萊迪思Nexus FPGA技術(shù)平臺在關(guān)鍵任務(wù)應(yīng)用中的優(yōu)勢

萊迪思NexusFPGA技術(shù)平臺在關(guān)鍵任務(wù)應(yīng)用中的優(yōu)勢工業(yè)、汽車、通信、航空航天和安防市場對關(guān)鍵任務(wù)（Mission-critical）應(yīng)用的需求越來越大。如今，萊迪思NexusTM技術(shù)平臺為用于關(guān)鍵任務(wù)（Mission-critical）應(yīng)用的FPGA提供了絕對的優(yōu)勢。引言（MPUvs.FPGA）如今的關(guān)鍵任務(wù)系統(tǒng)可能要求相當(dāng)大的算力。一種計算解決方案就是采用微處理器單元（MPU），例如PC和工作站。盡管這種處理器看似很強大，但實際上它們只執(zhí)行簡單的任務(wù)，例如將兩個數(shù)字相加或者比較兩個數(shù)字的大小。同樣，它們看似很快，是因為系統(tǒng)時鐘以2.4GHz或者更高頻率運行。問題的關(guān)鍵在于，盡管MPU可以很好地處理決策任務(wù)，在執(zhí)行很多數(shù)據(jù)處理任務(wù)時就不那么高效了。因此，MPU在執(zhí)行此類任務(wù)時往往功耗更大，產(chǎn)生熱量更多。在嵌入式應(yīng)用中實現(xiàn)信號和數(shù)據(jù)處理的更有效方法是采用現(xiàn)場可編程門陣列（FPGA）。FPGA受益于自身的并行架構(gòu)，能以低延遲并行執(zhí)行數(shù)據(jù)處理操作。正如專欄文章《FPGA基礎(chǔ)知識：FPGA是什么？為什么需要FPGA？》所述：“任何FPGA的核心都在于其可編程架構(gòu)，它以可編程邏輯模塊陣列的形式出現(xiàn)。每個邏輯模塊都包含多個要素：一個查找表（LUT）、一個多路開關(guān)和一個寄存器，所有這些都可以配置（編程）執(zhí)行用戶所需的功能。”圖1.通用FPGA可編程架構(gòu)（圖片來源：MaxMaxfield）一種更為形象的描述方法是將可編程邏輯視為可編程互連這片“海洋”中的“島嶼”。可編程邏輯模塊組可以經(jīng)過配置執(zhí)行所需的邏輯功能，而可編程互連則將邏輯模塊相互連接，并且連接到主要的通用輸入/輸出接口（GPIO）。需要注意的是，以上描述只是極端簡化的情況。除了可編程架構(gòu)之外，F(xiàn)PGA還可以包含相當(dāng)于數(shù)兆RAM的存儲模塊以及大量數(shù)字信號處理（DSP）單元。同樣，除了通用I/O外，F(xiàn)PGA還可以包括支持千兆位串行接口的高速SERDES模塊以及與外部存儲器連接的高速接口。FPGA廣為人知的一個主要原因是其可編程邏輯可以配置為以大規(guī)模并行方式執(zhí)行相應(yīng)的數(shù)據(jù)處理算法，這不僅比MPU快幾個數(shù)量級，而且功耗很低。此外，與算法“凍結(jié)在芯片中”的SoC不同，F(xiàn)PGA的設(shè)計可以隨時重新配置。此外，由于用戶IP由終端用戶自行編程，F(xiàn)PGA在制造時不包含任何用戶IP，這使得FPGA能夠在不受保護的供應(yīng)鏈中運輸，而不會造成用戶IP被盜竊或篡改。這一點也和SOC及ASIC不同。因此，F(xiàn)PGA是包括工業(yè)機器人和通信基礎(chǔ)設(shè)施設(shè)備在內(nèi)的關(guān)鍵任務(wù)系統(tǒng)的理想選擇。輻射的挑戰(zhàn)為了拓展容量、提高性能、降低功耗和成本，每一代新芯片的晶體管都變得越來越小。如今芯片中制造的結(jié)構(gòu)大小僅為幾十納米（nm）（一納米等于一米的十億分之一）。這些結(jié)構(gòu)非常微小，可能會受到地球上輻射的影響。此外，關(guān)鍵任務(wù)應(yīng)用的系統(tǒng)一般都部署在持續(xù)高水平輻射的環(huán)境中，包括高緯度地區(qū)甚至太空。對這類應(yīng)用而言，有兩種輻射效應(yīng)影響最為嚴(yán)重：單粒子效應(yīng)（SEE）和電離總劑量效應(yīng)（TID）。SEE是指由單個電離粒子（電子、質(zhì)子、離子、光子等）在集成電路中引起的即時效應(yīng)。處理SEE需要在輻射發(fā)生時能夠快速恢復(fù)。相比之下，由于長期暴露在輻射下不斷累積，TID最終會導(dǎo)致半導(dǎo)體晶格老化。