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文檔簡介
2023/9/2211.無生產(chǎn)線集成電路設(shè)計技術(shù)隨著集成電路發(fā)展的過程,其發(fā)展的總趨勢是革新工藝、提高集成度和速度。設(shè)計工作由有生產(chǎn)線集成電路設(shè)計到無生產(chǎn)線集成電路設(shè)計的發(fā)展過程。無生產(chǎn)線(Fabless)集成電路設(shè)計公司。如美國有200多家、臺灣有100多家這樣的設(shè)計公司。
引言2023/9/22
韓良22.代客戶加工(代工)方式芯片設(shè)計單位和工藝制造單位的分離,即芯片設(shè)計單位可以不擁有生產(chǎn)線而存在和發(fā)展,而芯片制造單位致力于工藝實現(xiàn),即代客戶加工(簡稱代工)方式。代工方式已成為集成電路技術(shù)發(fā)展的一個重要特征。
引言2023/9/22
韓良33.PDK文件首先,代工單位將經(jīng)過前期開發(fā)確定的一套工藝設(shè)計文件PDK(PocessDesignKits)通過因特網(wǎng)傳送給設(shè)計單位。PDK文件包括:工藝電路模擬用的器件的SPICE(SimulationProgramwithICEmphasis)參數(shù),版圖設(shè)計用的層次定義,設(shè)計規(guī)則,晶體管、電阻、電容等元件和通孔(VIA)、焊盤等基本結(jié)構(gòu)的版圖,與設(shè)計工具關(guān)聯(lián)的設(shè)計規(guī)則檢查(DRC)、參數(shù)提?。‥XT)和版圖電路對照(LVS)用的文件。
引言2023/9/22
韓良44.電路設(shè)計和電路仿真設(shè)計單位根據(jù)研究項目提出的技術(shù)指標(biāo),在自己掌握的電路與系統(tǒng)知識的基礎(chǔ)上,利用PDK提供的工藝數(shù)據(jù)和CAD/EDA工具,進(jìn)行電路設(shè)計、電路仿真(或稱模擬)和優(yōu)化、版圖設(shè)計、設(shè)計規(guī)則檢查DRC、參數(shù)提取和版圖電路圖對照LVS,最終生成通常稱之為GDS-Ⅱ格式的版圖文件。再通過因特網(wǎng)傳送到代工單位。
引言2023/9/22
韓良55.掩模與流片代工單位根據(jù)設(shè)計單位提供的GDS-Ⅱ格式的版圖數(shù)據(jù),首先制作掩模(Mask),將版圖數(shù)據(jù)定義的圖形固化到鉻板等材料的一套掩模上。一張掩模一方面對應(yīng)于版圖設(shè)計中的一層的圖形,另一方面對應(yīng)于芯片制作中的一道或多道工藝。在一張張掩模的參與下,工藝工程師完成芯片的流水式加工,將版圖數(shù)據(jù)定義的圖形最終有序的固化到芯片上。這一過程通常簡稱為“流片”。
引言2023/9/22
韓良6代工(Foundry)廠家很多,如:無錫上華(0.6/0.5mCOS和4mBiCMOS工藝)上海先進(jìn)半導(dǎo)體公司(1mCOS工藝)首鋼NEC(1.2/0.18mCOS工藝)上海華虹NEC(0.35mCOS工藝)上海中芯國際(8英寸晶圓0.25/0.18mCOS工藝)
引言6.代工工藝2023/9/22
韓良7代工(Foundry)廠家很多,如:宏力8英寸晶圓0.25/0.18mCMOS工藝華虹NEC8英寸晶圓0.25mCMOS工藝臺積電(TSMC)在松江籌建8英寸晶圓0.18mCMOS工藝聯(lián)華(UMC)在蘇州籌建8英寸晶圓0.18mCMOS工藝等等。
引言6.代工工藝2023/9/22
