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文檔簡介

材料分析基礎(chǔ)緒論材料是國民經(jīng)濟(jì)的物質(zhì)基礎(chǔ)。材料的設(shè)計(jì)、制備和表征是材料研究中的三個(gè)重要方面；材料結(jié)構(gòu)與性能的表征包含：材料性能、微觀結(jié)構(gòu)、成分的測試和表征；材料性能包含物理性能、化學(xué)性能、力學(xué)性能。材料發(fā)展過程材料分類薄膜(thinfilm)材料是相對(duì)于體材料而言的，是人們采用特殊的方法，在體材料的表面沉積或制備的一層性質(zhì)與體材料性質(zhì)完全不同的物質(zhì)層。在各種薄膜制備與使用過程中，普遍關(guān)心

以下幾個(gè)方面：

（1）薄膜的厚度測量；（2）薄膜結(jié)構(gòu)和表面形貌的表征；（3）薄膜成分的分析。

對(duì)于不同用途的功能薄膜材料，還需測量其電學(xué)、光學(xué)、聲學(xué)、力學(xué)、熱學(xué)、磁學(xué)等性質(zhì)。電子薄膜與集成器件國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室課程要求掌握基本原理、常用實(shí)驗(yàn)方案在實(shí)際工作中能正確選用實(shí)驗(yàn)方法能夠制定實(shí)驗(yàn)方案與分析實(shí)驗(yàn)結(jié)果參考書目《材料分析方法》周玉，機(jī)械工業(yè)出版社，2004.12《材料現(xiàn)代分析與測試技術(shù)

》王曉春、張希艷

，國防工業(yè)出版社，2010.1

《X射線衍射分析原理與應(yīng)用》劉粵惠，化學(xué)工業(yè)出版社，2003.10《掃描力顯微術(shù)》白春禮，科學(xué)出版社，2000MethodsofsurfaceanalysisSurfaceanalysis―theprincipaltechniques.E

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