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文檔簡介
晶體光學
(實驗一偏光顯微鏡)杜后發(fā)E-Mail:dhf915@126.com
第二章偏光顯微鏡一、偏光顯微鏡的型號二、偏光顯微鏡的基本性能三、偏光顯微鏡的構(gòu)造**四、偏光顯微鏡的光路系統(tǒng)五、偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)與校正*六、巖石薄片磨制方法簡介一、偏光顯微鏡的型號偏光顯微鏡的型號(NIKON、OLYMPUS、Leica、Leitz及上海光學儀器廠XPG系列、南京光學儀器廠XPG-01型、江南廠XPT系列),但其基本構(gòu)造相似。第二章偏光顯微鏡的構(gòu)造一、偏光顯微鏡的型號二、偏光顯微鏡的基本性能三、偏光顯微鏡的構(gòu)造**四、偏光顯微鏡的光路系統(tǒng)五、偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)與校正*六、巖石薄片磨制方法簡介二、偏光顯微鏡的性能偏光顯微鏡是研究透明礦物的重要儀器,又是其它晶體光學研究法的基礎(chǔ)。(一)放大與放大鏡的性能一樣,將物體放大,使我們觀察到更細微的物質(zhì)組成。但顯微鏡的放大倍數(shù)比放大鏡的高得多,后者一般只有幾倍到十幾倍,前者可達幾十倍、幾百倍,甚至上千倍。二、偏光顯微鏡的性能(二)偏光偏光鏡可以將自然光轉(zhuǎn)為偏光,用來測定礦物不同方向的光學性質(zhì)。肉眼鑒定礦物是根據(jù)礦物的形態(tài)、解理、顏色、硬度及簡易化學分析等方面來判斷的。對于透明礦物來說,光學方面的性質(zhì),也是鑒別礦物的一個非常重要的根據(jù)。不同礦物,由于化學成分、內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同,光學性質(zhì)也不同,偏光顯微鏡正是利用偏光來測定礦物不同方向的關(guān)學性質(zhì)。第二章偏光顯微鏡的構(gòu)造一、偏光顯微鏡的型號二、偏光顯微鏡的基本性能三、偏光顯微鏡的構(gòu)造**四、偏光顯微鏡的光路系統(tǒng)五、偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)與校正*六、巖石薄片磨制方法簡介三、偏光顯微鏡的構(gòu)造雖然偏光顯微鏡的型號多,但其基本構(gòu)造是相似的(如右圖)。以江南廠XPT系列,介紹偏光顯微鏡的主要部件:(一)機械系統(tǒng)組件(二)光學系統(tǒng)組件(三)附件圖2-1偏光顯微鏡的基本構(gòu)造略圖三、偏光顯微鏡的構(gòu)造(一)機械系統(tǒng)組件(1)鏡座為馬蹄形的基座,它支持顯微鏡的全部質(zhì)量。(2)鏡臂呈彎背形,下端與鏡座相連,上端與鏡筒連接。(3)載物臺水平旋轉(zhuǎn)的圓形平臺(4)鏡筒為長的圓筒,連接在鏡臂上,可以上升或下降,用以調(diào)節(jié)焦距。圖3-1江南廠XPT偏光顯微鏡三、偏光顯微鏡的構(gòu)造(二)光學系統(tǒng)組件(1)反光鏡是一面平一面凹的小圓鏡,可以任意轉(zhuǎn)動,以便對準光源,把光反射到顯微鏡的系統(tǒng)中。(2)下偏光鏡用偏光制成,位于反光鏡之上(3)鎖光圈在下偏光鏡之上,可以自由開合,用以控制光的透過量。(4)聚光鏡
有一組透鏡組成,位于鎖光圈上部。圖3-1江南廠XPT偏光顯微鏡三、偏光顯微鏡的構(gòu)造(5)物鏡
由若干組透鏡組成,主要起放大作用。每臺顯微鏡配數(shù)個倍率不同的物鏡。
(6)上偏光鏡
由偏光片制成,裝在物鏡的鏡筒里,其振動方向(AA)與下偏光振動方向垂直。
(7)目鏡位于鏡筒的最上端,目鏡中附有十字絲及微尺。常用的有5x、10x兩種等。圖3-1江南廠XPT偏光顯微鏡三、偏光顯微鏡的構(gòu)造(8)勃氏鏡
位于目鏡與上偏光鏡之間,由一個小凸透鏡構(gòu)成,主要配合目鏡起放大作用。
顯微鏡的放大倍率=目鏡的放大倍率×物鏡的放大倍率
圖3-1江南廠XPT偏光顯微鏡圖3-1江南廠XPT偏光顯微鏡三、偏光顯微鏡的構(gòu)造(三)附件常用附件有各種補色器,如石英楔、石膏試板、云母試板等;還有微尺,校正螺桿等。
第二章偏光顯微鏡的構(gòu)造一、偏光顯微鏡的型號二、偏光顯微鏡的基本性能三、偏光顯微鏡的構(gòu)造**四、偏光顯微鏡的光路系統(tǒng)五、偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)與校正*六、巖石薄片磨制方法簡介四、偏光顯微鏡的光路系統(tǒng)
偏光顯微鏡與一般顯微鏡的不同之處在于它有兩個偏光鏡和一個錐光鏡,這三件裝置與其他光學裝置的不同組合構(gòu)成不同的偏光系統(tǒng)。如單偏光系統(tǒng)、正交偏光系統(tǒng)和錐光系統(tǒng)。(一)單偏光系統(tǒng)
只使用下偏光鏡,不用上偏光鏡。用來觀察礦物的形態(tài)、解理、顏色、突起、糙面等。使用單偏光系統(tǒng)裝置的顯微鏡簡稱單偏光鏡。
四、偏光顯微鏡的光路系統(tǒng)(二)正交偏光系統(tǒng)上下偏光鏡同時使用,并使上、下偏光鏡的振動方向保持互相垂直。用來觀察礦物的消光性質(zhì)、干涉現(xiàn)象等。使用正交偏光系統(tǒng)裝置的顯微鏡簡稱正交偏光鏡。(三)錐光系統(tǒng)是在正交偏光鏡的基礎(chǔ)上,再加上聚光鏡和勃氏鏡(或去掉目鏡),并換用高倍物鏡,用以觀察礦物的干涉圖,測定礦物的軸性和光性符號等。使用錐光系統(tǒng)裝置的顯微鏡稱錐光鏡。
第二章偏光顯微鏡的構(gòu)造一、偏光顯微鏡的型號二、偏光顯微鏡的基本性能三、偏光顯微鏡的構(gòu)造**四、偏光顯微鏡的光路系統(tǒng)五、偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)與校正*六、巖石薄片磨制方法簡介五、偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)與校正在使用偏光顯微鏡之前,首先應將顯微鏡各個系統(tǒng)調(diào)節(jié)至標準狀態(tài),否則達不到觀察的目
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