累積測(cè)試分析和目標(biāo)測(cè)試入門6

第第頁(yè)累積測(cè)試分析和目標(biāo)測(cè)試入門[6]累積測(cè)試分析和目標(biāo)測(cè)試入門[6]

發(fā)表于：2023-05-10來(lái)源：：點(diǎn)擊數(shù)：標(biāo)簽：目標(biāo)入門

累積測(cè)試分析和目標(biāo)測(cè)試入門[6]軟件測(cè)試?yán)迷摷夹g(shù)，我們立即有了更多要考慮的信息：橙色“遺漏”結(jié)果表明構(gòu)建1和2沒(méi)有充分的測(cè)試，但它們從對(duì)早期的構(gòu)建的測(cè)試(沒(méi)有顯示)那里帶來(lái)了非常多有效的結(jié)果。對(duì)構(gòu)建3的測(cè)試減少到遺漏測(cè)試?yán)鄯e的大約三分

累積測(cè)試分析和目標(biāo)測(cè)試入門[6]軟件測(cè)試

利用該技術(shù)，我們立即有了更多要考慮的信息：

橙色“遺漏”結(jié)果表明構(gòu)建1和2沒(méi)有充分的測(cè)試，但它們從對(duì)早期的構(gòu)建的測(cè)試(沒(méi)有顯示)那里帶來(lái)了非常多有效的結(jié)果。

對(duì)構(gòu)建3的測(cè)試減少到遺漏測(cè)試?yán)鄯e的大約三分之二，所需的余下的測(cè)試在整個(gè)過(guò)程中都沒(méi)運(yùn)行，直到構(gòu)建11。

附加的測(cè)試針對(duì)于構(gòu)建6(“遺漏”測(cè)試的數(shù)量增加)，說(shuō)明對(duì)產(chǎn)品有附加的功能變更。

對(duì)許多構(gòu)建出現(xiàn)了大量的測(cè)試，構(gòu)建3、構(gòu)建9和構(gòu)建11特別的昂貴——問(wèn)題是，這些都是必要的嗎?

接下來(lái)，因?yàn)橹雷兏荂TA的重要部分，所以我們引入一個(gè)圖4中的新圖表，顯示出每次構(gòu)建中變更的影響，以及那些變更測(cè)試得有多好。數(shù)據(jù)重新從構(gòu)建帶到相關(guān)的構(gòu)建中，被變更了的類被反映在零線以上，而覆蓋這些變更的測(cè)試在零線以下。充分測(cè)試的變更將因此顯示為一個(gè)綠色的條，處于與上面所示的變更相同高度的軸之下。

圖4：每此構(gòu)建的變更以及所完成的測(cè)試

通過(guò)傳統(tǒng)的回歸測(cè)試的觀點(diǎn)查看該數(shù)據(jù)，可以看到，對(duì)構(gòu)建3的測(cè)試是有效的，但是構(gòu)建4到8中對(duì)產(chǎn)品類的附加的功能變更(顯示為“新的”或者“非常新的”項(xiàng))，直到構(gòu)建11才完全測(cè)試完成。上面較早描述的其它提示點(diǎn)：

構(gòu)建1中出現(xiàn)的大量變更，并且?guī)缀跛羞@些都對(duì)構(gòu)建3充分測(cè)試了。

在構(gòu)建3之后，許多未測(cè)試的變更從一個(gè)構(gòu)建帶到了下一個(gè)中，使“確定缺陷的時(shí)間”拉得更長(zhǎng)。

在構(gòu)建4和5中出現(xiàn)的大量變更，可能已經(jīng)否定了早先執(zhí)行的測(cè)試的某些好處。更重要的是，對(duì)構(gòu)建3運(yùn)行的并且隨后不在循環(huán)中重新運(yùn)行的測(cè)試可能會(huì)錯(cuò)過(guò)構(gòu)建4或之后引入的缺陷。

我們管理了對(duì)每個(gè)構(gòu)建運(yùn)行的少量測(cè)試，我們將提供所引入變更的最有效的覆蓋。

利用目標(biāo)測(cè)試使效果最大化

指出了老方法中的不足，我們現(xiàn)在使用新的方法。假設(shè)相同的環(huán)境，通過(guò)CTA可以完成什么?要論證這點(diǎn)，如先前一樣，我們使用同樣的兩個(gè)圖表，圖5和6中分別顯示出結(jié)果和變更。

圖5：利用目標(biāo)測(cè)試方法的CTA累積測(cè)試結(jié)果

圖5和6中的數(shù)據(jù)是基