成像測井系列方法課件

成像測井方法簡介成像測井方法簡介

所謂成像測井技術(shù),就是井下采用傳感器陣列掃描或旋轉(zhuǎn)掃描測量,沿井眼縱向、周向或徑向大量采集地層信息，傳輸?shù)骄弦院笸ㄟ^圖象處理技術(shù)得到井壁的二維圖象或井眼周圍某一探測深度以內(nèi)的三維圖象。這比以往的曲線表示方法更精確、更直觀、更方便。成像測井儀器有別于數(shù)控測井儀器的特點(diǎn)，就在于成像測井儀器的設(shè)計(jì)都在某種程度上考慮了地層的復(fù)雜性和非均質(zhì)性。所謂成像測井技術(shù),就是井下采用傳感器陣列提綱:成像測井系統(tǒng)微電阻率掃描成像測井FMI陣列感應(yīng)成像測井AIT方位側(cè)向成象測井ARI聲波成象測井技術(shù)DSI,USI,XMAC核磁共振成像MRI,NPIT隨鉆電阻率成象提綱:成像測井系統(tǒng)第一節(jié)成象測井系統(tǒng)一、成像測井技術(shù)發(fā)展背景

1、模擬數(shù)字?jǐn)?shù)控成像

2、油氣藏在規(guī)模上趨于小型化在儲(chǔ)層物性及構(gòu)造形態(tài)上趨于復(fù)雜化第一節(jié)成象測井系統(tǒng)一、成像測井技術(shù)發(fā)展背景二、組成及技術(shù)特點(diǎn)成像測井地面儀器電纜遙傳系列井下儀器測井解釋工作站二、組成及技術(shù)特點(diǎn)成像測井地面儀器成像測井系列方法ppt課件

三、成象測井技術(shù)的發(fā)展趨勢成象測井技術(shù)處于迅速發(fā)展和不斷完善階段，發(fā)展趨勢集中于四個(gè)方面

(1)不斷發(fā)展復(fù)雜儲(chǔ)層解釋技術(shù)．提高定量解釋精度；

(2)根據(jù)油田勘探、開發(fā)需要．不斷改進(jìn)完善現(xiàn)存成象測井技術(shù)，研制法和新儀器；

(3)利用成象測井信息對油藏構(gòu)造、儲(chǔ)層結(jié)構(gòu)和流體分布進(jìn)行三彩kq質(zhì)描述：

(4)適應(yīng)大斜度井、水平井測井需求，繼續(xù)研究、開發(fā)隨鉆測井成象技術(shù)。三、成象測井技術(shù)的發(fā)展趨勢第二節(jié)微電阻率掃描成象測井第二節(jié)微電阻率掃描成象測井一、井壁微電阻率掃描成象測井的測量原理和測量響應(yīng)定性一、井壁微電阻率掃描成象測井的測量原理和測量響應(yīng)定性1、電扣幾何形狀、分辨率、采樣率之間關(guān)系分辨率：基于陣列電扣電極的井壁微電阻率掃描成象測井儀器的分辨率是指將儀器測量的微電導(dǎo)率映射地層特征的能力。比儀器分辨率大的地層特征可用幾個(gè)分辨率單位像素來表示，而比儀器分辨率小的地層特征只能表示成一個(gè)分辨率單位。采樣率：儀器的數(shù)據(jù)采樣率是儀器所要求的分辨率的函數(shù)1、電扣幾何形狀、分辨率、采樣率之間關(guān)系分辨率：基于陣列電扣結(jié)論一：(1)電扣越小，分辨率愈高，井壁微電阻率掃描圖象越清晰；(2)電扣越小，要求儀器靈敏皮越高；(3)電扣越小，電扣井壁之間泥餅厚度對分辨率影響愈大，電扣厚度應(yīng)和測并中多數(shù)泥餅厚度相匹配以保持較好的分辨宰，又不致受泥餅及極板和井壁微小貼合不緊密影響太大；(4)電扣周邊絕緣環(huán)帶寬度對儀器測量信噪比有影響。絕緣環(huán)帶愈寬，噪音愈低，信噪比愈大；(5)實(shí)驗(yàn)表明，分辨率是由電扣電極有效直徑?jīng)Q定的。所謂有效直徑是指從金屬電扣中心延伸到兩電扣電極之間絕緣環(huán)帶中點(diǎn)的兩倍。FMI、EMI、WDS三種井壁微電阻率掃描成象測井儀的儀器分辨率周向?yàn)?.2inch、垂向0.2inch(約5mm)結(jié)論一：(1)電扣越小，分辨率愈高，井壁微電阻率掃描圖象越清結(jié)論二：(1)第二排電扣在第—排電扣下，如圖1—2b所示。兩排電極中心距離是1．5倍電扣有效直徑

