超高頻射頻識別標簽最小激活功率測試方法

1超高頻射頻識別標簽最小激活功率測試方法本標準規(guī)定了超高頻射頻識別標簽最小激活功率的測試環(huán)境、測試設備、測試布置圖、測試步驟及結果報告。本標準適用于超高頻識別標簽最小激活功率的測試。2規(guī)范性引用文件下列文件對于本文件的應用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB9254信息技術設備的無線電騷擾限值和測量方法GB/T6113.105無線電騷擾和抗擾度測量設備和測量方法規(guī)范第1-5部分:無線電騷擾和抗擾度測量設備30MHz～1000MHz天線校準用試驗場地GB/T12190電磁屏蔽室屏蔽效能的測量方法CISPR16-1-4無線電干擾與抗干擾測量儀器和方法的規(guī)范.第1-4部分:無線電干擾與抗干擾測量儀器-輻射干擾測試用天線和測試場地（Specificationforradiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatusandmethods–Part1-4:Radiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatus–Antennasandtestsitesforradiateddisturbancemeasurements）IEC61000-4-3電磁兼容(EMC)--第4-3部分：試驗和測量技術--輻射、射頻和電磁場的抗擾度試驗（Electromagneticcompatibility(EMC)--Part4-3:Testingandmeasurementtechniques--Radiated,radio-frequency,electromagneticfieldimmunitytest）3術語和定義GB/T29261.3?2012，SB/T10530?2009，確立的以及下列術語和定義適用于本標準。為了便于使用，以下重復列出了GB/T29261.3?2012，SB/T10530?2009中的某些術語和定義。3.1射頻識別radiofrequencyidentification(RFID)在頻譜的射頻部分，利用電磁耦合或電磁感應，通過各種調制和編碼方案，與射頻標簽交互通訊唯一讀取射頻標簽身份的技術。[GB/T29261.3?2012，定義05.01.01]3.2射頻識別標簽RFIDtag用于物體或物品標識，具有信息存儲機制的，能接收讀寫器的電磁場調制信號并返回響應信號的數(shù)據(jù)載體。2[SB/T10530?2009定義3.1]3.3識別距離readdistance在規(guī)定的條件下，讀寫器能夠有效識別射頻標簽時讀寫器天線幾何中心和射頻標簽（群）幾何中心質檢的最大間距。[GB/T29261.3-2012，定義05.02.48]3.4最小激活功率minimumactivationpower射頻識別標簽從讀寫器到射頻識別標簽的通信信道接收信號從而產(chǎn)生應答的最低功率值。4測試環(huán)境4.1場地在840MHz至845MHz和920MHz至925MHz頻率范圍內，場地符合以下要求：a)歸一化場地衰減：符合CISPR16-1-4要求；b)屏蔽效能：符合GB/T12190要求；c)場均勻性：符合IEC61000-4-3要求；d)場地電壓駐波比：符合CISPR16-1-4要求；e)背景噪聲：符合GB9254要求。4.2溫度測試環(huán)境溫度應在15℃至35℃。4.3相對濕度測試環(huán)境相對濕度應在25%至75%。5測試設備5.1矢量網(wǎng)絡分析儀a)頻率范圍：支持840MHz至845MHz和920MHz至925MHz，頻率精度10-6；b)溫度穩(wěn)定性：0.01dB/℃c)激勵功率范圍：-55dBm至10dBm。d)必須經(jīng)過計量檢定，并在檢定有效期內。5.2環(huán)形器a)頻率范圍：支持840MHz至845MHz和920MHz至925MHz；b)插入損耗≤0.3dB；c)隔離度≥23dB；d)駐波比≤1.2。5.3讀寫器a)頻率范圍：支持840MHz至845MHz和920MHz至925MHz，頻率可調，可定頻；b)輸出功率：外部電源供電情況下，10.0dBm至32.5dBm可調；c)控制程序：可顯示標簽是否讀取。5.4天線5.4.1校準天線a)頻率范圍：支持840MHz至845MHz和920MHz至925MHz；b)符合GB/T6113-105要求；c)天線頻道和方向的增益經(jīng)過具有資質的單位進行計量標稱。5.4.2測試天線a)頻率范圍：支持840MHz至845MHz和920MHz至925MHz；b)符合GB/T6113-105要求。6測試布置圖標簽最小激活功率測試應按圖1布置進行測試。a）場損測試布置圖b）最小激活功率測試布置圖注：測試過程中，a）與b）中測試天線位置不改變，a）中標準天線圖1測試布置圖7測試步驟標簽最小激活功率測試在840MHz至845MHz和920MHz至925MHz下測試步驟為：4a)選擇標簽測試頻率、天線增益和測試距離；b)通過矢量網(wǎng)絡分析儀及標準天線標定測試天線和路徑損耗，記錄總的損耗值L；c)設置讀寫器發(fā)射功率及功率調整步長；d)使用測試天線進行對標簽進行讀操作，若讀取標簽，則按照基準讀寫器設置步長降低基準讀寫器發(fā)射功率，直至可以讀取標簽的臨界狀態(tài)，記錄此時基準讀寫器的發(fā)射功率P。若未能讀取標簽，則按照基準讀寫器設置步長提高基準讀寫器發(fā)射功率，直至可以讀取標簽的臨界狀態(tài)，記錄此時基準讀寫器的發(fā)射功率P；e)步驟f中記錄的P減掉步驟d中L，得到設置頻率下標簽的最小激活功率；