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微電子器件電子科技大學(xué)微電子與固體電子學(xué)院張慶中總學(xué)時(shí)數(shù):72學(xué)時(shí)其中課堂講授:60學(xué)時(shí),實(shí)驗(yàn):12學(xué)時(shí)成績(jī)構(gòu)成:期末考試:70分、平時(shí):20分、實(shí)驗(yàn):10分緒論1、電子器件發(fā)展簡(jiǎn)史1904年:真空二極管1907年:真空三極管電子管1948年:雙極型晶體管1960年:實(shí)用的MOS場(chǎng)效應(yīng)管固體器件1956年:出現(xiàn)擴(kuò)散工藝,60年代初出現(xiàn)硅平面工藝,為今后集成電路的大發(fā)展奠定了技術(shù)基礎(chǔ)。1970年:大規(guī)模集成電路(LSI,103

~105

元件或102

~5×103

等效門)。1959年:中小規(guī)模集成電路(IC)。1977年:超大規(guī)模集成電路(VLSI,以64KDRAM、16位CPU

為代表)。1986年:巨大規(guī)模集成電路(ULSI,以4MDRAM為代表,

8×106元件,91mm2,0.8

m,150mm)。1995年:GSI(以1GDRAM為代表,2.2×109元件,700mm2,

0.18

m,200mm

,2000年開(kāi)始商業(yè)化生產(chǎn)。)

分析半導(dǎo)體器件的基本數(shù)學(xué)工具是基本半導(dǎo)體方程

,它們是從麥克斯韋方程組結(jié)合半導(dǎo)體的固體物理特性推導(dǎo)出來(lái)的。這些方程都是三維的,為此先復(fù)習(xí)一下場(chǎng)論的有關(guān)知識(shí):對(duì)于數(shù)量場(chǎng),對(duì)于矢量場(chǎng),

2、數(shù)學(xué)工具

所以泊松方程又可寫作:(1‘)

電子與空穴的連續(xù)性方程:

(2)(3)

上式中,R=U-G

,U、G

、R

分別為復(fù)合率、產(chǎn)生率和凈復(fù)合率。R>0表示凈復(fù)合,R<0表示凈產(chǎn)生。

基本半導(dǎo)體方程包含三組方程,它們分別是:

①泊松方程:

(1)

式中為靜電勢(shì),它與電場(chǎng)強(qiáng)度之間有如下關(guān)系:(8)(7)(6)

以上各方程均為微分形式。其中式(1)、(2)、(3)也可根據(jù)場(chǎng)論中的積分變換公式:而變?yōu)榉e分形式:③

電子與空穴的電流密度方程:

(4)(5)

上面的式(6)就是大家熟知的上式中為電位移。

在用基本半導(dǎo)體方程分析半導(dǎo)體器件時(shí),有兩條途徑,一條是用計(jì)算機(jī)求數(shù)值解。這就是通常所說(shuō)的半導(dǎo)體器件的數(shù)值模擬;另一條是求半導(dǎo)體方程的解析解,以得到解的封閉形式的表達(dá)式。但求解析解是非常困難的。一般需先對(duì)方程在一定的近似條件下加以簡(jiǎn)化后再求解。本課程討論第二條途徑。高斯定理:

式(7)、(8)稱為電子與空穴的電荷控制方程,它表示流出封閉曲面的電流受該曲面內(nèi)電荷的變化率與凈復(fù)合率所控制。(9‘)(10)(11)(12)(13)(9)3、基本半導(dǎo)體方程的簡(jiǎn)化與應(yīng)用舉例最重要的簡(jiǎn)化是三維形式的方程簡(jiǎn)化為一維形式,得到:

在此基礎(chǔ)上再根據(jù)不同的具體情況還可進(jìn)行各種不同形式的簡(jiǎn)化。

例1、對(duì)于方程(9‘),若在耗盡區(qū)中,可假設(shè)p=0,n=0,再如果在N型耗盡區(qū)中,還可忽略NA

,得:(14)

例2、對(duì)于方程(10),先簡(jiǎn)化凈復(fù)合率R。當(dāng)作如下假設(shè):(1)復(fù)合中心對(duì)電子與空穴有相同的俘獲截面;(2)復(fù)合中心的能級(jí)與本征費(fèi)米能級(jí)相等,則R

可表為:上式中,如果在P型區(qū)中,且滿足小注入條件,則:

(15)

同理在N型區(qū)中有:(16)

如果在穩(wěn)態(tài)情況下,即,則方程(10)可簡(jiǎn)化為:(17)于是得:

同理可得空穴的擴(kuò)散方程為:(20)

例4、將方程(18)代入方程(10),可得到電子的擴(kuò)散方程:(19)

例3、對(duì)于方程(12),當(dāng)電場(chǎng)很小而載流子濃度梯度很大時(shí),則漂移電流遠(yuǎn)小于擴(kuò)散電流,可忽略漂移電流,式(12)可簡(jiǎn)化為:(18)

上式中,,分別表示體積內(nèi)的電子總電荷量和非平衡電子總電荷量。

例5、對(duì)于方程(6),在N型耗盡區(qū)中可簡(jiǎn)化為;(21)

例6、對(duì)于方程(7):(7)

在P型區(qū)中且滿足小注入條件時(shí),,并經(jīng)積分后得:(22)

也可對(duì)積分形式的基本半導(dǎo)體方程進(jìn)行簡(jiǎn)化。

方程(22)~(25)是電荷控制模型中的常用公式,只是具體形式或符號(hào)視不同情況而可能有所不同。

同理對(duì)于N型區(qū)中的少子空穴,有:(25)(24)

穩(wěn)態(tài)時(shí):

穩(wěn)態(tài)時(shí),,上式可再簡(jiǎn)化為:(23)

分析半導(dǎo)體器件時(shí),應(yīng)先將整個(gè)器件分為若干個(gè)區(qū),然后在各個(gè)區(qū)中視具體情況對(duì)基本半導(dǎo)體方程做相應(yīng)的簡(jiǎn)化后進(jìn)行求解。求解微分方程還需要給

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