(2)儀器采樣數(shù)據(jù)是時(shí)間系列的。采樣是和遙測總線頻率同步的，每個(gè)電扣電極按62．5k的頻率采樣。儀器運(yùn)動(dòng)的速度用于將采樣數(shù)據(jù)從時(shí)間維轉(zhuǎn)換到深度維。速度越低，采樣密度越高。結(jié)論二：(1)第二排電扣在第—排電扣下，如圖1—2b所示。兩二、井壁微電阻率掃描成象測量的數(shù)據(jù)處理和成象兩個(gè)過程：第一個(gè)過程是將測量信息映射為井壁微電阻率圖象的成象過程；第二個(gè)過程是從新得到的井壁微電阻牢圖象中提取地層地質(zhì)特征。二、井壁微電阻率掃描成象測量的數(shù)據(jù)處理和成象兩個(gè)過程：第一過程：(1)自動(dòng)增益和最大電流校正(2)失效電扣檢測及補(bǔ)償(3)速度校正和電扣方位定位(4)均衡處理(5)電扣電流像素色彩或灰度等級刻度(6)圖象顯示第一過程：(1)自動(dòng)增益和最大電流校正第二過程

井壁微電阻率圖象代表沿井壁的地層電阻率非均質(zhì)特征變化，電阻率的變化可能是因?yàn)閹r性、孔隙結(jié)構(gòu)和泥質(zhì)含量變化所引起，沖洗帶的流體性質(zhì)、井壁不規(guī)則也存在某些影響。如果不知道巖石類型，就難于從井壁微電阻率圖象中提取有意義的信息。因此在開始進(jìn)行有意義的地質(zhì)特征提取之前，應(yīng)對比巖心，充分掌握地下地層已知信息，綜合分析其它測并資料，實(shí)現(xiàn)對并壁微電阻率圖象的地質(zhì)刻度，確定巖性、孔隙皮和泥質(zhì)含量變化對電導(dǎo)率的影響。井壁微電阻率掃描圖象的地質(zhì)應(yīng)用正在繼續(xù)開發(fā)，目前主要的應(yīng)用有：

(1)裂縫識別和評價(jià)；(2)進(jìn)行高分辨率薄層評價(jià)；窿)地層沉積環(huán)境分析；(4)地層層內(nèi)結(jié)構(gòu)分析和地質(zhì)構(gòu)造解釋；(5)幫助巖心定位和描述。第二過程井壁微電阻率圖象代表沿井壁的地層電阻第三節(jié)陣列感應(yīng)成象測井

第三節(jié)陣列感應(yīng)成象測井

一、感應(yīng)測井和陣列感應(yīng)測井測量原理

感應(yīng)測井是利用電磁感應(yīng)原理測量地層電導(dǎo)率，基本測量單元是雙線圈系，—個(gè)發(fā)射線圈和一個(gè)接收圈‘常規(guī)感應(yīng)測井采用復(fù)合線圈系結(jié)構(gòu)，根據(jù)電磁場的疊加原理，采用多個(gè)基本測量單元進(jìn)行組合，即多個(gè)發(fā)射線因和多個(gè)接收線圈進(jìn)行串聯(lián)，產(chǎn)生具有直藕信號近似為零的多個(gè)測量信號矢量疊加，實(shí)現(xiàn)硬件聚焦的效果，從而測量具有一種或兩種探側(cè)深度的地層電導(dǎo)率。一、感應(yīng)測井和陣列感應(yīng)測井測量原理