韓良87.境外代工廠家一覽表2023/9/22
韓良9F&F(FablessandFoundry)模式工業(yè)發(fā)達(dá)國家通過組織無生產(chǎn)線IC設(shè)計的芯片計劃來促進(jìn)集成電路設(shè)計的專業(yè)發(fā)展、人才培養(yǎng)、技術(shù)研究和中小企業(yè)產(chǎn)品開發(fā),而取得成效。這種芯片工程通常由大學(xué)或研究所作為龍頭單位負(fù)責(zé)人員培訓(xùn)、技術(shù)指導(dǎo)、版圖匯總、組織芯片的工藝實現(xiàn),性能測試和封裝。大學(xué)教師、研究生、研究機(jī)構(gòu)、中小企業(yè)作為工程受益群體,自愿參加,并付一定費(fèi)用。
引言8.芯片工程與多項目晶圓計劃2023/9/22
韓良108.芯片工程與多項目晶圓計劃RelationofF&F(無生產(chǎn)線與代工的關(guān)系)2023/9/22
韓良11多項目晶圓MPW(multi-projectwafer)技術(shù)服務(wù)是一種國際科研和大學(xué)計劃的流行方式。MPW技術(shù)把幾到幾十種工藝上兼容的芯片拼裝到一個宏芯片(Macro-Chip)上然后以步進(jìn)的方式排列到一到多個晶圓上,制版和硅片加工費(fèi)用由幾十種芯片分擔(dān),極大地降低芯片研制成本,在一個晶圓上可以通過變換版圖數(shù)據(jù)交替布置多種宏芯片。
引言8.芯片工程與多項目晶圓計劃2023/9/22
韓良12代工單位與其他單位關(guān)系圖2023/9/22
韓良13集成電路制造工藝分類1.雙極型工藝(bipolar)2.MOS工藝3.BiMOS工藝2023/9/22
韓良14§1-1
雙極集成電路典型的
PN結(jié)隔離工藝2023/9/22
韓良15
思考題1.需要幾塊光刻掩膜版(mask)?2.每塊掩膜版的作用是什么?3.器件之間是如何隔離的?4.器件的電極是如何引出的?5.埋層的作用?2023/9/22
韓良16
雙極集成電路的基本制造工藝,可以粗略的分為兩類:一類為在元器件間要做隔離區(qū)。隔離的方法有多種,如PN結(jié)隔離,全介質(zhì)隔離及PN結(jié)-介質(zhì)混合隔離等。另一類為器件間的自然隔離。典型PN結(jié)隔離工藝是實現(xiàn)集成電路制造的最原始工藝,迄今為止產(chǎn)生的各種雙極型集成電路制造工藝都是在此工藝基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的。2023/9/22
韓良1.1.1典型PN結(jié)隔離工藝流程埋層光刻襯底準(zhǔn)備氧化埋層擴(kuò)散生長外延隔離光刻基區(qū)光刻基區(qū)擴(kuò)散、再分布(氧化)隔離擴(kuò)散、推進(jìn)(氧化)發(fā)射區(qū)光刻發(fā)射區(qū)擴(kuò)散、氧化引線孔光刻淀積金屬光刻壓焊點(diǎn)氧化合金化及后工序反刻金屬淀積鈍化層2023/9/22
韓良181.1.1工藝流程P-Sub襯底準(zhǔn)備(P型)
光刻n+埋層區(qū)
氧化
n+埋層區(qū)注入
清潔表面2023/9/22
韓良19P-Sub1.1.1工藝流程(續(xù)1)
生長n-外延
隔離氧化
光刻p+隔離區(qū)
p+隔離注入
p+隔離推進(jìn)N+N+N-N-2023/9/22
韓良201.1.1工藝流程(續(xù)2)
光刻硼擴(kuò)散區(qū)P-SubN+N+N-N-P+P+P+
硼擴(kuò)散
氧化2023/9/22
韓良211.1.1工藝流程(續(xù)3)
光刻磷擴(kuò)散區(qū)
