材料分析測試方法黃新民課程教案

課程教案根據(jù)大綱要求《材料時64下：1、課時學(xué)時配課 2時論2章X射線質(zhì)4章X射6章法4章X射線用6章鏡4章射6章晶體析6章針6章介4章其它介4.：2時.，立系指。2學(xué)時.衍驗2.析2.理2.選區(qū)電子像2.針2次學(xué)：（0分）介紹材料分析測試技術(shù)在材料科學(xué)研究中的作用和應(yīng)用，介紹材料分析測試方法的發(fā)展歷史了本義科學(xué)向往。第一章X射線質(zhì)X射5）X射線的本質(zhì)（0分）X射線產(chǎn)生條件及X射線管（5）簡要介紹X射線誕生和發(fā)展歷史。講解電磁波譜及X射線的波長范圍。介紹X射質(zhì)和本質(zhì)詳細講解X射線產(chǎn)生條件及X射線管的構(gòu)造本節(jié)重點是X射線產(chǎn)生條件及X射線管部分的內(nèi)容，難點是從物理本質(zhì)上認識X射。次學(xué)：X射（0分（0；X（5（5（0分鐘，X線吸（5吸5分0，X射線譜連續(xù)譜和特征譜產(chǎn)生機理是本節(jié)重點講解的內(nèi)容。要講清楚X射特征譜的物理本質(zhì)產(chǎn)生機理作用和特征譜的命名方法等X射線與物質(zhì)的相互作用是另一個重點X射透徹。難點是電子、X。次學(xué)：X射（5靶5。X（0。章X射線向幾（5分5；本節(jié)課程著重講解X射線與物質(zhì)的相互作用后的強度衰減，這是X質(zhì)用的宏觀表現(xiàn)，是X射線透射學(xué)基礎(chǔ)。講清楚線吸收系數(shù)和質(zhì)量吸收系數(shù)的區(qū)別和作用；X射線與物質(zhì)的相互作用產(chǎn)生真吸收的本質(zhì)可以幫助我們進行選靶與濾波片的選擇這也是X光的。晶體幾何學(xué)過習(xí)比和同格。應(yīng)決方。次學(xué)：易（100程（0分；愛瓦爾德圖解（25；種射法10分鐘。第三章X射線度一個電子的衍射強度（5，的清續(xù)次量德程和衍解加射與空的系。次學(xué)：一個原子的衍射強度（55；射（0，度晶強衍晶楚是原度晶X射強度是多個晶體的衍射強度的集合，而每個晶體的衍射強度又是多個晶胞的衍射強度的集合等節(jié)晶與內(nèi)。次學(xué)：多性因（100分吸因10分度（10，末射度10鐘；積強度5鐘，結(jié)（5分鐘。循導(dǎo)射種些的后分度。講完前面內(nèi)容后將X射線衍射方向和強度問題結(jié)合起來，強調(diào)X體的大小和類型，X射線衍射強度則取決于晶體中原子位置與種類。因此X和合物容闡本本點狀因收。次學(xué)：第四章法（5；X5；照是的X射線衍射方法。本節(jié)課在介紹德拜相機后著重講述德拜照相法對試上θ角測樣。于射法是講射數(shù)。次學(xué)：儀方驗（15線化5鐘；數(shù)差（5（5分）講量數(shù)講心體指其難衍射續(xù)。點陣常數(shù)的精確測定主要講解點陣常數(shù)測量中的誤差來源及其主要影響因素和消除誤差的消處決。次學(xué)：第五章X析析析（5；衍的5；PDF引（5；定析5）本課講述X書用析的相射和。次學(xué)：定析0）章定X5（5，點是物相定量分析原理和直接比較法具使。X射線應(yīng)力測定講解殘余應(yīng)力的分類和范圍X射軸定中應(yīng)。第十一次課教學(xué)內(nèi)容：應(yīng)定0；實方法0分鐘衍（5力5）次力理平定理推得到X應(yīng)解X射線宏觀應(yīng)力測定的方法及其區(qū)別與特點。