MS9710C光譜分析儀使用培訓(xùn)課件

光譜分析儀使用培訓(xùn)毛贏2017-6-6光譜分析儀使用培訓(xùn)毛贏主要內(nèi)容1，中心波長的測試2，邊模抑制比3，最大-20db譜寬4，最大均方根譜寬5，WDM模式測試6，光放模式測試7，插損測試8，隔離度測試主要內(nèi)容1，中心波長的測試光譜儀原理光譜儀器是進(jìn)行光譜研究和物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析，利用光學(xué)色散原理及現(xiàn)代先進(jìn)電子技術(shù)設(shè)計(jì)的光電儀器。它的基本作用是測量被研究光（所研究物質(zhì)反射、吸收、散射或受激發(fā)的熒光等）的光譜特性，包括波長、強(qiáng)度等譜線特征一般光譜儀器都可分成四部分組成:光源和照明系統(tǒng)，分光系統(tǒng)，探測接收系統(tǒng)和傳輸存儲(chǔ)顯示系統(tǒng)光譜儀原理光譜儀器是進(jìn)行光譜研究和物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析，利用光學(xué)色散光譜儀結(jié)構(gòu)框圖光譜儀結(jié)構(gòu)框圖光譜儀結(jié)構(gòu)框圖光譜儀結(jié)構(gòu)框圖安立MS9710介紹安立MS9710介紹安立MS9710介紹安立MS9710介紹安立MS9710介紹安立MS9710介紹常用設(shè)置AutoMeasure”或者“Single”、“Repeat”可以把光源掃入光譜分析儀中。用“AutoMeasure”掃入光源時(shí)，光譜分析儀自動(dòng)根據(jù)輸入光譜的波長和功率調(diào)整調(diào)節(jié)橫坐標(biāo)比例Span等選項(xiàng)，并把光譜主縱模放置在屏幕中間；Single、Repeat只是把光譜掃入儀器，不改變?cè)O(shè)置，Single是單步掃描，Repeat是重復(fù)掃描方式。掃描的時(shí)候都可以按“STOP”鍵停止。常用設(shè)置AutoMeasure”或者“Single”、“R設(shè)置MS9710橫坐標(biāo)：波長（nm）&頻率（THz）Wavelegth>MkrvalueW1/Freq縱坐標(biāo)：光功率（dB）&(uw)LevelScale>Log（/Div）/LevelScale>LinearLevel；儀器分辨率：Res/VBW/Avg>Res視頻分辨率：Res/VBW/Avg>VBW內(nèi)置衰減：LevelScale>AttOff/On(Attoff時(shí)為10db,為ON時(shí)是20DB)測試范圍：波長600nm～1750nm，光功率<20dB設(shè)置MS9710橫坐標(biāo)：波長（nm）&頻率（THz）測試范圍安立MS9710介紹安立MS9710介紹安立MS9710介紹安立MS9710介紹儀表校準(zhǔn)（功率&波長）功率校準(zhǔn)：w可調(diào)光源輸出1.3um或1.55um光源，衰減到-23dBmwCal>AutoAlign進(jìn)行光坐標(biāo)自動(dòng)校準(zhǔn)wRepeat重復(fù)掃描，顯示峰值功率。wCal>LevelOffset”校準(zhǔn)峰值功率為－23dBm。波長校準(zhǔn)：（內(nèi)部校準(zhǔn)）wCal>AutoAlign進(jìn)行光坐標(biāo)自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)w面板上OUTPUT打開參考光源wCal>W1Cal（Ref），按“execute”進(jìn)行校準(zhǔn)

波長校準(zhǔn)：（外部校準(zhǔn)）w可調(diào)光源輸出1.3um或1.55um標(biāo)準(zhǔn)波長光源wCal>AutoAlign進(jìn)行光坐標(biāo)自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)wRepeat重復(fù)掃描wCal>W1Offset進(jìn)行校準(zhǔn)儀表校準(zhǔn)（功率&波長）功率校準(zhǔn)：波長校準(zhǔn)：（內(nèi)部校準(zhǔn)）中心波長的測試中心波長的測試中心波長的測試工作波長的測試方法工作波長指的是主縱模最大功率跌落3dB處的中心波長。測試步驟：1，打開儀表，接上光纖，按下“AutoMeasure”按鈕，讓儀表自動(dòng)掃入光譜。（在測試工作波長之前，最好對(duì)光譜分析儀進(jìn)行波長校準(zhǔn)）。2，調(diào)節(jié)Wavelength下面的Span以及LevelScale下面的Log（/Div），在屏幕上清晰顯示被測光譜。3，選擇波長的單位：Wavelegth>MkrvalueW1/Freq是以nm為波長的單位；Wavelegth>MkrvalueW1/Freq是以THZ為波長的單位。

