測(cè)量α、β表面污染的計(jì)量器具

JJG2041—19891測(cè)量α、β表面污染的計(jì)量器具檢定系統(tǒng)表*本檢定系統(tǒng)適用于α、β表面污染儀(或監(jiān)測(cè)儀)和用于校準(zhǔn)它的各級(jí)α、β平面源的檢定。它規(guī)定了放射性活度單位(Bq),國(guó)家基準(zhǔn)通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)向工作計(jì)量器具傳遞單位量值的程序,并指明其不確定度和檢定方法。一計(jì)量基準(zhǔn)器具1計(jì)量基準(zhǔn)器具是2πα、2πβ粒子發(fā)射率基準(zhǔn)裝置和2πα、2πβ粒子發(fā)射率副基準(zhǔn)裝置。該基準(zhǔn)測(cè)量α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源發(fā)射率范圍為:2×102~1×106α/min·2π和2×103~1×106β/min·2π,測(cè)量結(jié)果的總不確定度分別是1%~2.5%和1.5%~2.5%(置信因子為3)。副基準(zhǔn)的測(cè)量范圍是:2×102~8×105α/min·2π和3×103~7×105β/min·2π,測(cè)量結(jié)果的總不確定度分別為1.4%和1.5%(置信因子為3)?；鶞?zhǔn)與副基準(zhǔn)定期比對(duì)。二計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器具2作為計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器具的是一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)裝置,一級(jí)α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源,二級(jí)α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源。2.1一級(jí)α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源(β粒子最大能量大于0.15MeV):a.一級(jí)α標(biāo)準(zhǔn)平面源的核素是241Am和239Pu;一級(jí)β標(biāo)準(zhǔn)平面源的核素是14C,204Tl和147Pm或36Cl和90Sr—90Y。b.一級(jí)α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源是將放射性物質(zhì)制作在導(dǎo)電金屬板的一個(gè)面上,其活性面積至少為104mm2,襯托板厚度必須大于相應(yīng)核素的α粒子或β粒子在襯托板材料里的射程。c.一級(jí)α、β平面源的表面發(fā)射率由國(guó)家基準(zhǔn)、國(guó)家副基準(zhǔn)或一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)裝置測(cè)量給出。其總不確定度為3%(置信因子為3)。一級(jí)α標(biāo)準(zhǔn)平面源活度總不確定度為6%(置信因子為3),一級(jí)β標(biāo)準(zhǔn)平面源活度總不確定度為8%(置信因子為3)。d.一級(jí)α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源的均勻度優(yōu)于10%。將放射源分成若干面積相等的部分(每個(gè)部分為10cm2或更小),均勻度用這些部分的發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)偏差表示。2.2二級(jí)α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源(β粒子最大能量大于0.15MeV):a.二級(jí)α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源的核素和尺寸與一級(jí)α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源相同。b.二級(jí)α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源的表面發(fā)射率由傳遞儀器相對(duì)測(cè)量給出,其總不確定度為5%。二級(jí)α標(biāo)準(zhǔn)平面源活度的總不確定度為6%,二級(jí)β標(biāo)準(zhǔn)平面源活度的總不確定度為8%(置信因子均為3)。c.二級(jí)α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源均勻度應(yīng)優(yōu)于10%。2.3一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)裝置必須接受國(guó)家基準(zhǔn)對(duì)它的定期校準(zhǔn)。注:自2003年之后,原“計(jì)量檢定系統(tǒng)”統(tǒng)稱為“計(jì)量檢定系統(tǒng)表”。JJG2041—19892三工作計(jì)量器具3作為工作計(jì)量器具的是α、β平面工作源及α、β和α-β表面污染儀。3.1α、β平面工作源:a.α、β平面工作源的核素、尺寸和活度水平由用戶根據(jù)需要自行選擇。b.α、β工作源的表面發(fā)射率由傳遞儀器測(cè)量,其總不確定度為8%(置信因子c.工作源的均勻度應(yīng)優(yōu)于1%。3.2α、β和α-β表面污染測(cè)量?jī)x或監(jiān)測(cè)儀對(duì)α、β和α-β表面污染測(cè)量?jī)x或監(jiān)測(cè)儀的檢定應(yīng)遵守其檢定規(guī)程。要求固有誤差±35%。固有誤差系指