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文檔簡介
材料研究與測試方法學習通超星課后章節(jié)答案期末考試題庫2023年1HMNR譜中各峰的面積比等于其相應的氫原子數(shù)之比。
參考答案:
正確
DTA曲線中某反應熱效應峰的反應最大速率發(fā)生在()
參考答案:
峰頂前某點
DTA曲線中的反應峰的峰頂溫度表示()
參考答案:
試樣與參比物間的溫差最大
SEM隨著放大倍數(shù)的提高,電子直徑()
參考答案:
變細,強度增強
SEM中電子束斑的直徑越細,相應的成像分辨率
參考答案:
愈高
SEM掃描線圈的作用是()
參考答案:
使電子束發(fā)生偏轉,并在樣品表面實現(xiàn)光柵掃描和角柵掃描
SEM的試樣要求是()
參考答案:
導電
STEM用電子束在樣品表面掃描進行微觀形貌分析時,探測器置于()
參考答案:
試樣下方,接受透射電子束流熒光成像
TMS中12個氫核化學位移完全相同,譜圖中只出現(xiàn)一個尖峰,易于作標準。
參考答案:
正確
X射線衍射分析可以獲得()
參考答案:
物相結構信息
X射線衍射花樣()
參考答案:
反映晶體中的晶胞大小、點陣類型、原子種類、原子數(shù)目和原子排列等規(guī)律。
X射線衍射花樣的衍射特征,即()
參考答案:
衍射峰的數(shù)目、峰位和強度。
一個孤立原子的總的散射截面為原子核的彈性散射截面σn和所有核外電子的非彈性散射截面Zσe的和:σ=σn+Zσe,則彈性散射截面與非彈性散射截面的比值為()
參考答案:
Z
一個孤立原子鐘,彈性散射所占份額為()
參考答案:
Z/1+Z
不能用于晶格常數(shù)測量的方法是()
參考答案:
K值法
中心暗場操作需由()
參考答案:
物鏡光闌+偏置線圈共同完成
中間鏡光闌(選區(qū)光闌)位于()
參考答案:
中間鏡的物平面上或者物鏡的像平面上
為了使點陣常數(shù)的測量誤差最小,θ應取0o~90o中的()
參考答案:
90o
為了保證選區(qū)精度,選區(qū)衍射是要求()C
參考答案:
選區(qū)光闌面、物鏡的像平面和中間鏡的物平面三者重合
人眼分辨率約為()
參考答案:
0.2mm
任何影響電子云分布的因素都將影響其化學位移。
參考答案:
正確
偏置線圈可()
參考答案:
實現(xiàn)電子束的平移和傾斜
像散是()
參考答案:
由于形成透鏡的磁場非旋轉對稱引起的
光學顯微鏡分辨率為()
參考答案:
1000倍
光學顯微鏡分辨率的制約因素是()
參考答案:
衍射效應
減小球差的方法()
參考答案:
減小球差系數(shù)和減小孔徑半角,尤其是孔徑半角
分辨率主要取決于照明光源的()
參考答案:
波長,半波長是分辨率的理論極限
分辨率是指()
參考答案:
能夠分辨清楚的兩點間的最短距離
利用特征X射線波長和原子序數(shù)之間的對應關系(莫塞萊公示),能獲得材料的()
參考答案:
元素信息
半高寬法一般適用于()
參考答案:
尖銳峰
參比物在測定的溫度范圍內(
)
參考答案:
不可以發(fā)生任何熱效應
雙聚光鏡系統(tǒng)中,聚光鏡光闌通常位于第二聚光鏡的()
參考答案:
后焦面上
合金的譜分析()
參考答案:
僅能給出該合金組成元素的種類和相對含量,卻不能給出合金相的種類和相對含量。
在透鏡的上下極靴之間安裝消像散器()
參考答案:
可基本上消除像散
完成明、暗場像操作的光闌是()
參考答案:
物鏡光闌
完成選區(qū)衍射的光闌是()
參考答案:
中間鏡光闌
對于一定的?θ,當θ愈大,晶格常數(shù)的測量精度()
參考答案:
愈高
對于同一個θ時,?θ愈小,晶格常數(shù)的測量誤差()
參考答案:
愈小
峰頂法適合于()
參考答案:
尖銳峰
差熱分析(DTA)是指在程序控溫下,測量試樣物質與參比物
隨溫度或者時間變化的一種技術()
參考答案:
溫差
差熱分析法的英文縮寫為()
參考答案:
DTA
差示掃描量熱(DSC)是指()
參考答案:
在程序控溫下,測量單位時間內輸入到樣品和參比物之間的能量差(或功率差)隨溫度變化的一種技術
差示掃描量熱法的英文縮寫為()
參考答案:
DSC
當入射電子與核外電子的作用為主要過程時,入射電子被散射后其能量將顯著減小是一種()
參考答案:
非彈性散射
影響氫核化學位移的因素有哪些?
