測厚儀工作原理

2.2、測厚儀工作原理對于X射線，在其穿透被測材料后，射線強度I的衰減規(guī)律為I0———入射射線強度；μ———吸取系數(shù)；h———被測材料的厚度。μI0，IhIh。X射線測厚儀原理是依據(jù)X板所吸取的X射線量，依據(jù)該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X的信號轉(zhuǎn)換為電信號，經(jīng)過前置放大器放大，再由專用測厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。X射線源輻射強度的大小，與X射線管的放射強度和被測鋼板所吸取的X射線強度相關。一個在系統(tǒng)量程范圍內(nèi)的給定厚度，為了確定其所需的X射線能量值，可利用M215型X射線檢測儀進展X在厚度確定的狀況下，X射線的能量值為常量。當安全快門翻開，X射線將從X射線源和探頭之X射線被位于X射線源正上方的探頭接收，探頭將所接收的X射線轉(zhuǎn)換為與之大小相關的輸出電壓。假設轉(zhuǎn)變被測鋼板的厚度，則所吸取的X射線量也將轉(zhuǎn)變，這將使探頭所接收的X變化。參考資料：樓上沒有給出公式，就等于沒有說出重點，因此不要輕易的COPY。簡潔的說，就是射線在穿透確定的物質(zhì)時，其強度的呈指數(shù)規(guī)律衰減，這和半衰期的公式相像，其公式為：I=Ir*EXP〔-UX〕,Tr為初始射線強度，I為穿過物體后的射線強度，U為衰減系數(shù)，X對于不同的材料，其U值是不同的，因此使用射線測量厚度時必需知道被測材料的U值。一般而言密度越大的材料其U射線阻擋力氣就越強，因此在核技術試驗中用作屏障，與之類似的就是鉛玻璃。射線檢測儀錄儀溫濕度記錄儀溫度記錄儀共享83|0個評論測原理allen1898118XX凡具有加速度的帶電粒子都會產(chǎn)生電磁輻射。會產(chǎn)生很大的負加速度另一方面，當電子的動能足夠大時，將會把靶面原子的內(nèi)層電子轟擊出來，在原位置形成孔穴，而此刻，外層的電子〔位于高能級〕產(chǎn)生躍遷以填補該孔穴。同時，它將多余的能量以X射線的形式放出，形成所謂的標識X射線。標識射線的波長是不連續(xù)的。它取決于靶面的材料。它通常用于對材料的化學成分進展定性分析。在無損檢測探傷中，一般用前者。X射線具有很強的穿透力氣。在媒體的界面，它的折射率很小，幾乎為1。從而使我們可以按幾何方式來計算成像的比例。由韌致輻射產(chǎn)生的X射線，具有連續(xù)譜線。它的波長取決于電場的電壓和場內(nèi)的電子流。其強度表示為：I=其中，K----系數(shù)；i------管電流；U-----管電壓；Z 靶的原子序數(shù)。穿透物體后，射線的強度為：I1=IoXexp(-ud)，射線入射強度減弱一半的吸取物質(zhì)厚度稱為半價層。寬容度〔L〕指膠片有效密度范圍對應的曝光范圍。在膠片特性曲線上，就用接近在線局部的起點和終點在橫坐標上相對應的曝光量對數(shù)表示，明顯梯度大的膠片其寬容度必定小。線型象質(zhì)計應放在射線源一側(cè)的工件外表上被檢焊縫區(qū)一端〔被檢區(qū)長度的l／4部位。金屬絲一象質(zhì)計放在膠片一側(cè)工件外表上時，應附加“F””管子上。象質(zhì)計的線徑d與線號《象質(zhì)指數(shù)》之間的關系：d＝de，z＝6－10lgd金屬絲象質(zhì)計的相對靈敏度：S=AX10O％，如一底片上可識別的最小線徑，照厚度。射線照相比照度公式：射線照相比照度〔底片比照度〕D是主因比照度tri和膠片比照度r共同作用工件外表距離，Q－I件外表至膠片距離。為保證射線照相的清楚度，標準對透照距離的最J前防限制：象質(zhì)等級透照距離〔焦點至工件外表距離〕K值為了評價X射線在膠片上的成像質(zhì)量，人們通常用像質(zhì)計作為檢測標準。線型像質(zhì)計的擺放，應在射線源一邊。靈敏度的計算為：m=di/DpX100%射線照相影響質(zhì)量的根本因素有：①黑度，S三大要素〔DUGr〕的關系。Un，m，ur膠片種類，V，顯影膠片固有不清楚度產(chǎn)生的主要緣由：由于照耀到膠片上的射線在乳劑層科射線底片上細節(jié)影象的可識別性與圖象的大小、膠片的粘度、底片黑皮、觀條件及觀片者等因素有關。