典型的TID效應(yīng)包括晶體管開關(guān)閾值偏移、漏電流增加、性能下降以及最終導(dǎo)致功能故障。因此，解決TID需要長時間抵御輻射并能從中恢復(fù)。單粒子翻轉(zhuǎn)（SEU）是SEE的一種情形，指高能粒子撞擊微電路中的敏感節(jié)點并引起狀態(tài)變化。例如，SEU可能導(dǎo)致寄存器單元或存儲單元從邏輯0翻轉(zhuǎn)為邏輯1或由到0。與TID引起的問題不同，SEU被定義為“軟錯誤”，因為它可以被校正。圖2.時序邏輯中的單粒子翻轉(zhuǎn)（SEU）（圖片來源：MaxMaxfield）不幸的是，制程越來越先進會導(dǎo)致多單元翻轉(zhuǎn)（MCU）的趨勢愈發(fā)嚴(yán)重。這意味著，由于芯片中的結(jié)構(gòu)排列非常緊密，SEU實際上可能會使多個存儲元件發(fā)生邏輯翻轉(zhuǎn)。此外，多位翻轉(zhuǎn)（MBU）是指一種在同一數(shù)據(jù)字或幀內(nèi)出現(xiàn)的MCU，可能會對系統(tǒng)的糾錯能力產(chǎn)生負(fù)面影響。SEE的另一種形式是單粒子瞬態(tài)（SET），它是指輻射粒子影響一部分組合邏輯而形成脈沖（也稱為毛刺或尖峰）。圖3.組合邏輯中的單粒子瞬態(tài)（SET）（圖片來源：MaxMaxfield）SET本身并不會造成太大問題，因為通常在系統(tǒng)其他部分檢測到之前，它就已經(jīng)消失了。話雖如此，如果SET恰好發(fā)生在錯誤的時間，則可能在時鐘信號控制下進入寄存器元件或存儲單元中，這時它就會變?yōu)镾EU。另一個潛在的問題是單粒子鎖定（SEL），SEE會可能導(dǎo)致CMOS電路的電源和接地軌之間產(chǎn)生低阻抗通路（實際是短路）。如果發(fā)生這種情況，則需要立即對設(shè)備重啟（關(guān)閉電源然后再打開），防止對其造成嚴(yán)重?fù)p壞。不言而喻，在許多情況下重啟關(guān)鍵任務(wù)設(shè)備的電源可能會造成很多問題。對于FPGA還需要進一步考慮。FPGA除了寄存器元件和RAM單元之外，還包括用于配置可編程邏輯塊的配置單元、可編程互連和可編程通用I/O。并且不同的FPGA采用的配置單元技術(shù)也不盡相同。萊迪思提供基于SRAM的全新器件，該器件采用萊迪思NexusFPGA技術(shù)平臺開發(fā)，為實現(xiàn)用于執(zhí)行關(guān)鍵任務(wù)應(yīng)用的先進系統(tǒng)提供了絕對的優(yōu)勢。Nexus技術(shù)平臺萊迪思的Nexus技術(shù)平臺基于28納米FD-SOI工藝，為FPGA市場提供了巨大的差異化優(yōu)勢。FD-SOI工藝直接帶來兩大重要優(yōu)勢。首先，由于采用全耗盡型工藝，因此芯片本身具有很強的抗輻射能力。FD-SOI本質(zhì)上不受單粒子鎖定的影響，這意味著在關(guān)鍵任務(wù)應(yīng)用下無需停機，而通常則需要重啟電源才能解除這種狀態(tài)。第二個值得注意的優(yōu)勢是靈活性。通過改變基底的偏壓，用戶可以選擇采用高性能（HP）還是低功耗（LP）模式運行。此外，可以通過程序控制讓系統(tǒng)在兩個模式下實時切換。例如我們之前已經(jīng)討論過，當(dāng)輻射以高能粒子的形式穿過寄存器元件或存儲器單元時，就會出現(xiàn)單粒子翻轉(zhuǎn)，使半導(dǎo)體材料電離（產(chǎn)生電荷），形成短暫的電流脈沖。這種脈沖可能足以干擾到存儲的數(shù)據(jù)。觀察如圖4（a）所示的bulkCMOS工藝。輻射（紅色箭頭）穿過芯片生成一條電離路徑，隨之留下正負(fù)電荷。這些電荷隨后在入射點處聚集（藍色箭頭）。圖4.SEU對BulkCMOS工藝（a）和FD-SOI工藝（b）的影響比較相比之下，我們再來觀察如圖4（b）所示的FD-SOI工藝。在此情況下，由于氧化物層（黃色）下方的任何電荷都無法在敏感節(jié)點處聚集，因此，該氧化物層可以將生成的電荷隔離開來。較少的電荷意味著瞬態(tài)電流脈沖也較弱，也就不太可能使寄存器元件或存儲單元發(fā)生故障。之前提到的另一個潛在問題就是MCU和MBU，這兩種情況下單個粒子可能破壞多個存儲元件。在如圖5（a）所示的BulkCMOS工藝下，輻射（紅色箭頭）穿過芯片生成一條電離路徑，隨之留下正負(fù)電荷。除了在入射節(jié)點處聚集（藍色箭頭）外，這些電荷還可能在相鄰節(jié)點處聚集（紫色箭頭），從而導(dǎo)致MCU或MBU。