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歐陽(yáng)音創(chuàng)編歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫3180KB時(shí)間:2021.03.11創(chuàng)作:歐陽(yáng)音HG/T2423-2008工業(yè)對(duì)苯二甲酸二辛酯(單行本完整清晰掃描版)367KBGB/T2423.39-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ee:彈跳440KBGB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed自由跌落257KBGB/T2423.32-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ta潤(rùn)濕稱量法可焊性(橫版掃描色淡不太清晰)-990KBGB2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z-AM低溫-低氣壓綜合試驗(yàn).pdf1445KB歐陽(yáng)音創(chuàng)編歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11GBT2423.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa模擬地面上的太陽(yáng)輻射.pdf176KBGB2423.11-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fd寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)一般要求(單行本完整清晰掃描版).pdf3007KBGBT2423.57-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ei沖擊沖擊響應(yīng)譜合成.pdf24000KBGB/T2423.102-2008電子電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)低氣壓振動(dòng)(正弦)綜合998KBGB/T2423.101-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn):傾斜和搖擺329KBGB/T2423.58-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2-80部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fi振動(dòng)混合模式3461KBGB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db交變濕熱(12h+12h循環(huán))4604KB歐陽(yáng)音創(chuàng)編歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11GB/T2423.43-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法振動(dòng)、沖擊和類似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)樣品的安裝3736KBGB/T2423.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka:鹽霧(單行本完整清晰掃描版)836KBGB/T2423.15-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則穩(wěn)態(tài)加速度2833KBGB/T2423.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc:振動(dòng)(正弦)8313KBQB/T2423-1998聚氯乙烯(PVC)電氣絕緣壓敏膠粘帶157KBGB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb設(shè)備用恒定濕熱207KBGB/T2423.52-2003電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)77:結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊223KB歐陽(yáng)音創(chuàng)編歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11GB/T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)347KBGB/T2423.53-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Xb由手的摩擦造成標(biāo)記和印刷文字的磨損185KBGB/T2423.38-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則827KBGB/T2423.36-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)264KBGB/T2423.35-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/Afc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)283KB電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)之二GB/T2423.33-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kca高濃度二氧化硫試驗(yàn)337KB歐陽(yáng)音創(chuàng)編歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11GB/T2423.28-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)T:錫焊584KBGB/T2423.27-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)151KBGB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)n:溫度變化465KBGB/T2423.18-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)341KBGB/T2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞493KBGB/T2423.5-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊943KBGB/T2423.4-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法219KBGB/T2423.30-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)xa和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬1159KB歐陽(yáng)音創(chuàng)編歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11GB/T2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)j和導(dǎo)則:長(zhǎng)霉1132KBGB/T2423.56-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)和導(dǎo)則791KBGB/T2423.55-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eh錘擊試驗(yàn)568KBGB/T2423.55-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eh:錘擊試驗(yàn)700KBGB/T2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn)方法4563KBGB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)401KBGB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)B高溫1078KBGB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部939KB歐陽(yáng)音創(chuàng)編歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11SJ2423-83船用導(dǎo)航雷達(dá)設(shè)備用圖形符號(hào)771KBJB/T2423-1999電力半導(dǎo)體器件型號(hào)編制方法280KBHG/T2423-1993對(duì)苯二甲酸二辛酯162KBGB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫1638KBGB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫1065KBGB/T2423.46-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ef撞擊擺錘433KBGB/T2423.3-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法142KBGB/T2423.30-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)XA和導(dǎo)則在清洗劑中浸漬319KBGB/T2423.29-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)U引出端及整體安裝件強(qiáng)度605KB歐陽(yáng)音創(chuàng)編歐陽(yáng)音創(chuàng)編2021.03.11歐陽(yáng)音創(chuàng)編2
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