第三章第一節(jié)場效應(yīng)管_第1頁
第三章第一節(jié)場效應(yīng)管_第2頁
第三章第一節(jié)場效應(yīng)管_第3頁
第三章第一節(jié)場效應(yīng)管_第4頁
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文檔簡介

第三章第一節(jié)場效應(yīng)管第一頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四第三章場效應(yīng)管第三章前言第一節(jié)

MOS場效應(yīng)管第二節(jié)結(jié)型場效應(yīng)管第三節(jié)場效應(yīng)管應(yīng)用第二頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四第三章場效應(yīng)管前言

場效應(yīng)管(FET)是另一種具有正向受控作用的半導(dǎo)體器件,分MOS場效應(yīng)管(MOSFET)與結(jié)型場效應(yīng)管(JFET)兩種類型。MOSFET與JFET工作原理類似,它們都是利用電場效應(yīng)控制電流,不同之外僅在于導(dǎo)電溝道形成的原理不同。由于場效應(yīng)管只有多子參與導(dǎo)電,故常稱為單極型器件,相應(yīng)地,將晶體三極管稱為雙極型器件。學(xué)習(xí)本章時(shí),要時(shí)刻將聲效應(yīng)管與晶體三極管相對照,這樣不僅可以加深對FET工作原理、模型及分析方法的理解,而且還可以找出它們的異同點(diǎn),便于掌握。第三頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四教學(xué)要求:了解MOS場效應(yīng)管與結(jié)型場效應(yīng)管的工作原理,重點(diǎn)了解場效應(yīng)管中預(yù)夾斷的基本概念。熟悉場效應(yīng)管的數(shù)學(xué)模型、直流簡化電路模型、曲線模型及小信號電路模型,掌握各種模型的特點(diǎn)及應(yīng)用場合。熟悉放大模式下各種場效應(yīng)管的外部工作條件。掌握場效應(yīng)管放大電路分析方法:估算法及小信號等效電路法。能熟練利用估算法分析電路的直流工作點(diǎn)。熟悉場效應(yīng)管與三極管之間的異同點(diǎn)。本章3.3節(jié)根據(jù)教學(xué)需要,可作為擴(kuò)展內(nèi)容。第四頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四場效應(yīng)管:是另一種具有正向受控作用的半導(dǎo)體器件。類型絕緣柵型:MOS場效應(yīng)管金屬——氧化物——半導(dǎo)體P溝道N溝道耗盡型增強(qiáng)型結(jié)型N溝道P溝道N溝道P溝道3.1MOS場效應(yīng)管第五頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四一、增強(qiáng)型MOS(EMOS)場效應(yīng)管電路符號GDUS源極漏極柵極襯底第六頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四N溝道EMOS場效應(yīng)管結(jié)構(gòu)示意圖NDPNPGS耗盡層1、工作原理(1)、導(dǎo)電溝道形成原理:當(dāng)VDS=VGS=0時(shí)結(jié)構(gòu)示意圖第七頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四當(dāng)

VDS=0,在柵極G與源極S之間外加電壓VGS

時(shí):NDPNPGSVGS隨著VGS

的增大電場增強(qiáng)第八頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四NDPNPGSVGS隨著VGS

繼續(xù)增大,電場繼續(xù)增強(qiáng)NDPNPGSVGS第九頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四P型半導(dǎo)體,轉(zhuǎn)型為N型半導(dǎo)體,稱為反型層。此時(shí)如外加VDS電壓,將有電流自漏區(qū)流向源區(qū)。根據(jù)結(jié)構(gòu)圖看出,反型層的寬窄,可由VGS

的大小來調(diào)整。我們將反型層,稱為導(dǎo)電溝道,由于反型層是N型半導(dǎo)體,則稱為N溝道。NDPNPGSVGS所對應(yīng)的VGS電壓,稱為開啟電壓,用VGS(th)

表示。形成導(dǎo)電溝道時(shí):第十頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四(2)、VDS對溝道導(dǎo)電能力的控制:當(dāng)VGS

為一定值,VDS>0時(shí),在VDS的作用下,形成漏極電流ID。NDPNPGSVGSVDS漏極與源極之間,存在著電位差第十一頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四BANDPNPGSVGSVDS顯然,VD>VA>VG>VB

VGD的大小將沿著溝道而變化,越靠近漏區(qū)VGD越小,溝道越窄;越靠近源區(qū)VGD越大,溝道越寬。第十二頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四當(dāng)VDS

繼續(xù)增大,則VGD

相應(yīng)的減小。直到VGD=VGS(th)

或表示為:或時(shí),靠近漏端的反型層消失。即靠近漏區(qū)的溝道被夾斷,夾斷點(diǎn)A稱為預(yù)夾斷點(diǎn)。ANDPNPGSVGSVDS第十三頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四