圖5.BulkCMOS工藝（a）容易受到MCU和MBU的影響，而FD-SOI工藝（b）可以防止這些干擾相比之下，我們來考察一下圖5（b）所示的FD-SOI工藝。除了將入射節(jié)點與大部分生成的電荷隔離開外，掩埋的氧化物層（黃色）還極大地縮小了每個單元的敏感區(qū)域，讓單個粒子軌跡很難影響到多個數(shù)據(jù)位，從而大幅減少了MCU和MBU的發(fā)生。關(guān)鍵任務(wù)系統(tǒng)和安全系統(tǒng)的設(shè)計人員通常使用FIT（故障率）的概念。器件的FIT是指器件在十億（109）個小時的運行中可以預(yù)期的故障次數(shù)（例如，一個器件運行十億小時，1000個器件每個運行100萬小時，一百萬個器件每個運行1000小時，以此類推）。就28納米技術(shù)節(jié)點下采用BulkCMOS工藝的FPGA而言，其FIT約為100。相比之下，同樣是28納米制程，采用Nexus平臺FD-SOI工藝的萊迪思FPGA其FIT僅為1。這意味著Nexus平臺就將FIT降低了兩個數(shù)量級?；贜exus平臺的FPGA（例如LatticeCrossLink?-NX）提供了詳細(xì)的SEU描述報告，可用于估算輻射效應(yīng)導(dǎo)致的故障率。Nexus平臺憑借自身優(yōu)勢，讓基于該技術(shù)的FPGA真正脫穎而出，更好地服務(wù)于醫(yī)療、汽車、安防等領(lǐng)域。然而這僅僅是開始，因為萊迪思的使命是將FIT降低到幾乎為零，這可以通過強化FD-SOI工藝以及下面討論的技術(shù)實現(xiàn)。萊迪思NexusFPGA糾錯碼（ECC）存儲器是一種數(shù)據(jù)存儲方式，它可以檢測和校正任何內(nèi)部數(shù)據(jù)損壞，例如由輻射引起的數(shù)據(jù)損壞。由于SEU被稱為“軟錯誤”，從而有了軟錯誤檢測（SED）和軟錯誤校正（SEC）的概念。同時，內(nèi)存刷洗（MemoryScrubbing）是指從每個存儲位置讀取數(shù)據(jù)，使用糾錯碼校正位錯誤（如果有），然后將校正后的數(shù)據(jù)寫回到同一位置。內(nèi)存刷洗通常用于關(guān)鍵任務(wù)和安全系統(tǒng)以及易受高輻射環(huán)境影響的系統(tǒng)。設(shè)計人員通常必須自己來實現(xiàn)內(nèi)存刷洗功能，但這會消耗寶貴的可編程邏輯資源。相比之下，NexusFPGA已經(jīng)包括了專用的IP模塊，能夠在后臺自動執(zhí)行基于ECC的內(nèi)存刷洗功能。此外，NexusFPGA在配置存儲器中還內(nèi)置了SED/SEC模塊，從而在不需要外部電路的情況下逐幀進行快速檢測和錯誤校正。盡管此類錯誤很少見，但理論上仍是有可能的。如果輻射以某種方式導(dǎo)致配置單元狀態(tài)翻轉(zhuǎn)，此專用IP會將其翻轉(zhuǎn)回去。因此在萊迪思NexusFPGA中尚未觀察到不可糾正的SEU。底層工藝將理論FIT降低為1，這意味著仍有可能會遇到數(shù)位發(fā)生錯誤的情形，但受到影響的數(shù)位幾乎會立即恢復(fù)正常。雖然如此，但依然可能出現(xiàn)內(nèi)部SED/SEC引擎可能無法糾正錯誤的情況。第一種情況是出現(xiàn)多個單獨的SEU，其中兩個或多個粒子隨機擾亂同一數(shù)據(jù)幀內(nèi)的多個數(shù)位。第二情況是出現(xiàn)MBU，單個粒子使同一數(shù)據(jù)幀內(nèi)的兩個或多個數(shù)位出現(xiàn)異常。在分析Nexus平臺抵御MCU和MBU輻射影響時，要特別注意觀察這些效應(yīng)。這些測試證實了上述技術(shù)優(yōu)勢，表明單個粒子很少會影響到多個單元。此外，由于萊迪思的存儲器陣列設(shè)計，所有觀察到的MCU都出現(xiàn)在不同的數(shù)據(jù)幀中，從而可以通過SED/SEC引擎進行校正。除了使用真實輻射源測試NexusFPGA外，這些器件還提供能讓系統(tǒng)開發(fā)人員自行注入模擬輻射的機制。實際上，開發(fā)人員可以同步或異步輸入單位和多位錯誤。通過這些機制，開發(fā)人員可以驗證內(nèi)存刷洗功能和SED/SEC引擎的運作，以及器件是否正常運行并生成正確的數(shù)據(jù)，這樣可以確保器件和設(shè)計即便處于輻射密集的惡劣環(huán)境中也能夠按預(yù)期工作