOK5V5VOK100100OK1n1nOK10V10VOK1K1KOK10n10nOK12V12VOK10K10KOK100n100nOK15V15VOK100K100KOK1u1uOK24V24VOK1M1MOK10u10uOK-5V-5VOK10M10MOK1n-G1n-GOK-15V-15VOK1K-G1K-GOK15V15VOK10VFunction電感OK100u100uOKZD3VZD3VOK1m1mOKZD6VZD6VOK10m10mOKDAC-5VDAC-5VOK100m100mOK開路/短路測試線路:<0><1><2><3>

TheEnd附錄一指令樹狀結(jié)構(gòu)圖(CommandTree)Level0 Level1 Level2 Level3測試 開始測試(Testing) 順序(Test-Sequence)(TEST) 中斷(Test-Abortion) 測試針(Test-Pin) 測試參數(shù)(Test-Par) 修改參數(shù)(Update) 短/開路設(shè)定(Short/OpenBase) 重測(Retry) 設(shè)定新參數(shù)(SetUp) 打印機(Printer) 拷貝參數(shù)(Copy)位置圖/自動打印(Map/Stamp) 刪除參數(shù)(Delete) 選擇板號(Board-Sel) 壓床型式(Test-Fixture) 網(wǎng)絡(luò)設(shè)定(Network) 延遲時間(Delay-Time) 系統(tǒng)參數(shù)(System-Par) 打印機(Printer) 統(tǒng)計基底(Report-Base)編輯(EDIT) 短路學(xué)習(xí)(Learning) 編輯(Edit) 短路點數(shù)據(jù)(Short/Open) 打印(Print) 短路測試(Short-T) 開路測試(Open-T) IC腳(IC-Pins) IC保護二極管(Clamping-D) 學(xué)習(xí)(Learning)學(xué)習(xí) 顯示(Display)(LEARN) 打印(Print) 刪除(Delete) IC腳(IC-Pins) 學(xué)習(xí)(Learning) 并聯(lián)測試(DiodeChec