VDS

繼續(xù)增大,預(yù)夾斷點(diǎn)前移,導(dǎo)電溝道變短。ANDPNPGSVGSVDS綜合上面的分析,可以畫出VGS>VGS(th)

,并且為一定值時(shí),漏極電流ID,隨VDS變化的特性。第十四頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四(a)、設(shè)VDS=0V開始IDVDS0VDS=VGS-VGS(th)當(dāng)VDS

很小,溝道電阻幾乎與VDS

無關(guān),ID隨VDS線性增大。(b)、VDS

繼續(xù)增大,靠近漏區(qū)的溝道變窄,溝道電阻增大。ID隨VDS增大趨于緩慢。(c)、當(dāng)時(shí)靠近漏區(qū)的溝道被夾斷,即在A點(diǎn)處。AVDS

繼續(xù)增大時(shí),第十五頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四IDVDS0VDS=VGS(th)A形成漏極指向夾斷點(diǎn)的電場,ID幾乎不隨VDS而變化的恒值。(d)、溝道長度調(diào)制效應(yīng):預(yù)夾斷后,繼續(xù)增大VDS,預(yù)夾斷點(diǎn)會(huì)向源區(qū)方向移動(dòng),導(dǎo)致溝道長度減小,相應(yīng)的溝道電阻減小,結(jié)果,是ID略有增大。這種效應(yīng)稱為溝道長度調(diào)制效應(yīng)。第十六頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四小結(jié):(1)、ENOS場效應(yīng)管,主要依靠一種載流子多子,參與導(dǎo)電————自由電子。因此,稱MOS管為單極型管;而晶體三極管是由多子和少子兩種在流子參與導(dǎo)電,可稱為雙極型管。(2)、通過分析工作原理,可知兩個(gè)高摻雜的N區(qū)與襯底之間的PN結(jié),必須外加反向偏置電壓。(3)、電路符號中的襯底箭頭方向,是PN結(jié)外加正向偏置時(shí)的正向電流方向。第十七頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四2、伏安特性:輸入特性

IG=0輸出特性VGS為常數(shù)。EMOS管的輸出特性曲線ID/mA3.5VVDS/V4.5V4VVGS=5.5V5V0VDS=VGS-VGS(th)

5V10V3V20V15V第十八頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四輸出特性曲線畫分為四個(gè)工作區(qū):(1)、非飽和區(qū)即

ID

的大小同時(shí)受VGS

與VDS

的控制。它們的依存關(guān)系為:式中:μn

為自由電子遷移率;Cox

為單位面積的柵極電容量;

l

為溝道長度;W為溝道的寬度。第十九頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四當(dāng)VDS

的值很小時(shí),VDS的二次項(xiàng)可忽略。第二十頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四ID/mA3.5VVDS/V4.5V4VVGS=5.5V5V0VDS=VGS-VGS(th)

5V10V3V20V15V

VDS

很小時(shí),ID

與VDS

之間呈線性關(guān)系。輸出特性曲線近似為一組直線:第二十一頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四5.5VVDS/mVID/mA3.5V5V4.5V4V0此時(shí),MOS管可看成,阻值受VGS控制的線性電阻器,其阻值用Ron

表示。表明越小,Ron

越大。第二十二頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四(2)、飽和區(qū):即若忽略溝道長度調(diào)制效應(yīng),則可令:代入得漏極電流表達(dá)式:第二十三頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四在飽和區(qū)內(nèi),ID

受VGS

的控制,而幾乎不受VDS

控制。DID(VGS)SGVGSID

第二十四頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四ID

受VGS

的控制關(guān)系可用轉(zhuǎn)移特性曲線來描述ID/mA3.5V4.5V4VVGS=5.5V5V0VDS=VGS-VGS(th)

5V10V3V20V15VVDS/VVGS/V33.544.555.5ID/mA0第二十五頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四若計(jì)入溝道長度調(diào)制效應(yīng),則可利用厄爾利電壓VA

加以修正令稱為溝道長度調(diào)制系數(shù)則λ與溝道長度l

有關(guān),l

越小,相應(yīng)λ就越大。通常第二十六頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四小結(jié):

(a)、不論工作在非飽和區(qū)或飽和區(qū),只要VGS

和VDS

為定值時(shí),ID

均與溝道的寬長比(W/l)成正比。(b)、當(dāng)溫度升高時(shí),遷移率μn

減小,而引起ID

下降;同時(shí),襯底中少子自由電子濃度增大,而引起VGS(th)減小,從而使ID

增大,當(dāng)ID

不太小時(shí),前者影響一般大于后者,結(jié)果,ID

具有隨溫度升高,而下降的負(fù)溫度特性。(3)、截止區(qū)和亞閾區(qū):截止區(qū)即

VGS<VGS(th)

