T750電子元器件綜合測試儀

T750電子元器件綜合測試儀綜述T750電子元器件綜合測試儀可對各種常用電子元器件進行功能/參數(shù)/性能測試，應(yīng)用于生產(chǎn)企業(yè)電子元器件測試工作。只需一臺T750電子元器件綜合測試儀，即可解決元器件的測試難題。T750電子元器件綜合測試儀硬件電路中大量采用CPLD可編程集成技術(shù)，具有80路數(shù)字通道/160路VI曲線通道/3路可擴展端子通道/2組雙端子程控電源通道，連接電腦采用USB接口方式。T750電子元器件綜合測試儀通過專用測試系統(tǒng)軟件，可對元器件特定失效模式構(gòu)建具體型號的響應(yīng)模型，從而建立大量元器件測試庫，對各種常用電子元器件和特殊電子元器件提供有效便捷的測試手段。T750電子元器件綜合測試儀工作狀態(tài)參數(shù)計算機操作系統(tǒng)：支持windows10操作系統(tǒng)；計算機接口方式：支持USB3.0接口；線纜通道：數(shù)字通道:80路。VI模擬通道:160路；端子通道：3路；程控電源：4路。設(shè)定程控輸出+5V,+12V,-12V,-5V；電平閾值：+5V,±12V；測試頻率：1kHz~100kHz；驅(qū)動電流：300mA；VI測試分辨率：16~256點/周期；VI測試阻抗：100Ω/1kΩ/10kΩ/100kΩ；VI掃描電壓：-28V~+28V；器件庫：TL74/54庫,CMOS40/45庫,驅(qū)動器庫,±12V數(shù)字器件庫,LSI庫,>40管腳PLCC封裝大規(guī)模LSI庫,EPROM/EEPROM庫,接口器件庫,DA庫/AD庫,運放庫,比較器庫,模擬開關(guān)庫,穩(wěn)壓器件庫,光耦器件庫,分立元件庫,無源器件庫等；功率：300W；尺寸：470×430×200mm；凈重：12.5kg.功能1.數(shù)字器件測試：<01>+5V數(shù)字器件測試測試范圍：TL74/54庫,CMOS40/45庫,驅(qū)動器庫,±12V數(shù)字器件庫,LSI庫,>40管腳PLCC封裝大規(guī)模LSI庫,EPROM/EEPROM庫,接口器件庫等。T750電子元器件綜合測試板12.集成運放器件測試：<01>運放器件波形功能測試運放工作在線性區(qū)測試，測試運放輸出波形的線性度。<02>運放器件放大功能測試運放工作在非線性區(qū)測試，測試運放峰峰電壓參數(shù)值。<03>運放器件填表方式擴充表單方式擴充運放器件庫。3.其他集成器件測試：<01>電壓比較器器件測試電壓比較器數(shù)百種型號。<02>模擬開關(guān)器件測試雙極性電源模擬開關(guān)器件數(shù)百種型號。<03>高壓接口器件測試高壓接口電平轉(zhuǎn)換器件數(shù)百種型號。<04>數(shù)模轉(zhuǎn)換器DA器件測試D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器數(shù)百種型號。<05>大規(guī)模LSI測試PLCC封裝LSI器件。<06>存儲器測試DRAM/SRAM存儲器千余種型號。<09>穩(wěn)壓塊器件測試78/79系列正/負穩(wěn)壓塊功能測試。<08>光耦器件測試測試光耦Vf,Ir,Vces,CTR參數(shù)測試。4.晶體管測試：<01>NPN型/PNP型三極管測試三極管(NPN型/PNP型)截止區(qū)/放大區(qū)/飽和區(qū)的功能特性。<02>N型/P型場效應(yīng)管測試場效應(yīng)管(N型/P型)在不同區(qū)間的功能特性。<03>可控硅測試可控硅管(單向型/雙向型)在不同區(qū)間的功能特性。5.阻容測試：<01>電阻器件測試測試范圍：10Ω~10MΩ。支持電阻批量測試。<02>電容器件測試測試范圍：103~20000μF。支持電容批量測試。清單主機序號名稱廠家數(shù)量1T750電子元器件綜合測試儀瑞迪航科12220V電源線瑞迪航科13USB訊纜瑞迪航科14測試夾瑞迪航科85綜合測試板1瑞迪航科16綜合測試板2瑞迪航科1740芯扁平測試電纜瑞迪航科48VI表筆瑞迪航科29測試線瑞迪航科110儀器