4，選擇“Analysis”選項(xiàng)（如果沒有，可以不斷地按下界面上返回圖標(biāo)對(duì)應(yīng)的按鈕F8進(jìn)行翻頁，直至它出現(xiàn)為止。如果您按“Analysis”對(duì)應(yīng)的按鍵，儀表發(fā)出“咚”的提示聲，并不能進(jìn)入Analysis界面時(shí)，不要奇怪，MSC9710C光譜分析儀處在“Application”界面時(shí)，不能同時(shí)進(jìn)入“Analysis”，此時(shí)您只要返回“Application”界面，按一下儀表右下角“off”，關(guān)閉Application窗口即可。），進(jìn)入“Analysis”界面后，按下“Threshold”對(duì)應(yīng)的按鈕，選擇3dB，屏幕上顯示的對(duì)應(yīng)的值是工作波長。中心波長的測試工作波長的測試方法邊模抑制比（SMSR）的測試邊模抑制比（SMSR）的測試邊模抑制比（SMSR）的測量

定義：SMSR定義為主縱模（M1）的平均光功率與最顯著的邊模（M2）的光功率之比的最小值，用公式表示為第一種方法：

1，打開儀表，接上光纖，按下“AutoMeasure”按鈕，讓儀表自動(dòng)掃入光譜。

2，調(diào)節(jié)Wavelength下面的Span以及LevelScale下面的Log（/Div），在屏幕上清晰顯示被測光譜。

3，選擇“Analysis”選項(xiàng)，進(jìn)入“Analysis”界面后，選擇“SMSR”對(duì)應(yīng)的按鍵，進(jìn)入SMSR測試界面，然后選擇屏幕右邊選項(xiàng)“2nd”對(duì)應(yīng)的按鍵f1。屏幕上顯示的對(duì)應(yīng)的值就是最小邊模抑制比（SMSR）。

第二種方法：選擇“Application”選項(xiàng)，按下界面下的DFB-LDTest對(duì)應(yīng)的按鈕，此時(shí)可以直接從屏幕上讀出SMSR。邊模抑制比（SMSR）的測量定義：SMSR定義為最大－20dB譜寬最大－20dB譜寬最大－20dB譜寬的測量

定義：主縱模中心波長的最大峰值功率跌落-20dB時(shí)的光譜最大全寬

測試步驟：

1，打開儀表，接上光纖，按下“AutoMeasure”按鈕，讓儀表自動(dòng)掃入光譜。

2，調(diào)節(jié)Wavelength下面的Span以及LevelScale下面的Log（/Div），在屏幕上清晰顯示被測光譜。

3，選擇“Application”選項(xiàng)，按下界面下的DFB-LDTest對(duì)應(yīng)的按鈕，然后按下nBWidth，用數(shù)值鍵或Knob輸入20，-20dBWidth后面對(duì)應(yīng)的數(shù)值就是-20dB譜寬，如圖所示。最大－20dB譜寬的測量定義：主縱模中心波長的最大峰值最大均方根譜寬最大均方根譜寬最大均方根譜寬

定義：

最大均方根譜寬是度量光脈沖能量的集中程度，對(duì)于多縱模激光器和發(fā)光二極管這樣光能量比較分散的光源的，采用最大均方根譜寬來表征其光譜寬度。（有時(shí)會(huì)用FWHM來表征此指標(biāo)，F(xiàn)WHM=2.35б）測試步驟：1，打開儀表，接上光纖，按下“AutoMeasure”按鈕，讓儀表自動(dòng)掃入光譜。2，選擇波長的單位：Wavelegth>MkrvalueW1/Freq是以nm為波長的單位；頦avelegth>MkrvalueW1/Freq是以THZ為波長的單位。