時(shí),

ID=0

。實(shí)際上,VGS≤VGS(th)

時(shí),ID

不會(huì)發(fā)生突變到零值,只是其值很小,在μA數(shù)量級,一般可忽略不計(jì)。第二十七頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四亞閾區(qū):ID

很小,管子進(jìn)入VGS(th)

附近區(qū)域內(nèi),確定范圍內(nèi)。可以稱為弱反型層區(qū)。在這個(gè)工作區(qū)內(nèi),ID

與VGS

之間服從指數(shù)規(guī)律變化。100mVVGSVGS(th)100mV0ID第二十八頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四(4)、擊穿區(qū):(a)、VDS

增大到足以使漏區(qū)與襯底之間的PN結(jié)引發(fā)雪崩擊穿時(shí)ID

迅速增大,管子進(jìn)入擊穿區(qū)。(b)、還會(huì)發(fā)生類似晶體管中的穿通擊穿。(c)、柵源電壓VGS

過大,而引發(fā)絕緣層的擊穿。第二十九頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四3、襯底效應(yīng):

ANDPNPGSVGSVDSUVUS對EMOS管來說,為了讓管子能正常工作,必須保證襯底與源區(qū)、漏區(qū)之間的PN結(jié)反向偏置,襯底必須接在電路的最低電位上。當(dāng)源極與襯底不能相連接時(shí),就會(huì)存在一個(gè)負(fù)值電壓VUS。第三十頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四當(dāng)負(fù)值襯底電壓VUS

襯底中的空間電荷區(qū)向底部擴(kuò)展空間電荷區(qū)的負(fù)離子數(shù)增多由于VGS不變導(dǎo)電溝道中自由電子減少溝道電阻增大ANDPNPGSVGSVDSUVUSID

減小第三十一頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四VGS(V)ID(mA)VUS=0-4V-2V5.5V0VGS(V)ID(mA)VUS=0VUS=-4VVUS=-2V0第三十二頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四4、P溝道EMOS場效應(yīng)管

電路符號GD

US源極漏極柵極襯底PDNPNGSVGSVDS第三十三頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四(1)、非飽和區(qū):(2)、飽和區(qū):(3)、截止區(qū):(4)、襯底電壓即為正值。第三十四頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四二、耗盡型MOS場效應(yīng)管(DMOS)

結(jié)構(gòu)示意圖

NDPNPGSUND漏極U襯底G柵極S源極電路符號N溝道DMOS場效應(yīng)管第三十五頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四PDNPNGSPUD漏極U襯底G柵極S源極電路符號P溝道DMOS場效應(yīng)管第三十六頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四

2、伏安特性:

以N溝道DMOS管為例ID/mA-1.5V-0.5V-1VVGS=0.5V0V0VDS=VGS-VGS(th)

510-1.8V2015VDS/VVGS=1VID/mA-2-1VGS/V00.51第三十七頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四第三十八頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四四、小信號電路模型1、MOS管(EMOS、DMOS)的襯底與源極相連,并且工作在飽和區(qū)條件下。設(shè)在直流量上疊加很小的交流量,則有設(shè)取

vGS、vDS

為自變量,iG、iD

分別為vGS、vDS的非線性函數(shù)輸入回路輸出回路用冪級數(shù)在Q點(diǎn)上對交流量展開,得第三十九頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四高次項(xiàng)設(shè)交流量很小,高次項(xiàng)可忽略。并且令則有式中

gm

為跨導(dǎo)gds

為輸出電導(dǎo)令rds

為輸出電阻第四十頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四根據(jù)此方程,可以畫出小信號等效電路模型1/gdsgmvgsvgsSDGvds

rdsgmvgsvgsSDGvds第四十一頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四計(jì)算gm

、gds

因?yàn)?/p>

第四十二頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四所以代入上式第四十三頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四通常第四十四頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四所以上式可簡化為:2、若考慮MOS管(EMOS、DMOS)的襯底與源極不相連時(shí),還存在著vUS

的影響,即則回路方程第四十五頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四令稱為襯底跨導(dǎo),表示vus

對id

的控制能力工程上,其值可近似的表示為式中,η為常數(shù),一般為0.1~0.2。第四十六頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四根據(jù)電路方程畫等效電路:

rdsgmvgsvgsSDGvdsgmuvus第四十七頁,共五十六頁,編輯于2023年,星期四在考慮高頻應(yīng)用時(shí),還必須計(jì)入MOS管極間電容的影響。等效電路為:

rdsgmvgsvgsSDGvdsgmuvusCduCdsCusCguCgsCgdUCgs

為柵源之間的電容;Cgd

為柵漏之間的電容;Cdu

和Csu

分別為漏區(qū)與稱底和源區(qū)與襯底之間PN結(jié)的勢壘電容;Cgu

為柵極與襯底之間的電容。第四十八頁,共

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