二、陣列感應(yīng)測井測量原理

斯侖貝謝公司的AIT陣列感府洲井儀器線圈系采用二線圈系結(jié)構(gòu)(一個(gè)發(fā)射，兩個(gè)接收基本單元)。它運(yùn)用了兩個(gè)雙線圈系電磁場疊加原理，實(shí)現(xiàn)消除直藕信號影響的目的，線圈系由八組基本接收單元組成，共用一個(gè)發(fā)射線圈，使用三種頻率同時(shí)工作，井下儀器測量多達(dá)28個(gè)原始實(shí)分量和虛分量信號，傳輸?shù)降孛娼?jīng)計(jì)算機(jī)處理，實(shí)現(xiàn)數(shù)字聚焦，得到三種縱向分辯率、五種探測深度的測井曲線(圖1—4)。為了消除井眼環(huán)境影響，也開發(fā)出了相應(yīng)軟件，在數(shù)字聚焦處理前進(jìn)行井眼環(huán)境校正。阿特拉斯公司的多道全數(shù)字頻譜感應(yīng)測井儀器由七個(gè)接收降列組成，同樣使用二線圈系為基本測量單元，采用八種頻率工作，共測量l12個(gè)原始實(shí)分量和虛分量信號。類似地，采用軟件進(jìn)行數(shù)字聚焦和環(huán)境校正，可獲得三種縱向分辨率、六種探測深度的測井曲線。二、陣列感應(yīng)測井測量原理斯侖貝謝公司的AIT陣三、陣列感應(yīng)測井解釋1．原狀地層電阻率Rt陣列感應(yīng)測井曲線是通過對陣列測量原始信息進(jìn)行井眼環(huán)境影響校正，然后進(jìn)行優(yōu)化合成，縱向分辨匹配、徑向探測深度逐漸增大的5條計(jì)算曲線。1)縱向分辨率2)探測深度探測深度定義為徑向積分響應(yīng)函數(shù)值為50％的位置3)徑向反演三、陣列感應(yīng)測井解釋1．原狀地層電阻率Rt2．侵入描述

1)直觀解釋對同一種縱向分辨率的一組測井曲線進(jìn)行直觀解釋．在非滲透層，不同探測深度的曲線應(yīng)重合。由于這幾組不同探測深度的測井曲線都是使用相同的感應(yīng)測量原理，這就明顯優(yōu)于常規(guī)感應(yīng)與微球組合測量的效果。感應(yīng)和微球測井曲線對比時(shí)，地層的各向異性和儀器響應(yīng)引起的差異會(huì)影響解釋結(jié)果。2．侵入描述

1)直觀解釋2)徑向電阻率變化用徑向響應(yīng)函數(shù)對一織縱向分辨率匹配的陣列感應(yīng)測井曲線進(jìn)行反褶積：3)徑向侵入及徑向飽和度

4)濾液體積分析2)徑向電阻率變化在進(jìn)行上述定量分析時(shí)．必須考慮以下幾點(diǎn)限制條件：1、當(dāng)侵人帶電阻率與原狀電阻率間的反差小時(shí)，電阻率測并不能很好地反映侵人情況；2、儀器響應(yīng)是在井眼周圍各個(gè)方位上的平均值，通常實(shí)際的井眼不是圓的，地層的侵入面在井眼的各個(gè)方位上很少均勻、這些都將產(chǎn)生不對稱的侵入面；3、井眼直徑突變以及Rt、Rxo反差很大時(shí)，會(huì)使地層界面處的解釋參數(shù)產(chǎn)生假象。在進(jìn)行上述定量分析時(shí)．必須考慮以下幾點(diǎn)限第四節(jié)方位側(cè)向成象測井

第四節(jié)方位側(cè)向成象測井

一、高分辨率方位側(cè)向測井電極系HALS一、高分辨率方位側(cè)向測井電極系HALS2．高分辨率測量利用軟件聚焦法的靈活性，通過改變監(jiān)督條件，可以計(jì)算深、淺探測深度的高分辨率電阻率2．高分辨率測量3．方位電阻率4．輔助測量3．方位電阻率二、方位側(cè)向測井的應(yīng)用

方位側(cè)向測井可用于裂縫評價(jià)、薄層分析、地層非均質(zhì)性評價(jià)價(jià)等。二、方位側(cè)向測井的應(yīng)用

方位側(cè)向第五節(jié)聲波成象測井技術(shù)聲波測井按測量方式可分為兩類：折射法與反射法。傳統(tǒng)的聲速和長源距聲波測并即為折射法測量，井下越聲電視測并則為反射法測量。第五節(jié)聲波成象測井技術(shù)聲波測井按測量方式可分一、超聲電視成象測井一、超聲電視成象測井成像測井系列方法ppt課件

2．測量原理超聲成象測井的聲源是圓片狀壓電陶瓷?？梢詫⒙曉吹穆晥隹闯墒菆A片上無限多個(gè)點(diǎn)聲源產(chǎn)生小聲場疊加的結(jié)果。通常定義聲壓幅度值衰減為聲軸方向聲壓幅度70％的方向的角度。這一角度對應(yīng)的波場寬度又稱為三分貝射束寬度，這一參數(shù)反映丁超聲成象的空間分辨率。換能器設(shè)計(jì)的原則盡可能使更多的能量匯集在—軟較小的面積內(nèi)。發(fā)射信號的性質(zhì)主要取決于換能器的直