3，選擇“Analysis”選項(xiàng)，這時(shí)出現(xiàn)測量參數(shù)的界面，按下界面上的“RMS”對(duì)應(yīng)的按鈕，按界面上的“=1.00б”對(duì)應(yīng)的按鈕，界面上會(huì)出現(xiàn)“k〥：”的文字，它后面跟著的就是光源的最大方均根譜寬。最大均方根譜寬定義：最大均方根譜寬是度量光脈沖能量WDM模式測試WDM模式測試WDM模式測試

在DWDM方式下需測試的項(xiàng)目有：波長、功率、平坦度和信噪比，測試步驟：

1，調(diào)整光譜分析儀的顯示波長范圍和縱坐標(biāo)比例，將需要測試的波長顯示在屏幕中間

2，選擇Application>WDM>Single，把被測光譜掃入光譜分析儀

3，DisplayMode>SNR選擇信噪比顯示方式（在屏幕上顯示峰值波長、功率和信噪比），每一波長的波長、功率和信噪比SNR分別顯示在屏幕上。

4，平坦度是指每通道最大功率與最小功率的差值。WDM模式測試在DWDM方式下需測試的項(xiàng)目有：光放模式測試光放模式測試光放模式測試

光放需用光譜分析儀的測試項(xiàng)目有：增益Gain、噪聲系數(shù)NF、增益平坦度。測試步驟：

1，按下Application---pt.AmpTest進(jìn)入光放測試程序，

2，接著把未經(jīng)光放的光源插入光譜分析儀的測試孔，選擇MemoryPin/Pout，按下Single把光源掃入光譜分析儀中；

3，然后把經(jīng)光放放大后的光源插入測試孔，選擇MemoryPin/Pout，按下Single掃入光譜，調(diào)整光譜分析儀的顯示波長范圍和縱坐標(biāo)比例，將需要測試的波長顯示在屏幕的中間，

4，此時(shí)屏幕上就會(huì)顯示測試數(shù)據(jù)，NF（S-ASE）后面跟隨的數(shù)據(jù)是噪聲系數(shù)（NoiseFigure)，Gain后面跟隨的數(shù)據(jù)是增益（Gain)（如圖所示）。當(dāng)輸入光放有多個(gè)波長時(shí)，所有波長中增益最大值與最小值的差就是增益平坦度。光放模式測試光放需用光譜分析儀的測試項(xiàng)目有：增益插損測試插損測試插損測試

插損的測試測試插損一般用到Traces和Marker功能。測試步驟：1,把未經(jīng)器件的光源輸入光譜分析儀的測試孔，選擇Traces>ActiveA>Signle，把光源掃入光譜分析儀，調(diào)整光譜分析儀的顯示波長范圍和縱坐標(biāo)比例，將需要測試的波長顯示在屏幕中間，并按MemoryA對(duì)應(yīng)的鍵把光譜保存在MemoryA中。

2，把經(jīng)過無源光器件輸出的光輸入光譜分析儀的測試孔，選擇MemoryB

3，選擇TraceA﹠B，按Signle掃入光譜，此時(shí)屏幕上就會(huì)二條光譜（如圖所示），一是光源，二是經(jīng)無源光器件后的輸出光譜。

4，選擇Marker，然后移動(dòng)LMkr_C和LMkr_D，使LMkr_C和LMkr_D分別對(duì)齊兩光譜的頂點(diǎn)，如圖所示，屏幕上顯示的C-D的值是插損。插損測試插損的測試隔離度測試隔離度測試隔離度測試

測試隔離度（串?dāng)_）一般用到Trace、Overlap和Marker功能。這里以測試分波器的相鄰兩通道的隔離度為例，介紹一下隔離度的測試方法。測試步驟

1，選擇Graph>Overlap，使光譜分析儀工作在Overlap（重疊）方式下。

2，把寬譜光源輸入分波器的IN口。

3，把分波器一通道的輸出光譜輸入光譜分析儀的測試孔，選擇Signal，把光源掃入光譜分析儀。4，把分波器另一個(gè)相鄰?fù)ǖ赖妮敵龉庾V輸入光譜分析儀的測試孔，選擇Signal，把光源掃入光譜分析儀。

5，調(diào)節(jié)Wavelength下面的Span以及LevelScale下面的Log（/Div），在屏幕上清晰顯示