底片黑度增大時，4hat增大，膠片的粒度越小，大，n值越大，底片比照度D是不行能的，只能在實際透照過程中依據(jù)具體狀況加以限制，一般可實行以下措施：措施：選擇適宜的射線能量，使用鋁箔增感屏，其次還有：①背防護板；②錯罩和光柵；③厚度〕悄物；④濾板；⑤遮擋物；③修磨試件。一次透照范圍內(nèi)試件的最大厚度與最小厚度之比民＞1.4，屬于大厚度比工件，即變截面工件，黑度過低或過高都會影響用相靈敏度；②厚度變化導致散射I增大，產(chǎn)生邊蝕效應。為此，可承受m－n在X射線照相中，在能穿透工件的前提下，盡可能選擇較低管電壓，從而得到較大的衰減系數(shù)14rtl值盡可能大，以便提高射線照相靈敏度。①一般說來，射線源都有確定的幾何尺寸，當缺陷尺寸比焦點尺寸d大得多時，焦點對透照底片D的影響可無視不計。②當缺陷尺寸f〔小于焦點尺寸〕時，就會消滅由焦點尺寸f引起的透照幾何條件的影響，此時底片比照照度必需進展修正。③當金屬絲〔缺陷〕直徑d削減時，會使d’〔d＞1要考慮修正系數(shù)。對凸Dd’大時，金屬絲的“幾何因素修正系數(shù)?！彪S幾何間距與金屬絲直徑比值d’用的急劇增大而減小。對細小缺陷〔或細金屬絲〕來說，由于的較小，D也較少，所以在底片上較難識辯其影象。問題：A：正在工作的一臺X40R／min?M，無遮擋，不計空氣吸取和散射線的狀況下，距焦點20米處的射線照耀劑量率為多少R／min？以19ImR為射線工作人員一天的安全劑量限度，距焦點20米處，一分鐘內(nèi)的射線劑量是安全劑量的多少倍？在該處停留的時間為多少秒下，才能保證不超過射線工作人員一天的安全劑量？〔兩位有效數(shù)字。解：①P1＝40R／min，R1=1M，R2＝20M，由距離平方反比公式：P1：P2=〔R2：R1〕2得：P2=0.1〔R/min〕2：100/19=5.33：t19/100/6011.4秒B：對某射線源鉛的半價層為lmm，假設承受鉛做防護層，該防護層兩側(cè)射線劑量率分別為3.62R/h10mR/h，求此防護層的厚度？解：D=0.693/u〔D半價層〕得：u0.693mm-1I=I0Xe-udd=Ln〔3620/10〕/0.693=8.5mmC：有一混凝土防護墻的探傷室，裝一臺Ir192r射線機，經(jīng)測試，操作室內(nèi)最大劑量率為0.066Rem/h，要使劑量率降至2.1mRem/h，求還需加襯多少mm厚的鉛板〔u=1.386cm-1〕？P=P0Xe-ud得：d=Ln〔P0/P〕/u=Ln〔66/2.1〕/0.1386=25mmX射線數(shù)字成像概述：實時成像系統(tǒng)及工業(yè)CT數(shù)字射線照相系統(tǒng)是在一般的工業(yè)電視系統(tǒng)上，增加了計算機圖象處理的結(jié)果。通常它由如下局部組成：(見以以下圖〕X射線機頭及高壓發(fā)生器高壓把握柜圖象增加器---模擬或數(shù)字式工作平臺信號采集卡計算機圖象處理軟件閉路監(jiān)視系統(tǒng)環(huán)境監(jiān)視器系統(tǒng)報警式自動門等組成.像采集根本學問:視頻采集,馬上視頻轉(zhuǎn)換成PC機可使用的數(shù)字格式。專業(yè)圖象采集卡是將視頻信號經(jīng)過AD轉(zhuǎn)換后，經(jīng)過PCI總線實時傳到內(nèi)存和顯存。在采集過程中，由于采集卡傳送數(shù)據(jù)承受PCIMasterBurst方式，圖象傳送速度高達33MB/S，可實現(xiàn)攝像機圖像到計算機內(nèi)存的牢靠實時傳送，并且?guī)缀醪徽加肅PU時間，留給CPU更多的時間去做圖像的運算與處理。圖象速率及采集的計算公式幀圖像大小(ImageSize)∶W×H(長×寬)---您必需首先了解∶需要采集多大的圖象尺寸?顏色深度∶d(比特數(shù))---期望采集到的圖象顏色(8Bit灰度圖象?還是16/24/32Bit真彩色?)f---PAL25幀，非標準就沒準了！500-1000幀都有可能Q(MB)---圖象信號的數(shù)據(jù)量采樣率∶A(MB)---采集卡的采樣率，通過其產(chǎn)品手冊可知Q=W×H×f×d/8推斷標準∶假設A>Q×1.2，則該采集卡能夠勝任采集工作。視頻源∶使用各種圖象采集卡，首先需要您供給采集或壓縮用的視頻源。視頻源可以是∶VCD影碟機、已有的錄像帶、攝錄機、LD視盤、CCD攝像頭、監(jiān)視器的視頻輸出等等。一臺攝錄機和使用攝錄機錄制的錄像帶.一臺盒式錄像機或磁帶錄像機和已錄制的錄像帶.LDLDVideoCDVCD攝錄機或CCD攝像機在工業(yè)影像中，視頻源常常是CT、X光機、超聲