第三章-準直和自準直課件

2023年8月15日光學檢測技術-測控技術1準直和自準直1激光束的準直和自準直2自準直法測量光學零件的平行度3自準直法測量曲率半徑和焦距2023年8月2日光學檢測技術-測控技術1準直和自準直1激12023年8月15日光學檢測技術-測控技術21激光束的準直和自準直1.1激光束的準直1.2激光束的自準直2023年8月2日光學檢測技術-測控技術21激光束的準直和22023年8月15日光學檢測技術-測控技術31.1激光束的準直采用倒裝的望遠系統(tǒng)實現(xiàn)光束準直2023年8月2日光學檢測技術-測控技術31.1激光束的準32023年8月15日光學檢測技術-測控技術42023年8月2日光學檢測技術-測控技術442023年8月15日光學檢測技術-測控技術5ForaGaussianbeam,thecomplexelectricfieldamplitudeisgivenbyristheradialdistancefromthecenteraxisofthebeam,zistheaxialdistancefromthebeam'snarrowestpoint(the"waist"),E0=|E(0,0)|,w(z)istheradiusatwhichthefieldamplitudeandintensitydropto1/eand1/e2oftheiraxialvaluesw0=w(0)isthewaistsize(describedinmoredetailbelow).Thefunctionsw(z),R(z),andζ(z)areparametersofthebeam,whichwedefinebelow.2023年8月2日光學檢測技術-測控技術5ForaGau52023年8月15日光學檢測技術-測控技術62023年8月2日光學檢測技術-測控技術662023年8月15日光學檢測技術-測控技術72023年8月2日光學檢測技術-測控技術772023年8月15日光學檢測技術-測控技術82023年8月2日光學檢測技術-測控技術882023年8月15日光學檢測技術-測控技術91.1激光束的準直零階貝塞爾光束2023年8月2日光學檢測技術-測控技術91.1激光束的準92023年8月15日光學檢測技術-測控技術10實現(xiàn)12023年8月2日光學檢測技術-測控技術10實現(xiàn)1102023年8月15日光學檢測技術-測控技術112023年8月2日光學檢測技術-測控技術11112023年8月15日光學檢測技術-測控技術122023年8月2日光學檢測技術-測控技術12122023年8月15日光學檢測技術-測控技術13實現(xiàn)1:軸錐鏡2023年8月2日光學檢測技術-測控技術13實現(xiàn)1:軸錐鏡132023年8月15日光學檢測技術-測控技術142023年8月2日光學檢測技術-測控技術14142023年8月15日光學檢測技術-測控技術152023年8月2日光學檢測技術-測控技術15152023年8月15日光學檢測技術-測控技術162023年8月2日光學檢測技術-測控技術16162023年8月15日光學檢測技術-測控技術172023年8月2日光學檢測技術-測控技術17172023年8月15日光學檢測技術-測控技術182023年8月2日光學檢測技術-測控技術18182023年8月15日光學檢測技術-測控技術191激光束的準直和自準直1.1激光束的準直1.2激光束的自準直2023年8月2日光學檢測技術-測控技術191激光束的準直192023年8月15日光學檢測技術-測控技術201.2激光束的自準直平面鏡反射-平面波相位共軛面-任意波2023年8月2日光學檢測技術-測控技術201.2激光束的202023年8月15日光學檢測技術-測控技術21平面鏡反射-平面波2023年8月2日光學檢測技術-測控技術21平面鏡反射-平面212023年8月15日光學檢測技術-測控技術22相位共軛面-任意波2023年8月2日光學檢測技術-測控技術22相位共軛面-任意222023年8月15日光學檢測技術-測控技術23相位共軛面-任意波布里淵散射1四波混頻1B.Ya.Zel’dovich,V.I.Popovichev,V.V.RagulskiiandF.S.Faisullov,“ConnectionbetweenthewavefrontsofthereflectedandexcitinglightinstimulatedMandel’shtamBrillouinscattering,”