參考答案:
誘導效應共軛效應各向異性效應氫鍵
影響精確測量點陣常數(shù)的關鍵因素()
參考答案:
sinθ
微商熱重分析法的英文縮寫為
參考答案:
DTA
掃描電鏡與電子探針結合可實現(xiàn)對試樣的()
參考答案:
成分和形貌的綜合分析
掃描電鏡與透射電鏡的照明光源是()B
參考答案:
電子波
掃描電鏡中的電磁透鏡()
參考答案:
均不是成像用的,只是將將電子束斑(虛光源)聚焦縮小
掃描電鏡用于形貌分析的物理信號是()
參考答案:
二次電子、背散射電子
掃描電鏡的景深()
參考答案:
大,且可變
掃描電鏡的末級透鏡(物鏡)的焦距()
參考答案:
弱透鏡,焦距焦長
拋物線擬合法特別適用于()
參考答案:
漫?峰
提高加速電壓的穩(wěn)定性,可使色差()
參考答案:
減小甚至消除
提高升溫速率,可使熱效應峰()
參考答案:
向高溫方向移動
改變勵磁電流可改變電磁透鏡的()
參考答案:
焦距,僅在正焦距中變動
無熱效應時,?T=0,差熱線應是()
參考答案:
水平線
景深增加,樣品上各微處的結構細節(jié)()
參考答案:
更清晰可見
景深是指()
參考答案:
像平面固定,在保證像清晰的前提下,物平面沿著光軸可以前后移動的最大距離;
極靴和帶縫隙軟磁鐵可使電磁透鏡的磁場強度分布()
參考答案:
更加集中到縫隙四周
樣品臺()
參考答案:
可使樣品在極靴內平移、平移、旋轉,進行有效觀察和分析
根據發(fā)生散射前后電子能量的是否變化,電子散射分為()
參考答案:
彈性散射和非彈性散射
根據電子的波動特性,可以將電子散射分為()
參考答案:
相干散射和非相干散射
波譜儀是通過
對不同波長的特征X射線進行展譜的。()
參考答案:
分光晶體
點陣常數(shù)的測量誤差是指測量的()
參考答案:
偶然誤差
熱效應在實際差熱曲線上為曲線峰()
參考答案:
對稱曲線峰
熱效應在理想差熱曲線上表現(xiàn)為()
參考答案:
折線峰
焦長增加,成像操作()
參考答案:
更加方便
焦長是指()
參考答案:
在樣品固定,在保證像清晰的前提下,像平面沿著光軸可以前后移動的最大距離范圍;
物相分析時與PDF卡片上的對應峰位理論上需要()
參考答案:
8個
物相根據組成元素是否作用可以分為()
參考答案:
純元素
物鏡光闌位于物鏡的()
參考答案:
后焦面上
球差是()
參考答案:
由于電磁透鏡的近軸區(qū)磁場和遠軸區(qū)磁場對電子束的折射能力不同導致的
由于不同屏蔽作用引起共振時磁場強度移動的現(xiàn)象稱為化學位移,以δ表示。
參考答案:
正確
由于原子核對電子散射后,散射電子的能量損失相比于入射時的能量可以忽略不計,因此原子核對入射電子的散射可以看成是()
參考答案:
彈性散射
由于極性化合物在CC4和CS4的溶解度很小,所以常常會用到氯仿、丙酮、水作為溶劑。
參考答案:
正確
電場和磁場可使電子束()
參考答案:
會聚或發(fā)散
電子彈性散射()
參考答案:
電子散射后能量、波長不變
電子探針分析可分析微區(qū)的()
參考答案:
成分
電子探針分析用的物理信號是電子束作用樣品后產生的()
參考答案:
特征X射線
電子探針對試樣()
參考答案:
既能定性分析,又能定量分析
電子散射是指()
參考答案:
電子束受固體物質作用后,物質原子的昆侖場使其運動方向發(fā)生改變的現(xiàn)象
電子束作用物質的區(qū)域()
參考答案:
輕元素是倒梨狀,重元素是半球狀
電子波不同于光波,光學顯微鏡中的玻璃或樹脂透鏡()
參考答案:
無法改變電子波的傳播方向,無法使之會聚成像
電磁透鏡中的極靴間隙愈小,磁場集中程度()
參考答案:
愈強
電磁透鏡中軟磁鐵縫隙可使磁場在該處()
參考答案:
更加集中,且縫隙愈小,集中程度愈高
電磁透鏡分辨率主要制約因素是()
參考答案:
衍射效應+透鏡像差
電磁透鏡可由短線圈構成,實現(xiàn)電子束()
參考答案:
螺旋會聚
電磁透鏡的成像條件與光學透鏡成像時滿足的成像條件()
參考答案:
相同,且焦距可調
電磁透鏡的焦距()
參考答案:
可調,總是正值
相干散射()
參考答案:
電子散射后波長不變,將與入射電子有確定的位相關系
相比于背散射電子作為調制信號成像時的分辨率,二次電子的分辨率()
參考答案:
高
粉末試樣的粒度愈大,導致()
參考答案:
熱效應后移
粉末試樣的粒度愈小,比表面積愈大,活性愈強,導致()
參考答案:
反應的起始溫度降低
粉狀試樣相對于塊狀試樣()
參考答案:
具有比表面積大,活性強、反應提前的特性
粉狀試樣相比于塊狀試樣()
參考答案:
導熱性能下降,反應過程延長,峰寬增大,峰高下降
約翰遜(Johannson)分光晶體不可完全聚焦,曲率半徑為聚焦圓半徑的()
參考答案:
2倍
約翰遜(Johannson)分光晶體可完全聚焦,曲率半徑為聚焦圓半徑的()
參考答案:
1倍
能做的有效照明光源的是()
參考答案:
可見光
能譜儀是通過
對不同能量的特征X射線進行展譜的。()
參考答案:
Si(Li)半導體
色差是由于()
參考答案:
電子波長不穩(wěn)定導致
試樣用量大時,()
參考答案:
能使峰形變寬并向高溫漂
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