磷擴(kuò)散
氧化P-SubN+N+N-N-P+P+P+PP2023/9/22
韓良221.1.1工藝流程(續(xù)4)
光刻引線孔
清潔表面P-SubN+N+N-N-P+P+P+PP2023/9/22
韓良231.1.1工藝流程(續(xù)5)
蒸鍍金屬
反刻金屬P-SubN+N+N-N-P+P+P+PP2023/9/22
韓良241.1.1工藝流程(續(xù)6)
鈍化P-SubN+N+N-N-P+P+P+PP
光刻鈍化窗口
后工序2023/9/22
韓良251.1.2光刻掩膜版匯總埋層區(qū)
隔離墻
硼擴(kuò)區(qū)
磷擴(kuò)區(qū)
引線孔
金屬連線
鈍化窗口GNDViVoVDDTR2023/9/22
韓良261.1.3外延層電極的引出歐姆接觸電極:金屬與參雜濃度較低的外延層相接觸易形成整流接觸(金半接觸勢壘二極管)。因此,外延層電極引出處應(yīng)增加濃擴(kuò)散。BP-SubSiO2光刻膠N+埋層N–-epiP+P+P+SiO2N–-epiPPN+N+N+鈍化層N+CECEBB2023/9/22
韓良271.1.4埋層的作用1.減小串聯(lián)電阻(集成電路中的各個電極均從上表面引出,外延層電阻率較大且路徑較長。BP-SubSiO2光刻膠N+埋層N–-epiP+P+P+SiO2N–-epiPPN+N+N+鈍化層N+CECEBB2.減小寄生pnp晶體管的影響(第二章介紹)2023/9/22
韓良281.1.5隔離的實現(xiàn)1.P+隔離擴(kuò)散要擴(kuò)穿外延層,與p型襯底連通。因此,將n型外延層分割成若干個“島”。2.P+隔離接電路最低電位,使“島”與“島”之間形成兩個背靠背的反偏二極管。N+N+N--epiPN--epiPP-Sub(GND)P-Sub(GND)P-Sub(GND)BP-SubSiO2光刻膠N+埋層N–-epiSiO2P+P+P+SiO2N–-epiPPN+N+N+N+CECEBB鈍化層2023/9/22
韓良291.1.6練習(xí)1描述PN結(jié)隔離雙極工藝的流程及光刻掩膜版的作用;
2
說明埋層的作用。2023/9/22
韓良30§1.2
N阱硅柵CMOS集成電路制造工藝2023/9/22
韓良31
思考題1.需要幾塊光刻掩膜版?各自的作用是什么?2.什么是局部氧化(LOCOS)?
(LocalOxidationofSilicon)3.什么是硅柵自對準(zhǔn)(SelfAligned)?4.N阱的作用是什么?5.NMOS和PMOS的源漏如何形成的?2023/9/22
韓良322023/9/22
韓良332023/9/22
韓良1.2.1N阱硅柵CMOS工藝主要流程
(參考P阱硅柵CMOS工藝流程)場區(qū)光刻襯底準(zhǔn)備生長SiO2和Si3N4N阱光刻、注入、推進(jìn)生長SiO2和Si3N4N管場區(qū)光刻、注入閾值電壓調(diào)整區(qū)光刻、注入清潔有源區(qū)表面、長柵氧場區(qū)氧化(局部氧化)多晶淀積、參雜、光刻N(yùn)管LDD光刻、注入P+有源區(qū)光刻、注入P管LDD光刻、注入N+有源區(qū)光刻、注入BPSG淀積接觸孔光刻N(yùn)+接觸孔光刻、注入淀積金屬1、反刻淀積絕緣介質(zhì)通孔孔光刻淀積金屬2、反刻淀積鈍化層、光刻側(cè)墻氧化物淀積、側(cè)墻腐蝕2023/9/22
韓良351.2.2N阱硅柵CMOS工藝主要流程
1.襯底準(zhǔn)備P+/P外延片P型單晶片2023/9/22
韓良36P-Sub1.2.2N
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