Sov.Phys.JETP,15,109(1972)2023年8月2日光學檢測技術-測控技術23相位共軛面-任意232023年8月15日光學檢測技術-測控技術24四波混頻2023年8月2日光學檢測技術-測控技術24四波混頻242023年8月15日光學檢測技術-測控技術25四波混頻2023年8月2日光學檢測技術-測控技術25四波混頻252023年8月15日光學檢測技術-測控技術26準直和自準直1激光束的準直和自準直2自準直法測量光學零件的平行度3自準直法測量曲率半徑和焦距2023年8月2日光學檢測技術-測控技術26準直和自準直1262023年8月15日光學檢測技術-測控技術272自準直法測量光學零件的平行度2.1介紹2.2測試原理2.3反射棱鏡的平行度測量2023年8月2日光學檢測技術-測控技術272自準直法測量272023年8月15日光學檢測技術-測控技術282.1介紹2023年8月2日光學檢測技術-測控技術282.1介紹282023年8月15日光學檢測技術-測控技術292.2測試原理2023年8月2日光學檢測技術-測控技術292.2測試原理292023年8月15日光學檢測技術-測控技術302.3反射棱鏡的平行度測量DI-902023年8月2日光學檢測技術-測控技術302.3反射棱鏡302023年8月15日光學檢測技術-測控技術31第一光學平行度：在入射光軸界面內(nèi)，角度誤差造成的。第二光學平行度：垂直于入射光軸界面，棱差造成。問題:45度角那個大?那個小?2023年8月2日光學檢測技術-測控技術31第一光學平行度：312023年8月15日光學檢測技術-測控技術32DII-1802023年8月2日光學檢測技術-測控技術32DII-180322023年8月15日光學檢測技術-測控技術3390角?是大于90度還是小于90度?調視度:正視度,雙像靠近則大于90度,反之小于90度.半邊遮擋:同邊的雙像消失則大于90度,反之,小于90度2023年8月2日光學檢測技術-測控技術3390角?是大于9332023年8月15日光學檢測技術-測控技術34DIIJ-902023年8月2日光學檢測技術-測控技術34DIIJ-90342023年8月15日光學檢測技術-測控技術352023年8月2日光學檢測技術-測控技術35352023年8月15日光學檢測技術-測控技術3690角?是大于90度還是小于90度?半邊遮擋:同邊的雙像消失則大于90度,反之,小于90度2023年8月2日光學檢測技術-測控技術3690角?是大于9362023年8月15日光學檢測技術-測控技術37DII-180(角錐棱鏡)35.16度54.44度要求,直角具有高準確度2023年8月2日光學檢測技術-測控技術37DII-180(372023年8月15日光學檢測技術-測控技術38補償棱鏡法OABC2023年8月2日光學檢測技術-測控技術38補償棱鏡法OAB382023年8月15日光學檢測技術-測控技術39斜入射法:OABC2023年8月2日光學檢測技術-測控技術39斜入射法:OA392023年8月15日光學檢測技術-測控技術40準直和自準直1激光束的準直和自準直2自準直法測量光學零件的平行度3自準直法測量曲率半徑2023年8月2日光學檢測技術-測控技術40準直和自準直1402023年8月15日光學檢測技術-測控技術413自準直法測量曲率半徑和焦距自準直法測量曲率半徑自準直法測量物鏡焦距和頂焦距2023年8月2日光學檢測技術-測控技術413自準直法測量412023年8月15日光學檢測技術-測控技術42簡介自準直望遠系統(tǒng)自準直顯微系統(tǒng)2023年8月2日光學檢測技術-測控技術42簡介自準直望遠系422023年8月15日光學檢測技術-測控技術43測量曲率半徑測試原理2023年8月2日光學檢測技術-測控技術43測量曲率半徑測試432023年8月15日光學檢測技術-測控技術44測量曲率半徑測試方法:先測球心還是頂點?頂點受不受待測球面傾斜影響?如何找到球心凹面和凸面的測量范圍?實際測試中多個像的區(qū)別?2023年8月2日光學檢測技術-測控技術44測量曲率半徑測試442023年8月15日光學檢測技術-測控技術45自準直法測量物鏡焦距和頂焦距2023年8月2日光學檢測技術-測控技術45自準直法測量物鏡452023年8月15日光學檢測技術-測控技術46測量誤差:兩