本次課程的難點是涉學(xué)的知識，要用彈性力學(xué)的知識結(jié)合X，淺清。第十二次課教學(xué)內(nèi)容：精及適0）章礎(chǔ)波磁（50）節(jié)首講完X注意事項。重點總結(jié)X射線衍射在材料科學(xué)中的實際應(yīng)用：點陣常數(shù)的精確測定，X物相分析和X射線宏觀應(yīng)力測定。告訴同學(xué)X射線衍射的實際應(yīng)用并非這些，還可以用于X實。應(yīng)其介的率點子。本次課程的重點是X。第十三次課教學(xué)內(nèi)容：鏡辨（0）透與0）章鏡（0分鐘（5分（0分，察錄統(tǒng)5；本次課程重點講清楚電的。在透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理的介紹結(jié)系統(tǒng)和成像與難與的像的。第十四次課教學(xué)內(nèi)容：散（0；辨（0）章術(shù)（0分）、型（0）理。率。作級講型顯工的。第十五次課教學(xué)內(nèi)容：厚度理20）術(shù)方相分（25。末品備5）章射電子衍射與X線0鐘；射格（0）型理物對子局限性。結(jié)合納米材料介紹粉末樣品的具體制備方法。講子與X射射布程強與X射衍同。第十六次課教學(xué)內(nèi)容：倒點陣0分鐘偏（0式20；（10常（0分鐘區(qū)（5磁轉(zhuǎn)（5；易及和衍本課有機射和現(xiàn)設(shè)。在和。第十七次課教學(xué)內(nèi)容：電的（5）電射5分（0，衍合X射花樣子體晶花的可的的未體構(gòu)復(fù)射的其中花。第十八次課教學(xué)內(nèi)容：（0分鐘（0分鐘（0分（0。十章體析（2分鐘；金屬薄膜樣品的制備（8）總衍列容區(qū)分類型和方法。難點是各種復(fù)雜衍射花樣的產(chǎn)生機理。概述度論比學(xué)度厚透衍襯。透品方制，分事。何選法。第十九次課教學(xué)內(nèi)容：襯像理35分鐘距（5分；學(xué)（0；襯新成直束程建學(xué)理，襯介是建公通強式討導(dǎo)消傾。第二十次課教學(xué)內(nèi)容：體陷析25分鐘層（5、、子0。本次課程首先在上次課程內(nèi)容的基礎(chǔ)上引進缺陷位移矢量R在理想晶體的衍射波振幅和強度公式的基礎(chǔ)上深入討論缺陷晶體和而引起的變化以及缺陷部位的襯度特征。課程的重點是導(dǎo)出缺陷晶體的衍射波振幅和強度公、粒振導(dǎo)分。十學(xué)：十章鏡的（0；電的工5；子要（5；生然微和各深應(yīng)。顯個顯認子、電。十學(xué)：貌其（5；數(shù)其（5。十章析探結(jié)作40鐘，本節(jié)課著重講解掃描電子顯微鏡的表面形貌襯度原理及其應(yīng)用、原子序數(shù)襯度原理及其應(yīng)種的都導(dǎo)學(xué)較區(qū)分，加深認識和理解?；碜语@微鏡的區(qū)別就是儀器探測的物理信號不同而已，對材料分析來說它們的分析內(nèi)容也就不同了。十學(xué)：探分及10鐘（0（25。十章它介離探針5）紹構(gòu)并實析者講和析點描材時獲準問的。微用結(jié)成子。十學(xué)：能子35）能（0）離顯鏡25）。子衍射層12個原子層它僅。俄歇電子能譜儀和低能電子衍射是目前其它分析儀器所不能取代的表面成分和結(jié)構(gòu)分析儀器構(gòu)重各分用性。十學(xué)：微（0